专利名称：24联方非接触式ic卡inlay的测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及非接触式IC卡的测试领域，具体涉及一种24联方非接触式IC卡INLAY的测试系统。
背景技术：
非接触式IC卡又称射频卡，非接触式IC卡与读写设备无电路接触、由非接触式的读写技术进行读写(例如光或无线电技术)，其内嵌芯片除了存储单元，控制逻辑外，还增加了射频收发电路。目前非接触式IC卡的应用越来越广泛，例如:交通卡、门禁控制卡、电子消费卡、银行卡等领域都在不断应用非接触式IC卡，且均须符合IS07816标准；同时，还有许多各种各样的符合IS07816标准异形非接触式IC卡，形状上是各式各样，更能融入与市场需求。一张正常的IC卡，从芯片绑定到封装成成品，需要经过许许多多的特殊工艺，它首先将IC芯片与一定大小的铜线或铜箔天线焊接后，将其按一定的数量排列层压在PVC材料中，经过层压后，含IC芯片的PVC材料通常叫中料或INLAY，这些都是由IC卡本身的性质所决定的。其中很重要的一个环节，就是对INLAY的检测，传统的做法，对每个IC卡的INLAY都是用一个13.56兆频率的非接触式IC卡的读写设备进行单个检测，这种测试方法最主要的缺陷是:(I)准确度不高，存在有相邻的干扰；(2)效率低，当检测完24个INLAY时，至少需要3分钟，有漏测现象。因此，一种准确度和效率更高的测试系统成为了 IC卡生产商的迫切需求。
实用新型内容本实用新型提供了一种24联方非接触式IC卡INLAY的测试系统，使得生产商对于IC卡的测试准确度和效率更高。一种24联方非接触式IC卡INLAY测试系统，包括主机，其还包括控制电路、两个以上的读写装置、以及3*8排列的天线平台；所述控制电路的输入端与主机相连接，输出端与所述3*8排列的天线平台相连接,用于接收主机的控制命令,并控制天线的切换；所述读写装置的输入端通过感应天线与控制电路的输入端相连接，输出端与主机相连接，用于对相应天线对应的IC卡INLAY进行读写，并将输出结果返回到主机；所述3*8排列的天线平台受控制电路控制，用于接收相应卡位的IC卡无线射频信号。进一步地，所述主机通过RS232接口与所述控制电路相连接；进一步地，所述主机通过RS232或USB 口与读写装置相连接；进一步地，所述控制电路包括MCU控制器、两个以上的与MCU控制器相连接并接受控制器指令的选择器、以及与其中一个选择器相连接的驱动电路，所述驱动电路用于驱动与其相连接的微型继电器，所述选择器接收MCU控制器的指令后，根据指令中选择的天线位置，启动相应的继电器，切换到相应的天线，接收相对应IC卡的无线射频信号。优选地，所述选择器为两个，24个天线被分为两组分别与选择器相连接，受MCU控制器控制。需要说明的是，所述读写装置可以选择市面常规的读卡器即可，也可由生产商根据需要自行选定，3*8排列天线平台与所述读写装置频率配置须一致。本实用新型的有益效果:1、准确度更高:本实用新型在操作过程中都是通过主机自动运行程序进而对IC卡进行检测，最大限度的减少人为的错误；2、效率更高:本发明配置了 2个读写装置同时操作，比现有技术的单个检测速度提高速度2倍；3、使用范围广:只要将IC卡置于天线范围内即可对其进行检测。
图1为本实用新型结构示意图；图2为本实用新型所述3*8排列的天线平台。
具体实施方式
本实用新型提供了一种24联方非接触式IC卡INLAY的测试系统，如图1所示，为本实用新型结构示意图，所述测试系统包括主机、控制电路、两个以上的读写装置以及3*8排列的天线平台；所述控制电路的输入端与主机相连接，输出端与所述3*8排列的天线平台相连接，用于接收主机的控制命令，并控制天线的切换；所述读写装置的输入端通过感应天线与控制电路的输入端相连接，输出端与主机相连接，用于对相应天线对应的IC卡INLAY进行读写，并将输出结果返回到主机；所述3*8排列的天线平台受控制电路控制，用于接收相应卡位的IC卡无线射频信号。需要说明的是，为简化图示，所述读写装置包括2个以上的读写器，其每个读写器的连接方式与图1中所示相同。优选地，所述主机通过RS232接口与所述控制电路相连接；优选地，所述主机通过RS232或USB 口与读写装置相连接；如图2所示，为本实用新型所述3*8排列的天线板。