专利名称：激光二极管输出控制设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及光记录/再现设备，更具体地涉及用于控制激光二极管在最佳电平的激光二极管输出控制设备。
背景技术：
在当今的信息时代，需要例如诸如CD-R、CD、RW、MODD(磁光盘驱动器)、DVD-RAM(数字通用盘随机存取存储器)、DVD-RW和DVD+RW之类的光记录设备之类的具有大容量的记录介质。这些光记录设备使用激光二极管，因此光记录设备的性能取决于控制激光二极管的输出的好坏。为了控制激光二极管的输出使其处于最佳水平，必须考虑写脉冲的波形，因为写脉冲的波形是随光记录设备的类型不同而不同的。
图1是一般的激光二极管输出控制设备的方框图。参照图1，参考标号′120′表示记录波形发生器，用于产生写脉冲以在盘180上形成对应于记录数据的空白或标记。参考标号′140′表示激光二极管驱动单元，用于根据在记录波形发生器120中产生的写脉冲控制激光二极管160的输出。这里，输入到记录波形发生器120的数据是不归零倒置(NRZI)信号，并且在DVD-RAM情况中，从激光二极管驱动单元140输出的写脉冲是第一脉冲、最后脉冲、冷却(cooling)脉冲和多串(multi-train)脉冲的组合。
自动激光功率控制器(APC)200包括光电二极管(PD)202、可变增益放大器(VGA)204、比较器206、递增/递减计数器208和数模转换器(DAC)210。
PD 202接收从盘180反射的激光光线，并产生对应于来自激光器的所接收的光线的增益的电信号。VGA 204将在PD 202中产生的电信号放大一预定增益，并将该放大的电信号转换成电压信号。比较器206将VGA 204的输出与参考功率值Vref进行比较，并输出指示这二者中那一个较大的的确定信号。
递增/递减计数器208根据从比较器206输出的确定信号递增/递减地进行计数。具体地讲，当从比较器206输出的确定信号表示VGA 204的输出比参考功率值Vref大，例如具有可能为低电平的确定信号时，递增/递减计数器208递减计数；相反，当确定信号表示VGA 204的输出比参考功率值Vref小，例如具有可能为高电平的确定信号时，递增/递减计数器208递增计数。通过DAC 210将递增/递减计数器208的计数施加到激光驱动单元140。激光二极管驱动单元140根据施加到DAC 210的信号的大小控制激光二极管160的输出电平。
图1所示的APC电路200检测参考功率值Vref和由PD 202检测的激光二极管160的当前功率值之间的差值，并根据所检测的偏差值控制激光二极管160的输出。
图1所示的传统的激光二极管输出控制设备在比较Vref和当前功率值中和在控制激光二极管的输出中使用递增/递减计数器208。但是，由于介质的再现和记录速度的逐渐增加，所以递增/递减计数器208的工作速度限制了控制激光二极管的输出的速度和范围。而且，如果介质的记录速度增加，则写脉冲的宽度就减小。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种具有增强的控制速度和范围的激光二极管输出控制设备。
因此为了实现上述目的，提供一种激光二极管输出控制设备，其比较从激光二极管输出的光信号的当前功率值，并根据比较的结果控制激光二极管的输出。该设备包括采样装置，用于对从激光二极管输出的当前功率值进行采样；算术单元，用于根据从采样装置输出的当前功率值和参考功率值输出施加到激光二极管的控制功率值；和控制器，用于根据将被记录的写数据产生控制信号，控制采样装置和算术单元的操作。
控制器包括写脉冲发生器，用于根据不归零倒置(NRZI)信号产生功率控制信号，并根据功率控制信号产生指示将被施加到激光二极管的功率的写控制信号；采样控制器，用于根据由写脉冲控制器产生的写控制信号，产生用于控制采样装置和算术单元的选择操作的选择信号；和APC控制器，用于控制激光输出控制设备的操作模式。
