专利名称：光学记录介质、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备及方法
技术领域：
本发明涉及一种盘，更具体地讲，涉及一种光学记录介质、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法、以及存储用于执行所述方法的程序的计算机可读记录介质。
背景技术：
缺陷管理是通过将盘的用户数据区域中的缺陷，即缺陷块中记录的用户数据重写到用户数据区域的新的部分中来补偿由缺陷块引起的数据丢失的处理。通常，通过使用线性替换方法或滑动替换方法来执行传统的缺陷管理。在线性替换方法中，用备用区域的无缺陷部分来替换用户数据区域的缺陷部分。在滑动替换方法中，滑过缺陷部分，并使用紧接着的无缺陷部分。
在线性替换方法中，发生缺陷的用户数据区域的块称为缺陷块。在盘的预定区域提供了备用区域，所述备用区域由用于替换缺陷块的块组成。尽管在制造盘时根据制造商规范将导入区域、中间区域和导出区域排列在盘上，但是在使用之前初始化盘时执行确定是否在盘上分配备用区域的操作。
发明内容
技术问题因此，高效地管理盘的存储容量是必要的，尤其是不能擦除/再写数据的一次写入盘。
技术方案本发明提供了一种光盘、将数据记录在光盘上/从光盘再现数据的设备、将数据记录在光盘上/从光盘再现数据的方法、以及存储用于执行所述方法的程序的计算机可读记录介质，其中，通过所述方法，可通过有效地执行缺陷管理来高效地管理光盘的存储容量。
技术效果根据本发明，可通过有效地管理盘上的缺陷来高效地管理盘的存储容量。
图1是根据本发明实施例的将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备的框图；图2A是示出根据本发明实施例的单层记录盘的结构的示图；图2B是示出根据本发明另一实施例的单层记录盘的结构的示图；图3A是示出根据本发明实施例的双层记录逆光道路径(OTP)盘的结构的示图；图3B是示出根据本发明实施例的双层记录顺光道路径(PTP)盘的结构的示图；图3C是示出根据本发明另一实施例的双层记录OTP盘的结构的示图；图3D是示出根据本发明另一实施例的双层记录PTP盘的结构的示图；图4是示出根据本发明实施例的备用区域/缺陷列表(SA/DL)区的结构的示图；图5是示出图4的DL#的结构的示图；图6是示出关于图4的缺陷#i的信息’的结构的示图；图7是示出根据本发明实施例的将关于缺陷的缺陷管理信息记录在SA/DL区中的处理的示图，其中，所述缺陷发生在盘的用户数据区域中；图8是示出根据本发明实施例的盘定义结构/记录管理数据(DDS/RMD)区的结构的示图；图9是示出图8的DDS/RMD区#0的结构的示图；图10是示出图8的DDS/RMD区#i的DDS#i的结构的示图；图11是示出图8的DDS/RMD区#i的RMD#i的结构的示图；和图12是示出根据本发明实施例的将数据记录在光盘上/从光盘再现数据的盘管理方法的流程图。
发明内容根据本发明的一方面，提供了一种包括单记录层的光学记录介质，导入区域、用户数据区域和导出区域被排列在所述单记录层上。这里，用户数据区域包括缺陷列表(DL)区域，在所述DL区域中记录包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的DL，导入区域或者导出区域包括盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区域，在所述DDS和在所述RMD中记录用于管理光学记录介质DDS和用于管理光学记录介质的状态的RMD。
根据本发明的另一方面，提供了一种双记录层的光学记录介质，导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域被排列在所述双记录层上。这里，用户数据区域包括DL区域，在所述DL区域中记录包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的DL；和导入区域、导出区域或者中间区域包括DDS/RMD区域，在所述DDS中和在所述RMD中记录用于管理光学记录介质DDS和用于管理光学记录介质的状态的RMD。
根据本发明的另一方面，提供了一种光学记录介质，被排列在所述光学记录介质上的导入区域、用户数据区域和导出区域，其中，用户数据区域包括SA/DL区，在所述SA/DL区中排列有分别替换用户数据区域中的发生缺陷的块的替换块，并且包含关于在用户数据区域的缺陷的信息的DL被记录。
在本发明的一方面中，当需要在SA/DL区中排列每个替换块时，确定SA/DL区的部分，而不是预先确定，在所述SA/DL区的部分中每个替换块被分别排列。
在本发明的一方面中，当需要在SA/DL区中记录DL时，确定SA/DL区的部分，而不是预先确定，在所述SA/DL区的部分中DL被记录。
在本发明的一方面中，所述用户数据区域的开始部分或者结束部分被定义为SA/DL区。
在本发明的一方面中，导入区域或者导出区域包括DDS/RMD区域，在所述DDS/RMD区中记录DDS/RMD块，并且所述DDS/RMD块包括DDS，用于管理光学记录介质；和RMD，用于管理光学记录介质的记录状态。
在本发明的一方面中，所述DDS包括SA/DL区的下一可记录部分的位置信息。
在本发明的一方面中，DDS/RMD块根据光学记录介质的记录状态被更新，并且更新的DDS/RMD块顺序位于记录在DDS/RMD区域中。
