专利名称：预置凹坑信息检测装置、光信息记录装置、程序及计算机可读取信息记录介质的制作方法
技术领域：
本发明涉及从具有形成了用于记录信息的轨道的引导槽和预先设置在该引导槽间的预置凹坑的光信息记录介质中检测与预置凹坑有关的信息的预置凹坑信息检测装置、具有该预置凹坑信息检测装置的光信息记录装置、用于由计算机控制该信息记录装置的动作的程序以及存储了该程序的计算机可读取信息记录介质。
背景技术：
近年来，在作为光信息记录介质已经普及了的记录型光盘的数字多用途光盘(DVD)的种类中，DVD-R或DVD-RW(以下总称作‘DVD-R/RW’)中，在盘制造时为了准确地检测在各半径位置的线速度，而施加使成为记录信息的轨道的引导槽蛇行的摆动。在该情况下，在进行了CLV(线速度一定)旋转控制时，采用摆动频率为一定的格式。从而，在使用这样的光盘的光盘装置中，检测基于该引导槽的摆动的信号(称作‘摆动信号’)，从而进行光盘的旋转控制或生成记录时钟。
此外，例如在紧凑盘(compact disk)的CD-R或CD-RW中，通过频率调制来使该摆动信号具有被称作ATIP的地址(时间)信息，在其它的DVD的DVD+R或DVD+RW中，通过相位调制方式在摆动信号中记录称作ADIP的地址信息。
但是，在前述DVD-R/RW的情况下，摆动信号中不含有盘面内的位置信息，而是作为其代替，在两个轨道(引导槽)之间的引导轨道(岸台)上形成有包含地址信息的预置凹坑。摆动信号是以一定周期发生的振幅比较小的信号，预置凹坑(LPPLand Pre-Pit)信号是间歇性发生的振幅比较大的信号，基本上两者是可分离的。
通过用规定的限幅电平将基于具有光拾取器的至少两个光接收区域的光接收元件所检测出的推挽信号的信号进行二值化，从而得到预置凹坑信号。但是，预置凹坑信号的最大振幅值根据光盘装置的物镜的光轴偏离、盘的倾斜(tilt)、盘面内的反射率变化等而变动。
因此，将限幅电平固定而将包含预置凹坑信号的推挽信号二值化时，可能误检测出预置凹坑信号。特别在盘面内的记录完毕区域中，由于来自作为记录数据的RF信号的串扰噪声而容易误检测预置凹坑信号，因此重要的是更恰当地设定限幅电平。
因此，以往，作为恰当地设定限幅电平的方法，提出了如下的方法。
例如，特开2000-207744号公报中公开了一种检测预置凹坑信号的最大振幅值，通过将其分压来设定限幅电平的预置凹坑信号检测电路。
发明内容
但是，在该现有的方法中，不检测成为误检测的原因的摆动信号本身，在设定限幅电平时，不进行与摆动信号的比较，因此存在残留有误检测的可能性的问题。
本发明为了解决这样的问题而完成，其目的在于可以排除摆动信号等的噪声的影响，从而稳定地恰当检测出与光信息记录介质中设置的预置凹坑有关的信息(预置凹坑信号)，以及由此，光信息记录装置可以准确地访问光信息记录介质上的希望的轨道。
本发明为了达成上述目的，提供如下构成的预置凹坑信息检测装置。
即，包括光拾取器，对具有引导槽和预先设置在该引导槽间的预置凹坑的光信息记录介质照射光，该引导槽成为记录信息的轨道；光接收单元，具有在轨道的宽度方向上被分割了的至少两个光接收区域，接收由光信息记录介质反射了的光；以及差检测电路，检测从该光接收单元的两个光接收区域输出的信号的差。
进而，设有第一峰值检测电路，检测从该差检测电路输出的信号的峰值并输出；滤波电路，从由所述差检测电路输出的信号中提取基于所述引导槽的摆动的信号；第二峰值检测电路，检测从该滤波电路输出的信号的峰值并输出；差动分压电路，以规定的比例将所述第一峰值检测电路的输出值和所述第二峰值检测电路的输出值的差进行分压后输出；以及比较器，对所述差检测电路的输出和所述差动分压电路的输出进行比较，输出与所述预置凹坑有关的信息。
所述滤波电路最好由以根据所述光信息记录介质中形成的所述引导槽的摆动而检测出的摆动信号的频率作为中心频率的带通滤波器构成。
而且，提供一种光信息记录装置，具有该预置凹坑信息检测装置，基于由该预置凹坑信息检测装置检测出的预置凹坑信息来检测光信息记录介质上的光点位置的地址。
本发明的预置凹坑信息检测装置也可以将所述预置凹坑信息检测装置的结构变更一部分，设置第一电压检测电路，检测从该所述检测电路输出的差信号的峰值电压并输出；滤波电路，从所述差信号中除去所述预置凹坑的检测分量；第二电压检测电路，检测从该滤波电路输出的信号的峰值电压并输出；差动分压电路，以规定的比率将所述第一电压检测电路的输出电压和所述第二电压检测电路的输出电压的差进行分压；以及比较器，将所述差信号与所述差动分压电路的输出电压进行比较，输出与所述预置凹坑有关的信息。
该情况下的上述滤波电路也最好由以根据所述光信息记录介质中形成的所述引导槽的摆动而检测出的摆动信号的频率作为中心频率的带通滤波器构成。
进而，提供一种光信息记录装置，具有该预置凹坑信息检测装置，基于由该预置凹坑信息检测装置检测出的预置凹坑信息来检测光信息记录介质上的光点位置的地址。
在该光信息记录装置中，最好使所述第一电压检测电路和所述第二电压检测电路的至少一个成为保持最大振幅电压的最大振幅保持电路，该装置设置用于选择多个设定值来作为该保持电压的变化率的变化率选择单元。
进而，最好至少使所述第一电压检测电路成为所述最大振幅保持电路，所述变化率选择单元具有在旋转所述光信息记录介质时的所述轨道的线速度越快则使所述变化率的设定值越大的功能。
此外，最好所述第一电压检测电路和所述第二电压检测电路的至少一个中设置在希望的定时将检测电压复位的复位单元。
进而，也可以具有用于识别光信息记录介质的安装的识别单元，在该识别单元每次识别所述光信息记录介质的安装时，所述复位单元将所述检测电压复位。
