专利名称：光学储存装置组装品质的检测方法及实施该方法的装置的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种用于光学储存装置组装品质的检测方法及实施该方法的光学储存装置，特别是关于一种用来检测光学储存装置达成聚焦功能的组装品质的好坏的检测方法及实施该方法的光学储存装置。
背景技术：
公知光驱在进入伺服控制后，聚焦回路(Focus Loop)会控制物镜(Lens)，使得雷射光能够正确聚焦到光盘片的记录层，但是由于组件的公差以及组装品质的良莠等因素，往往会造成聚焦回路为了要对光盘片继续维持正确的聚焦，而付出更大的代价，例如所付出的代价乃是光盘片的缓慢读片、烧片能力变差等。虽然制造光驱的厂商皆会利用治具来调校所有的组装组件，但是调整上会有人为误差以及治具上的误差，因此很难保证在经过所有的调整后，最后的组装品质是可以接受的。
本发明的发明人有鉴于公知技术的缺点，乃亟思发明而发明出一种能够不必藉助治具，乃藉由执行程序的方式，检测出光学储存装置达成聚焦功能的组装品质。
发明内容
本发明的目的是提供一种用于检测光学储存装置组装品质的检测方法，对于达成聚焦功能的相关组件，其组装品质的好坏能够以数值方式来呈现出来。
本发明的另一目的是提供一种具有自我检测组装品质的光学储存装置，能够自我检测出达成聚焦功能的相关组件其组装品质的好坏。
为达成本发明上述目的，本发明提供一种用于检测光学储存装置组装品质的检测方法包括下列步骤(A).计数光学储存装置的物镜在聚焦方向的行程上，自物镜移动的最下限位置移动至最上限位置的第一行程时间T1；(B).令光学储存装置的光学拾取头对光盘片的内圈位置处发射雷射光，以及将物镜自最下限位置朝向最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第二行程时间T2；(C).令光学储存装置的光学拾取头对光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜自最下限位置朝向最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第三行程时间T3；(D).依据第一行程时间、第二行程时间、第三行程时间，利用组装品质计算式来检测出光学储存装置的组装品质。
再者，为达成本发明上述目的，本发明提供一种具自我检测组装品质的光学储存装置，将用于检测光学储存装置组装品质的检测方法实现为程序代码方式，将这程序代码以韧体形式设置于这个光学储存装置内。
图1显示本发明方法的主要流程图。
图2显示实施本发明方法的硬件架构图。
图3显示本发明的S曲线图。
图4显示本发明方法的检测主轴马达组装偏移量的流程图。
图5显示本发明方法的检测各倍速机械共振偏移量的流程图。
图中10 检测方法20 光学储存装置30 光盘片40 S曲线40a 聚焦讯号101、103、105、107 步骤109、111、113 步骤115、117、119 步骤201 物镜203 光学拾取头205 滑动马达207 主轴马达209 处理器为使熟悉该项技术人士了解本发明的目的、特征及功效，兹藉由下述具体实施例，并配合所附的附图，对本发明详加说明，说明如后具体实施方式
图1显示本发明方法的主要流程图，以及图2显示实施本发明方法的硬件架构图。以及本发明用于检测光学储存装置组装品质的检测方法10，主要包括有步骤(101)、步骤(103)、步骤(105)，分别说明如下步骤(101)是计数出光学储存装置20的物镜201在聚焦方向A的行程上，自物镜201移动的最下限位置B移动至最上限位置C的第一行程时间T1。已组装完成的物镜201的理想位置，乃是位于物镜201在聚焦时不必再向上移动或是向下移动的位置，并且在这理想位置上可藉由致动器的作用，物镜201可以顺沿着聚焦方向A，理想地向下移动0.7mm或者是理想地向上移动0.7mm，据此物镜201可以自由地在0mm至1.4mm之间移动。然而当光学储存装置20被实际组装完成时，常由于组件的公差与组装品质良莠不齐，往往无法让物镜201就是放置在这个理想位置上。在步骤(101)中，先使得物镜201放置在聚焦方向A行程的最下限位置B，然后朝向最上限位置C移动并且同时开始计数时间，当移动至最上限位置C，立即停止移动并同时停止计数，此刻即是物镜201完成整体行程所需要时间，本发明将其定义为第一行程时间T1。
步骤(103)是令光学储存装置20的光学拾取头203对光盘片30的内圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置C移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第二行程时间T2。在步骤(103)中，先利用滑动马达(Sled Motor)205将光学拾取头203与物镜201移动至光盘片30的内圈位置，以及使得物镜201放置在聚焦方向A行程的最下限位置B，然后朝向最上限位置C移动并且同时开始计数时间，请配合参见图3显示本发明的S曲线图(S-Curve)，图3的S曲线40当出现聚焦讯号40a时，即是物镜201将雷射光完成聚焦至光盘片30的记录层时所出现的讯号。此时，一方面移动物镜201并同时检测是否出现聚焦讯号，当出现聚焦讯号时，立即停止移动物镜201并同时停止计数，此刻的计数时间，本发明将其定义为第二行程时间T2。