在本发明的一方面中，记录在所述DDS/RMD区域中的第一DDS包括在用户数据区域中的SA/DL区的位置信息和在导入区域或者导出区域的DDS/RMD区域的位置信息。
根据本发明的另一方面，提供了一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备。所述设备包括读/写单元，用于将数据写在单层记录介质上或从单层记录介质读取数据，在所述单层记录介质上排列有导入区域、用户数据区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将DL写入用户数据区域中排列的DL区，并控制读/写单元将DDS和RMD写入在导入区域或导出区域中排列的DDS/RMD区域中，其中，所述DL包含关于用户数据区域中发生的缺陷的信息，所述DDS用于管理单层记录介质，所述RMD用于管理单层记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供了一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备。所述设备包括读/写单元，用于将数据写入双层记录介质上或从双层记录介质读取数据，在所述双层记录介质上排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将DL写入在用户数据区域中排列的DL区，并控制读/写单元将DDS和RMD写入在导入区域、中间区域或导出区域中排列的DDS/RMD区域中，其中，所述DL包含关于用户数据区域中发生的缺陷的信息，所述DDS用于管理双层记录介质，所述RMD用于管理双层记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供了一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备。所述设备包括读/写单元，用于将数据写入光学记录介质或从光学记录介质读取数据，在所述光学记录介质上排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将用于分别替换发生了缺陷的用户数据区域中的块的替换块写入SA/DL区中，并将包含关于用户数据区域中的缺陷的信息的DL记录在SA/DL区，其中，在所述用户数据区域中。
在本发明的一方面中，控制单元控制读/写单元将替换块顺序地写入SA/DL区的可记录部分。
在本发明的一方面中，控制单元控制读/写单元将DL写入SA/DL区的可记录部分。
在本发明的一方面中，控制单元将用户数据区域的开始或结束部分的SA/DL区分配为SA/DL区。
在本发明的一方面中，控制单元控制读/写单元将包括DDS和RMD的DDS/RMD块写入在导入区域或导出区域中排列的DDS/RMD区域中，其中，所述DDS用于管理光学记录介质，所述RMD用于管理光学记录介质的记录状态。
在本发明的一方面中，控制单元还控制读/写单元将DDS写入DDS/RMD区域中，其中，所述DDS包含SA/DL区的下一可记录部分的位置信息。
在本发明的一方面中，控制单元还控制读/写单元将更新的DDS/RMD块写入DDS/RMD区域中。
在本发明的一方面中，控制单元还控制读/写单元将包括DDS和RMD的DDS/RMD块写入DDS/RMD区域的开始部分，其中，所述DDS用于管理光学记录介质，所述RMD用于管理光学记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种在排列有导入区域、用户数据区域、导出区域的光学记录介质上记录数据的方法。该方法包括在排列在用户数据区域中的DL区中记录DL，所述DL包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息；在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域中记录DDS或RMD，所述DDS用于管理单层记录介质，所述RMD用于管理单层记录记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种在排列有导入区域、用户数据区域、中间区域、导出区域的光学记录介质上记录数据或从该光学记录介质上再现数据的方法。该方法包括在排列在用户数据区域中的DL区中记录DL，所述DL包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息；在导入区域、中间区域、导出区域中的DDS/RMD区域中记录DDS或RMD，所述DDS用于管理双层记录介质，所述RMD用于管理双层记录记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种在排列有导入区域、用户数据区域、中间区域、导出区域的光学记录介质上记录数据或从该光学记录介质上再现数据的方法。该方法包括在排列在用户数据区域中的SA/DL区中定义多个替换块和在SA/DL区中记录DL，所述DL包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息，所述多个替换块分别替换用户数据区域中发生缺陷的多个块。
在本发明的一个方面，在定义SA/DL区中的多个替换块时，所述多个替换块被连续地排列在SA/DL区中的可记录的部分中。