进而，也可以设置D/A转换电路，可设定多个电压来输出；以及选择单元，选择所述差动分压电路的输出电压和所述D/A转换电路的输出电压中的其中一个，作为为了与所述差信号进行比较而输入所述比较器的比较信号。
所述选择单元最好在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道(seeking)动作时，选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述差动分压电路的输出电压。
或者，也可以设置D/A转换电路，其结构为可设定多个电压来输出；以及选择单元，用于选择所述第一电压检测电路的输出电压和所述D/A转换电路的输出电压中的其中一个，作为除了所述第二电压检测电路的输出电压之外输入所述差动分压电路的电压。
在该情况下，所述选择单元最好在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作时，选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述第二电压检测电路的输出电压。
进而，最好设置解除单元，用于在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在由该解除单元解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述差动分压电路的输出电压。
或者，也可以设置解除单元，用于在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在由该解除单元解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述第一电压检测电路的输出电压。
本发明的预置凹坑信息检测装置通过得到来自分割光接收元件的各输出的差信号，可以降低RF信号引起的串扰噪声，而且，通过分别检测从该差信号中除去了预置凹坑信号的最大振幅电压以及预置凹坑信号的其他的噪声的最大振幅电压，可以设定预这些振幅变动对应的最佳的限幅电平，因此可以检测适当地设定了的预置凹坑信号。
此外，使用该预置凹坑信号，可以准确地对光信息记录介质的希望的轨道进行存取。
图1是表示具有本发明的预置凹坑信息检测装置的光信息记录装置的实施例的光盘装置的结构的方框图。
图2是将该光盘装置所使用的光信息记录介质的光盘的盘面放大来表示各轨道的结构的图。
图3是表示图1所示的光盘装置中的光拾取器的光接收元件及其输出信号检测单元的结构例的图。
图4是说明DVD-R/RW的情况下的摆动信号和预置凹坑信号的结构的图。
图5是概略地表示图1所示的摆动检测电路12和预置凹坑检测电路13的关系的方框图。
图6是表示本发明的预置凹坑信息检测装置的第一实施例的结构的方框图。
图7是表示图6所示的电路中的推挽信号的摆动信号分量和预置凹坑信号分量以及限幅电平和比较器输出的关系的波形图。
图8是表示峰值检测电路中的多个变化率(衰减率)的不同的波形图。
图9是表示图6中的预置凹坑峰值检测电路30以及摆动峰值检测电路32的具体结构例的电路图。
图10是与表示本发明的预置凹坑信息检测装置的第二实施例的结构的图6同样的方框图。
图11是与表示本发明的预置凹坑信息检测装置的第三实施例的结构的图6同样的方框图。
图12是表示具有图10所示的预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的基本的寻道动作处理的流程图。
图13是表示具有图11所示的预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的基本的寻道动作处理的流程图。
图14是表示具有图10所示的预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的加上了复位动作的寻道动作处理的流程图。
图15是表示具有图11所示的预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的加上了复位动作的寻道动作处理的流程图。
具体实施例方式
以下，基于附图具体地说明用于实施本发明的最佳方式。
图1是表示具有本发明的预置凹坑信息检测装置的光信息记录装置的实施例的光盘装置的结构的方框图。图2是将该光盘装置所使用的光信息记录介质的光盘的盘面放大来表示各轨道的结构的图，图3是表示图1所示的光盘装置中的光拾取器的光接收元件及其输出信号检测单元的结构例的图。
图1所示的光盘装置1使用DVD-R/RW作为光盘2，是对该光盘2记录/再现信息的DVD-R/RW驱动装置，包括光拾取器3、再现电路4、解码器5、微型计算机(图中为CPU)6、编码器7、激光器控制电路8、运算电路9、伺服电路10、时钟生成电路11、摆动检测电路12、预置凹坑(LPP)检测电路13、地址解码器14以及使光盘2旋转的电机。
微型计算机(以下简称为‘CPU’)6由中央处理装置、作为程序存储器的ROM以及作为数据存储器的RAM等构成，统一控制该光盘装置1的各部分。
光拾取器3包括半导体激光器等激光源；用于将该激光源发出的激光聚光后对光盘2照射点光同时分离来自光盘的反射光的、由准直透镜和聚光透镜以及分光镜等构成的光学系统；以及作为接收其反射光并变换为电气信号(再现信号)的光接收单元的光接收元件等。该光拾取器3可通过省略了图示的跟踪(tracking)电机和直线进给机构在光盘2的径向上移动。