步骤(105)是令光学储存装置20的光学拾取头203对光盘片30的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置C移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第三行程时间T3。在步骤(105)中，先利用滑动马达(Sled Motor)205将光学拾取头203与物镜201移动至光盘片30的外圈位置，以及使得物镜201放置在聚焦方向A行程的最下限位置B，然后朝向最上限位置C移动并且同时开始计数时间，当S曲线40出现的聚焦讯号40a时，此时，一方面移动物镜201并同时侦测是否出现聚焦讯号，当出现聚焦讯号时，立即停止移动物镜201并同时停止计数，此刻的计数时间，本发明将其定义为第三行程时间T3。
在步骤(103)与步骤(105)所得到的第二行程时间T2与第三行程时间T3，在技术上的真正意义，乃是代表在光盘片30的内、外圈位置处，物镜201分别在0mm至1.4mm距离之间的某一个距离，并在那个距离处是形成聚焦讯号的位置。以理想的光学储存装置20为例，物镜201分别在内、外圈位置处，距离最下限位置B之上方0.7mm位置处是形成聚焦讯号的位置，亦即物镜201毫无误差地在理想位置而不须移动，就能形成聚焦讯号的位置。
步骤(107)是依据第一行程时间T1、第二行程时间T2、第三行程时间T3，利用组装品质计算式来检测出光学储存装置20的组装品质。在步骤(107)中，本发明方法10可以利用导杆(Guide Bar)平面偏移量＝T2-T3作为步骤(107)的组装品质计算式的具体手段，来具体检测导杆(GuideBar)平面偏移量，一般而言，能够被接受的导杆(Guide Bar)平面偏移量，其最好是能够在0.2mm误差范围以内。
在步骤(107)中，本发明方法10可以利用理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量＝T2-(T1/2)作为步骤(107)的组装品质计算式的具体手段，来具体检测物镜201理想聚焦位置与实际聚焦位置因组件组装发生的偏移量，一般而言，能够被接受的偏移量，其最好是能够在0.07mm误差范围以内。
本发明的检测方法10在进行步骤(101)至步骤(107)时，其可以将光学储存装置20的主轴马达207停止旋转，令光学储存装置20的静态状态下来进行。
再者，本发明的检测方法10进一步包括步骤(109)、步骤(111)、步骤(113)，请参见图4显示本发明方法的检测主轴马达平面平整度偏移量的流程图，分别说明如下步骤(109)是令光学储存装置20的主轴马达207以固定转速旋转着，以及令光学拾取头203对光盘片30的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置C移动，并进行至少二次以上的计数，为求更精确的检测，最好是能够采行四次以上，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第四行程时间T4。步骤(111)是令光学储存装置20的主轴马达207以相同于步骤(109)的固定转速旋转着，以及令光学拾取头203对光盘片30在相同步骤(109)的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置C移动，并进行至少二次以上的计数，为求更精确的检测，最好是能够采行四次以上，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第五行程时间T5。步骤(113)是依据第四行程时间T4、第五行程时间T5，利用组装品质计算式来检测出光学储存装置20的组装品质。
在步骤(109)与步骤(111)分别所获得的第四行程时间T4、第五行程时间T5，在技术上的真正意义，乃是代表在光盘片30被主轴马达207所承载着并且在固定转速下一直保持着旋转，此时在光盘片30的外圈位置处，物镜201分别在0mm至1.4mm距离之间的某一个距离，并在那个距离处是形成聚焦讯号的位置，由于光盘片30是在动态下进行，为了要作更精准的检测，如此的动作是有必要进行若干次，然后再取舍出发生的最大值与最小值，来分别作为第四行程时间T4与第五行程时间T5。
在步骤(113)中，本发明方法10可以利用主轴马达平面平整度偏移量＝T4-T5作为步骤(113)的组装品质计算式的具体手段，来具体检测出主轴马达207的平面平整度偏移量。由于组装后的主轴马达207所承载光盘片30的平面，因为主轴马达207的平面不平整，因此其并非一定会位于理想的水平面，而造成承载光盘片30的偏斜。一般而言，能够被接受的主轴马达平面平整度偏移量，其最好是能够在光盘片30的内、外圈下，物镜201聚焦位置相差0.10472mm范围以内。
再者，本发明的检测方法10进一步包括步骤(115)、步骤(117)、步骤(119)，请参见图5显示本发明方法的检测各倍速机械共振偏移量的流程图，分别说明如下步骤(115)是令光学储存装置20的主轴马达207分别以各个倍速转速旋转着，以及令光学拾取头203对光盘片30的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置移动C，并在各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，为求更精确的检测，最好是能够采行四次以上，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第六行程时间T6。步骤(117)是令光学储存装置20的主轴马达207分别以各个倍速转速旋转着，以及令光学拾取头203对光盘片30在相同于步骤(115)的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜201自最下限位置B朝向最上限位置C移动，并在各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，为求更精确的检测，最好是能够采行四次以上，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第七行程时间T7。步骤(119)是依据第六行程时间T6、第七行程时间T7利用组装品质计算式来检测出光学储存装置20的组装品质。