在本发明的一个方面，在DL的记录中，DL被记录在SA/DL区中的可记录的部分中。
在本发明的一个方面，在光学记录介质上记录数据的方法还包括在用户数据区域的开始或末端部分分配SA/DL区。
在本发明的一个方面中，在光学记录介质上记录数据的方法还包括在排列在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域中记录DDS/RMD块，该块包括用于管理光学记录介质的DDS和用于管理光学记录介质的记录状态的RMD。
在本发明的一个方面中，在光学记录介质上记录数据的方法还包括形成包括SA/DL区的下一可记录部分的位置信息的DDS。
在本发明的一个方面中，在光学记录介质上记录数据的方法还包括DDS/RMD区域中更新的DDS/RMD块被连续地记录在DDS/RMD区域中。
在本发明的一个方面中，在光学记录介质上记录数据的方法还包括在DDS/RMD区域的开始部分中记录DDS/RMD块，该块包括用于管理光学记录介质的DDS和用于管理光学记录介质的记录状态的RMD。
根据本发明的另一方面，提供一种从排列有导入区域、用户数据区域、导出区域的光学记录介质上再现数据的方法。该方法包括从排列在用户数据区域中的DL区中读取DL，所述DL包含和发生于单层记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域中读取DDS或RMD，所述DDS用于管理单层记录光学介质，所述RMD用于管理单层记录光学记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种从排列有导入区域、用户数据区域、中间区域、导出区域的光学记录介质上再现数据的方法。该方法包括从排列在用户数据区域中的DL区中读取DL，所述DL包含和发生于单层记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域、中间区域或导出区域中的DDS/RMD区域中读取DDS和RMD，所述DDS用于管理单层记录光学记录介质，所述RMD用于管理单层记录记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种从排列有导入区域、用户数据区域、导出区域的光学记录介质再现数据的方法。该方法包括从光学记录介质上的SA/DL区中的多个替换块读取数据和从SA/DL区读取DL，所述DL包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息，所述多个替换块分别替换用户数据区域中发生缺陷的多个块。
在本发明的一个方面中，从光学记录介质再现数据的方法包括从排列在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域读取DDS/RMD块，该块包括用于管理光学记录介质的DDS和用于管理光学记录介质的记录状态的RMD。
在本发明的一个方面中，从光学记录介质再现数据的方法还包括从DDS获取SA/DL区的下一可记录部分的位置信息。
在本发明的一个方面中，从光学记录介质再现数据的方法还包括从DDS/RMD区域中的多个DDS/RMD块中的最后一个DDS/RMD块读取最新被更新的DDS/RMD，当光学记录介质的记录状态改变时，所述DDS/RMD被更新。
在本发明的一个方面中，从光学记录介质再现数据的方法还包括从DDS/RMD区域中的多个DDS/RMD块中的第一个DDS/RMD块读取用户数据区域中的SA/DL区的位置信息和导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域的位置信息。
根据本发明的另一方面，提供一种记录有用于执行在排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质上记录数据的方法的计算机可读地记录介质。该方法包括在用户数据区域中的DL区中记录DL，所述DL包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息；在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域中记录DDS和RMD，所述DDS用于管理单层记录介质，所述RMD用于管理单层记录记录介质的记录状态。
根据本发明的另一方面，提供一种记录有用于执行从排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质再现数据的方法的计算机可读记录介质。该方法包括从排列在用户数据区域中的DL区中读取DL，所述DL包含和发生于单层记录光学记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域或导出区域中的DDS/RMD区域中读取DDS或RMD，所述DDS用于管理单层记录光学记录介质，所述RMD用于管理单层记录记录光学记录介质的记录状态。
具体实施例方式
下面将对附图中示出的本发明的实施例进行详细说明，其中，在整个附图中，相同的标记始终表示相同的部件。下面参照附图对实施例进行描述以解释本发明。
图1是示出根据本发明示例性实施例的将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备的框图。参照图1，所述设备包括读/写单元2和控制单元1。
