1.基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述通过滑窗操作，获取半导体载带生产灰度图像的若干个图像块，包括的具体方法为：
3.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个图像块内不同灰度值的像素点分布，获取每个图像块的细节丰富程度，包括的具体方法为：
4.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个图像块的细节丰富程度的大小获取半导体载带生产灰度图像的目标图像块，包括的具体方法为：
5.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个目标图像块中心像素点与其他像素点的异常值差异，获取每个目标图像块的特征参与度，包括的具体方法为：
6.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个目标图像块中不同异常值的像素点，获取每个目标图像块的目标异常连通域和异常连通域的边界像素点，包括的具体方法为：
7.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个目标图像块的目标异常连通域的质心与边界像素点的位置差异，获取每个目标图像块的载带评价特征程度，包括的具体方法为：
8.根据权利要求7所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据第y个目标图像块的目标异常连通域的质心与边界像素点的位置差异，获取第y个目标图像块的形状规整性，包括的具体方法为：
9.根据权利要求7所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据第y个目标图像块的目标异常连通域的边界像素点位置，获取第y个目标图像块的形状类直线度，包括的具体方法为：
10.根据权利要求1所述基于图像滤波的半导体载带生产质量视觉检测方法，其特征在于，所述根据每个目标图像块的载带评价特征程度和特征参与度，获取半导体载带生产灰度图像的每个目标图像块对应的高细节特征像素点的滤波权重，包括的具体方法为：