一种电路板红外功能测试夹的制作方法

文档序号:17663739发布日期:2019-05-15 22:33阅读:278来源:国知局
一种电路板红外功能测试夹的制作方法

本实用新型属于电路板红外测试技术领域,具体涉及一种电路板红外功能测试夹。



背景技术:

电路板在出厂前需要进行红外功能测试以判断是否合格,红外测试需要两个电路板,一个电路板用于发送,另一个用于接收。目前电路板红外功能测试需要人工手持测试电路板对准电路板红外发射元件进行测试,测试过程中,需要操作员一只手一直拿着测试电路板,操作非常不便,费时费力。



技术实现要素:

为解决上述问题,本实用新型提供一种电路板红外功能测试夹,测试夹内包含红外功能测试电路板,直接将测试夹夹到被测电路板红外元件处即可,测试过程中不需要操作员持续拿着测试电路板;操作方便,可以实现批量化测试,提高测试效率。

为达成上述目的,采用如下技术方案:

一种电路板红外功能测试夹,包括夹子、测试电路板以及将测试电路板固定在夹子上的限位件和固定罩,所述夹子包括相对设置的上夹片、下夹片、连接轴和扭簧,所述上夹片、下夹片通过连接轴连接,所述扭簧套接于连接轴以撑起上夹片和下夹片的按压端;所述限位件设于所述上夹片上,所述测试电路板卡紧在限位件内,所述固定罩的下端与限位件固定连接;所述测试电路板的下方设有红外测试元件,所述上夹片上对应红外测试元件位置设有通孔,当测试夹固定到被测电路板上时,使得测试电路板的红外测试元件对准被测电路板的红外元件以收发信号。

进一步地,所述上夹片的通孔处向下延伸设有凸缘,所述测试电路板下方的红外测试元件部分伸入所述凸缘。

进一步地,所述固定罩的下端与限位件通过卡扣或螺钉相固定。

进一步地,所述固定罩上设有通讯线过线孔,所述测试电路板通过通讯线连接外部测试设备。进一步地,所述限位件为紧靠测试电路板设置的一圈连续或非连续的限位凸起。

进一步地,所述限位件为紧靠测试电路板相对设置的至少一组限位凸柱。

进一步地,所述上夹片与连接轴过盈配合,所述下夹片与连接轴间隙配合。

进一步地,所述上夹片与连接轴间隙配合,所述下夹片与连接轴过盈配合。

采用上述技术方案,具有如下技术效果:

1、将测试夹夹到被电路板红外元件处即可对被测红外电路板进行红外功能测试,操作方案,节省劳动力,提高工作效率;

2、上夹片的通孔处向下延伸设有凸缘,测试电路板下方的红外测试元件部分伸入凸缘,一方面可避免红外测试元件损伤,另一方面则可确保红外测试元件对准被测电路板的红外元件以收发信号。

附图说明

图1为本实用新型一种电路板红外功能测试夹的结构示意图;

图2为本实用新型一种电路板红外功能测试夹的分解示意图;

图3为本实用新型一种电路板红外功能测试夹另一角度的分解示意图;

图4为本实用新型一种电路板红外功能测试夹的使用状态示意图;

图中:测试夹-10;测试电路板-1;红外测试元件-11;限位件-2;固定罩-3;过线孔-31;上夹片-41;通孔-411;凸缘-412;下夹片-42;连接轴-43;扭簧-44;被测电路板-5;红外元件-51。

具体实施方式

下面结合附图和较佳实施例对本实用新型作进一步详细的说明。

结合图1-4,本申请提供一种电路板红外功能测试夹10,包括夹子、测试电路板1以及将测试电路板固定在夹子上的限位件2和固定罩3,夹子包括相对设置的上夹片41、下夹片42、连接轴43和扭簧44,上夹片41、下夹片42通过连接轴43连接,扭簧44套接于连接轴43以撑起上夹片41和下夹片42的按压端;限位件2设于所述上夹片41上,测试电路板1卡紧在限位件2内,固定罩3的下端与限位件2通过卡扣或螺钉相固定,卡扣、螺钉固定方式是现有技术,不作详细描述;固定罩3上设有通讯线过线孔31,测试电路板1通过通讯线连接外部测试设备;测试电路板1的下方设有红外测试元件11,上夹片41上对应红外测试元件11位置设有通孔411,当测试夹10固定到被测电路板上时,使得测试电路板1的红外测试元件11对准被测电路板5的红外元件51以收发信号。

本实用新型的电路板红外功能测试夹,使用时,直接将测试夹夹到被测电路板红外元件处即可,测试过程中不需要操作员持续拿着测试电路板;操作方便,可以实现批量化测试,提高测试效率。

本实施例中,如图1、图2所示,上夹片41的通孔处向下延伸设有凸缘412,测试电路板1下方的红外测试元件11部分伸入所述凸缘412,一方面可避免红外测试元件11损伤,另一方面则可确保红外测试元件11对准被测电路板的红外元件以收发信号。

本实施例中,如图2所示,限位件2为紧靠测试电路板设置的一圈连续或非连续的限位凸起,以将测试电路板定位在上夹片上。

优选地,限位件2为紧靠测试电路板相对设置的至少一组限位凸柱以将测试电路板定位在上夹片上。

优选地,上夹片41与连接轴43间隙配合,下夹片42与连接轴43过盈配合,在将测试夹10固定到被测电路板5上时,使得上夹片41相对于连接轴43旋转;或者上夹片41与连接轴43过盈配合,下夹片42与连接轴43间隙配合,在将测试夹10固定到被测电路板5上时,使得下夹片42相对于连接轴43旋转。

上述实施方式只为说明本实用新型的技术构思及特点,其目的是让熟悉该技术领域的技术人员能够了解本实用新型的内容并据以实施,并不能以此来限制本实用新型的保护范围。凡根据本实用新型精神实质所作出的等同变换或修饰,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。

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