专利名称：Sas接口测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种SAS接口测试装置。
背景技术：
SAS(Serial Attached SCSI),即串行连接 SCSI(Small computer systems interface，小型计算机系统接口)，是新一代的SCSI技术，其是在并行SCSI之后开发出来 的全新接口技术。SAS接口的设计是为了改善存储系统的效能、可用性和扩充性。目前测 试SAS接口的方法是测试一具有SAS接口的SAS硬盘，从而测试SAS接口的数据读写功能。 然而这种测试方法在较恶劣的测试环境下，如高温或低温，容易损坏SAS硬盘，使得测试成 本较高。
发明内容
鉴于上述内容，有必要提供一种可以取代SAS硬盘以对SAS接口测试的SAS接口 测试装置。一种SAS接口测试装置，用于测试一 SAS接口，所述SAS接口测试装置包括一用于接收外部测试指令的SAS信号调节芯片，其与所述SAS接口相连；一用于存储配置信息的第一存储芯片，其与所述SAS信号调节芯片相连，所述配 置信息包含有SAS信号调节芯片的工作模式等信息；—用于SATA数据与SAS数据转换的SAS/SATA信号转换器，其与所述SAS信号调 节芯片相连；一用于SATA数据与并行数据转换的串行/并行信号转换器，其与所述SAS/SATA 信号转换器相连；及一用于存储并行数据的第二存储芯片，其与所述串行/并行信号转换器相连。本发明SAS接口测试装置通过所述SAS信号调节芯片确定工作模式，所述SAS/ SATA信号转换器进行SATA数据与SAS数据之间的转换，所述串行/并行信号转换器进行 SATA数据与并行数据之间的转换，所述第二存储芯片存储并行数据。本发明SAS接口测试 装置模拟了 SAS硬盘以对SAS接口测试，降低了测试成本。
图1为本发明SAS接口测试装置的较佳实施方式的原理图。
具体实施例方式下面参照附图结合具体实施方式
对本发明作进一步的描述。请参照图1，本发明SAS接口测试装置100用于对一 SAS接口 200进行测试。本 发明SAS接口测试装置100的较佳实施方式包括一 SAS信号调节芯片102、一第一存储芯 片104、一指示灯106、一 SAS/SATA信号转换器108、一串行/并行信号转换器110、一石英振荡器112及一第二存储芯片114。所述SAS接口 200包括一供电端PWS、一电源接口 PWR、一第一硬盘数据端DHl、一 第二硬盘数据端DH2及一主板数据端DB。所述电源接口 PWR及主板数据端DB均与一主板 300相连。所述SAS信号调节芯片102的型号为PMC8381，其包括一第一电源端PWl、一第一 数据传输端DT1、一第二数据传输端DT2、一第三数据传输端DT3、一第四数据传输端DT4、一 通用输入/输出端口(General Purpose hput/Output)GPl、一配置端口 TWI及七位寻址端 口 Dl D7。所述第一电源端PWl与所述SAS接口 200的供电端PWS相连。第一数据传输 端DTl与所述SAS接口 200的第一硬盘数据端DHl相连，第三数据传输端DT3与所述SAS接 口 200的第二硬盘数据端DH2相连。所述配置端口 TWI与所述第一存储芯片104相连。所 述通用输入/输出端口 GPl与所述指示灯106相连。所述指示灯106用于指示所述SAS信 号调节芯片102的工作状态。比如，当所述SAS信号调节芯片102正常工作时，即所述SAS 信号调节芯片102成功接收外部的测试指令并设定工作模式时，所述指示灯106显示绿色； 当所述SAS信号调节芯片102工作异常时，即所述SAS信号调节芯片102不能根据外部测 试指令设定工作模式时，所述指示灯106显示红色。所述SAS/SATA信号转换器108的型号为LSISS1320，其包括一第一 SAS信号端 PA1、一第二 SAS信号端PA2、一第一 SATA信号端PBl及一第二电源端PW2。所述第一 SAS 信号端PAl与所述SAS信号调节芯片102的第二数据传输端DT2相连，所述第二 SAS信号 端PA2与所述SAS信号调节芯片102的第四数据传输端DT4相连。所述第二电源端PW2与 所述SAS接口 200的供电端PWS相连。所述串行/并行信号转换器110的型号为PS3102，其包括一第二 SATA信号端PB2、 一时钟输入端CLK、一第一地址端AD1、一第一数据端DA1、一通用输入/输出端口 GP2及一 第三电源端PW3。所述第二 SATA信号端PB2与所述SAS/SATA信号转换器108的第一 SATA 信号端PBl相连。所述时钟输入端CLK与所述石英振荡器112相连，所述石英振荡器112为 所述串行/并行信号转换器110提供工作频率。所述第三电源端PW3与所述SAS接口 200 的供电端PWS相连。所述第二存储芯片114的型号为MX^LV160C，其包括一第二地址端AD2、一第二数 据端DA2、一工作模式设定端MOD及一第四电源端PW4。