案匹配/排斥准则240(在下文中称作图案过滤准则240)以过滤分别接收自触摸感测图案210及压力感测图案220的触摸数据及压力数据。下文关于图6描述此准则的实例。
[0043]然而，简单地说，控制器230可经配置以解析与接收自触摸感测图案210的触摸数据对应的一或多个几何图案。例如，如果用户将两个手指放置成与触摸感测图案210接触，那么控制器230可由用户的手指中的每一者对应的触摸数据(例如，电荷耦合的位置特定的减少)解析与接触触摸感测图案210接触的用户的手指中的每一者相关联的相应几何图案。控制器230可经进一步配置以比较经解析几何图案与图案过滤准则240且基于所述比较接受或排斥触摸数据(或触摸数据的部分)。
[0044]此方法可允许轨迹板设备200排斥当与GUI交互时其使用可为偶然或非所需的触摸数据。例如，图案过滤准则240可用来排斥由用户将他的或她的手掌或他的或她的手面搁置在轨迹板200上引起的触摸数据。此外，图案过滤准则240还可用来接受某些图案(例如与用户的指尖对应的图案)的触摸数据。控制器230还可经配置以用类似方式(例如通过以压力数据解析几何图案及比较所述经解析图案与图案过滤准则240)过滤压力数据。
[0045]在其它实施方案中，控制器230可经配置以使触摸数据与压力数据关联，且基于由触摸数据解析的几何图案以及图案过滤准则240两者过滤压力数据。在此方法中，如果控制器230识别不具有对应触摸数据的压力数据(例如重合位置)，那么压力数据可被过滤出去且不会被提供给对应计算装置以免影响与GUI的交互。此外，在此实施方案中，不具有对应触摸数据的压力数据可通过施加由触摸数据解析的几何图案(例如在重合位置处)及图案过滤准则240于压力数据而被进一步过滤。
[0046]控制器230还可经配置以基于电容式触摸感测图案中的电荷耦合的已检测位置特定的减少的移动来检测一或多个导电物体(例如用户的手指)跨轨迹板设备的顶面的移动。例如，控制器230可经配置以比较当前触摸数据与先前触摸数据以检测此移动。以类似方式，控制器230还可经配置以基于压力数据的变化来检测跨轨迹板设备的顶面施加压力且移动的一或多个物体。例如，控制器230可经配置以比较当前压力数据与先前压力数据以检测此移动。在此类方法中，已过滤的压力数据可用来指示鼠标单击，或可用来指示与GUI的其它所需交互，因此允许用户与GUI中的对象交互(例如选择对象、启动来自图标的程序及/或移动对象)且无需使用单独按钮。
[0047]图3是说明根据实例实施方案的压敏轨迹板设备300的图。图3中所示的轨迹板300说明可用来实施压敏轨迹板设备的实例结构。例如，轨迹板300的结构可用来实施图2中所示的轨迹板200。因此，为了说明目的，轨迹板300的相似元件是以与图2中使用的200系列参考数字对应的300系列参考数字参照。此外，虽然图3中没有展示，但是轨迹板300可以类似于针对图2中说明的轨迹板200中的控制器230所示的方式与控制器耦合。
[0048]如图3中说明，轨迹板300包含电容式触摸感测图案310、电容式压力感测图案320、安置在触摸感测图案310与压力感测图案320之间的绝缘层330，及机箱接地340。轨迹板300的上表面350可充当使轨迹板300例如以本文中描述的方式收集触摸数据的触觉感测表面。
[0049]在轨迹板300中，触摸感测图案310及压力感测图案320可以类似于上文关于图2中所示的轨迹板200的触摸感测图案210及压力感测图案220讨论的方式实施及操作。因此，为了简明起见，这里不再关于触摸感测图案310及压力感测图案320重复触摸感测图案210及压力感测图案220的整个细节。
[0050]如图3中指示，压力感测图案320可用可压缩隔膜实施。压力感测图案320的电容式矩阵及可压缩隔膜的特定布置将取决于特定实施方案。图4及5中分别说明且下文进一步讨论两个此类实施方案。当然，其它布置是可能的。
[0051]在轨迹板300中，触敏图案310、绝缘层330、压力感测图案320的电容式矩阵图案导体层、压力感测图案320的电介质层及压力感测图案320的可压缩隔膜中的每一者的硬度(例如材料)可经选择使得当例如由用户的手指施加压力于表面350时，可压缩隔膜首先移位。在某些实施方案(例如图5中所示的实施方案)中，可压缩隔膜还可充当用于压力感测图案320的电介质层，其操作将在下文加以进一步详细讨论。机箱接地340可使用例如先前描述的金属框架实施。在此类方法中，机箱接地将对由于施加于轨迹板300的表面350的压力引起的移位极为抵抗。
