触摸显示屏、显示装置及其修复方法与流程

文档序号:16133423发布日期:2018-12-01 00:36阅读:235来源:国知局

本申请涉及触摸显示技术领域,特别是涉及一种触摸显示屏、显示装置及其修复方法。

背景技术

目前,小尺寸内嵌式触摸显示屏技术应用越来越广泛,相比外挂式触摸显示屏,其不仅精确度更高,更加轻薄,而且能避免外挂式触摸显示屏室外可视性降低的现象(触摸基板和液晶基板之间物理空间容易造成光线反射)。内嵌式触摸显示屏的触摸功能一般设计在阵列基板上,扇出走线区的触摸走线由于位于平坦层(阵列基板最厚的膜层)上方,没有平坦层的保护而容易出现线路刮伤、受外力断裂、受阵列基板制程异物而导致断路。当触摸走线断路时,显示面板点灯无法有效拦截,只有模组点灯时,显示屏上会出现白色小方块,此种不良产品只能报废处理,造成材料的浪费,降低了产品的良率。

因此,有必要提出一种触摸显示屏、显示装置及其修复方法,以解决上述技术问题。



技术实现要素:

本申请主要解决的技术问题是提供一种触摸显示屏、显示装置及其修复方法,本申请的触摸显示屏能提高材料的利用率,提升产品的良率。

为解决上述技术问题,本申请采用的第一个技术方案是提供一种触摸显示屏,该触摸显示屏包括显示区以及位于显示区外围的驱动电路和修复走线,显示区与驱动电路间设置有多条触摸走线,修复走线位于触摸显示屏的衬底基板和触摸走线之间,在至少一条触摸走线断路时,修复走线的一端用于与断路的触摸走线和驱动电路连接的第一端连接,修复走线的另一端用于与断路的触摸走线和显示区连接的第二端连接。

为解决上述技术问题,本申请采用的第二个技术方案是提供一种显示装置,该显示装置包括如上任一所述的触摸显示屏。

为解决上述技术问题,本申请采用的第三个技术方案是提供一种触摸显示屏的修复方法,该修复方法包括:检测触摸走线是否断路;若触摸走线的第一端和第二端之间断路,则将修复走线的两端分别与第一端和第二端连接。

本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请的触摸显示屏包括显示区以及位于显示区外围的驱动电路和修复走线,显示区与驱动电路间设置有多条触摸走线,修复走线位于触摸显示屏的衬底基板和触摸走线之间,在至少一条触摸走线断路时,修复走线的一端用于与断路的触摸走线和驱动电路连接的第一端连接,修复走线的另一端用于与断路的触摸走线和显示区连接的第二端连接。通过本申请的触摸显示屏能提高材料的利用率,提升产品的良率。

附图说明

图1是本申请提供的触摸显示屏的截面结构示意图;

图2是本申请提供的触摸显示屏的一实施方式的俯视结构示意图;

图3是图2中扇出走线区中部分区域的结构放大示意图;

图4是本申请提供的触摸显示屏的另一实施方式的俯视结构示意图;

图5是本申请提供的触摸显示屏的修复方法一实施方式的流程示意图;

图6是本申请提供的显示装置一实施方式的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和技术效果更加明确、清楚,以下对本申请进一步详细说明,应当理解此处所描述的具体实施条例仅用于解释本申请,并不用于限定本申请。

触摸显示屏包括显示区和围绕显示区设置的非显示区,扇出走线区位于非显示区中,由于扇出走线区中的触摸走线位于平坦层(阵列基板最厚的膜层)上方,其没有平坦层的保护而容易出现线路刮伤、受外力断裂、受阵列基板制程异物而导致断路。为了解决扇出走线区中的触摸走线易断路而降低产品良率的技术问题,本申请将修复走线的一端与断路的触摸走线和驱动电路连接的第一端连接,将修复走线的另一端与断路的触摸走线和显示区连接的第二端连接。本申请的触摸显示屏能提高材料的利用率,提升产品的良率。

请参阅图1,图1是本申请提供的触摸显示屏的截面结构示意图。如图1所示,触摸显示屏的阵列基板包括衬底基板11及依次设置于衬底基板11上的半导体层12、栅极绝缘层13、栅极层14、介电层15、平坦层16、公共电极层17、保护层19。其中,显示区a内还设置有源/漏极120,源/漏极120与半导体层12电连接;非显示区b内设置有触摸走线18,位于平坦层16上方的触摸走线18,由于没有平坦层16的保护而容易出现线路刮伤、受外力断裂、受阵列基板制程异物而导致断路。为了防止因触摸走线18断路而导致产品的良率下降,本申请将修复走线的两端分别与发生断路的触摸走线18的第一端和第二端连接。以下,结合附图进行更详细的说明。