所述第二地址端AD2与所述串行/ 并行信号转换器110的第一地址端ADl相连。所述第二数据端DA2与所述串行/并行信号 转换器110的第一数据端DAl相连。所述工作模式设定端MOD与所述串行/并行信号转换 器110的通用输入/输出端口 GP2相连。所述第四电源端PW4与所述SAS接口 200的供电 端PWS相连。下面对本发明SAS接口测试装置100的工作原理进行说明。所述主板300依次通过所述SAS接口 200的电源接口 PWR及供电端PWS为所述 SAS信号调节芯片102、SAS/SATA信号转换器108、串行/并行信号转换器110及第二存储 芯片114供电。一 SAS缓冲控制器(图未示)连接于所述主板300的系统总线(图未示) 与所述SAS接口 200之间。所述SAS缓冲控制器用于传送或接收SAS数据。所述第一存储芯片104中存储有所述SAS信号调节芯片102的配置信息，比如工 作模式信息。测试人员通过设定七位寻址端口 Dl D7的电平将一测试指令输入到所述SAS信号调节芯片102中，其中可通过将一寻址端口通过上拉电阻与一电源相连即可将该寻址 端口设置为高电平、将一寻址端口接地即可将该寻址端口设置为低电平。当所述SAS信号 调节芯片102接收到测试指令后，其即通过配置端口 TWI读取所述第一存储芯片104中存 储的配置信息，从而设定所述SAS接口测试装置100的工作模式。同时，所述SAS信号调节 芯片102还在读取配置信息之后通过所述通用输入/输出端口 GPl输出对应的信号以控制 指示灯106，以指示用户此时所述SAS信号调节芯片102成功接收外部的测试指令并设定工 作模式。若所述SAS接口测试装置100的工作模式是“写数据”，则所述SAS缓冲控制器将 SAS数据依次通过所述SAS接口 200的主板数据端DB、第一硬盘数据端DHl或第二硬盘数 据端DH2对应传输到所述SAS信号调节芯片102的第一数据传输端DTl或第三数据传输端 DT3。所述SAS信号调节芯片102的第二数据传输端DT2或第四数据传输端DT4再将 SAS数据及测试指令对应传送到所述SAS/SATA信号转换器108的第一 SAS信号端PAl或第 二 SAS信号端PA2。所述SAS/SATA信号转换器108将所述SAS数据转换为串行高级技术附件(krial Advanced Technology Attachment, SATA)数据并通过所述第一 SATA 信号端 PBl 将 SATA 数 据及测试指令传送到所述串行/并行信号转换器110的第二 SATA信号端PB2。所述串行/并行信号转换器110接收到所述测试指令后通过所述通用输入/输出 端口 GP2控制所述第二存储芯片114的工作模式为“写数据”，并将所述SATA数据转换为并 行数据。然后所述串行/并行信号转换器110将并行数据通过所述第一数据端DAl及第二 数据端DA2存储到所述第二存储芯片114上。根据上述描述可知，用户只需测试并行数据是否成功存储到所述第二存储芯片 114上，若并行数据能成功存储到114上即代表所述SAS接口 200在写数据时工作正常。若所述SAS接口测试装置100的工作模式是“读数据”，则所述SAS信号调节芯片 102通过所述SAS/SATA信号转换器108将测试指令传送给所述串行/并行信号转换器110。 所述串行/并行信号转换器110通过所述通用输入/输出端口 GP2控制所述第二存储芯片 114的工作模式为“读数据”同时将测试指令中的寻址信号通过第一地址端ADl输出给所述 第二存储芯片114。所述第二存储芯片114依据所述寻址信号将所述第二存储芯片114中对应位址的 并行数据输出到所述串行/并行信号转换器110的第一数据端DA1。所述串行/并行信号转换器110将并行数据转换为SATA数据并输出对应的SATA 数据到所述SAS/SATA信号转换器108的第一 SATA信号端PBl。所述SAS/SATA信号转换器108将所述SATA数据转换为SAS数据并将所述SAS数 据传输到所述SAS信号调节芯片102的第二数据传输端DT2或第四数据传输端DT4。所述SAS信号调节芯片102将所述SAS数据传输到所述SAS接口 200的第一硬盘 数据端DHl或第二硬盘数据端DH2。所述SAS数据再通过所述主板数据端DB被传送到所述 主板300上的SAS缓冲控制器。与“写数据”工作模式的原理相同，若所述SAS缓冲控制器成功接收到SAS数据则 代表所述SAS接口 200在读数据时工作正常。
本发明SAS接口测试装置通过所述SAS信号调节芯片102确定工作模式，所述 SAS/SATA信号转换器108进行SATA数据与SAS数据之间的转换，所述串行/并行信号转换 器110进行SATA数据与并行数据之间的转换，所述第二存储芯片114存储并行数据。本发 明SAS接口测试装置模拟了 SAS硬盘以对SAS接口测试，降低了测试成本。
权利要求
