专利名称：测试系统和方法
测试系统和方法技术领域
本申请公开的内容涉及一种测试系统和测试方法 背景技术
现有技术中，厂商提到的设备最大I0PS(每秒读写次数)通常是采用不公布被测 设备的具体配置细节的“黑盒”测试方法测得的。具体而言，在被测设备上生成一个与被测 设备的Cache大小相差不大的测试文件，生成的测试文件不能保证能够遍历所有逻辑存储 单元(LUN)。由于生成的测试文件只分布于部分LUN之上，当进行读IO测试时，经过首次读 IO操作后，该文件被装入Cache，以后的读写均在Cache中完成，因此得到结果均为Cache 的IOPS ；当进行写IO测试时，被测设备也将数据直接写至Cache中，并返回写成功操作指 示，然后被测设备根据各自算法在CPU空闲时进行写磁盘操作；这样，测试过程中并不能得 到真正的磁盘写IO处理性能，也得不到各被测设备写Cache算法中从Cache到磁盘的实际 写时间。发明内容
本申请将提供一种能够遍历所有磁盘进行IO读写性能的测试系统和测试方法。
根据本申请一方面的测试系统可包括被测模块，划分为多个逻辑存储单元；至 少一个压力机，其每一个用于对至少一个所述逻辑存储单元的IO性能进行测试；以及控制 模块，用于为每个逻辑存储单元设置测试模型；其中，所述控制模块控制所述多个压力机中 的至少一个根据所述测试模型对每个逻辑存储单元的IO性能进行测试。
根据本申请另一方面的测试方法可包括将被测模块划分为多个LUN ；为所述多 个LUN中的每一个设置测试模型；为所述多个LUN中的每一个绑定至少一个测试进程；以 及基于所述测试模型，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个LUN中的每一个进行 IO性能测试。
根据上述的测试系统和方法，可提供比传统测试工具更为详细的测试结果，包括 磁盘读I0PS、Cache写I0PS、Cache写磁盘I0PS、吞吐带宽等。
图1示出了根据本发明一个实施方式的测试系统的方框图2为图1中示出的压力机的具体结构方框图3示例性地示出了被测模块的LUN与压力机之间的关系；
图4示出了根据本发明一个实施方式的测试方法的流程图5示出了压力机进行I/O压力加载的模型图6示出了根据本发明一个实施方式读测试的流程图；以及
图7示出了根据本发明一个实施方式读测试的流程图。
具体实施方式
如图1所示，根据本发明一个实施方式的测试系统1000包括控制模块10、多个压 力机20-1,20-2. · · 20-n、被测模块30和连接模块40。
控制模块10用于分别为被测模块30设置IO压力模型，并控制压力机20-1、 20-2. . . 20-n根据设置的IO压力模型生成不同数目的测试进程(worker)，以对被测模块30 进行IO读/写测试。被测模块30可以是任意的存储设备或系统，并被划分为多个逻辑存储 单元(LUN)。在一个实施方式中，被测模块30被划分为以73G或146G为单位的多个LUN。
控制模块10设置的IO压力模型可包括IO块大小、IO读写比例、IO顺序随机比 例等参数。可根据不同应用的IO读写特点，确定不同的I/O压力模型，例如，用于OLTP和 OLAP的压力模型的具体模型参数可分别如表1和表2所示
权利要求
1.一种测试系统，包括被测模块，划分为多个逻辑存储单元；至少一个压力机，其每一个用于对至少一个所述逻辑存储单元的IO性能进行测试；以及控制模块，用于为每个逻辑存储单元设置测试模型；其中，所述控制模块控制所述多个压力机中的至少一个根据所述测试模型对每个逻辑 存储单元的IO性能进行测试。
2.如权利要求1所述的系统，其中，每个所述压力机包括测试模块，用于控制所述测试模块根据所述被测模块的逻辑存储单元个数生成一个或 多个测试进程，每个所述测试进程与所述多个逻辑存储单元中的至少一个绑定。
3.如权利要求2所述的系统，其中，每个所述压力机还包括测试文件生成模块，用于为每一个绑定的逻辑存储单元生成一个测试文件； 其中，所述测试文件大小为整个逻辑存储单元的容量，以及每个所述测试进程通过对 所述测试文件进行读操作，测试所述绑定的逻辑存储单元的读性能。
4.如权利要求3所述的系统，其中，所述测试模块被配置为通过所述测试进程测试所 述绑定的逻辑存储单元的写性能。
5.如权利要求4所述的系统，其中，每个所述压力机还包括验证模块，用于通过预置文件验证每个所述测试进程对所述读性能和写性能的测试结 果；以及统计模块，根据所述验证模块验证的结果分别计算读IO错误率和写IO错误率。
6.一种测试方法，包括将被测模块划分为多个逻辑存储单元； 为所述多个逻辑存储单元中的每一个设置测试模型； 为所述多个逻辑存储单元中的每一个绑定至少一个测试进程；以及 基于所述测试模型，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻辑存储单元中的 每一个进行IO性能测试。
7.如权利要求6所述的方法，其中，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻 辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括在所述多个逻辑存储单元中的每一个上生成一个测试文件；以及 通过读取所述测试文件计算每个所述逻辑存储单元的读性能。
8.如权利要求7所述的方法，其中，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻 辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括记录所述至少一个测试进程中的每一个将测试内容写入所述被测设备的Cache的第 一测试时间；读取所述多个LUN中的每一个的扇区的内容，以确认所述测试内容是否真正已写入相 应的扇区；如果确认已经将测试内容写入相应的扇区，则记录第二测试时间； 根据所述第一测试时间计算写Cache性能参数；以及 根据所述第一测试时间和第二测试时间计算Cache写磁盘的性能参数。
9.如权利要求8所述的方法，其中，利用所述绑定的至少一个测试进程对所述多个逻 辑存储单元中的每一个进行IO性能测试的步骤还包括验证每个所述测试进程对所述读性能和写性能的测试结果；以及 根据验证的结果分别计算读IO错误率和写IO错误率。
10.如权利要求8所述的方法，其中，所述写Cache性能参数包括写Cache操作的响应 时间、写Cache操作的IOPS和写Cache操作的吞吐带宽；以及其中，所述Cache写磁盘的性能参数包括所述Cache写磁盘的响应时间、Cache写磁盘 的IOPS和Cache写磁盘的吞吐带宽。
全文摘要
公开了一种测试系统和方法。所述测试系统可包括被测模块，划分为多个逻辑存储单元；至少一个压力机，其每一个用于对至少一个所述逻辑存储单元的IO性能进行测试；以及控制模块，用于为每个逻辑存储单元设置测试模型；其中，所述控制模块控制所述多个压力机中的至少一个根据所述测试模型对每个逻辑存储单元的IO性能进行测试。
文档编号G06F11/22GK102033796SQ20091017711
公开日2011年4月27日 申请日期2009年9月25日 优先权日2009年9月25日
发明者唐本亭, 张峰, 程卫东, 贠文辉, 赵丹怀, 赵立君, 高峰, 鲁江华 申请人:中国移动通信集团公司