专利名称：防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装置及方法
技术领域：
本发明涉及触控装置，特别是涉及一种防止导电物质影响触点检测 的投射电容式触控装置及方法。
背景技术：
目前电子设备常用的触控技术有电阻式(resistive)、表面电容 式(surface capacitive)、投射电容式(projected capacitive)、 表面音波式(surface acoustic wave)、光学影像式(optics imaging)、 红外线式(infrared)、折射式(bendingwave)以及数字转换式(active digitizer)…等。前3种技术因为构装体积较小，精密度相对可以做得 较高，因此适用于体积较小的随身行动装置或消费性电子产品。
就电阻式触控技术而言，从触压屏幕到触点检测、数据运算以及位 置确认，其技术上有物理条件的限制，亦即，若要增加检测面积或分辨 率，就必须增加线数，而线数增加即代表须处理运算数据相对增加，此 对处理器将是一大负担。并且，触压机制的确认主要是由机械式动作完 成，PET膜再怎么强化材质以提升耐压、耐磨、抗变形等，毕竟还是有其 极限，如此一来将会造成透明度因使用时间、频率增加而表现愈来愈差， 至于触点检测亦会因经常性触点范围固定而造成某些特定区过度使用磨 损，进而减低ITO导电膜接触的导通效率，再者，ITO导电膜一定要预留 边框，因而限制工业设计的可选择性。此外，电阻式触控技术并无法达 到近侧感应(手指靠近未触压状态的检测)以及较难处理多指触压的要 求。
表面电容式触控技术不须使用高精密度的IT0导电膜，所以触压侧 并没有类似电阻式的机械结构，因此不会有磨损或出现类似机械疲乏的 触压灵敏度下降现象，并且亦可检测近侧感应。然而，表面电容式触控 技术却有手影效应的问题存在，亦即，操作表面电容式触控屏幕时，若将手腕与手指一同靠近屏幕表面，则会使得IT0导电膜表面与面板侧产 生过多电荷，进而导致电容产生耦合造成大量感测错误。此外，由于表 面电容式是通过屏幕表面的电场变化而进行触点检测，因此使用环境若 电磁干扰问题较多时，亦会因此影响触点检测的精密度，且长时间使用 后，触点检测亦容易产生偏移，因此需要定时或经常性校准。
请参照图1A，其为一现有的投射电容式触控面板100的立体分解图。
此投射电容式触控面板100至少包含一基板110、 一第一感测层120、 一 介电层130、 一第二感测层140以及一结合层(bonding layer)与一保 护层(未绘出)由下往上同形堆栈而成，其中此些元件皆为透明，且第 一感测层120具有多个第一样式化(patterned)电极122由多条第一轴 向导线124相对串接，然后再与多条第一连外导线126相对电性连接， 且第二感测层140具有多个第二样式化电极142由多条第二轴向导线144 相对串接，然后再与多条第二连外导线146相对电性连接。在本图示中， 第一轴向为Y轴向且第二轴向为X轴向，然不限于此，亦可第一轴向为X 轴向且第二轴向为Y轴向等之变化。
请参照图1B，其为图1A所示的投射电容式触控面板100的动作电路 150示意图。多条第一、第二连外导线126、 146电性连接至一感测单元 160，而多个第一、第二样式化电极122、 142、多条第一、第二轴向导线 124、 144与第一、第二连外导线126、 146的相对关系已于图1A中说明， 故在此不再赘述。当此电路动作时，感测单元160依序经由各第一连外 导线126对其所对应的第一轴向导线124提供一感测信号，并接着依序 经由各第二连外导线146对其所对应的第二轴向导线144提供此感测信 号，其间未被供以感测信号的第一、第二轴向导线124、 144则被接地或 固定电压准位。由于第一、第二轴向导线124、 144彼此间会存有杂散电 容(stray capacitance)，因此当使用者以手指或以导电物质靠近或接 触投射电容式触控面板100上的一触点TP时，触点TP上的手指或导电 物质即与第一、第二轴向导线124、 144形成一额外电容，故在触点TP 位置的等效电容值亦会随即改变，而感测单元160通过量测对应电流或 电荷转移量的相对较大变化量决定触点的位置(例如(X3， Y5))。简言 的，控制量测电路通过将量测的感测信号依序加载于每一条第一、第二
6轴向导线，并量测因加载感测信号时所产生对应电流或电荷转移量的相 对较大变化量以决定触点位置。其中，依序加载感测信号于某一轴向导 线并扫瞄其电流或电荷变化量时，其余所有轴向导线均接地或电性连接 至一固定电压准位，由此确保杂散电容效应的一致性。
然而，当投射电容式触控面板100上有一导电异物区域0Z时(例如