在该光盘装置1中，在信息记录时，从外部的主机装置经由CPU6对编码器7发送要记录的信息，编码器7变换数据格式，激光器控制电路8根据信息位而进行搭载于光拾取器3中的激光源的发光控制，从而进行通过用于记录的点光对光盘2上的记录动作。
在再现时，光拾取器3对光盘2上照射激光产生的用于再现的点光，由光接收元件检测其反射光，再现电路4对该被检测出的再现信号进行滤波和数字化。然后，解码器5对由该再现电路4生成的数据的格式进行变换，CPU6将该再现信息发送到未图示的外部主机装置。
如后所述，设在光拾取器3中的光接收元件的结构为在光盘2的轨道的宽度方向上被二分割，运算电路9根据由该光接收元件的两个光接收区域分别检测出的两个信号而生成伺服信号，伺服电路10按照该伺服信号对前述的跟踪电机进行驱动控制，从而进行光拾取器3的跟踪位置的控制。而且，伺服电路10根据从时钟生成电路11输出的时钟信号，还进行使光盘2旋转的电机15的旋转控制。
此外，由光接收元件的两个光接收区域分别检测出的各信号由运算电路9运算后被发送到摆动检测电路12和预置凹坑检测电路13。然后，时钟生成电路11基于由摆动检测电路12检测出的摆动时钟，生成追随光盘2的旋转的准确的时钟信号。
此外，预置凹坑检测电路13从运算电路9的输出信号中检测包含物理地址信息的预置凹坑信号，地址解码器14将其变换为地址信息，得到此时的光拾取器3对光盘2的存取位置的地址信息。
这里，通过图2说明光盘2上的轨道结构等。
在DVD-R/RW等光盘2上，如图2所示，被称作凹槽(groove)16的引导槽一边蛇行(摆动)一边被刻在螺旋上，形成了由该凹槽16记录信息的各周的轨道17。在DVD-R的情况下，在凹槽16上进行光拾取器3跟踪控制，通过光点Sp以一定的线速度进行数据的记录以及再现。邻接的凹槽16之间的部分被称作岸台(land)18，在该岸台18上预先从盘制造阶段起记录了用于表示光盘2的位置信息等的预置凹坑LPP。
如图3所示的光接收元件26这样，作为设在光拾取器3中的光接收单元的光接收元件具有由沿着轨道的切线方向的分割线Ld在轨道的宽度方向上分割了的至少两个光接收区域26a、26b，其由两个光接收元件构成。而且，由该各光接收区域26a、26b各接收被照射到光盘2上的光点Sp的反射光产生的光点Sp’的一半，分别变换为电信号。因此，作为用于检测图2所示的凹槽16的摆动(蛇行)信息的最简单的摆动信号运算，如该图3所示，采用通过运算放大器OP0构成的减法器运算来自各光接收区域26a、26b的输出信号A和B的差(A-B)的方法。
此外，如图2所示的预置凹坑LPP参照相对于轨道17的中心记录在盘外周侧的信息，所以如果是未记录盘则仅外周侧的光接收区域26b检测该信息，所以可以由此进行预置凹坑的检测。但是，在光盘2上记录了数据之后，在仅从光接收区域26b进行了检测的情况下，从轨道17上检测的数据的高频(RF)信号分量成为噪声，不能正确地检测预置凹坑。
因此，与检测摆动信息的情况同样，一般通过求来自两个光接收区域26a、26b的输出信号A和B的差(A-B)，除去RF信号分量从而检测预置凹坑信号。
图4是用于说明DVD-R/RW的情况下的摆动信号和预置凹坑信号的图。在本例中，如在摆动信号SWb的正极性侧由虚线所表示的，要检测的预置凹坑信号SLPP表现为正的脉冲状。但是，有时预置凹坑信号SLPP在摆动信号SWb的负极性侧表现为负的脉冲状。
将DVD的信道位(channel bit)(基准线速度时为26.15625MHz)的周期设为TC时，摆动信号周期TW为186TC(基准速度时约为140kHz)，1个同步帧为8摆动。
DVD数据的1个扇区由26个同步帧构成，分别从扇区的前端帧起按顺序称作EVEN(偶数)帧、ODD(奇数)帧时，预置凹坑LPP被记录在EVEN帧或ODD帧的某一个中。基本上，预置凹坑LPP被记录在EVEN帧的前端3个摆动各自的峰值位置，对于恐怕与记录在内周侧的预置凹坑LPP干扰的位置，记录在ODD帧中，这对每个扇区都不同。此外，预置凹坑信号SLPP每2帧构成1位，同步(Sync)1位+数据(记录信息)12位被记录在每一扇区中。
图5是概略地表示图1所示的摆动检测电路12和预置凹坑检测电路13的关系的方框图。
对于来自光拾取器3的光接收元件26中的各光接收区域26a、26b的输出信号A、B，分别使用AGC(Auto Gain Control，自动增益控制)电路19将振幅设为一定。
由于光接收区域26a、26b的光接收元件的输出的偏差、光盘的偏心或面振动、光拾取器3的透镜位置变化等而发生输出信号A和B的输出振幅的差，但通过AGC电路19使振幅一定，通过运算放大器OP0构成的减法器时，可以得到高效率地除去了同相的RF信号分量的推挽信号Ps。而且，该推挽信号Ps分别被输入摆动检测电路12和预置凹坑检测电路13中。
摆动检测电路12包括摆动信号提取电路21、运算放大器构成的摆动比较器22，通过将推挽信号Ps输入摆动信号提取电路21从而提取摆动信号Wb的分量，通过摆动比较器22将该摆动信号Wb二值化，从而输出摆动时钟Clw。
在图1所示的时钟生成电路11中，由内部PLL电路基于该摆动时钟CLw进行对于编码器7的时钟的生成、对于伺服电路10的时钟的生成，在光盘2上以一定的线速度记录数据。
此外，为了在希望的盘位置开始记录而需要位置信息，预置凹坑LPP中记录了用于此的地址信息。