这里，采样装置还包括控制监视激光二极管输出的监视信号的增益的预处理器。
通过下面结合附图对优选实施例进行的详细描述，本发明的上述目的和优点将会变得更加清楚，其中图1是一般的自动激光二极管输出控制设备的方框图；图2是根据本发明的激光二极管输出控制设备的方框图；图3是根据本发明的激光二极管输出控制设备的详细结构的方框图；图4是图3所示的预处理器的方框图；和图5是图3所示的算术单元的方框图。
具体实施例方式
不同图中的相同的参考标号表示相同的组件，因此将省略对它们的描述。
图1中所示的激光二极管输出控制设备在将参考功率值与反馈回的当前功率值进行比较中和在根据比较结果控制激光二极管的输出中使用递增/递减计数器。由于这个原因，在控制激光二极管输出的速度和范围中存在着限制。而且，随着介质的记录速度逐渐增加，使记录脉冲在长度上变窄并变得复杂。因此，要应付使用递增/递减计数器增加记录介质的记录速度的当前趋势是很难的。
为解决这些问题，本发明提供一种改进的激光二极管输出控制设备，其对激光二极管的输出在所需的时间段在所需的位置上进行采样保持，并将该激光二极管的输出与参考功率值进行比较，并控制该激光二极管的输出。
图2是根据本发明的激光二极管输出控制设备的方框图。参照图2，该设备包括光电二极管(PD)和电流-至-电压(I/V)放大器302、模数转换器(ADC)304、算术单元306、数模转换器(DAC)308、激光二极管310和控制器312。
用DAC 308的输出确定激光二极管310的输出。PD和I/V放大器302检测输出的电平并将该输出转换成电压信号。
PD和I/V放大器302通常已经制造在分离的芯片上，但是也能够将PD和I/V放大器合并在一个芯片上。PD和I/V放大器302的输出表示由激光二极管310产生的激光的当前功率值，并呈现从激光二极管310输出的被延迟的写脉冲的形状。在此，延迟量的改变取决于激光二极管310和PD和I/V放大器302的运行特性，但是一旦激光二极管输出控制设备被完成，它就几乎是固定的。
ADC 304通过在预定的时间点上采样PD和I/V放大器302的输出获得当前功率值，并将当前功率值发送到算术单元306。尽管在图2中未示出，在ADC 304和PD和I/V放大器302之间可以插入一个转换器。PD和I/V放大器302的运行特性可以随着激光强度变大而增加后降低。因此就需要一个转换器将PD和I/V放大器302的运行特性与ADC 304的运行特性进行匹配。
电平移动器和/或增益调整器可以包括在ADC 304的前端，以将ADC 304的动态范围与PD和I/V放大器302的输出特性进行匹配。
算术单元306将参考功率值与ADC 304采样的当前功率值进行比较，并根据参考功率值和当前功率值间的差值控制激光二极管310的输出。在此，根据介质的类型、槽脊/凹槽以及功率控制器信号的种类等等，参考功率值可以变化。如上所述，算术单元306将参考功率值与ADC 304采样的当前功率值进行比较，并使用其间的差值校正控制功率值，因此能够比在传统的激光二极管输出控制设备中使用的递增/递减计数器更快地控制激光二极管310的输出。
DAC 308将由算术单元308测量的控制功率值发送到激光二极管310。
控制器312根据将被记录的记录数据产生控制ADC 304和算术单元306的操作的控制信号，而且，根据操作模式控制算术单元306的操作。
图3是根据本发明的激光二极管输出控制设备的详细结构的方框图。参照图3，激光二极管输出控制设备包括PD和I/V放大器302，其由I/V放大器302b和监视PD 302a组成；ADC 304；算术单元306；DAC 308；激光二极管310；预处理器402；写脉冲发生器404；延迟器406；采样和保持控制器408；APC控制器410和接口412。