水或其它导电物质)，则导电异物区域oz位置的轴向导线间的等效电路
与等效杂散电容亦会随的改变，因而造成控制量测电路(感测单元160) 感测到轴向导线上的电流或电荷转移量的变化而导致误判及误动作。或
者，当触点TP位置的轴向导线被加载感测信号并量测电流或电荷变化量 时却受导电异物区域oz的影响，使得原本应该量测到相对较大的对应电
流或电荷转移量，却因导电异物区域oz旁接至相邻轴向导线接地，因此
亦无法正确感测触点TP的位置。
发明内容
有鉴于上述的缺点，本发明提供一种防止导电物质影响触点检测的 投射电容式触控装置及方法，其可改进现有的投射电容式触控装置因导 电异物影响触点检领U的问题。
本发明的目的之一，加载一感测信号于触控面板轴向导线，由此消 除各轴向导线间的I一cross (轴向导线彼此间的电流量)与Q一cross (轴 向导线彼此间的电荷转移量)。
本发明公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装 置，其包含 一第一感测层，具有多条第一轴向导线彼此电性隔离且对 应电性连接多条第一连外导线； 一第二感测层，具有多条第二轴向导线 彼此电性隔离且对应电性连接多条第二连外导线，其中此第二感测层依 序相叠于一介电层、此第一感测层、 一基板的上； 一信号加载线，电性 连接此些第一、第二连外导线，用以提供一第一感测信号；以及一感测 单元，电性连接此些第一、第二连外导线，用以检测此些第一、第二轴 向导线的感测信号。
本发明还公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一、第二轴向导线，
7其中此些第一、第二轴向导线彼此电性隔离；同时检测此些第一、第二 轴向导线的多个第二、第三感测信号，其中此些第二、第三感测信号是 此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信号所对应产生；以及分别以
此些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少 一触点于此相对坐标的坐标位置。
本发明亦公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方
法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一、第二轴向导线， 其中此些第一、第二轴向导线彼此电性隔离；检测此些第一轴向导线的 多个第二感测信号；检测此些第二轴向导线的多个第三感测信号，其中 此些第二、第三感测信号是此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信 号所对应产生；以及分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者 对应一相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标位置。
本发明另公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一轴向导线，其中 此些第一轴向导线彼此电性隔离；同时检测此些第一轴向导线的多个第 二感测信号与多条第二轴向导线的多个第三感测信号，其中此些第二轴 向导线彼此电性隔离且与此些第一轴向导线亦彼此电性隔离，此些第二、 第三感测信号分别为此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信号、对 应此些第二感测信号所对应产生；以及分别以此些第二、第三感测信号 变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐 标位置。
本发明又公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一轴向导线，其中
此些第一轴向导线彼此电性隔离；检测此些第一轴向导线的多个第二感 测信号；检测多条第二轴向导线的多个第三感测信号，其中此些第二轴 向导线彼此电性隔离且与此些第一轴向导线亦彼此电性隔离，此些第二、 第三感测信号分别为此些第一、第二轴向导线接收此第一感测信号、对 应此些第二感测信号所对应产生；以及分别以此些第二、第三感测信号 变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐
标位置o本发明再公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方 法，其包含下列步骤提供一第一感测信号于多条第一轴向导线，其中 此些第一轴向导线彼此电性隔离；检测多条第二轴向导线的多个第二感 测信号，其中此些第二轴向导线彼此电性隔离且与此些第一轴向导线亦
彼此电性隔离；检测此些第一轴向导线的多个第三感测信号，其中此些
第二感测信号是此些第二轴向导线对应此些第三感测信号所对应产生， 此些第三感测信号是此些第一轴向导线接收此第一感测信号所对应产
生；以及分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对
坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标位置。
图1A是一现有的投射电容式触控面板的立体分解图； 图IB是图Al所示的投射电容式触控面板的动作电路示意图； 图2A是本发明的一较佳实施例的动作电路示意图； 图2B是图2A另一较佳实施例的局部电路示意图； 图2C是图2A又一较佳实施例的局部电路示意图； 图3A是本发明的一较佳实施例的动作流程图； 图3B是本发明的另一较佳实施例的动作流程图； 图3C是本发明的又一较佳实施例的动作流程图；以及 图3D是本发明的再两较佳实施例的动作流程图。主要元件符号说明
100 120 124 130 142 146 150 160 200
触控面板
第一感测层
第一轴向导线
介
110 122 126 140 144
第二样式化电极 第二连外导线
投射电容式触控面板动作电路 感测单元
本发明的一较佳实
第一样式化电极 第一连外导线 第二感测层 第二轴向导线感测单元
信号加载线
感测信号
210多任务器 220 230控制开关 232 234、 236接脚 Vref CS 控制信号 0Z 导电异物区域 X,~X9 对应X坐标值
302、 304、 306 本发明一较佳实施例步骤 312、 314、 316、 318 本发明另一较佳实施例步骤 322、 324、 326 本发明又一较佳实施例步骤 332、 334A、 334B、 336A、 336B、 本发明再两较佳实施例步骤
TP、 TP'、 TP
; 触点 对应Y坐标值
338
具体实施例方式
本发明将详细描述一些实施例如下。然而，除了所公开的实施例外， 本发明亦可以广泛地运用在其它的实施例施行。本发明的范围并不受该 些实施例的限定，乃以其权利要求为准。而为提供更清楚的描述及使熟 悉该项技艺者能理解本发明的发明内容，图示内各部分并没有依照其相 对的尺寸而绘图，某些尺寸与其它相关尺度的比例会被突显而显得夸张， 且不相关的细节部分亦未完全绘出，以求图示的简洁。
请参照图2A，其为本发明的一较佳实施例的动作电路200示意图。 一投射电容式触控面板100至少包含(请参照图1A): —第一感测层120， 具有多条第一轴向导线124彼此电性隔离且对应电性连接多条第一连外 导线126，其中第一感测层120还包含多个第一样式化电极122周期性串 接于对应的第一轴向导线124; —第二感测层140，具有多条第二轴向导 线144彼此电性隔离且对应电性连接多条第二连外导线146，其中第二感 测层140还包含多个第二样式化电极142周期性串接于对应的第二轴向 导线144，其中第二感测层140相叠于一介电层130之上，介电层130相 叠于第一感测层120之上，第一感测层120相叠于一基板110之上，且 结合层与保护层(未绘出)相叠于第二感测层140之上。在本实施例中，第一感测层120、第一样式化电极122、第一轴向导线124、第二感测层 140、第二样式化电极142、第二轴向导线144、基板IIO、介电层130、 结合层以及保护层包含透明材质。此外，第一轴向导线124的轴向为Y 轴向且第二轴向导线144的轴向为X轴向，然不限于此，亦可以是第一 轴向导线124的轴向为X轴向且第二轴向导线144的轴向为Y轴向，或 者两轴向导线124、 144的轴向为非90度夹角等的变化。
请再参照图2A， 一信号加载线232，电性连接第一、第二连外导线 126、 146与一控制开关230，用以接收传送一第一感测信号V;f，其中控 制开关230的第一接脚的电性连接信号加载线232，其第三接脚236接收 一控制信号CS以控制其第二接脚234所接收的第一感测信号U专送至 第一、第二连外导线126、 146。 一感测单元220，是通过一多任务器210 电性连接第一、第二连外导线126、 146，用以检测所对应电性连接的第 一、第二轴向导线124、 144的感测信号。在本实施例中，控制开关230 可以是一电子式开关(例如晶体管、CMOS元件或光耦合元件等)，也 可以是一机电式开关(例如电子式磁簧开关等)，而感测单元220可 以是一电流检测器或一电荷检测器，再者，多任务器210与感测单元220 的数量亦可依整体成本限制与所需触点位置判定的速度而调整增加，此 部分为熟习此项技艺者可依本实施例而推知，故不再赘述。