在步骤(115)与步骤(117)分别所获得的第六行程时间T6、第七行程时间T7，在技术上的真正意义，乃是代表在光盘片30被主轴马达207所承载着并且在各种不同倍速下一直保持着旋转，此时在光盘片30的外圈位置处，物镜201分别在0mm至1.4mm距离之间的某一个距离，并在那个距离处是形成聚焦讯号的位置，由于光盘片30是在动态下进行，为了要作更精准的检测，如此的动作是有必要在每一个倍速下来进行若干次，然后再取舍出每一个倍速中所发生的最大值与最小值，来分别作为第六行程时间T6与第七行程时间T7。
在步骤(119)中，本发明方法10可以利用各倍速机械共振偏移量＝T6-T7-主轴马达平面平整度偏移量作为步骤(119)的组装品质计算式的具体手段，来具体检测出各倍速机械共振偏移量。
本发明的检测方法10的具体实现方式可以编写为程序代码，亦即以韧体(Firmware)的手段实现在光学储存装置20，而由处理器209来执行这个韧体。
再者，本发明的检测方法10进一步将其检测结果透过光学储存装置20的驱动程序，以一小窗口画面显示在计算机的显示器上，藉此容易地让品管人员，更能一目了然地知道光学储存装置20出厂前组装品质的良策如何，同时亦可以提供一般使用者在使用光学储存装置20一段时间后，能够很便利地知道光学储存装置20是否仍保有良好的运作功能。
一般而言，光学储存装置20已经将最下限位置B与最上限位置C两者间距限制为1.4mm，因此依据1.4mm间距以及第一行程时间T1等参数，藉由物理公式距离＝速度*时间，据此能够推知获得物镜201的移动速度参数。再藉由物镜201的移动速度参数相乘上各个时间偏移量，如此便可以知道导杆平面偏移量、理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量、主轴马达平面平整度偏移量以及各倍速机械共振偏移量等长度单位的偏差距离，综合各项偏移量，可以得知物镜201在各种状况下的聚焦位置，并藉此来判断，物镜201是否已经接近向上0.7mm或是向下0.7mm，因而推之在正常进入聚焦回路后，物镜201在聚焦是否有机会聚焦的位置已经超过向上或是向下0.7mm，而付出聚焦动作迟缓，导致读片与烧片能力变差等情形。
本发明上述的光学储存装置20可以是光驱，而这个光驱可以是CD光驱、DVD光驱、烧录光驱等等。
熟习本技术者须了解可在本发明的精神及观点内对本发明进行多种不同的修改。而本发明系涵盖由权利要求保护范围及其对等之涵意的观点内任何的修改及变更。
权利要求
1.一种用于检测光学储存装置组装品质的检测方法，包括下列步骤(A).计数一光学储存装置的物镜在聚焦方向的行程上，自物镜移动的最下限位置移动至最上限位置的第一行程时间T1；(B).令该光学储存装置的光学拾取头对一光盘片的内圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一第二行程时间T2；(C).令该光学储存装置的光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一第三行程时间T3；(D).依据该第一行程时间、该第二行程时间、该第三行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
2.如权利要求1所述的检测方法，其中该步骤(D)的组装品质计算式是导杆(Guide Bar)平面偏移量＝T2-T3。
3.如权利要求1所述的检测方法，其中该步骤(D)的组装品质计算式是理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量＝T2-(T1/2)。
4.如权利要求1所述的检测方法，其中该步骤(A)至该步骤(D)是在该光学储存装置的主轴马达停止旋转的状态下进行。
5.如权利要求1所述的检测方法，该检测方法进一步包括下列步骤(E).令该光学储存装置的主轴马达以一固定转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第四行程时间T4；(F).令该光学储存装置的主轴马达以该固定转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片相同步骤(E)的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第五行程时间T5；(G).依据该第四行程时间、该第五行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
6.如权利要求5所述的检测方法，其中该步骤(G)的组装品质计算式是主轴马达平面平整度偏移量＝T4-T5。