预置凹坑检测电路13是以适当的限幅电平将推挽信号Ps中被叠加在摆动信号SWb中的预置凹坑信号SLPP的分量二值化从而检测预置凹坑信号SLPP的电路，限幅电平设定电路24包括由运算放大器构成的预置凹坑比较器(比较电路)25。本发明的光盘2装置的特征在于预置凹坑检测电路13中的限幅电平的设定。
图6是表示本发明的预置凹坑信息检测装置的第一实施例的结构的方框图。参照该图详细地说明本实施例的预置凹坑信号和摆动信号的检测处理。
在图6中，来自光拾取器3的两个光接收区域26a、26b的各输出信号A、B由运算电路9作为推挽信号Ps输出，输入该推挽信号Ps的预置凹坑检测电路13由CPU6控制，检测出预置凹坑信号SLPP后输出到地址解码器14，或者输入了推挽信号Ps的摆动检测电路12生成摆动时钟CLw后输出到时钟生成电路11。
作为光接收区域被二等分了的光接收单元的光接收元件26基于由各光接收区域26a、26b分别接收了的光量来发生电流。该各电流的输出信号A、B分别单独输入运算电路9内的两个电流电压变换器27(I/V变换器)中后被变换为电压信号。来自各光接收区域26a、26b的输出信号A、B还被输入图1所示的伺服电路10。另外，光接收元件26不限于被二分割了的结构，在沿着轨道的方向上也被分割而被四分割，或者在此以上被分割也可以。
输出信号A、B被变换后的电压信号分别由个别的AGC电路19将振幅设为一定，该各信号被输入作为差检测电路的由运算放大器OP0构成的减法器，得到作为差信号的推挽信号Ps。该推挽信号Ps由高通滤波器(HPF)电路29除去了直流分量之后，从运算电路9被输出，然后分为两个路径而分别被输入预置凹坑检测电路13和摆动检测电路12。
被输入预置凹坑检测电路13的推挽信号Ps分别被输入预置凹坑检测电路13内的预置凹坑比较器25、预置凹坑峰值检测电路(在图中位‘预置凹坑P/H电路’)30、兼用作摆动检测电路12的作为滤波电路的带通滤波(BPF)电路31。
预置凹坑峰值检测电路30是第一峰值检测电路以及第一电压检测电路，检测并保持作为连续模拟信号输入的推挽信号Ps的峰值、即正极性侧的最大振幅电压。该检测出的峰值如图7所示，是与预置凹坑信号SLPP分量的峰值一致的值。另外，在预置凹坑信号SLPP作为反极性(负极侧)的脉冲发生的情况下，在输入预置凹坑峰值检测电路30之前由反转电路等反转信号的极性即可。后面详细叙述包含来自CPU6的控制的该预置凹坑峰值检测电路30的具体结构例。
此外，作为滤波电路的带通滤波电路(以下简称作‘BPF电路’)31是对于推挽信号Ps以摆动信号频率为中心频率的带通滤波器，从被输入的推挽信号Ps除去预置凹坑信号SLPP的分量从而提取摆动信号SWb的分量。
该摆动信号SWb输入摆动峰值检测电路(摆动P/H电路)32。该摆动峰值检测电路是第二峰值检测电路以及第二电压检测电路，检测并保持作为连续模拟信号的摆动信号SWb的峰值(正极性侧的最大振幅电压)。该摆动信号SWb的峰值如图7所示，是与预置凹坑信号SLPP谷(bottom)值即从摆动信号Wb突出的预置凹坑信号SLPP的中的最低值一致的值。关于该摆动峰值检测电路32也在后面详细叙述具体的结构例。
然后，将保持在该预置凹坑峰值检测电路30中的预置凹坑信号SLPP的峰值和保持在摆动峰值检测电路32中的摆动信号SWb的峰值输入作为差动分压电路的分压器33的两端，以规定的比例将该差分压，将该分压后的输出电压作为限幅电平输入预置凹坑比较器25。由此，限幅电平如图7中虚线所示，被设定在从摆动信号SWb突出的预置凹坑信号SLPP的部分的最高值和最低值之间。
其结果，预置凹坑比较器25不受摆动信号Wb影响，并且即使在预置凹坑信号SLPP的最大振幅稍微变动了的情况下，也可以稳定地将推挽信号Ps二值化，从而可以输出预置凹坑信号SLPP(图7所示的比较器输出)。在该第一实施例中，上述预置凹坑峰值检测电路30、BPF电路31、摆动峰值检测电路32、以及分压器33构成图5所示的限幅电平设定电路24。
另外，从BPF电路31输出的摆动信号SWb的相位不偏差(不延迟)的情况下，预置凹坑信号SLPP的谷值和摆动信号SWb的峰值在相同的定时出现。即，由于预置凹坑信号SLPP被检测的定时和摆动信号SWb的峰值被检测的定时一致，因此不设置用于保持峰值的摆动峰值检测电路32也可以与上述同样地设定限幅电平。
此外，也可以代替摆动峰值检测电路32而设置检测并保持从BPF电路31输出的摆动信号SWb的平均电压的平均电压检测电路。在该情况下，将预置凹坑峰值检测电路30中保持的预置凹坑信号SLPP的峰值和从平均电压检测电路输出的平均电压输入作为差动分压电路的分压器33的两端，以规定的比例将该差分压，将该分压后的输出电压作为限幅电平输入预置凹坑比较器25。
这样，即使在预置凹坑信号SLPP的最大振幅由于盘面的偏心或透镜位置变化等的影响而变化了的情况下，也可以设定适当的限幅电平从而检测预置凹坑信号SLPP。
另一方面，摆动检测电路12中，推挽信号Ps由兼用作预置凹坑检测电路的滤波电路的BPF电路31除去预置凹坑信号SLPP的分量，摆动信号SWb的分量被提取。该BPF电路31也可以在摆动检测电路12中单独地设置。而且，该提取出的摆动信号SWb的分量由高通滤波(HPF)电路34高精度地除去直流分量后成为摆动信号SWb，进而由摆动比较器22与基准电压Vref比较后生成摆动时钟，被输出到时钟生成电路11。
在本实施例中，该BPF电路31以及高通滤波电路34构成图5所示的摆动信号提取电路21。
根据该图6所示的结构，可以稳定地检测预置凹坑信号SLPP和摆动时钟。