从激光二极管310输出的写脉冲是由第一脉冲、多脉冲串、最后脉冲、冷却脉冲等组成的多脉冲。构成写脉冲的每一个脉冲处于特定的功率电平，诸如读功率电平、峰值功率电平、第一偏置(或擦除)功率电平、第二(或冷却)偏置功率电平或第三偏置(或谷底)功率电平。写脉冲的功率电平随时间改变从而变成为另一个特定的功率电平。
写脉冲是根据不归零倒置(NRZI)信号产生的。在自适应记录方法中，每一个脉冲的开始/结束位置、宽度和功率电平是根据在当前标记之前和之后形成的空白之间的关系而改变的。
写脉冲发生器404通过产生功率控制信号，即读功率控制信号、峰值功率控制信号、第一偏置功率控制信号、第二偏置功率控制信号或第三偏置功率控制信号来产生写脉冲，以便接通或关断每一个写脉冲的功率电平，并接着通过延迟功率控制信号并将其逻辑组合来产生写控制信号。由写脉冲发生器404产生的功率控制信号的种类是根据介质类型变化的。
算术单元306输出功率电平，诸如读功率电平、峰值功率电平、第一偏置(或擦除)功率电平、第二(或冷却)偏置功率电平或第三偏置(或谷底)功率电平。通过写脉冲发生器404产生的写控制信号控制从算术单元306输出的功率电平以便施加到DAC 308。
在一般的激光二极管的情况中，激光二极管驱动器被附加于此。读功率、峰值功率、第一至第三偏置功率以及控制这些功率的功率控制信号都施加到激光二极管驱动器。通过对应的功率控制信号将每一个功率设置成接通或关断，并且根据通过接通或关断每一个功率产生的结果的组合来驱动该激光二极管。
写脉冲发生器404可以包括其每一个都输出将被施加到激光二极管驱动器的功率控制信号之一的管脚。通过写脉冲发生器404，从算术单元306和DAC 308输出的读功率电平、峰值功率电平、第一偏置(或擦除)功率电平、第二(或冷却)偏置功率电平或第三偏置(或谷底)功率电平被施加到激光二极管驱动器。
ADC 304在预定时间点对PD和I/V放大器302的输出进行采样，以得到当前功率值，并且将得到的结果提供给算术单元306。
算术单元306将参考功率值与由ADC 304采样的当前功率值进行比较，并根据参考功率值和当前功率值之间的差值设置施加到激光二极管310的控制功率值，即读功率、峰值功率、第一至第三偏置功率。在此，当图3中所示的激光二极管控制设备运行时，从APC控制器410提供参考功率值，并根据介质的类型改变参考功率值。算术单元306包括存储参考功率值的参考寄存器、存储施加到激光二极管310的控制功率的控制寄存器，以及使用存储在参考寄存器和控制寄存器中的值测量新的控制值的减法器和加法器。
写脉冲发生器404根据介质的类型、NRZI信号和标记和空白之间的关系产生写脉冲控制信号，即写功率控制信号、峰值功率控制信号和第一至第三偏置功率控制信号。而且，写脉冲发生器404包括多个延迟器和多个门，并在延迟所产生的功率电平控制信号中和在测量其逻辑中产生写控制信号。
在此，写控制信号选择算术单元306的控制寄存器(未示出)中存储的控制功率值之一。
在写脉冲中，读功率、峰值功率、第一偏置功率、第二偏置功率和第三偏置功率顺序出现在时间轴上，并且写脉冲的各段分别由读功率控制信号、峰值功率控制信号、第一偏置功率控制信号、第二偏置功率控制信号和第三偏置功率控制信号指示。因此，在每一个功率被施加到激光二极管上或通过对上述功率控制信号彼此进行组合来控制每一个功率的过程中，能够测量时间段。写脉冲发生器404将功率控制信号彼此组合，并产生一个写控制信号，该写控制信号指示必须施加到激光二极管310上的每一个功率的段。
延迟器406将在写脉冲发生器404中产生的写控制信号进行延迟。PD和I/V放大器302的输出呈现施加到激光二极管310的被延迟的写脉冲的形状。在此，被延迟的写脉冲量是根据PD和I/V放大器302和激光二极管310的运行特性变化的，并且当该激光二极管输出控制设备被完成时，被延迟的写脉冲量是几乎固定的。延迟器406延迟ADC 304的采样操作以补偿PD和I/V放大器302所造成的延迟。
