本发明涉及射频标签技术领域，尤其涉及一种有源uhfrfid标签位速率的测试方法。
背景技术：
射频识别技术是二十世纪九十年代兴起的一种无线的、非接触方式的自动识别技术，是近几年发展起来的前沿科技项目。该技术主要是利用射频信号通过空间耦合实现无接触信息传递并通过所传递的信息达到识别目的。射频识别技术的显著优点在于非接触性，因此完成识别工作时无需人工干预，能够实现识别自动化且不易损坏；可识别高速运动的射频标签，也可同时识别多个射频标签，操作快捷方便；射频标签不怕油渍、灰尘污染等恶劣环境，且可以穿透非金属物体进行识别，抗干扰能力强。
现有的射频标签技术中，有源uhfrfid(特高频射频标签)被广泛的应用于物联网中，然而，由于目前缺少对有源uhfrfid的测试设备和测试方法，使得各种工作指标不统一的有源uhfrfid被混合使用，造成物联网或者相应的使用环境工作不稳定。
技术实现要素：
针对现有技术中存在的上述问题，现提供一种有源uhfrfid标签位速率的测试方法。
为实现上述目的，本发明采用了如下的技术方案：
一种有源uhfrfid标签位速率的测试方法，其中，提供一rfid标签读写器以及一射频信号分析装置，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述rfid标签读写器参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置参数，使所述射频信号分析装置工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述rfid标签读写器向一待测试标签发送选择文件命令；
步骤5，使所述射频信号分析装置采集所述rfid标签读写器与所述待测试标签通信过程中的射频信号；
步骤6，于接收到所述待测试标签的响应信号后，使所述rfid标签读写器向所述待测试标签发送读透明文件命令；
步骤7，接收并解调所述待测试标签对所述读透明文件命令的响应，形成解调数据；
步骤8，测量所述解调数据的码片速率，并根据所述码片速率计算获得位速率实测值；
步骤9，根据所述位速率实测值计算所述待测试标签的位速率准确度；
步骤10，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤9，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置为频谱分析仪。
本发明的另一方面，所述rfid标签读写器的工作频率为2400.00mhz～2483.50mhz。
本发明的另一方面，所述rfid标签读写器的工作频率范围被划分成16个信道。
本发明的另一方面，还提供一功分器及一环形器，所述射频信号分析装置及所述rfid标签读写器分别连接所述功分器的输出端口，所述功分器的输入端连接所述环形器的第一端口，所述rfid标签读写器还连接所述环形器的第二端口，所述环形器的第三端口连接所述待测试标签。
本发明的另一方面，所述步骤8中，计算所述位速率的方法为，所述位速率等于所述码片速率除以8。
本发明的另一方面，所述步骤9中，计算所述待测试标签位速率准确度的方法为，所述待测试标签位速率准确度等于所述待测试标签位速率的实测值减去所述待测试标签位速率的标称值之差的绝对值除以所述待测试标签位速率的标称值后乘以10的负6次方。
本发明的另一方面，所述步骤2中，将所述rfid标签读写器的工作信道设置为第0号信道，所述0号信道的中心频率为2405.00mhz。
本发明的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述待测试标签的文件格式、权限及内容。
本发明获得了以下有益效果：
可对有源uhfrfid标签的位速率及位速率准确度进行有效的测试。
附图说明
图1为本发明有源uhfrfid标签位速率的测试设备连接结构示意图；
图2为本发明有源uhfrfid标签位速率的测试方法的流程框图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的限定。
本发明提供一种有源uhfrfid标签位速率的测试方法，如图1、图2所示，其中，提供一rfid标签读写器2以及一射频信号分析装置1，并定义复数个测试用例，还包括以下步骤：
步骤1，选取一所述测试用例；
步骤2，根据选取的所述测试用例设置所述rfid标签读写器2参数；
步骤3，根据选取的所述测试用例设置所述射频信号分析装置1参数，使所述射频信号分析装置1工作于相应的信号分析模式；
步骤4，使所述rfid标签读写器2向一待测试标签5发送选择文件命令；
步骤5，使所述射频信号分析装置1采集所述rfid标签读写器2与所述待测试标签5通信过程中的射频信号；
步骤6，于接收到所述待测试标签5的响应信号后，使所述rfid标签读写器2向所述待测试标签5发送读透明文件命令；
步骤7，接收并解调所述待测试标签5对所述读透明文件命令的响应，形成解调数据；
步骤8，测量所述解调数据的码片速率，并根据所述码片速率计算获得位速率实测值；
步骤9，根据所述位速率实测值计算所述待测试标签5的位速率准确度；
步骤10，选取下一测试用例，并重复所述步骤2至所述步骤9，直至所有所述测试用例测试完毕。
本发明的另一方面，所述射频信号分析装置1为频谱分析仪。
本发明的另一方面，所述rfid标签读写器2的工作频率为2400.00mhz～2483.50mhz。
本发明的另一方面，所述rfid标签读写器2的工作频率范围被划分成16个信道。
本发明的另一方面，还提供一功分器3及一环形器5，所述射频信号分析装置1及所述rfid标签读写器2分别连接所述功分器3的输出端口，所述功分器3的输入端连接所述环形器4的第一端口，所述rfid标签读写器2还连接所述环形器4的第二端口，所述环形器4的第三端口连接所述待测试标签5。
本发明的另一方面，所述步骤8中，计算所述位速率的方法为，所述位速率等于所述码片速率除以8。
本发明的另一方面，所述步骤9中，计算所述待测试标签位速率准确度的方法为，所述待测试标签位速率准确度等于所述待测试标签位速率的实测值减去所述待测试标签位速率的标称值之差的绝对值除以所述待测试标签位速率的标称值后乘以10的负6次方。
本发明的另一方面，所述步骤2中，将所述rfid标签读写器的工作信道设置为第0号信道，所述0号信道的中心频率为2405.00mhz。
本发明的另一方面，于所述步骤1之前，预先初始化所述待测试标签的文件格式、权限及内容。初始化待测试标签的具体内容，如表1所示。
表1
在步骤1中，测试用例为o-qpsk调制及dbpsk调制，其中o-qpsk调制息位到扩频序列的映射见表2。
表2
dbpsk调制差分编码后的信息位到扩频序列的映射见表3。
表3
步骤2中，可将rfid标签读写器的调制方式设置成当前测试用例，信道设置为第0号信道，载波的中心频率设置成2405.00mhz。
步骤3中，射频信号分析装置可采用频谱分析仪。
步骤4中，选择文件命令的格式见表4。
表4
步骤6中，读透明文件命令的格式见表5。
表5
步骤7中，根据测试用例，以表2或者表3的映射方式对待测试标签读透明文件命令的响应进行解调，以获得解调数据。
步骤8中，将测量获得的待测试标签的码片速率的实测值除以8即可获得待测试标签的位速率实测值。
步骤9中，通过待测试标签位速率的实测值减去待测试标签位速率的标称值的差的绝对值，除以待测试标签位速率的标称值后乘以10的-6次方获得，待测试标签位速率的准确度。
随后以下一种调制方式作为测试用例重复上述步骤进行测试。
如待测试标签位速率为250kbps，位速率准确度为±10ppm，则测试通过，否则测试失败。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含在本发明的保护范围内。