请参阅图2,图2是本申请提供的触摸显示屏的一实施方式的俯视结构示意图。如图2所示,触摸显示屏包括显示区21以及位于显示区21外围的驱动电路27和修复走线25,显示区21与驱动电路27间设置有多条触摸走线24,修复走线25位于触摸显示屏的衬底基板和触摸走线24之间,至少一条断路的触摸走线241和驱动电路27连接的第一端与修复走线25的一端连接,至少一条断路的触摸走线241和显示区21连接的第二端与修复走线25的另一端连接。其中,每条触摸走线24与驱动电路27连接的一端通过导电端子26电连接,触摸走线24用于将驱动电路27的电信号传输至显示区21;在显示区21的两侧还设置有阵列基板驱动电路22。图2中只示意性的画出了两条触摸走线24,一条触摸走线242未断路,一条触摸走线241断路,未断路的触摸走线242不需与修复走线25连接,断路的触摸走线241需与修复走线连接,图2中虚线圈出的地方为触摸走线241断路的位置。

图2中的多路分配器23设置于非显示区中,多路分配器23能节省空间,其两侧分别为显示区21和扇出走线区,多条触摸走线24与驱动电路27连接的一侧位于扇出走线区,修复走线25设置于扇出走线区,修复走线25与至少一条断路的触摸走线241邻近设置。

本实施例中,扇出走线区内的修复走线25包括预置金属走线251和/或面板测试走线252,扇出走线区内的修复走线25与显示区21内的薄膜晶体管同时形成,薄膜晶体管包括栅极、源/漏极,修复走线25的材质与栅极、源/漏极的材质相同。具体地,在触摸显示屏的衬底基板上形成栅极绝缘层,然后在栅极绝缘层镀膜,并通过图案化后分别在扇出走线区和显示区21形成修复走线25和薄膜晶体管。预置金属走线251与面板测试走线252间设置有绝缘层(图2中未示出),且修复走线25与触摸走线24间设置有绝缘层(图2中未示出)。图2中只示意性的画出了一条面板测试走线252以及一条预置金属走线251。

在一具体实施方式中,预置金属走线251为在制备显示屏的过程中,设置于扇出走线区内的金属走线,扇出走线区内的预置金属走线251相互不交叉设置,比如相互平行设置,也可以不平行设置,只要满足预置金属走线251间相互不交叉即可。一条预置金属走线251相当于一段导线,面板测试走线252主要应用于cell点灯测试和模组点灯测试中。因此,当进行完点灯测试后,可将预置金属走线251和面板测试走线252用于修复发生断路的触摸走线241。本实施例中,面板测试走线251位于预置金属走线251与触摸走线24之间,即预置金属走线251与显示区21内的栅极同层设置、面板测试走线251与显示区21内的源/漏极同层设置。在其他实施例中,也可以是预置金属走线251位于面板测试走线251与触摸走线24之间,也可以是面板测试走线251与预置金属走线251位于同一层。

本实施例中,面板测试走线252与驱动电路27连接,在其他实施例中,面板测试走线252也可以不与驱动电路27连接,此处不做具体限定。

请继续参阅图2,本实施例中的修复走线25包括预置金属走线251和面板测试走线252,预置金属走线251和面板测试走线252跳线连接,且触摸走线241发生断路的第一端和第二端分别与预置金属走线251和面板测试走线252跳线连接,此处的跳线连接指在两层金属走线中间的绝缘层上设置通孔,通过通孔使位于绝缘层上下两层的金属层电性连接。具体地,预置金属走线251和面板测试走线252间的绝缘层设置有通孔o2,触摸走线241与预置金属走线251间的绝缘层设置有通孔o1,触摸走线241与面板测试走线252间的绝缘层设置有通孔o3,通过通孔o1、o2、o3进行跳线连接。

本实施例中,触摸走线241的第一端和第二端分别指发生断路后断开的两端。更具体地,第一端为触摸走线241发生断路后,与预置金属走线251连接的一端,第二端为与面板测试走线252连接的一端。

本实施例中,修复走线25的材质为钼或钛/铝/钛或钼/铝/钼。在其他实施方式中也可以为其他材质,不做具体限定。

请参阅图3,图3是图2中扇出走线区中部分区域的结构放大示意图。如图3所示,触摸走线241发生断路,触摸走线241的第一端通过通孔o1与预置金属走线251跳线连接,预置金属走线251与面板测试走线252通过通孔o2跳线连接,触摸走线241的第二端通过通孔o3与面板测试走线252跳线连接。则驱动电路27的电信号可通过图3中箭头的方向由o1→o2→o3传输至显示区21。

本实施例中,通过预置金属走线251和面板测试走线252对发生断路的触摸走线241进行修复,在其他实施方式中,也可以只通过扇出走线区内与发生断路的触摸走线241邻近设置的预置金属走线251,或者只通过面板测试走线252对触摸走线241进行修复,在此不作具体限定。

本实施例中,通过预置金属走线251和面板测试走线252能对发生断路的触摸走线241进行修复,从而触摸走线241发生断路的显示屏不会报废,进而能提高材料的利用率,提升产品的良率。

