技术总结
本发明提供了一种存储器的擦除方法，其在需执行多次擦除操作的过程中，还包括对所述多个扇区进行擦除校验以确认未完全擦除的扇区，从而在后续的擦除操作中，可仅对未完全擦除的扇区执行擦除操作，避免了对已为完全擦除的扇区再次执行多次的擦除操作。即，本发明提供的擦除方法中，可根据每个扇区的具体状况而执行相应次数的擦除操作，从而可有效防止对部分扇区执行多次不必要的擦除操作，以避免对存储器的擦除效率造成影响，进而可有效改善过擦除的现象，并进一步可大大缩减擦除过程的总时间。
技术研发人员：罗旭;张宇飞;龚斌
受保护的技术使用者：武汉新芯集成电路制造有限公司
文档号码：201610676522
技术研发日：2016.08.17
技术公布日：2017.01.04