请再参照图2A，当控制开关230接受控制信号CS控制导通时，第一、 第二连外导线126、 146接收来自信号加载线232的第一感测信号V^， 因此使得所有第一、第二轴向导线124、 144亦具有相同的电压准位(第 一感测信号U ，此时第一、第二轴向导线124、 144之间因无电压差 存在，故彼此之间不会有电流回路形成。若此时投射电容式触控面板100 上有一导电异物区域0Z时，亦会因第一、第二轴向导线124、 144间并 无电压差存在，故导电异物区域0Z亦不会与第一、第二轴向导线124、 144形成电流回路，因此导电异物区域0Z的存在并不会改变第一、第二 轴向导线124、 144间的电流。在本发明中，导电异物区域0Z是泛指非 使用者以手指或其它导电物质触碰面板，而存在面板保护层上的水或其 它导电物质的区域。
而当使用者以手指或以导电物质靠近或接触投射电容式触控面板100上的--触点TP2时，与触点TP2相关的轴向导线124、 144以及连外导 线126、 146 (例如X7、 Xs与Y4、 Y5)因触点TP2通过使用者身体接地而 形成一导通回路，因此便有电流形成于其等之上。而当感测单元220对 各连外导线126、 146加以检测时，连外导线126、 146 (X7、 X8、 Y4、 Y5) 上的电流或电荷转移量的变化即会被测知，若连外导线126的Xs电流或 电荷转移量变化大于X7电流或电荷转移量变化，且连外导线146的Ys电 流或电荷转移量变化大于Y4电流或电荷转移量变化，即表示触点Th为较 接近坐标(Xs， Y5)。
而当使用者以手指或以导电物质靠近或接触投射电容式触控面板 100上导电异物区域0Z的一触点TP,时，与触点TP,、导电异物区域0Z 等相关的轴向导线124、 144以及连外导线126、 146 (例如:X2、 X^Y2、 Y:,)亦不会因导电异物区域OZ的存在而受影响，亦即，由于先前轴向导 线124、 144、连外导线126、 146等电位状态，故当触点TP,在连外导线 126、 146的X2、 Y3引起较大电流或电荷转移量的变化时，亦不会被连外 导线126、 146的X3、 Y2旁接至地，因此触点TP,的位置仍可被正确感测 出。发明人在此必须说明的是，上述的坐标系统仅用以说明本实施例的 轴向导线124、 144与其等所对应的坐标系统的关系，并非用以限定本发 明实施例的坐标系统。此外，熟习此项相关技术者亦可轻易推知，每一 触点的位置可通过此触点邻近的至少一轴向导线计算得出，例如内插 法(interpolation)以邻近轴向导线的电流或电荷转移量的变化做为权 重(weight)，并参考此些邻近轴向导线的坐标，进而计算出质(重) 心坐标(center of mass)。
此外，上述的实施例，仅以一导电物质区域0Z与一触点TP'或TP2 为说明范例，而当有多个导电异物区域或多个触点存在时，上述的说明 亦成立，此部分为熟习此项技艺可依本实施例而推知，故在此不再赘述。
请参照图3A，其为本发明的一较佳实施例的动作流程图，并请同时 参照图2A的说明。在步骤302，提供一第一感测信号Vw于多条第一轴向 导线124与多条第二轴向导线144，其中此些第一、第二轴向导线124、 144为彼此电性隔离。在步骤304，感测单元220同时检测此些第一、第 二轴向导线124、 144的多个第二、第三感测信号，其中此些第二、第三
12感测信号是此些第一、第二轴向导线124、 144接收第一感测信号Vw所 对应产生。在步骤306，感测单元220分别以此些第二、第三感测信号变 化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标 位置。在本实施例中，第一轴向导线'124的轴向包含X轴向，第二轴向 导线144的轴向包含Y轴向，且此相对坐标包含一 X轴-Y轴的直角坐标， 其中第一、第二轴向导线124、 144包含透明导线且第一、第二轴向导线 124、 144之间是以一透明介电层隔离。此外，第一感测信号V^是由一感 测电压源或一感测电流源提供，而感测单元220可以包含至少一电流检 测器或至少一电荷检测器。