这里，详细叙述预置凹坑峰值检测电路30以及摆动峰值检测电路32的具体结构例。图9是表示其具体的结构例的电路图。该电路结构对于预置凹坑峰值检测电路30和摆动峰值检测电路32都相同，所以在该说明中，仅称作峰值检测电路30、32。
该峰值检测电路30、32构成在电容器中保持输入的最大振幅电压的最大振幅保持电路(峰值保持电路)，将对电容器充电电荷的速度和放电该电荷的速度单独地设计，但一般它们多具有相关关系。换言之，降低保持电压的放电引起的变化率(称作衰减率)，尽可能使该保持时间延长时，无论如何，充电的速度也某种程度上变慢。
DVD-R/RW的预置凹坑信号的情况下，从帧的前端到第3摆动构成1位，到下1位到来为止的间隔大概为2帧，这大约相当于3000TC(TC为DVD的信道位的周期)。相对于此，预置凹坑信号的脉宽位数TC左右(在DVD-R/RW的标准中半值宽度为1TC以上)，因此为了实现预置凹坑信号分量的峰值保持，有高速的充电速度和缓慢的放电速度这样的相反的要求。
进而，为了使对光盘的记录速度高速化，要求对于更短的预置凹坑信号可以准确地检测其峰值电平的电路。从而，在对于预置凹坑信号的峰值检测电路中，为了缩短充电时间而必需加快充电速度，但由于到下一个阈值凹坑信号为止的时间间隔缩短，所以可以将变化率(衰减率)增大该部分。
因此，在本实施例中，如图8中虚线所示，峰值检测电路30、32的至少一个(预置凹坑峰值检测电路30)可以设定多个衰减率，记录速度越为高速则将该衰减率设定得越大。
此外，这些峰值检测电路30、32分别具有将峰值电平复位的功能。这是由于，预置凹坑信号的振幅由于光盘的个体差异而不同，而且预置凹坑峰值检测电路30的衰减率被设定得非常小，长时间保持预置凹坑信号的峰值电平，因此在更换光盘时，将该检测电压复位而重新适当地进行设定。
图9所示的峰值检测电路为了完成这些功能而被构成，具有三个电容器C1、C2、C3、两个运算放大器OP1、OP2、整流二极管D、四个电阻R1～R4、四个开关SW1～SW4。由此，构成将输入以及输出阻抗变换的两个电压输出电路、整流二极管D和保持电容器C3构成的充电电路、以及电阻R1～R4和开关SW1～SW4构成的放电电路和该变化率(衰减率)设定单元以及复位单元。
在该峰值检测电路中，输入信号(推挽信号Ps或摆动信号SWb)被输入有运算放大器OP1构成的第一级的电压输出器，其输出电压经由整流二极管D对保持电容器C3进行充电。在电阻R1～R4以及开关SW1～SW4全部不存在的情况下，该电容器C3中蓄积的电荷不流入运算放大器OP2，也不逆流过二极管D，保持蓄积的状态。由此，电容器C3保持输入电压的峰值电压。
但是，实际上设有与电容器C3并联连接的电阻R1～R4的串联电路，与该各电阻并联连接的开关SW1～SW4构成的放电电路，电容器C3中蓄积的电荷由该放电电路放电，电容器C3的电容和电阻R1～R4中的未被开关SW1～SW4短路的电阻的合成电阻值的积的放电时间常数越小则该电容器C3的放电速度(衰减率)越大，被快速放电。从而，通过改变作为变化率选择部的开关SW1～SW4的开闭数，增减合成电阻值从而可以变更衰减率。
作为具体的操作例，在记录速度(图1中的光盘2和光拾取器3的相对速度)慢的情况下，根据CPU6的指令，将开关SW1～SW4全部开路，将合成电阻值R设为电阻R1～R4的各电阻值的和(R1+R2+R3+R4)。然后，随着记录速度的增加，将开关每次一个地依次闭合，例如在仅闭合了开关SW1的情况下，不通过电阻R1而通过电阻值为0的开关SW1来放电，所以成为与电容器C3的电容和合成电阻值R＝R2+R3+R4的积对应的衰减率。进而，在记录速度增加了的情况下，CPU6进而将开关闭合，将合成电阻值R如R＝R3+R4、R＝R4这样减小。这样，记录线速度越快则将放电时间常数设定得越小，将衰减率设定得越大，提早放电。
其结果，可以更准确地检测预置凹坑信号或摆动信号的峰值电平。此外，在CPU6将全部的开关SW1～SW4闭合了的情况下，成为将保持电容器C3的两端子间短路，因此被充电到电容器C3中的电荷被一瞬间被放电，峰值保持电压被复位。
从而，本实施例中的开关SW1～SW4兼作选择多个设定值作为保持电压的变化率的变化率选择单元，在希望的定时将检测电压复位的复位单元。
该复位动作可以在希望的定时进行，但由于在更换作为光信息记录介质的光盘时，光盘装置具有识别光盘的安装的识别单元，所以在其每次识别光盘的安装时，可以自动地进行复位动作。
另外，作为开关SW1～SW4的结构，不限于机械触点开关，也可以使用光MOS继电器等半导体开关，这样则可以容易地进行控制。此外，在该电路例中设置了多个电阻值固定的电阻器，但也可以使用可以按照CPU6的指令来改变电阻值的可变电阻对放电时间进行控制，并进行变化率的选择。此外，代替多个电阻或者与多个电阻同时并联连接设置多个电容器，通过开关的开闭来增减蓄积电荷的电容器的数(合成电容)，从而变更衰减率也可以。即，保持电容器的电容和放电电路的电阻值的至少一个可变即可。
接着，说明本发明的预置凹坑信息检测装置的第二实施例。图10是与该图6同样的电路图，对与图6对应的部分赋予同一符号。
在本实施例中，与所述第一实施例不同的仅是预置凹坑检测电路13，因此仅说明其不同点。
即，在预置凹坑检测电路13中具有可设定多个直流电压并输出的D/A转换电路(DAC)11，以及作为由CPU6控制的选择部分的选择开关42。
而且，通过CPU6切换控制选择开关42，选择分压器33的输出电压和D/A转换电路41的输出电压的其中一个作为比较信号即限幅电平的信号，为了与作为差信号的推挽信号Ps进行比较，可以输入比较器25。
