专利名称：主板测试支架的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种主板测试支架。
背景技术：
随着电脑运算速度的不断加快，作为电脑核心部件CPU的功耗也越来越大，相对应电脑CPU散热要求也越来越高，而更高的散热要求使得CPU散热器越做越大，重量也随之加重。在计算机主机板的研发和制造阶段，需要单独对主板进行信号完整性、功能型、可靠性等一系列的测试，此时主板没有固定在机箱内，而是用一些螺柱加以支撑，此时过重的 CPU散热器会把主机板压弯造成PCB形变，进而造成PCB内信号走线发生形变或断裂。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种主板测试支架，以支撑主板以防止主板在测试时被压弯变形。一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件设置在所述前壁与所述后壁之间，所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。本发明主板测试支架包括所述框架、所述第一辅助支撑件及第二辅助支撑件，当所述待测主板进行测试时通过所述框架、所述第一及第二辅助支撑件可以对所述待测主板进行有效地支撑，从而防止了所述待测主板在测试时被压弯变形。
下面结合附图及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述图1是本发明主板测试支架第一较佳较佳实施方式的示意图。图2是图1主板测试支架支撑的待测主板的示意图。图3是图1主板测试支架支撑待测主板的示意图。图4是本发明主板测试支架第二较佳较佳实施方式的示意图。主要元件符号说明待测主板1第一列通孔2第二列通孔3第三列通孔4第四列通孔5
公头螺柱6
母头螺柱7
滑楣8
散热元件9
框架10
前_11
后_12
侧_13
收容区14
第— 辅助支撑件20
第二辅助支撑件30
第—-列螺孔41
第二列螺孔42
第三列螺孔43
第四列螺孔44
层绝缘材料50
主板测试支架100
具体实施例方式请参考图1及图2，本发明主板测试支架100用于支撑一待测主板1。所述主板测试支架100第一较佳实施方式包括一框架10、一第一辅助支撑件20及一第二辅助支撑件 30。所述框架10、所述第一及第二辅助支撑件20、30是由刚性材料制成的。所述待测主板 1的两侧缘处开设有第一及第二列通孔2、3，所述待测主板1还在靠近其一侧缘处开设有平行于其两侧缘的第三及第四列通孔4、5。一散热元件9设置于所述第二列通孔3与所述第四列通孔5之间。所述框架10的轮廓尺寸与所述待测主板1的轮廓尺寸相同。所述框架10呈长方形，其包括一前壁11、一后壁12及两侧壁13。所述前壁11、所述后壁12及两侧壁13—体成型，并共同围成一收容区14。所述第一及第二辅助支撑件20、30呈条状。所述第一及第二辅助支撑件20、30设置在所述前壁11与所述后壁12之间且与所述两侧壁13平形，所述第一及第二辅助支撑件20、30的两端分别固定在所述框架10的前壁11及后壁12靠近一侧壁13的内侧使得所述第一及第二支撑件20、30对应所述主板1上的第三及第四列通孔 4、5。所述第一及第二辅助支撑件20、30的上表面与所述框架10的前壁11、后壁12及两侧壁13的上表面在同一平面。所述两侧壁13上分别开设对应所述待测主板1的第一及第二列通孔2、3的第一及第二列螺孔41、42。所述第一辅助支撑件20上开设对应所述待测主板1的第三列通孔4的第三列螺孔43。所述第二辅助支撑件30上开设对应所述待测主板 1上的第四列通孔5的第四列螺孔44。所述第一及第二辅助支撑件20、30的上表面与所述框架10的前壁11、后壁12及两侧壁13的上表面除了第一至第四列螺孔41-44的位置外均贴附一层绝缘材料50来使所述主板测试支架100与所述待测主板1绝缘。请参考图3，当需要对所述待测主板1进行测试时，将所述待测主板1置于所述主板测试支架100上，使得所述待测主板1上的第一至第四列通孔2-5分别对应所述主板测试支架100上的第一至第四列螺孔41-44，通过若干公头螺柱6穿过每一通孔及对应的每一螺孔与若干母头螺柱7锁合来将所述待测主板1固定并支撑在所述主板测试支架100上。在其他实施方式中，所述第一及第二辅助支撑件20、30在所述前壁11及后壁12 的内侧的位置可以根据实际进行调整。所述第一及第二辅助支撑件20、30也可滑动地固定在所述框架10的前壁11及后壁12的内侧，即在所述框架10的前壁11及后壁12的内侧分别开设一滑槽8 (请参考图4)使所述第一及第二辅助支撑件20、30的两端分别容置在所述前壁11及后壁12的滑槽8内，并根据需要选择性地固定在滑槽8的任意位置，如通过螺丝穿过所述前壁11及后壁12的底部与所述第一及第二支撑件20、30的两端锁合的方式固定。从而可以通过调节所述第一及第二辅助支撑件20、30固定在所述滑槽内的位置来对应不同待测主板的通孔位置从而对不同待测主板进行固定和支撑。所述框架10上的螺孔的位置可以根据支撑的待测主板上的通孔的位置不同来适应性地改变。所述第一及第二辅助支撑件20、30的数量可以根据实际需要进行调整。由于所述主板测试支架100包括所述框架10、所述第一辅助支撑件20及第二辅助支撑件30，当所述待测主板1进行测试时对所述待测主板1进行支撑，从而防止了所述待测主板1在测试时由于所述散热元件9的重量过重而将所述待测主板1压弯变形。
权利要求
1.一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件设置在所述前壁与所述后壁之间，所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。
2.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于所述框架的前壁及后壁的内侧分别开设一滑槽使所述第一及第二辅助支撑件的两端分别容置并滑动固定在所述前壁及后壁的滑槽内。
3.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于所述待测主板的两侧缘处开设有第一及第二列通孔，所述待测主板还在靠近其一侧缘处开设有平行于其两侧缘的第三及第四列通孔，所述框架的两侧壁上分别开设对应所述待测主板的第一及第二列通孔的第一及第二列螺孔，所述第一辅助支撑件上开设对应所述待测主板的第三列通孔的第三列螺孔， 所述第二辅助支撑件上开设对应所述待测主板上的第四列通孔的第四列螺孔。
4.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于所述框架、所述第一及第二辅助支撑件均由刚性材料制成。
5.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的上表面除了螺孔的位置外均贴附一层绝缘材料。
6.如权利要求1所述的主板测试支架，其特征在于所述框架的轮廓尺寸与所述待测主板的轮廓尺寸相同。
全文摘要
一种主板测试支架，用于支撑一待测主板，所述主板测试支架包括一框架、一第一辅助支撑件及一第二辅助支撑件，所述框架包括一前壁、一后壁及两侧壁，所述前壁、所述后壁及两侧壁围成一收容区，所述第一及第二辅助支撑件容置在所述收容区内，且所述第一及第二辅助支撑件的两端分别固定在所述前壁及后壁的内侧，所述第一及第二辅助支撑件的上表面与所述框架的前壁、后壁及两侧壁的上表面在同一平面，所述第一及第二辅助支撑件及所述框架上均设有对应所述待测主板上的通孔的螺孔以使螺柱可以穿过所述待测主板上的通孔及所述主板测试支架上的螺孔来固定并支撑所述待测主板。本发明防止了所述待测主板在测试时被压弯变形。
文档编号G06F11/26GK102339249SQ20101023916
公开日2012年2月1日 申请日期2010年7月28日 优先权日2010年7月28日
发明者黄发生 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司