专利名称：光拾取装置的制作方法
技术领域：
本发明是关于用于读取或刻录光盘的光拾取装置，尤其是关于一种为了正确测定从激光二极管(LDlaser diode)中射出的光束强度，使用了反光镜的光拾取装置。
(2)背景技术光盘是一种利用光学特性刻录和读取信息的产品，通常呈小型圆盘形状。光盘驱动器是一种读取光盘所必须的装置，它利用安装在光盘驱动器内部的光拾取装置读取或刻录光盘的信息。
这种光拾取器主要是通过发射激光的激光二极管(LDLaserDiode)、解读从光盘上反射来的光束的光检测器(PDPhoto Detector)以及使光束分离的光束分配器(Beam Splitter)等附件来实现其各种功能。
另外，为了在光盘上聚焦光束，光拾取器还使用了传动装置(actuator)，传动装置用于控制物镜(物镜用于将激光二极管射出的激光聚焦在光盘中刻录信息的正确的点上)的位置，提高激光读取或刻录信息的性能。
在光拾取器调整物镜的过程中，激光二极管射出的光束，根据激光二极管的状态和刻录方法(write strategy)其强度必须得到合适的调整。为此，有必要对光束的正确强度进行测定，这时就需要使用前置监视器光检测器(以下简称为MPD)。
MPD的目的就是为了对激光二极管射出光束的强度进行测定，因此MPD设置在激光二极管或物镜(Object Lens)之间，截取一部分射出的光束对激光二极管射出的全部光束的强度进行测定。因此，上述MPD即使针对较小的光量，也能具有充分的信噪(SN)比，不管有没有噪音，都应该产生出正确的信号，即使在最大输出光量中，信号也没有饱和。
图1是对现有光拾取装置截取一部分激光二极管射出光束的方法进行说明的附图。如图1所示，激光二极管10射出的光束经过光束分配器20和瞄准透镜(Collimator Lens)40，到达物镜，这时，光束分配器20分离出一部分光束，将其传送至MPD30。这时，传送至MPD30的光束量由光束分配器20反射膜的特性决定，根据光束量，对激光二极管10射出光束的强度进行测定。
但是，图1中所使用的方法中，MPD30反射的光束会影响到其他的光电附件，而其他的光电附件反射的光束也会影响MPD30的信号，由于只使用了射向瞄准透镜40光束中的一部分光束，因此降低了光束的使用率，而且光束分配器20的编码也很复杂。由于上述这些问题，所以图1中所示的方法不常被使用。
图2是对现有光拾取装置另一种截取一部分激光二极管射出光束的方法进行说明的附图。
与图1中所示的方法不同，图2利用脱离光束分配器20的光束，对激光二极管10射出光束的强度进行测定。所以就能解决图1所示方法所存在的问题。
但是，图2所示的方法如果用在部件设置空间比较大的台式计算机或播放器中就不存在任何问题，但是如果用在空间比较小的细长的(Slim)光拾取器中，其设置位置就受到了很大的限制。
上述MPD30中能变换成实际光和电磁信号的前置监视器光检测器单元(Cell)根据其生产公司、型号、原料具有多种变换效率，这称之为MPD30感应度，它也是设计的重要尺度。
MPD30的信号由于光拾取器具有多种结构和性能，所以很难使用商用MPD30，也很难具备所有的必要条件。因此，设计的核心就是要正确地调整上述MPD30的位置，使适当的光量入射到MPD30中。
图3是对现有光拾取装置中使用的激光二极管进行说明的附图。
参照图3，通常激光二极管10采用了特定的半导体材料，使光束从其缝隙中射出，根据半导体设置方向，光线的强度分布也不一样，通常光线强度分布呈椭圆形。
这时，射出的光束理论上根据各个方向各个角度具有高斯(Gaussian)强度分布，光束中心具有最高的强度，离光束中心越远，光束的强度越弱(图3中R、T方向的光束强度线所示)。
通常激光二极管10射出光束的中心(附图中角度为0的地方)附近，由于光量非常强，所以MPD30信号能够饱和。因此，MPD30的设计位置选择在靠近中心的地方，并且还要考虑到MPD30的角度以及激光二极管10射出光量的范围等因素。
图4是对根据MPD的位置改变光量进行说明的附图。
如图4所示，MPD30越靠近光束的中心，其可饱和性就越大，信噪(SN)比就越高，MPD30就更能够对光束的强度进行测定。
但是，当MPD30离中心远的时候，其可饱和性就比较低，而且信噪(SN)比也相对较低，这时就不能对光束的强度进行正确的测定。
因此，MPD30位置要考虑可饱和性和信噪(SN)比选择最合适的地方。
但是，在上述考虑事项以外，在MPD30对光束进行强度测定中也可能发生误差，这时的误差是由于激光二极管10的位置误差、射出角误差、反射角误差所造成的。