采样和保持控制器408产生使用被延迟器406延迟的写控制信号控制ADC 304的采样操作的采样控制信号，以及产生控制包括在算术单元406中的多路复用器和多路分解器的操作的选择信号。该选择信号指定其中在时间轴上分开地指示的写脉冲的各段之一，各段表示施加到激光二极管驱动器上的读功率、峰值功率、第一偏置功率、第二偏置功率和第三偏置功率的时间段。
采样控制信号变成控制ADC 304的采样操作的信号，并且在其中读功率、峰值功率、第一偏置功率、第二偏置功率和第三偏置功率分别被施加到激光二极管驱动器上的各段中确定采样时间。例如，在施加读功率的各段，即在开始部分、中间部分或结束部分中能够可选地选择采样读功率的采样时间。而且通过延迟写控制信号或组合其逻辑电平来确定采样时间。
在此，采样和保持控制器408将写脉冲发生器404产生的写控制信号削减成一半、四分之一、和八分之一以调整环路时间。
APC控制器410根据介质的类型、槽脊/凹槽和所选择的控制模式，从接口412接收信息以控制采样和保持控制器408和写脉冲发生器404的操作。
接口412将时钟信号CLK、读/写控制信号WG、NRZI信号NRZI和槽脊/凹槽确定信号L/G输出到APC控制器410，并从外部微处理器接收将被接口的介质类型和各种控制信息。
APC控制器410根据选择的控制模式处理ADC 304采样的值，并控制采样和保持控制器408将所处理的值提供到算术单元306。在本发明中，平均APC模式、直接APC模式、峰值APC模式和谷底APC模式是推荐的APC模式。
在平均APC模式中通过先前激光二极管输出值和当前激光二极管输出值之间的平均值来控制APC，在直接APC模式中通过当前激光二极管输出值来控制APC。在峰值APC模式和谷底APC模式两者中，通过在某段中的峰值或谷底制和当前激光二极管输出值来控制APC。
在图3中所示的激光二极管输出控制设备中，写脉冲发生器404、延迟器406以及采样和保持控制器408全部可以集中在一个集成电路中。而且，预处理器402、ADC 304、算术单元306、DAC 308、APC控制器410和接口412可以形成在一个集成电路中。
将上述装置形成在一个集成电路上的原因是使激光二极管输出控制设备能够附加在拾取器(未示出)上。而且，可以通过将上述装置放在一个集成电路上来防止在组件之间出现的干扰，因而产生稳定的激光输出控制操作。特别地，在高容量和高速度的光记录/再现设备的情况中，组件之间交换的信号可以具有高频率。这样的设备对外部干扰是敏感的，并可能容易误动作。通过将构成设备的装置放在一个集成电路上能够防止误动作。
图4是图3所示的预处理器402的详细结构的方框图。参考图4，预处理器402包括读/写增益控制器504、增益控制选择器506、低通滤波器508、峰值保持器10、谷底保持器512和模式选择开关514。
I/V放大器302b和读/写增益控制器504根据给定的增益放大从PD和I/V放大器302输出的信号。而且，I/V放大器302b和读/写增益控制器504根据读模式或写模式调整增益以放大监视光电二极管(PD)302a的输出。
增益控制选择器506是根据从APC控制器410提供的增益选择信号选择I/放大器302b和读/写增益控制器504之一的开关。
模式选择开关514根据从APC控制器410施加的模式选择信号选择由低通滤波器508、增益控制选择开关506、峰值保持器510和谷底保持器512提供的信号之一。
当模式选择信号指示平均APC模式时，模式选择开关514选择由低通滤波器508提供的信号并将其输出。低通滤波器508将先前激光二极管输出值和当前激光二极管输出值进行平均，并输出平均值。当模式选择信号指示直接APC模式时，模式选择开关514选择由增益选择开关506提供的信号并将其输出。当模式选择信号指示峰值APC模式时，模式选择开关514选择由峰值保持器510提供的信号并将其输出。此时，峰值保持器510在给定段中输出最大值。而且，当模式选择信号指示谷底APC模式时，模式选择开关514选择由谷底保持器512提供的信号并将输出该信号。谷底保持器512在给定段中输出最小值。