所述控制电路包括MCU控制器、两个以上的与MCU控制器相连接并接受控制器指令的选择器、以及分别与其中一个选择器相连接的驱动电路，所述驱动电路用于驱动与其相连接的微型继电器，所述选择器接收MCU控制器的指令后，根据指令中选择的天线位置，启动相应的继电器，切换到相应的天线，接收相对应IC卡的无线射频信号。本实施例中，选择将24联方IC卡按一定规则放置天线范围内，24个天线被分成2组分别与选择器相连接，均由MCU控制器控制。启动主机，运行相关程序，并向控制电路的MCU控制器输出相应指令;MCU控制器接收主机的指令后，进行分析校验，并将选择天线的位置输出给相应的选择器，选择器启动相应的继电器切换到3*8排列的天线平台中相应的天线；切换天线后，所述天线能够接收到周转盘中对应位置的IC卡无线射频信号，相应读写器能够读写IC卡上的信息，并将上述信息反馈给主机；主机接收到上述信息后，对IC卡的正常与否进行判断，并按照程序进行下一次的测试，直至24张IC卡全部测试完毕。上述测试过程中，使用者可以设定同时测试IC卡的数量，两个或多个IC卡读写器可以同时工作，提高工作效率；同时，IC卡因排列规则，距离大于20mm，可以有效减少干扰的产生，提高测试的准确率。 以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换以及改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求1.24联方非接触式IC卡INLAY测试系统，包括主机，其特征在于，其还包括控制电路、两个以上的读写装置、以及3*8排列的天线平台；所述控制电路的输入端与主机相连接，输出端与所述3*8排列的天线平台相连接，用于接收主机的控制命令，并控制天线的切换；所述读写装置的输入端通过感应天线与控制电路的输入端相连接，输出端与主机相连接，用于对相应天线对应的IC卡INLAY进行读写，并将输出结果返回到主机；所述3*8排列的天线平台受控制电路控制，用于接收相应卡位的IC卡无线射频信号。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述主机通过RS232接口与所述控制电路相连接。
3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述主机通过RS232或USB口与读写装置相连接。
4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述3*8排列的天线平台与所述读写装置频率配置一致。
5.如权利要求1至4任一所述的测试系统，其特征在于，所述控制电路包括MCU控制器、两个以上的与MCU控制器相连接并接受控制器指令的选择器、以及与其中一个选择器相连接的驱动电路，所述驱动电路用于驱动与其相连接的微型继电器，所述选择器接收MCU控制器的指令后，根据指令中选择的天线位置，启动相应的继电器，切换到相应的天线，接收相对应IC卡的无线射频信号。
6.如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述选择器为两个，24个天线被分为两组分别与选择器相连接，受MCU控制器控制。
专利摘要本实用新型涉及一种24联方非接触式IC卡INLAY的测试系统。所述测试系统包括主机，其特征在于，其还包括控制电路、两个以上的读写装置、以及3*8排列的天线平台；所述控制电路的输入端与主机相连接，输出端与所述3*8排列的天线平台相连接，用于接收主机的控制命令，并控制天线的切换；所述读写装置的输入端通过感应天线与控制电路的输入端相连接，输出端与主机相连接，用于对相应天线对应的IC卡INLAY进行读写，并将输出结果返回到主机；所述3*8排列的天线平台受控制电路控制，用于接收相应卡位的IC卡无线射频信号。本实用新型的测试系统，使得测试的准确度和效率更高。
文档编号G06K17/00GK202995764SQ20122064630
公开日2013年6月12日 申请日期2012年11月29日 优先权日2012年11月29日
发明者忻伟 申请人:上海聚硕科技有限公司