图5的(a)显示的是发生MPD30位置误差的情况，(b)显示的是发生MPD30射出角误差的情况，(c)显示的是发生MPD30反射角误差的情况。
通常在激光二极管10反射角产生误差的情况下，由于其误差程度非常小，可以通过设置可变电阻(Variable Resistance)对误差进行修正。
但是，当激光二极管10发生位置误差和射出角误差的时候，会给入射到MPD30的光量造成很大的影响，所以很难利用上述可变电阻进行修正。
(3)发明内容为了解决上述问题，本发明应运而生。本发明的目的是提供一种为了正确测定从激光二极管(LDlaser diode)中射出的光束强度，使用了反光镜的光拾取装置。
本发明的光拾取装置包含以下部件为了刻录或读取信息用于发射激光的激光二极管；用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器；用于分离光束的光束分配器；瞄准透镜；用于将上述光束聚焦在光盘合适的点上的物镜；用于测定上述激光二极管射出光束的强度的前置监视器光检测器(MPDFront MonitorPhoto Detector)；将上述前置监视器光检测器直接入射来的光束和以此光束的中心为基准与上述光束相对称的光束反射至上述前置监视器光检测器的反光镜。
本发明的光拾取装置包含以下部件为了刻录或读取信息用于发射激光的激光二极管；用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器；用于分离光束的光束分配器；瞄准透镜；用于将上述光束聚焦在光盘合适的点上的物镜；用于测定上述激光二极管射出光束的强度的前置监视器光检测器(MPDFront MonitorPhoto Detector)；用于将以激光二极管射出光束的中心为基准，与直接入射到上述前置监视器光检测器的光束相对称的光束反射至上述前置监视器光检测器的反光镜；设上述激光二极管到反光镜的路径长度为L1，上述经过反光镜反射的光线入射到前置监视器光检测器的路径长度为L2，上述激光二极管到前置监视器光检测器的路径长度为L3，这时L1，L2，L3满足下述关系式0.9×L3≤L1+L2≤1.1×L3。
本发明的效果本发明的光拾取装置的优点是，即使激光二极管发生结构性的误差，前置监视器光检测器也能正确地检测激光二极管射出的光束量。
为进一步说明本发明的上述目的、结构特点和效果，以下将结合附图对本发明进行详细的描述。
(4)
图1是对现有光拾取装置截取一部分激光二极管射出光束的方法进行说明的附图。
图2是对现有光拾取装置另一种截取一部分激光二极管射出光束的方法进行说明的附图。
图3是对现有光拾取装置中使用的激光二极管进行说明的附图。
图4是对现有光拾取装置中根据MPD的位置改变光量进行说明的附图。
图5是对现有光拾取装置中发生MPD位置误差、射出角误差、反射角误差进行说明的附图(a)显示的是发生MPD位置误差的情况；(b)显示的是发生MPD射出角误差的情况；(c)显示的是发生MPD反射角误差的情况。
图6是对本发明的光拾取装置进行说明的附图。
图7(a)、(b)和图8(a)、(b)是对本发明光拾取装置的运行进行说明的附图。
附图中主要部分的符号说明10激光二极管20光束分配器30MPD 40瞄准透镜50反光镜(5)具体实施方式
以下参照附图，对本发明的光拾取装置的实施方式进行详细说明。
图6是对本发明的光拾取装置进行说明的附图。
如图6所示，本发明的光拾取装置设置了用于刻录或读取信息，用于发射激光的激光二极管10，用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器(未图示)；激光二极管10射出的光束通过用于分离光束的光束分配器20和瞄准透镜(Collimator Lens)40传送到用于将光束聚焦在光盘合适的点上的物镜(未图示)。
在上述激光二极管10的一侧设置了用于测定射出光束强度的MPD30，另一侧设置了用于将以激光二极管10射出光束的中心为基准与入射到上述MPD30光束相对称的光束反射至上述MPD30的反光镜50。
上述反光镜50用于在激光二极管10发生位置误差或射出角误差的情况下，对激光二极管10射出的光线进行弥补，使MPD30能够更正确地测定出光量。更详细地说，就是由于激光二极管10发生位置误差或射出角误差，当入射到上述反光镜50的光束减少的时候，入射到MPD30的光束就会增加，相反，当入射到上述激光二极管10的光束增加的时候，入射到上述MPD30的光束就会减少。因此，直接入射到上述MPD30的光束与上述反光镜50反射到上述MPD30的光束之和是固定的。
