技术总结
本发明公开了一种光学接触检测装置，包括对称放置在一物体表面两侧的发光管芯（410）和测光管芯（420），所述的发光管芯（410）和测光管芯（420）分别被透光体（502）封闭，该发光管芯（410）的透光体（502）有一个反光斜面（505）把发光管芯（410）所发出的光反射到测光管芯（420）；一个透明体（502）内封闭有多个等距排列的发光管芯（410），且多个等距排列的测光管芯（420）亦被另一个透明体（502）封闭，且对称设置在物体表面两侧的两个透明体（502）内的发光管芯（410）和测光管芯（420）一一对应。本发明通过同时缩小发光管芯之间的间距和测光管芯之间的间距，使得检测精度得以提高。
技术研发人员：江培根
受保护的技术使用者：江培根
技术研发日：2016.03.07
技术公布日：2018.10.19