从而，将选择开关42切换到D/A转换电路41侧时，可以固定地设定限幅电平。由此，在光拾取器的寻道时或高速记录时等，即使在不能正常地进行预置凹坑信号的峰值检测的情况下，也可以稳定地进行限幅电平的设定以及预置凹坑信号SLPP的检测。
其它的结构与所述第一实施例相同，因此省略其说明。
接着，说明本发明的预置凹坑信息检测装置的第三实施例。图11是与该图6同样的电路图，对与图6对应的部分赋予同一符号。
在本实施例中，与所述第一实施例不同的仅是预置凹坑检测电路13，因此仅说明其不同点。
即，在预置凹坑检测电路13的内部具有可设定多个直流电压并输出的D/A转换电路(DAC)43，以及作为由图1所示的CPU6控制的选择部分的选择开关44。
然后，通过CPU6切换控制选择开关44，选择预置凹坑峰值检测电路30的输出电压和D/A转换电路43的输出电压的其中一个，输入到在一端被输入摆动峰值检测电路32的输出电压的分压器33的另一端。
从而，将选择开关44切换到D/A转换电路43侧时，分压器33将D/A转换电路43的输出电压和摆动峰值检测电路32的输出电压的差进行分压，为了与输入作为差信号的推挽信号Ps进行比较，而将该分压电压作为比较信号即限幅电平的信号输入比较器25。
在该情况下，可以根据摆动信号SWb分量的振幅变动来设定限幅电平。由此，在光拾取器的寻道时或高速记录时等，即使在不能正常地进行预置凹坑信号SLPP的峰值检测的情况下，也可以稳定地进行限幅电平的设定以及预置凹坑信号SLPP的检测。进而，与所述第二实施例进行比较，可以与摆动信号SWb分量成正比地变化限幅电平，所以可以进行更稳定的预置凹坑信号SLPP的峰值检测。这里还可以将摆动峰值检测电路32的输出电压设定为某一固定电压。
其它的结构与所述第一实施例相同，因此省略其说明。
接着，说明具有上述第二实施例或第三实施例的预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的寻道动作时的处理。图12至图15是表示执行各实施例的寻道动作的处理内容的流程图，分别表示各实施例中基本的寻道动作处理以及进一步增加了复位动作的寻道动作处理的流程。
另外，这些流程图所示的处理表示图1所示的CPU6按照存储在内部的存储器中的程序而进行处理的过程。此外，这些流程图中，将各处理的步骤记作S。
首先通过图12说明具有图10所示的第二实施例的预置凹坑检测装置的光盘装置中的基本的寻道动作处理。
开始该处理时，首先在步骤101中从主机装置等接收到寻道命令(包含寻道目标的地址等)之后，进至步骤102，将图10所示的选择开关42切换到D/A转换电路(DAC)41侧，将限幅电平设定为固定电平。
接着，进至步骤103，根据当前光点存在的地址以及目标地址来计算光拾取器3内的物镜的移动量、即光拾取器3的移动量，在步骤104中对图1中的伺服电路10发出指令，以便基于该计算出的移动量来进行寻道动作。伺服电路10接收该指示，驱动包含跟踪电机的寻道机构，从而使光拾取器3向光盘2的径向移动被指示了的移动量并进行寻道动作。
根据该寻道动作，判断为光点接近了目标地址附近时，进至步骤105，进行预置凹坑信号的检测。将D/A转换电路(DAC)41的输出电压作为限幅电平来进行此时的预置凹坑信号的检测。
然后，在步骤106中，判断检测出的预置凹坑信号的地址信息是否为目标地址，在不是目标地址的情况下，返回步骤103，直到检测出目标地址为止，重复进行步骤106之前的动作。
在步骤106中判断为目标地址时，在步骤107中将选择开关42切换到分压器33侧，将分压器33的分压电压作为限幅电平，检测以后的预置凹坑信号，从而结束处理。
如以上这样，在进行向光盘2上的任意的目标地址移动光拾取器3的寻道动作时，将选择开关42切换到D/A转换电路(DAC)41侧，在寻道完成后切换到分压器33侧，分别设定线幅电平。
通常，在寻道动作中，光点Sp向与轨道17正交的方向移动，因此推挽信号Ps无论如何都紊乱，由于该影响，预置凹坑峰值检测电路30检测不适当的电平，不能设定适当的限幅电平。但是，根据本实施例，在这样的寻道动作中，可以将限幅电平设定为适当的固定电平，并可以检测适当的预置凹坑信号，可以进行稳定的存取。
接着，通过图13说明图11所示的第三实施例的具有预置凹坑信息检测装置的光盘装置中的基本的寻道动作处理。
在该图13的流程图中，与所述图12的流程图不同的是步骤102’和107’。在步骤102’中，将图11所示的选择开关44切换到D/A转换电路(DAC)43侧，将由分压器33分压后的电压作为线幅电平来设定D/A转换电路(DAC)43的输出电压和摆动峰值检测电路32的输出电压的差。
此外，在步骤107’中，将选择开关44切换到预置凹坑峰值检测电路30侧，将由分压器33分压后的电压作为线幅电平来设定预置凹坑峰值检测电路30的输出电压和摆动峰值检测电路32的输出电压的差。
其它的步骤的处理与图12中说明的各步骤相同，因此其说明省略。关于该情况下的效果，如图11的说明的最后的叙述。
接着，通过图14所示的流程图说明由图12说明了的寻道动作时的处理、以及增加了复位动作后的处理。另外，在图14中，进行与图12所示的各步骤相同的处理的步骤赋予相同的步骤序号。此外，图14中的步骤102a以及步骤107c与图12中的步骤102以及步骤107相同，所以省略这些各步骤的说明。
这里，与通过图12说明的处理不同的是，在步骤102中将选择开关42切换到D/A转换电路41侧之后，在步骤102b中将预置凹坑值检测电路30设为复位状态。此时，摆动峰值检测电路32最好也设为复位状态。即，在使用图9所示的电路的情况下，通过将开关SW1～SW4全部闭合(导通)，将电容器C3的两端子间短路，将电容器C3保持的电荷瞬间地放电，从而将峰值电压复位。
