数据包生成器通过第一通道将包含安检测试选项信息的数据包发送给安检管理器和安检模型。安检管理器从数据包解析出当前需要进行哪种安检测试，是否需要产生错误激励等测试信息。根据解析结果，安检管理器按安检测试流程配置相应DUT寄存器并通过安检信号接口向DUT发送正确或错误的激励信号。测试完成后，安检管理器读取DUT相关安检状态寄存器值并将读取结果通过回调函数发送给记分板，作为实际测试结果。安检模型根据收到的数据包内容，生成当前测试期望产生的正确结果，并通过回调函数发送给记分板，作为期望测试结果同实际测试结果进行比较。
[0024]寄存器模型是利用基于VMM的RAL (Register Abstract1n Layer寄存器抽象层)验证技术和方案建立的芯片寄存器模型。由于安检验证测试过程中涉及较多的寄存器配置和读取，使用RAL对寄存器建模，验证环境对寄存器模型进行的操作即可映射到对DUT寄存器的操作，这比直接发送AHB总线操作去访问DUT寄存器要简单直观很多。一方面可以简便、高效地完成对寄存器的访问和验证；另一方面有利于提高验证环境平台搭建速度，提高了验证环境代码的可读性。寄存器模型可以将安检管理器访问寄存器的RAL操作转化成AHB事务，并通过通道将AHB事务传递给AHB主机验证模型，进而转化成能够驱动AHB总线的信号。
[0025]AHB主机验证模型是SYN0PSYS公司提供的验证模型。它把验证环境发送的AHB抽象级事务转化为具体的信号级激励，从而驱动AHB总线信号。另外它能够将返回信号转化为AHB抽象级事务供验证环境使用。
[0026]功能覆盖率在安检管理器中进行统计，通过功能覆盖率组(covergroup)函数定义功能覆盖点，并通过采样功能覆盖点自动统计覆盖率。
[0027]本发明使得对安检功能的验证完备并且充分，随机化测试激励的产生方式，自动化的结果比对，也方便验证进行回归测试(Regress1n)。
[0028]以上通过【具体实施方式】对本发明进行了详细说明，但这些并非构成对本发明的限制。在不脱离本发明原理的情况下，本领域的技术人员还可做出许多变形和改进，这些也应视为本发明的保护范围。
【主权项】
1.一种基于VMM的智能卡芯片安检功能验证方法，其特征在于:采用VMM验证方法学，利用高级高性能总线AHB主机验证模型构建智能卡芯片安检验证环境平台，利用随机激励测试和功能覆盖率收集，以不含CPU核的智能卡芯片子系统作为被测设计DUT，对智能卡芯片的安检功能实施验证。
2.根据权利要求1所述的验证方法，其特征在于:根据安检测试选项信息产生相应激励信号和寄存器配置动作；通过对被测设计DUT寄存器建模来建立寄存器在验证环境中的映射，通过高级高性能总线AHB主机验证模型驱动高级高性能总线AHB接口信号来完成寄存器配置。
3.根据权利要求1或2所述的验证方法，其特征在于:随机化自动产生安检测试选项信息，并根据随机生成内容执行相应寄存器配置流程和产生激励信号，自动化判断响应结果，以及自动化统计功能覆盖率。
4.根据权利要求3所述的验证方法，其特征在于:所述自动化统计功能覆盖率，由安检管理器通过功能覆盖组函数定义功能覆盖点，并通过采样所述功能覆盖点来实现。
5.一种用于权利要求1-4中任一所述验证方法的智能卡芯片安检验证环境平台，其特征在于:采用系统硬件描述语言SystemVerilog完成；包括: 一安检数据包生成器，完成随机化数据包的定义，用随机数据包的形式自动发送安检测试配置及测试条件； 一安检管理器，通过第一通道与所述安检数据包生成器连接；用于解析从所述第一通道获取的随机数据包，并根据解析内容发出安检寄存器配置动作和产生相关测试激励信号驱动安检信号接口 ；在安检测试完成后，发出读取相关安检状态寄存器的动作，产生安检实际测试结果； 一寄存器模型，用于建立被测设计DUT寄存器在验证平台中的映射，所述安检管理器通过调用该寄存器模型的内部方法对其进行操作即可映射到对DUT寄存器的操作，实现对寄存器的访问和验证； 一高级高性能总线AHB主机验证模型，通过第二通道与所述寄存器模型连接，用于将所述寄存器模型传递的寄存器访问事务转换为高级高性能总线AHB接口上实际的激励信号; 一安检模型，通过第一通道与所述安检数据包生成器连接；用于解析安检数据包生成器产生的随机数据包，并根据安检测试信息生成相应的期望测试结果数据； 一记分板，通过回调函数分别从所述安检管理器和安检模型中获取数据，实时比较安检实际测试结果和期望的测试结果； 不含CPU核的智能卡芯片子系统，作为被测设计DUT通过高级高性能总线AHB接口和安检信号接口，分别与所述高级高性能总线AHB主机验证模型和安检管理器连接。
6.根据权利要求5所述的验证环境平台，其特征在于:所述随机化数据包的定义，包含安检测试选项信息，该安检测试选项信息包括安检测试使能，安检出错使能，复位响应使能，低压使能，模式选择。
【专利摘要】本发明公开了一种基于VMM的智能卡芯片安检功能的验证方法。该验证方法不依赖于系统软件，利用AHB主机验证模型构建验证环境平台，随机发送测试激励，实现对安检功能的验证，并且能够自动比较结果，自动统计覆盖率信息。本发明还公开了一种用于所述验证方法的智能卡芯片安检验证环境平台，包括：安检数据包生成器,安检管理器，安检模型，寄存器模型，AHB主机验证模型，记分板；不含CPU核的智能卡芯片子系统，作为DUT通过AHB接口和安检信号接口，分别与所述AHB主机验证模型和安检管理器连接。本发明能够提高验证的效率和完备性。
【IPC分类】G06F17-50
【公开号】CN104636521
【申请号】CN201310563775
【发明人】彭博
【申请人】上海华虹集成电路有限责任公司
【公开日】2015年5月20日
【申请日】2013年11月14日