请参照图3B，其为本发明的另一较佳实施例的动作流程图，并请同 时参照图2A的说明。在步骤312，提供一第一感测信号V^于多条第一轴 向导线124与多条第二轴向导线144，其中此些第一、第二轴向导线124、 144为彼此电性隔离。在步骤314，感测单元220检测此些第一轴向导线 124的多个第二感测信号，其中此些第二感测信号是此些第一轴向导线 124接收第一感测信号Vw所对应产生。在步骤316，感测单元220检测 此些第二轴向导线144的多个第三感测信号，其中此些第三感测信号是 此些第二轴向导线144接收第一感测信号Vw所对应产生。在步骤318， 感测单元220分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一 相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标位置。在本实施例中， 第一轴向导线124的轴向包含X轴向，第二轴向导线144的轴向包含Y 轴向，且此相对坐标包含一 X轴-Y轴的直角坐标，抑或是，第一轴向导 线124的轴向包含Y轴向，第二轴向导线144的轴向包含X轴向的变化。 其中，第一、第二轴向导线124、 144包含透明导线且第一、第二轴向导 线124、 144之间是以一透明介电层隔离。此外，第一感测信号V^是由 -一感测电压源或一感测电流源提供，而感测单元220可以包含至少一电 流检测器或至少一电荷检测器。
上述两较佳实施例(图3A与图3B)在检测第一、第二轴向导线124、 144的第二、第三感测信号时，无论其等的检测方式是同时检测或是先后 检测，其等的检测步骤可为依序检测第一轴向导线124的第二感测信号 及依序检测第二轴向导线144的第三感测信号，其中，可以是单一第一、第二轴向导线124、 144逐一循序检测，亦可以是多条第一、第二轴向导 线124、 144一并循序检测。此外，其等的检测步骤亦可为选择检测第一 轴向导线124的第二感测信号及选择检测第二轴向导线144的第三感测 信号，亦即其等的检测步骤并非以循序方式进行，例如交错检测 (interlaced scanning)等，同理，可以是单一第一、第二轴向导线124、 144逐一检测，亦可以是多条第一、第二轴向导线124、 144一并检测。
在此，发明人要说明的是，在图3C与图3D中的较佳实施例的动作 流程，必须搭配修改图2A所示较佳实施例的动作电路，亦即信号加载线 232必须仅与多条第一连外导线126 (如图2B所示)或多条第二连外导 线146 (如图2C所示)电性连接，据此，第一感测信号V,ef才可以仅加载 于第一轴向导线124或第二轴向导线144以符合图3C与图3D所示的流 程步骤。
请参照图3C，其为本发明的又一较佳实施例的动作流程图，并请同 时参照图2A的说明。在步骤322，提供一第一感测信号V^于多条第一轴 向导线124，其中此些第一轴向导线124为彼此电性隔离。在步骤324， 感测单元220同时检测此些第一轴向导线124的多个感测信号(第二感 测信号)与多条第二轴向导线144的多个感测信号(第三感测信号)， 其中此些第二轴向导线144为彼此电性隔离且与此些第一轴向导线124 亦彼此电性隔离，此些第二感测信号是此些第一轴向导线124接收此第 --感测信号Vw所对应产生，此些第三感测信号是此些第二轴向导线144 对应此些第二感测信号所产生。在步骤326，感测单元220分别以此些第 二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点 于此相对坐标的坐标位置。在本实施例中，此些第三感测信号包含第一、 第二轴向导线124、 126间的杂散电容值。
请参照图3D，其为本发明的再两较佳实施例的动作流程图，并请同 时参照图2A的说明。在步骤332，提供一第一感测信号V^于多条第一轴 向导线124，其中此些第一轴向导线124为彼此电性隔离。在步骤334A， 感测单元220检测此些第一轴向导线124的多个感测信号(第二感测信 号)，其中此些第二感测信号是此些第一轴向导线124接收第一感测信 号V^所对应产生。在步骤336A，感测单元220检测多条第二轴向导线144的多个感测信号(第三感测信号)，其中此些第二轴向导线144为彼 此电性隔离且与此些第一轴向导线124亦彼此电性隔离，此些第三感测 信号是此些第二轴向导线144对应此些第二感测信号所产生。在步骤338， 感测单元220分别以此些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一 相对坐标以得到至少一触点于此相对坐标的坐标位置。在本实施例中， 此些第三感测信号包含第一、第二轴向导线124、 126间的杂散电容值。