图4中所示的预处理器402可以作为集成电路形成。
图5是图3中所示的算术单元306的详细结构的方框图。参照图5，算术单元306包括平均单元602、参考寄存器604、第一多路复用器606、减法器608、除法器610、加法器612、第二多路复用器614、多路分解器616、控制值寄存器618、第三多路复用器620和第四多路复用器622。
平均单元602去除采样噪声并执行低通滤波。
平均单元602的输出被发送到减法器608或外部，从而使外部微处理器能够在激光二极管测试中检测到激光二极管310的输出。
在参考寄存器604中，在本发明中包括总计九个寄存器。参考寄存器604存储诸如读功率、槽脊的峰值功率、槽脊的第一至第三偏置功率、凹槽的峰值功率、和凹槽的第一至第三偏置功率之类的参考功率。在此，参考值寄存器的数量可以根据介质的类型和将被控制的功率电平的数量而改变。
而且如图5中所示的设备还可以包括用于将参考功率值赋予参考寄存器605的多路复用器(未示出)。APC控制器410接收来自接口412的参考功率值，并在多路复用器的帮助下将其存储在参考寄存器604中。否则，通过外部微处理器能够将参考功率值直接从多路复用器施加到参考寄存器604。
第一多路复用器606选择参考寄存器604中的一个。
减法器608计算从参考寄存器604输出的参考功率值与从平均单元602输出的当前功率值之间的差值，并输出该差值。
除法器610逐步地将由减法器608测量的差值削减至例如一半、四分之一、八分之一等，并将其输出。结果，由减法器608得到的参考功率值和当前功率值之间的差值能够被减小，从而控制跟踪目标值的速度。
加法器612将激光二极管310提供的当前功率值与除法器608获得的差值相加，并输出结果值。加法器612的输出是其APC得到修正的一个值，后者在经过控制寄存器618、第三多路复用器622和DAC 308的修正之后将变成施加到DAC 308的控制功率值。
提供第二多路复用器614用来当激光二极管控制设备被初始化时将参考功率值存储在控制寄存器618中的参考寄存器604中。即，在此时，第二多路复用器614将从已经被第一多路复用器606选择的参考寄存器604输出的参考功率值存储在由多路分解器616选择的控制寄存器中。第二多路复用器614的选择是由APC控制器410控制的。
多路分解器616选择其中存储了从加法器612获得的控制值的控制寄存器618。
控制寄存器618存储被提供到激光二极管310的参考功率值，并且该控制寄存器618包括分别存储读功率、槽脊的峰值功率、槽脊的第一至第三偏置功率、凹槽的峰值功率和凹槽的第一至第三偏置功率的九个寄存器。在此，与参考寄存器604一样，包括在控制器618中的寄存器的数量可以根据介质的类型和将被控制的功率电平的数量而变化。
尽管未示出，在图5中所示的设备中可以包括数据输入/输出端子，以将存储在控制寄存器618中的控制功率电平提供给外部微处理器或从外部微处理器接收控制功率电平。在这种情况中，外部微处理器能够通过数据输入端子检测控制寄存器618中的当前控制功率值，并通过数据输入端子将预定的控制功率值存储在控制寄存器618中。总之，能够象固件那样控制激光二极管输出控制设备。
第三多路复用器620选择将被控制的功率值。
当由写脉冲发生器404产生的写控制信号被输入于此时，第四多路复用器622选择将被提供给激光二极管310的功率值。
在图5所示的设备中，第一多路复用器604、多路分解器606和第三多路复用器620的选择必须彼此同步，并由采样控制器408产生的选择信号来确定。例如，通过在参考寄存器604中选择存储读功率的寄存器和在控制寄存器618中选择存储读功率的寄存器能够控制读功率。