请参阅图4,图4是本申请提供的触摸显示屏的另一实施方式的俯视结构示意图。与上一实施方式中不同的是,图3中只有一条触摸走线发生断路,本实施方式中有两条触摸走线发生断路,且通过激光切割的方式将一条面板测试走线切割成了两部分。

具体地,通过激光切割的方式将一条面板测试走线352切割成两部分,图4中虚线框框出的地方为将面板测试走线352进行切割的位置。一条发生断路的触摸走线341的第一端通过通孔o1与预置金属走线351跳线连接,预置金属走线351与面板测试走线352通过通孔o2跳线连接,触摸走线341的第二端通过通孔o3与面板测试走线352跳线连接;另一条发生断路的触摸走线341的第一端通过通孔o4与预置金属走线351跳线连接,预置金属走线351与面板测试走线352通过通孔o5跳线连接,触摸走线341的第二端通过通孔o6与面板测试走线352跳线连接。即本实施方式中,将原本的一条面板测试走线352切割成两部分,从而可以修复两条断路的触摸走线341,相对于上一实施方式而言,本实施方式在使用原本数量相同的面板测试走线时,能修复更多数量的发生断路的触摸走线。

在进行完点灯测试后,一般有四条面板测试走线处于断开状态,则可以利用这四条面板测试走线对断路的触摸走线进行修复。例如,将这四条面板测试走线均切割成两部分时,即原本的四条面板测试走线被切割成八部分,则可利用原本的这四条面板测试走线实现对八条断路的触摸走线进行修复。

图3中示意出了一条触摸走线断路的情形,图4中示意出了两条触摸走线断路的情形,有更多数量的触摸走线断路的情形与图3~图4中的情形类似,不再赘述。

本实施例中,修复走线包括预置金属走线和面板测试走线,预置金属走线与显示区内的栅极同层设置,面板测试走线与显示区内的源/漏极同层设置,预置金属走线和面板测试走线通过绝缘层间隔设置,面板测试走线和触摸走线通过绝缘层间隔设置,在对断路的触摸走线进行修复时,可以只利用预置金属走线,或者只利用面板测试走线,或者同时利用预置金属走线与面板测试走线进行修复,本申请对此不做具体限定。

本实施例中,通过预置金属走线和面板测试走线能对发生断路的触摸走线进行修复,从而触摸走线发生断路的显示屏不会报废,进而能提高材料的利用率,提升产品的良率。

请参阅图5,图5是本申请提供的触摸显示屏的修复方法一实施方式的流程示意图。以下,进行详细说明。

步骤51:检测触摸走线是否断路。

触摸走线用于将驱动电路的电信号传输至显示区,触摸走线发生断路且不对其进行修复会造成显示屏的报废,所以检测触摸走线是否断路,并对断路的触摸走线进行修复是很有必要的。

步骤52:若触摸走线的第一端和第二端之间断路,则将修复走线的两端分别与第一端和第二端连接。

若检测到触摸走线断路,则将触摸走线的第一端和第二端分别与修复走线的两端连接,此处的第一端和第二端指触摸走线上发生断路后断开的两端。

在一具体实施方式中,在修复走线的两端与触摸走线间的绝缘层分别设置通孔,通过通孔使修复走线的两端分别与第一端和第二端跳线连接。如图3所示,修复走线包括预置金属走线251和面板测试走线252,在触摸走线241第一端与预置金属走线251的绝缘层处设置通孔o1,在触摸走线241第二端与面板测试走线252的绝缘层处设置通孔o3,且在预置金属走线251与面板测试走线252间的绝缘层设置通孔o2,通过通孔o1、o2、o3进行跳线连接,则驱动电路的电信号可以通过图3中箭头的方向传输至显示区。

本实施方式中,具体通过激光焊接的方式来设置通孔,也可以通过其他方式来设置通孔,只要能通过通孔实现跳线连接即可。

在上述任一实施方式中,触摸显示屏可以为内嵌式触摸显示屏。

请参阅图6,图6是本申请提供的显示装置一实施方式的结构示意图。如图6所示,该显示装置60包括触摸显示屏601,触摸显示屏601为上述任一实施方式中的触摸显示屏。

本申请的有益效果是:区别于现有技术的情况,本申请的触摸显示屏包括显示区以及位于显示区外围的驱动电路和修复走线,显示区与驱动电路间设置有多条触摸走线,修复走线位于触摸显示屏的衬底基板和触摸走线之间,在至少一条触摸走线断路时,修复走线的一端用于与断路的触摸走线和驱动电路连接的第一端连接,修复走线的另一端用于与断路的触摸走线和显示区连接的第二端连接。通过本申请的触摸显示屏能提高材料的利用率,提升产品的良率。

以上仅为本申请的实施方式,并非因此限制本申请的专利保护范围,凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本申请的专利保护范围内。

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