入射到上述反光镜50中的光束与直接入射到上述MPD30中的光束以激光二极管射出光束的中心为基准相互对称。
另外，为了正确地测定光束量，设上述激光二极管10到反光镜50的路径长度为L1，上述反光镜50反射的光线入射到前置监视器光检测器MPD30的路径长度为L2，上述激光二极管10到前置监视器光检测器MPD30的路径长度为L3，这时上述反光镜50的设置位置要满足0.9×L3≤L1+L2≤1.1×L3这样的关系式。
通常光束的强度根据其经过路径的长度不同而发生变化，所以在设置反光镜50的时候，当上述L3与L1+L2的长度越接近时，就能更准确地测定出光束的强度。
图7(a)、(b)和图8(a)、(b)是对本发明光拾取装置的运行进行说明的附图。
如图7的(a)、(b)所示，当激光二极管10发生位置误差时，光量误差得到补偿。
更详细地说，在图7(a)中，当激光二极管10的位置往附图的上侧移动时，入射到反光镜50中被反射的光量增加，但是直接入射到MPD30中的光量减少，所以即使发生了位置误差，MPD30同样能正确地测定出光量。
图7(b)显示的正好相反，当激光二极管10的位置向着附图的下侧移动的时候，入射到反光镜50中被反射的光量减少，但是直接入射到MPD30中的光量增加，所以即使发生了位置误差，MPD30也同样能正确地测定出光量。
如图8(a)、(b)所示，当激光二极管10发生射出角误差时，光亮误差得到补偿。
在图8(a)中，当激光二极管10的射出角向着逆时针方向旋转时，入射到反光镜50中被反射的光量增加，但是直接入射到MPD30中的光量减少，所以即使发生了射出角误差，MPD30同样能正确地测定出光量。
在图8(b)显示的正好相反，当激光二极管10的射出角向着顺时针方向旋转时，入射到反光镜50中被反射的光量减少，但是直接入射到MPD30中的光量增加，所以即使发生了射出角误差，MPD30也同样能正确地测定出光量。
本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上所述实施例的变化、变型都将落在本发明权利要求书的范围内。
权利要求
1.一种光拾取装置，其特征在于包括为了刻录或读取信息，用于发射激光的激光二极管；用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器；用于分离光束的光束分配器；瞄准透镜；用于将所述的光束聚焦在光盘合适的点上的物镜；用于测定所述的激光二极管射出光束的强度的前置监视器光检测器；用于将以所述的激光二极管射出光束的中心为基准，与直接入射到所述的前置监视器光检测器的光束相对称的光束反射至所述的前置监视器光检测器的反光镜。
2.一种光拾取装置，其特征在于包括为了刻录或读取信息用于发射激光的激光二极管；用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器；用于分离光束的光束分配器；瞄准透镜；用于将所述的光束聚焦在光盘合适的点上的物镜；用于测定所述的激光二极管射出光束的强度的前置监视器光检测器；用于将以激光二极管射出光束的中心为基准，与直接入射到所述的前置监视器光检测器的光束相对称的光束反射至所述的前置监视器光检测器的反光镜；设所述的激光二极管到反光镜的路径长度为L1，所述的反光镜反射的光线入射到前置监视器光检测器的路径长度为L2，所述的激光二极管到前置监视器光检测器的路径长度为L3，这时L1，L2，L3满足下述关系式0.9×L3≤L1+L2≤1.1×L3。
全文摘要
本发明是关于读取或刻录光盘的光拾取装置，包括为了刻录或读取信息，用于发射激光的激光二极管；用于解读从光盘上反射来的光束的光检测器；用于分离光束的光束分配器；瞄准透镜；用于将上述光束聚焦在光盘合适的点上的物镜；用于测定上述激光二极管射出光束的强度的前置监视器光检测器；用于将以激光二极管射出光束的中心为基准与直接入射到上述前置监视器光检测器的光束相对称的光束反射至上述前置监视器光检测器的反光镜。本发明为了正确测定从激光二极管中射出的光束强度，使用了反光镜，使光拾取装置即使在激光二极管发生结构性的误差时，前置监视器光检测器也能正确地检测激光二极管射出的光束量。
文档编号G11B7/135GK1783255SQ200410089119
公开日2006年6月7日 申请日期2004年12月3日 优先权日2004年12月3日
发明者梁先镐, 高义锡 申请人:上海乐金广电电子有限公司