7.如权利要求5所述的检测方法，该检测方法进一步包括下列步骤(H).令该光学储存装置的主轴马达分别以各个倍速转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并在各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第六行程时间T6；(I).令该光学储存装置的主轴马达分别以该各个倍速转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片相同于该步骤(H)的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并在该各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第七行程时间T7；(K).依据该第六行程时间、该第七行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
8.如权利要求7所述的检测方法，其中该步骤(K)的组装品质计算式是各倍速机械共振偏移量＝T6-T7-(T4-T5)。
9.如权利要求1所述的检测方法，其中该光学储存装置是一光碟机。
10.如权利要求1所述的检测方法，其中该检测方法是可编写成一程序代码予以实现的方法。
11.如权利要求1所述的检测方法，其中该程序代码是被该光学储存装置执行。
12.一种具自我检测组装品质的光学储存装置，包括一光学拾取头，用以对一光盘片发射一雷射光；一物镜，用以将该雷射光聚焦至该光盘片上；一处理器；一程序代码，其被该光学储存装置的处理器执行，使得该光学储存装置进行下列步骤(A).计数该物镜在聚焦方向的行程上，自该物镜移动的最下限位置移动至最上限位置的第一行程时间T1；(B).令该光学拾取头对该光盘片的内圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一第二行程时间T2；(C).令该光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得一第三行程时间T3；(D).依据该第一行程时间、该第二行程时间、该第三行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
13.如权利要求12所述的光学储存装置，其中该步骤(D)的组装品质计算式是导杆(Guide Bar)平面偏移量＝T2-T3。
14.如权利要求12所述的光学储存装置，其中该步骤(D)的组装品质计算式是理想聚焦位置与实际聚焦位置偏移量＝T2-(T1/2)。
15.如权利要求12所述的光学储存装置，其中该步骤(A)至该步骤(D)，是在该光学储存装置的主轴马达停止旋转的状态下进行。
16.如权利要求12所述的光学储存装置，该程序代码进一步被该光学储存装置执行(E).令该光学储存装置的主轴马达以一固定转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第四行程时间T4；(F).令该主轴马达以该固定转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片相同步骤(E)的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第五行程时间T5；(G).依据该第四行程时间、该第五行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
17.如权利要求16所述的光学储存装置，其中该步骤(G)的组装品质计算式是主轴马达平面平整度偏移量＝T4-T5。
18.如权利要求16所述的光学储存装置，该程序代码进一步被光学储存装置执行(H).令该光学储存装置的主轴马达分别以各个倍速转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片相同于该步骤(H)的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并在该各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最大值作为第六行程时间T6；(I).令该主轴马达分别以该各个倍速转速旋转着，以及令该光学拾取头对该光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将该物镜自最下限位置朝向该最上限位置移动，并在各个倍速下分别进行至少二次以上的计数，每次计数至发生聚焦讯号为止，来获得该些计数的最小值作为第七行程时间T7；(K).依据该第六行程时间、该第七行程时间利用一组装品质计算式来检测出该光学储存装置的组装品质。
19.如权利要求18所述的光学储存装置，其中该步骤(K)的组装品质计算式是各倍速机械共振偏移量＝T6-T7-(T4-T5)。
20.如权利要求12所述的光学储存装置，其中该光学储存装置是一光驱。
全文摘要
本发明是一种用于检测光学储存装置组装品质的检测方法，包括有如下步骤。步骤(A)是计数光学储存装置的物镜在聚焦方向的行程上，自物镜移动的最下限位置移动至最上限位置的第一行程时间T1。步骤(B)是令光学拾取头对光盘片的内圈位置处发射雷射光，以及将物镜自最下限位置朝向最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第二行程时间T2。步骤(C)是令光学拾取头对光盘片的外圈位置处发射雷射光，以及将物镜自最下限位置朝向最上限位置移动，并开始计数至发生聚焦讯号时来获得第三行程时间T3。步骤(D)是依据第一、二、三等行程时间，利用组装品质计算式来检测出光学储存装置的组装品质。
文档编号G11B20/18GK1697064SQ20041003817
公开日2005年11月16日 申请日期2004年5月11日 优先权日2004年5月11日
发明者陈裕彦 申请人:英群企业股份有限公司