请再参照图3D，并请同时参照图2A的说明。步骤334B是接续步骤 332，在步骤334B，感测单元220检测多条第二轴向导线144的多个感测 信号(第二感测信号)，其中此些第二轴向导线144为彼此电性隔离且 与此些第一轴向导线124亦彼此电性隔离。在步骤336B,感测单元220 检测此些第一轴向导线124的多个感测信号(第三感测信号)，其中此 些第三感测信号是此些第一轴向导线124接收第一感测信号V^所对应产 生，此些第二感测信号是此些第二轴向导线144对应此些第三感测信号 所产生。其后是接续步骤338，故不再赘述。在本实施例中，此些第二感 测信号包含第一、第二轴向导线124、 126间的杂散电容值。
在上述三较佳实施例(图3C与图3D)中，第一轴向导线124的轴向 包含X轴向，第二轴向导线144的轴向包含Y轴向，且此相对坐标包含 一X轴-Y轴的直角坐标，抑或是，第一轴向导线124的轴向包含Y轴向， 第二轴向导线144的轴向包含X轴向的变化。其中，第一、第二轴向导 线124、 144包含透明导线且第一、第二轴向导线124、 144之间是以一 透明介电层隔离。此外，第一感测信号Vw是由一感测电压源或一感测电 流源提供，而感测单元220可以包含至少一电流检测器或至少一电荷检 观ll器。
此外，上述三较佳实施例(图3C与图3D)在检测第一、第二轴向导 线124、 144的感测信号时，无论其等的检测方式是同时检测或是先后检 测，其等的检测步骤可为依序检测第一轴向导线124的感测信号及依序 检测第二轴向导线144的感测信号，其中，可以是单一第一、第二轴向 导线124、 144逐一循序检测，亦可以是多条第一、第二轴向导线124、 144一并循序检测。此外，其等的检测步骤亦可为选择检测第一轴向导线 124的感测信号及选择检测第二轴向导线144的感测信号，亦即其等的检测步骤并非以循序方式进行，例如交错检测等，同理，可以是单一第 一、第二轴向导线124、 144逐一检测，亦可以是多条第一、第二轴向导
线124、 144一并检测。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用以限定本发明的权 利要求；凡其它为脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰， 均应包含在权利要求。
权利要求
1.一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方法，该投射电容式触控方法包含(a)提供一第一感测信号于多条第一轴向导线与多条第二轴向导线，其中该些第一、第二轴向导线为彼此电性隔离；(b)检测该些第一、第二轴向导线的多个第二、第三感测信号，其中该些第二感测信号是该些第一轴向导线接收该第一感测信号所对应产生，该些第三感测信号是该些第二轴向导线接收该第一感测信号所对应产生；以及(c)分别以该些第二、第三感测信号变化至少一较大者对应一相对坐标以得到至少一触点于该相对坐标的坐标位置。
2. 如权利要求1所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该步骤(b) 包含下列变化的某一种同时检测该些第一、第二轴向导线的该些第二、 第三感测信号；及先检测该些第一轴向导线的该些第二感测信号，再检 测该些第二轴向导线的该些第三感测信号。
3. 如权利要求1所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该步骤(b) 至少可以为下列变化的某一种或其任意组合分别依序检测该些第一、 第二轴向导线的该些第二、第三感测信号；分别选择检测该些第一、第 二轴向导线的该些第二、第三感测信号；及分别检测该些第一、第二轴 向导线的该些第二、第三感测信号其中至少之一。
4. 如权利要求1所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该些第一 轴向导线的轴向包含下列可能变化X轴向及Y轴向，该些第二轴向导 线的轴向包含下列可能变化Y轴向及X轴向，且该相对坐标包含一X 轴-Y轴的直角坐标。
5. 如权利要求1所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该第一感 测信号包含由下列的一装置所提供 一感测电压源及一感测电流源，该 些第二、第三感测信号包含由下列的一装置所检测 一电流检测器及一 电荷检测器。
6. —种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控方法，其特征在于，该投射电容式触控方法包含(a) 提供一第一感测信号于多条第一轴向导线，其中该些第一轴向导 线为彼此电性隔离；(b) 检测该些第一轴向导线的多个感测信号与多条第二轴向导线的多 个感测信号，其中该些第二轴向导线彼此电性隔离且与该些第一轴向导 线亦彼此电性隔离，该些第一轴向导线的该些感测信号是该些第一轴向 导线接收该第一感测信号所对应产生，该些第二轴向导线的该些感测信 号是该些第二轴向导线对应该些第一轴向导线的该些感测信号所对应产生；以及(c) 分别以该些第一、第二轴向导线的该些感测信号变化至少一较大 者对应一相对坐标以得到至少一触点于该相对坐标的坐标位置。
