一种电路板红外功能测试夹的制作方法

文档序号:17663739发布日期:2019-05-15 22:33阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,包括夹子、测试电路板以及将测试电路板固定在夹子上的限位件和固定罩,所述夹子包括相对设置的上夹片、下夹片、连接轴和扭簧,所述上夹片、下夹片通过连接轴连接,所述扭簧套接于连接轴以撑起上夹片和下夹片的按压端;所述限位件设于所述上夹片上,所述测试电路板卡紧在限位件内,所述固定罩的下端与限位件固定连接;所述测试电路板的下方设有红外测试元件,所述上夹片上对应红外测试元件位置设有通孔,当测试夹固定到被测电路板上时,使得测试电路板的红外测试元件对准被测电路板的红外元件以收发信号。

2.根据权利要求1所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述上夹片的通孔处向下延伸设有凸缘,所述测试电路板下方的红外测试元件部分伸入所述凸缘。

3.根据权利要求2所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述固定罩的下端与限位件通过卡扣或螺钉相固定。

4.根据权利要求3所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述固定罩上设有通讯线过线孔,所述测试电路板通过通讯线连接外部测试设备。

5.根据权利要求4所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述限位件为紧靠测试电路板设置的一圈连续或非连续的限位凸起。

6.根据权利要求4所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述限位件为紧靠测试电路板相对设置的至少一组限位凸柱。

7.根据权利要求5或6所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述上夹片与连接轴过盈配合,所述下夹片与连接轴间隙配合。

8.根据权利要求5或6所述的一种电路板红外功能测试夹,其特征在于,所述上夹片与连接轴间隙配合,所述下夹片与连接轴过盈配合。

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