控制第一多路复用器604、多路分解器606和第三多路复用器620选择的选择信号是由采样控制器408产生的。
下文，将参考图3至5详细描述根据本发明的激光二极管输出控制设备的操作。
在测试激光二极管的输出中，激光二极管的输出特性是根据其工作温度而变化的。因此，在控制激光二极管之前必须考虑激光二极管的特性。为检查量激光二极管的输出特性，将预定的控制值施加到激光二极管以检测激光二极管对应于预定控制值的输出。于是，通过控制值和输出值能够获得输出特性曲线。
在上述检查中，平均单元602的输出必须输出到外部，从而激光二极管的输出能够输入到外部微处理器。通过经外部处理器将预定值施加到ADC304来测量从激光二极管310输出的激光的当前功率值，以检测平均单元602的输出。
考虑光盘记录控制设备的初始设置，在操作激光二极管310之前，存储了控制激光二极管310的输出的控制值的控制寄存器618必须被初始化成具有预定值。此时，APC控制器410控制第二多路复用器614接收第一多路复用器606的输出。
第一多路复用器606和多路分解器616的操作是由采样控制器408产生的选择信号控制的。例如，当选择信号指示读功率时，由第一多路复用器606在参考存储器604中选择存储读功率的参考寄存器，并且由多路分解器616在控制寄存器618中选择存储读功率的控制寄存器。即，每当选择信号指示了读功率、槽脊的峰值功率、槽脊的第一至第三偏置功率、凹槽的峰值功率和凹槽的第一至第三偏置制功率中的一个时，对应的控制值被从参考寄存器604中加载到控制寄存器618中。
在设置APC模式时，根据本发明的激光二极管输出控制设备可以运行在平均APC模式、直接APC模式、峰值APC模式和谷底APC模式中。这些操作模式是由APC控制器410选择的。
APC控制器410控制图4中所示的多路复用器514的选择，并设置该设备的操作模式。例如，当施加到多路复用器514的选择信号指示是平均APC模式时，多路复用器514选择低通滤波器508的输出。
在调整功率电平中，由第一多路复用器606和第三多路复用器620设置将被选择的信号。第一和第三多路复用器606和620是由采样APC控制器410产生的选择信号控制的。
减法器608将平均单元602的输出，即激光二极管310的当前输出值，与由参考寄存器提供的参考功率值进行比较，该参考功率值是由第一多路复用器606选择的，并且减法器608计算它们之间的差值。
由减法器608测量的差值被除法器610削减，并将削减后的差值提供到加法器612。
加法器612将由除法器610获得的差值与由第三多路复用器620提供的控制功率值相加，并将结果提供给多路分解器616。多路分解器616在控制器寄存器618中选择一个控制寄存器以存储由加法器612提供的值。
如上所述，根据本发明的激光二极管输出控制设备增强了高速度和大容量的光记录/再现设备的性能。
而且，通过将由一个集成电路形成的激光二极管输出控制设备加入到拾取器中，能够减小光记录/再现设备的尺寸。
尽管已经参考本发明的优选实施例具体地示出并描述了本发明，本领域的技术人员应该理解，在不背离由所附的权利要求书限定的本发明的实质和范围下，能够从其中产生各种形式上的改变。
权利要求
1.一种激光二极管输出控制设备，该设备比较从激光二极管输出的光信号的当前功率值，并根据比较结果控制该激光二极管的输出，该设备包括采样装置，用于对从激光二极管输出的当前功率值进行采样；算术单元，用于根据从采样装置输出的当前功率值和参考功率值输出施加到该激光二极管的控制功率值；和控制器，用于根据将被记录的写数据产生控制信号，用于控制采样装置和算术单元的操作。
2.如权利要求1所述的设备，其中采样装置包括监视二极管，用于监视激光二极管的输出电平；电流/电压转换器，用于将激光二极管的输出转换成电压信号；和模数转换器，用于采样电流/电压转换的输出。