1.一种SAS接口测试装置，用于测试一 SAS接口，所述SAS接口测试装置包括一用于接收外部测试指令的SAS信号调节芯片，其与所述SAS接口相连；一用于存储配置信息的第一存储芯片，其与所述SAS信号调节芯片相连，所述配置信 息包含有SAS信号调节芯片的工作模式等信息；一用于SATA数据与SAS数据转换的SAS/SATA信号转换器，其与所述SAS信号调节芯 片相连；一用于SATA数据与并行数据转换的串行/并行信号转换器，其与所述SAS/SATA信号 转换器相连；及一用于存储并行数据的第二存储芯片，其与所述串行/并行信号转换器相连。
2.如权利要求1所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述SAS信号调节芯片包括一 第一电源端、一第一数据传输端、一第二数据传输端、一配置端口及若干寻址端口，所述第 一电源端及第一数据传输端均与所述SAS接口相连，所述第二数据传输端与所述SAS/SATA 信号转换器相连，所述配置端口与所述第一存储芯片相连，所述若干寻址端口用于接收所 述测试指令，所述测试指令通过配置端口读取所述第一存储芯片中存储的配置信息，以设 定所述SAS接口测试装置的工作模式。
3.如权利要求2所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述SAS/SATA信号转换器包 括一第一 SAS信号端、一第一 SATA信号端及一第二电源端，所述第一 SAS信号端与所述SAS 信号调节芯片的第二数据传输端相连，所述第一 SATA信号端与所述串行/并行信号转换器 相连，所述第二电源端与所述SAS接口相连。
4.如权利要求3所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述串行/并行信号转换器 包括一第二 SATA信号端、一第一地址端、一第一数据端、一第一通用输入/输出端口及一第 三电源端，所述第二 SATA信号端与所述SAS/SATA信号转换器的第一 SATA信号端相连，所 述第一地址端、第一数据端及第一通用输入/输出端口与所述第二存储芯片相连，所述第 三电源端与所述SAS接口相连。
5.如权利要求4所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述串行/并行信号转换器 还包括一时钟输入端，所述SAS接口测试装置还包括一石英振荡器，所述石英振荡器与所 述串行/并行信号转换器的时钟输入端相连，所述石英振荡器为所述串行/并行信号转换 器提供工作频率。
6.如权利要求4所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述第二存储芯片包括一第 二地址端、一第二数据端、一工作模式设定端及一第四电源端，所述第二地址端与所述串行 /并行信号转换器的第一地址端相连，所述第二数据端与所述串行/并行信号转换器的第 一数据端相连，所述工作模式设定端与所述串行/并行信号转换器的第一通用输入/输出 端口相连，所述第四电源端与所述SAS接口相连。
7.如权利要求6所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述SAS接口包括一供电端、 一电源接口、一第一硬盘数据端及一主板数据端，所述电源接口及主板数据端均与一主板 相连，所述第一硬盘数据端与所述SAS信号调节芯片的第一数据传输端相连，所述供电端 与所述第一电源端、第二电源端、第三电源端及第四电源端均相连。
8.如权利要求7所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述SAS接口还包括一第二 硬盘数据端，所述SAS信号调节芯片还包括一第三数据传输端及一第四数据传输端，所述SAS/SATA信号转换器还包括一第二 SAS信号端，所述第三数据传输端与所述SAS接口的第 二硬盘数据端相连，第四数据传输端与所述第二 SAS信号端相连。
9.如权利要求1所述的SAS接口测试装置，其特征在于所述SAS接口测试装置还包 括一指示灯，所述SAS信号调节芯片还包括一第二通用输入/输出端口，所述第二通用输入 /输出端口与所述指示灯相连，所述指示灯用于指示所述SAS信号调节芯片的工作状态。
全文摘要
一种SAS接口测试装置包括一SAS信号调节芯片、一SAS/SATA信号转换器、一串行/并行信号转换器及一第二存储芯片。本发明SAS接口测试装置通过所述SAS信号调节芯片确定工作模式，所述SAS/SATA信号转换器进行SATA数据与SAS数据之间的转换，所述串行/并行信号转换器进行SATA数据与并行数据之间的转换，所述第二存储芯片存储并行数据。
文档编号G06F11/267GK102063357SQ20091030966
公开日2011年5月18日 申请日期2009年11月13日 优先权日2009年11月13日
发明者李圣义 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司