然后，维持着该复位状态，在步骤103～步骤106的循环处理中，在检测出目标地址之前进行寻道动作，在步骤106中检测出目标地址的情况下，进至步骤107a，根据记录速度(图1中的光盘2和光拾取器3的相对速度)，将图9所示的开关SW1～SW4选择性地开路(截止)，与解除复位状态同时，选择保持电压的变化率(衰减率)。
由此，预置凹坑峰值检测电路30以及摆动峰值检测电路32的各电容器C3成为可以检测保持新的峰值电压的状态。然后，在步骤107b中待机规定时间，在此期间对电容器C3蓄积电荷从而检测保持新的峰值电压时，在步骤107c中将选择开关42切换到分压器33侧，中止使用D/A转换电路41，结束该处理。
这样，在寻道动作中，至少将预置凹坑峰值检测电路30维持在复位状态，或者摆动峰值检测电路32也维持在复位状态时，具有如下的优点。
通常，在寻道动作中，由于前述理由，有时峰值检测电路30、32中检测保持了不适当的高的峰值电压。因此，即使想要这样切换选择开关42并再设定限幅电平，正常的推挽信号Ps的话也不超过该峰值，从而成为异常峰值被保持的状态，恐怕不能设定适当的限幅电平，并不能检测预置凹坑信号。
相对于此，在通过如上述处理的步骤进行了复位动作的情况下，通过在寻道动作时被检测的紊乱的信号，至少防止预置凹坑峰值检测电路30保持异常的电平，并可以进行适当的预置凹坑检测以及由此进行稳定的存取。
接着，图15所示的流程图中表示对通过图13说明的寻道动作时的处理进一步加上了复位动作的处理。另外，在图15中，对进行与图13以及图14所示的各步骤相同的处理的步骤赋予同一步骤序号。此外，图15中的步骤102a’以及步骤107c’与图13中的步骤102’以及步骤107’相同，所以省略该流程图的处理的说明。
另外，即使在图6所示的第一实施例的具有预置凹坑信息检测装置的光盘装置中，作为该预置凹坑峰值检测电路30以及摆动峰值检测电路32，如果使用图9所示的峰值检测电路，则可以进行如下的处理，即将图14以及图15所示的流程图中的步骤12b中的预置凹坑峰值检测电路30设为复位状态，或者同时将摆动峰值检测电路32也设为复位状态。
此外，可以进行步骤107a中的至少如下的处理，即解除预置凹坑峰值检测电路30的复位状态，同时选择保持电压的变化率(衰减率)，或者同时摆动峰值检测电路32也解除复位状态，从而选择保持电压的变化率。
产业上的可利用性本发明可以适用于对形成了包含地址信息的预置凹坑的各种光盘等光信息记录介质记录(或记录再现)信息的各种光盘装置等光信息记录装置。由此，可以稳定地检测适当的预置凹坑信息，并可以准确地对光信息记录介质的希望的轨道进行存取。
另外，本发明不限定于上述实施例的结构，在权利要求范围所记载的技术思想的范围内，当然可以进行各种各样的变更。
本申请以2003年12月5日申请的特愿2003-406978号为基础，通过在此进行引用而加进其内容。
权利要求
1.一种预置凹坑信息检测装置，包括光拾取器，对具有引导槽和预先设置在该引导槽间的预置凹坑的光信息记录介质照射光，该引导槽成为记录信息的轨道；光接收单元，具有在所述轨道的宽度方向上被分割了的至少两个光接收区域，接收由所述光信息记录介质反射了的光；差检测电路，检测从该光接收单元的所述两个光接收区域输出的信号的差；第一峰值检测电路，检测从该差检测电路输出的信号的峰值并输出；滤波电路，从由所述差检测电路输出的信号中提取基于所述引导槽的摆动的信号；第二峰值检测电路，检测从该滤波电路输出的信号的峰值并输出；差动分压电路，将所述第一峰值检测电路的输出值和所述第二峰值检测电路的输出值的差以规定的比例进行分压后输出；以及比较器，对所述差检测电路的输出和所述差动分压电路的输出进行比较，输出与所述预置凹坑有关的信息。
2.如权利要求1所述的预置凹坑信息检测装置，其特征在于，所述滤波电路由以根据所述光信息记录介质中形成的所述引导槽的摆动而检测出的摆动信号的频率作为中心频率的带通滤波器构成。
3.一种光信息记录装置，具有如权利要求1所述的预置凹坑信息检测装置，并具有基于由该预置凹坑信息检测装置检测出的预置凹坑信息来检测光信息记录介质上的光点位置的地址的结构。
4.一种预置凹坑信息检测装置，包括光拾取器，对具有引导槽和预先设置在该引导槽间的预置凹坑的光信息记录介质照射光，该引导槽成为记录信息的轨道；光接收单元，具有在所述轨道的宽度方向上被分割了的至少两个光接收区域，接收由所述光信息记录介质反射了的光；差检测电路，检测从该光接收单元的所述两个光接收区域输出的信号的差；第一电压检测电路，检测从该差检测电路输出的差信号的峰值电压并输出；滤波电路，从所述差信号中除去所述预置凹坑的检测分量；第二电压检测电路，检测从该滤波电路输出的信号的峰值电压或平均电压并输出；差动分压电路，将所述第一电压检测电路的输出电压和所述第二电压检测电路的输出电压的差以规定的比率进行分压；以及比较器，将所述差信号与所述差动分压电路的输出电压进行比较，输出与所述预置凹坑有关的信息。
5.如权利要求4所述的预置凹坑信息检测电路，其特征在于，所述滤波电路由以根据所述光信息记录介质中形成的所述引导槽的摆动而检测出的摆动信号的频率作为中心频率的带通滤波器构成。
6.一种光信息记录装置，具有如权利要求4所述的预置凹坑信息检测装置，并具有基于由该预置凹坑信息检测装置检测出的预置凹坑信息来检测光信息记录介质上的光点位置的地址的结构。