3.如权利要求2所述的设备，还包括位于电流/电压转换器和模数转换器之间的预处理器，该预处理器用于控制从电流/电压转换器输出的信号的增益。
4.如权利要求3所述的设备，其中预处理器包括读/写增益控制器，用于在读/写操作模式中控制从电流/电压转换器输出的信号的增益；和增益选择开关，用于根据控制器的运行选择电流/电压转换器或读/写增益控制器的输出，并用于将所选择的输出提供到模数转换器。
5.如权利要求4所述的设备，其中预处理器还包括低通滤波器，用于对增益选择开关的输出进行滤波；峰值保持器，用于保持增益选择开关的一个输出的峰值；谷底保持器，用于保持增益选择开关的一个输出的谷底值；模式选择开关，用于根据控制器的操作选择低通滤波器、增益选择开关、峰值保持器和谷底保持器中的输出的任一个，并将其提供到模数转换器。
6.如权利要求1所述的设备，其中控制器包括写脉冲发生器，用于根据不归零倒置(NRZI)信号产生功率控制信号，并根据该功率控制信号产生指示施加到激光二极管的功率的写控制信号；采样控制器，用于根据由写脉冲发生器产生的写控制信号，产生控制采样装置和算术单元的选择操作的选择信号；和APC控制器，用于控制激光二极管输出控制设备的操作模式。
7.如权利要求6所述的设备，还包括延迟器，用于延迟写信号并将延迟的写信号提供给采样控制器，从而补偿采样装置的延迟特性。
8.如权利要求6所述的设备还包括接口，用于接收时钟信号、读/写控制信号、NRZI信号和槽脊/凹槽确定信号并将其提供给APC控制器。
9.如权利要求1所述的设备，其中算术单元包括参考寄存器，用于存储参考功率值以控制激光二极管输出的功率值；控制寄存器，用于存储施加到激光二极管的功率值；减法器，用于测量存储在参考寄存器中的参考功率值和由采样装置提供的当前功率值之间的差值；加法器，用于将减法器的输出与存储在控制寄存器中的功率值相加；和多路分解器，用于在控制寄存器中选择一个控制寄存器以存储加法器的输出。
10.如权利要求9所述的设备，还包括位于减法器和加法器之间的除法器，该除法器用于削减加法器的输出，并将削减的结果提供给加法器。
11.如权利要求9所述的设备，还包括用于平均采样装置的输出并将平均结果提供给减法器的平均单元。
12.如权利要求11所述的设备，其中平均单元的输出是由外部微处理器检测的。
13.如权利要求9所述的设备，还包括第一多路复用器，用于选择参考寄存器中的一个；和第三多路复用器，用于选择控制寄存器中的一个，并将存储在控制寄存器中的功率值提供给加法器，其中第一和第二多路复用器和多路分解器是由控制器产生的选择信号同步的。
14.如权利要求13所述的设备，还包括第四多路复用器，用于根据控制器产生的写控制信号选择控制寄存器中的一个；和数模转换器，用于将第四多路复用器的输出从数字信号转换成模拟信号并将结果提供给激光二极管。
15.如权利要求13所述的设备，还包括数据输出端子，用于将存储在所选择的控制寄存器中的控制功率值输出到外部。
16.如权利要求13所述的设备，还包括数据输入端子，用于从外部接收将被存储在所选择的控制寄存器中的控制功率值。
全文摘要
提供一种光记录/再现设备,更具体地提供一种能够控制激光二极管的输出在最佳电平的激光二极管输出控制设备。该设备比较从激光二极管输出的光信号的当前功率值,并根据比较结果控制该激光二极管的输出,该设备包括:采样装置,用于对从激光二极管输出的当前功率值进行采样;算术单元,用于根据从采样装置输出的当前功率值和参考功率值输出施加到该激光二极管的控制功率值;和控制器,用于根据将被记录的写数据产生控制信号,用于控制采样装置和算术单元的操作。该设备增强了高速度和大容量的光记录/再现设备的性能,并且还减小了光记录/再现设备的尺寸。
文档编号G11B7/00GK1387187SQ0210315
公开日2002年12月25日 申请日期2002年1月31日 优先权日2001年5月17日
发明者徐赈教 申请人:三星电子株式会社