[0052]图4A及4B是说明根据实例实施方案的压敏轨迹板设备400的操作的图。图4A及4B中所示的轨迹板400说明可用来实施图2及3中分别所示的轨迹板200及300的压敏轨迹板设备的实例结构。因此，为了说明目的，轨迹板400的相似元件是以与图2及3中使用的200及300系列参考数字对应的400系列参考数字参照。虽然图4中没有展示，但是轨迹板400可以类似于针对图2中说明的轨迹板200中的控制器230展示的方式与控制器耦合或与多个控制器耦合。
[0053]如图4A及4B中说明，轨迹板400包含触摸感测图案410、压力感测图案420a、安置在压力感测图案420a下方的可压缩隔膜420b、安置在触摸感测图案410与压力感测图案420a之间的印刷电路板(PCB)衬底(例如绝缘层)430，及机箱接地440。可压缩隔膜420b可使用例如硅酮、合成聚合物(例如聚对苯二甲酸乙二酯(PET))、空气或这些或其它材料的组合而实施。例如，在轨迹板400的实例实施方案中，可压缩隔膜420b可包含PET间隔点的矩阵，所述矩阵在压力感测图案420a与机箱接地440之间产生间隙，而可压缩隔膜420b的剩余部分是空气。PCB衬底430可使用玻璃增强型环氧树脂层压PCB衬底(例如，例如FR-4)实施。当然，所使用的特定材料将取决于特定实施方案。
[0054]例如，以类似于关于轨迹板300讨论的方式，触摸感测图案410、PCB衬底430、压力感测图案420a及可压缩隔膜420b中的每一者的硬度(材料)可经选择使得当例如由用户的手指施加压力于轨迹板400的顶面时，可压缩隔膜420b首先移位。此外，机箱接地440可以如上文关于机箱接地340讨论的方式实施，以例如抵抗移位。
[0055]在轨迹板400中，触摸感测图案410及压力感测图案420a可以类似于上文关于图2中所示的轨迹板200的触摸感测图案210及压力感测图案220讨论的方式实施及操作。因此，为了简明起见，这里不再关于触摸感测图案410及压力感测图案420a重复触摸感测图案210及压力感测图案220的整个细节。然而，参考图4描述关于使用轨迹板400检测触摸数据及压力数据的额外细节。
[0056]在图4A及4B中，用户的手指450及460被说明为与轨迹板400的顶面接触(例如电接触)。手指450及460还被示为连接到电接地470，其中用户将提供关于轨迹板400的顶面的电接地。
[0057]以类似于先前描述的方式，用户的手指450及460可将电荷从触摸感测图案410分流到电接地470，借此改变被用户的手指450及460接触的触摸感测图案410的表观电容。(图4A及4B中没有展示的)与轨迹板400耦合的控制器(例如控制器230)可通过检测被用户的手指450及460接触的触摸感测图案410中的电荷耦合的对应减少来检测表观电容的此类变化(作为触摸数据)。此外，用户的手指450及460跨轨迹板设备400的表面的移动可使用这里描述的技术(例如上文关于图2讨论的技术)检测。
[0058]如图4A中所示，用户的手指450及460没有施加压力于轨迹板400的表面。在此情形中，压力感测图案420a中的电荷耦合跨其电容式矩阵将是实质上均匀的。此外，可压缩隔膜420b及机箱接地440可以压力感测图案420a创建寄生电容。此寄生电容可用来感测如现在将描述的轨迹板400中的压力数据。
[0059]如图4B中所示，压力通过用户的手指460施加于轨迹板400的表面。如说明，此压力造成可压缩隔膜420b、压力感测图案420a、PCB衬底430及触摸感测图案410的移位。如上文讨论，这些层中的每一者的硬度可经选择使得当施加压力于轨迹板400的表面时，可压缩隔膜420b首先移位。
[0060]在此情形中，压力感测图案420a及可压缩隔膜420b的移位将造成通过其中发生移位的可压缩隔膜的机箱接地440的寄生电容增加。此寄生电容增加将造成其中发生移位的位置处的压力感测图案420a的表观电容的对应降低。与轨迹板400耦合的控制器(例如图2中所示的控制器230)可将表观电容(压力)由于施加压力于轨迹板400的表面引起的此类降低检测作为移位的位置处的电荷耦合的对应位置特定的降低。在施加压力时，用户的手指460跨轨迹板400的表面的移动可使用本文中描述的技术(例如先前关于图2讨论的技术)从压力数据检测。此外，可使用本文中描述的技术(例如关于图2及图5讨论的技术)过滤轨迹板设备400的压力数据及触