7.如权利要求6所述的光信息记录装置，其特征在于，使所述第一电压检测电路和所述第二电压检测电路的至少一个成为保持最大振幅电压的最大振幅保持电路，并包含用于选择多个设定值来作为该保持电压的变化率的变化率选择单元。
8.如权利要求7所述的光信息记录装置，其特征在于，至少使所述第一电压检测电路成为所述最大振幅保持电路，所述变化率选择单元具有在旋转所述光信息记录介质时的所述轨道的线速度越快则使所述变化率的设定值越大的功能。
9.如权利要求6所述的光信息记录装置，其特征在于，所述第一电压检测电路和所述第二电压检测电路的至少一个具有在希望的定时将检测电压复位的复位单元。
10.如权利要求9所述的光信息记录装置，其结构为具有对光信息记录介质的安装进行识别的识别单元，在该识别单元每次对所述光信息记录介质的安装进行识别时，所述复位单元将所述检测电压复位。
11.如权利要求6所述的光信息记录装置，其特征在于，还设有D/A转换电路，其结构为可设定多个电压来输出；以及选择单元，用于选择所述差动分压电路的输出电压和所述D/A转换电路的输出电压中的其中一个，作为为了与所述差信号进行比较而输入所述比较器的比较信号。
12.如权利要求6所述的光信息记录装置，其特征在于，设有D/A转换电路，其结构为可设定多个电压来输出；以及选择单元，用于选择所述第一电压检测电路的输出电压和所述D/A转换电路的输出电压中的其中一个，作为除了所述第二电压检测电路的输出电压之外输入所述差动分压电路的电压。
13.如权利要求11所述的光信息记录装置，所述选择单元具有如下的功能，即在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作时，选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述差动分压电路的输出电压。
14.如权利要求12所述的光信息记录装置，所述选择单元具有如下的功能，即在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作时，选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述第二电压检测电路的输出电压。
15.如权利要求11所述的光信息记录装置，其构成为设有解除单元，用于在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在由该解除单元解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述差动分压电路的输出电压。
16.如权利要求12所述的光信息记录装置，其构成为设有解除单元，用于在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在由该解除单元解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述第一电压检测电路的输出电压。
17.一种程序，由对如权利要求11所述的光信息记录装置的动作进行控制的计算机执行的命令构成，所述命令包括，在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作时，由所述选择单元选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述差动分压电路的输出电压。
18.一种程序，由对如权利要求12所述的光信息记录装置的动作进行控制的计算机执行的命令构成，所述命令包括，在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作时，由所述选择单元选择设定为规定的电压的所述D/A转换电路的输出电压，在寻道动作完成后，选择所述第二电压检测电路的输出电压。
19.一种程序，由对如权利要求11所述的光信息记录装置的动作进行控制的计算机执行的命令构成，由如下命令构成，在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述差动分压电路的输出电压。
20.一种程序，由对如权利要求11所述的光信息记录装置的动作进行控制的计算机执行的命令构成，由如下命令构成，在对所述光信息记录介质上的规定位置的寻道动作中，至少将所述第一电压检测电路的检测电压复位，在寻道动作完成后，解除该复位状态，在由该解除单元解除所述复位状态之后经过规定时间后，由所述选择单元选择所述第一电压检测电路的输出电压。
21.一种计算机可读取信息记录介质，记录了如所述权利要求17所述的程序。
22.一种计算机可读取信息记录介质，记录了如所述权利要求18所述的程序。
23.一种计算机可读取信息记录介质，记录了如所述权利要求19所述的程序。
24.一种计算机可读取信息记录介质，记录了如所述权利要求20所述的程序。
全文摘要
通过运算电路求与来自光拾取器中的光接收单元的两个光接收区域的输出信号的差对应的推挽信号(Ps)，在预置凹坑检测电路中，由预置凹坑峰值检测电路检测该推挽信号(Ps)的峰值，由BPF电路提取摆动信号分量，由摆动峰值检测电路检测该峰值，由分压器将信号(Ps)的峰值和摆动信号分量的峰值的差分压，将该分压电压作为限幅电平输入预置凹坑比较器(25)，在此将推挽信号(Ps)二值化后输出推挽信号(S
文档编号G11B7/09GK1902686SQ200480040218
公开日2007年1月24日 申请日期2004年4月26日 优先权日2003年12月5日
发明者萩原启 申请人:株式会社理光