7. 如权利要求6所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该步骤(b) 包含下列可能变化同时检测该些第一、第二轴向导线的该些感测信号； 先检测该些第一轴向导线的该些感测信号，再检测该些第二轴向导线的 该些感测信号；及先检测该些第二轴向导线的该些感测信号，再检测该些第一轴向导线的该些感测信号。
8. 如权利要求6所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该步骤(b)至少可以为下列可能变化的某一种或其任意组合分别依序检测该些第一、第二轴向导线的该些感测信号；分别选择检测该些第一、第二轴向 导线的该些感测信号；及分别检测该些第一、第二轴向导线的该些感测 信号其中至少之一。
9. 如权利要求6所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该些第一 轴向导线的轴向包含下列可能变化X轴向及Y轴向，该些第二轴向导 线的轴向包含下列可能变化Y轴向及X轴向，且该相对坐标包含一X 轴-Y轴的直角坐标。
10. 如权利要求6所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该第一感测信号包含由下列的一装置所提供 一感测电压源及一感测电流源， 该些第一、第二轴向导线的该些感测信号包含由下列的一装置所检测 一电流检测器及一电荷检测器。
11. 如权利要求6所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该些第二轴向导线的该些感测信号包含该些第一轴向导线与该些第二轴向导线 间的杂散电容值。
12. —种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装置，其特征 在于，该投射电容式触控装置包含一第一感测层，具有多条第一轴向导线，该些第一轴向导线彼此电 性隔离且对应电性连接多条第一连外导线；一第二感测层，具有多条第二轴向导线，该些第二轴向导线彼此电 性隔离且对应电性连接多条第二连外导线，其中该第二感测层相叠于一 介电层之上，该介电层相叠于该第一感测层之上，该第一感测层相叠于一基板之上；一信号加载线，电性连接该些第二连外导线，用以提供一第一感测信号；以及一感测单元，电性连接该些第一、第二连外导线，用以检测该些第 一、第二轴向导线的感测信号。
13. 如权利要求12所述的投射电容式触控装置，其特征在于，该第一 感测层、该些第一轴向导线、该第二感测层、该些第二轴向导线、该介 电层、该基板是透明材质，其中该第一感测层还包含多个第一样式化透 明电极周期性串接于该些第一轴向导线，该第二感测层还包含多个第二 样式化透明电极周期性串接于该些第二轴向导线。
14. 如权利要求12所述的投射电容式触控装置，其特征在于，该些第 --轴向导线的轴向包含下列可能变化X轴向及Y轴向，该些第二轴向 导线的轴向包含下列可能变化Y轴向及X轴向。
15. 如权利要求12所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该信号 加载线电性连接一控制开关以接收传送该第一感测信号，该控制开关包含下列之一 一电子式开关及一机电式开关，其中该信号加载线还包含电性连接该些第一连外导线。
16. 如权利要求12所述的投射电容式触控方法，其特征在于，该感测 单元包含通过至少一多任务器电性连接该些第一、第二连外导线，该感测单元包含至少下列的一装置 一电流检测器及一电荷检测器。
全文摘要
本发明公开一种防止导电物质影响触点检测的投射电容式触控装置及方法，其包含一第一感测层，具有多条第一轴向导线彼此电性隔离且对应电性连接多条第一连外导线；一第二感测层，具有多条第二轴向导线彼此电性隔离且对应电性连接多条第二连外导线，其中此第二感测层依序相叠于一介电层、此第一感测层、一基板上；一信号加载线，电性连接此些第一、第二连外导线，用以提供一第一感测信号；以及一感测单元，电性连接此些第一、第二连外导线，用以检测此些第一、第二轴向导线的感测信号。
文档编号G06F3/041GK101561736SQ200910004920
公开日2009年10月21日 申请日期2009年2月20日 优先权日2008年4月15日
发明者张钦富, 李政翰, 林昱翰 申请人:禾瑞亚科技股份有限公司