作为根据本发明的光学记录介质的示例，读/写单元2包括拾取器，并且将数据记录在盘4上或从盘4读取数据。
控制单元1控制读/写单元2通过下面的预定文件系统将数据写入盘4或从盘4读取数据。在本发明实施例中，控制单元1采用写后验证方法，在该方法中，通过基于预定的数据单元将数据记录在盘4上然后对记录的数据进行校验来确定在盘4上是否存在缺陷部分。在每一记录操作中，控制单元1将数据写在盘4上并确定盘4上的哪些部分有缺陷。其后，控制单元1生成用于指示盘4上的哪些部分有缺陷的缺陷信息，将该缺陷信息存储在存储器(未示出)中，并将存储在盘4的存储器中的部分缺陷信息记录为临时缺陷信息。
记录操作是基于用户意图和用户想要执行的数据记录的类型而确定的单位操作，并且该记录操作的范围是从盘4被加载到所述设备的时刻到在盘4上记录数据之后盘4被从所述设备卸载的时刻。在每一记录操作中，对写在盘4上的数据的校验处理至少执行一次，通常超过两次。将作为执行写后校验方法的结果而获得的临时缺陷信息临时存储在存储器中。
当用户在完成将数据记录在盘4上之后点击设备上的‘弹出’按钮然后从设备移除盘4时，控制单元1识别出当前的记录操作已经结束。然后，控制单元1从存储器读取临时缺陷信息，将临时缺陷信息提供给读/写单元2，并命令读/写单元2将临时缺陷信息记录在盘4上。
控制单元1包括系统控制器10、主机接口20、数字信号处理器(DSP)30、射频(RF)放大器40和伺服机构50。
当将数据记录在盘4时，主机接口20从主机3接收写命令，并将写命令发送到系统控制器10。系统控制器10控制数字信号处理器30和伺服机构50以执行从主机接口20接收的写命令。数字信号处理器30将诸如奇偶数据的附加数据添加到从主机接口20接收的将被记录的数据，通过对添加结果进行纠错编码(ECC)来生成ECC块，并以预定的方式对ECC块进行调制。RF放大器40将从数字信号处理器30输出的数据转换成RF信号。读/写单元2将从RF放大器40接收的RF信号记录盘4上。伺服机构50从系统控制器10接收伺服控制所需的命令，并对读/写单元2的拾取器进行伺服控制。
系统控制器10还包括盘管理器11，该盘管理器11用于高效地管理盘4并有效地执行缺陷管理。
在盘4是顺序排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的单层记录光盘的情况下，盘管理器11控制读/写单元2将包含关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的缺陷列表(DL)写入用户数据区域中的DL区域，并控制读/写单元2将盘定义结构(DDS)和记录管理数据写入导入区域或导出区域中的DDS/RMD区中。这里，DDS用于管理盘4，RMD用于管理在盘4上记录的数据的状态。
在盘4是顺序排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域的双层记录光盘的情况下，盘管理器11控制读/写单元2将包含关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的DL写入用户数据区域中的DL区中，并控制读/写单元2将DDS和RMD记录在导入区域、中间区域或导出区域中的任何一个或几个组合中的DDS/RMD区中。
可选地，在导入区域、用户区域和导出区域被顺序地排列在盘4上的情况下，盘管理器11可控制读/写单元2将数据写入替换块中，并可控制读/写单元2将将DL记录在SA/DL区中，其中，所述替换块位于用户数据区域中的备用区域(SA)/缺陷列表(DL)区中，并分别替换用户数据区域中的缺陷块。具体地讲，盘管理器11控制读/写单元2将数据顺序地写入位于SA/DL区的可记录部分中的替换块中，然后控制读/写单元2将DL写入SA/DL区的另一可记录部分中。
可选地，在导入区域、用户区域和导出区域被顺序地排列在盘4上的情况下，盘管理器11控制读/写单元2将DDS/RMD块写入盘4上的导入区域或导出区域中的DDS/RMD区中。具体地讲，盘管理器11控制读/写单元2将用户数据区域中的SA/DL区的位置信息和导入区域或导出区域中的DDS/RMD区的位置信息作为第一DDS/RMD块写入DDS/RMD区的开始部分，然后将DDS/RMD区中剩余部分中的预定信息更新为在第一DDS/SMD块之后的DDS/RMD块。每当盘4的数据记录状态改变时所述预定信息被更新，并且所述预定信息包括SA/DL区的一部分的位置信息，其中，可将预定的信息的下一部分记录在所述SA/DL区中。
盘管理器11将用户数据区域的开始或结束部分SA/DL区的区域分配为SA/DL区。
当从盘4再现数据时，主机接口20从主机3接收读命令。系统控制器10执行从盘4再现数据所需的初始化处理。读/写单元2将激光束应用于盘4的表面，通过接收从盘4的表面反射的激光束来获得光信号，并输出光信号。RF放大器40将从读/写单元2输出的光信号转换成RF信号，从RF信号获得调制的数据和伺服信号，并将已调数据和伺服信号分别提供给数字信号处理器30和伺服机构50。这里，伺服信号用于控制伺服机构50。数字信号处理器30对从RF放大器40接收的已调数据进行解调，从而获得ECC数据。伺服机构50从RF放大器40接收伺服信号，并从系统控制器10接收伺服控制所需的命令。然后，伺服机构50通过使用伺服信号和所述命令对读/写单元2的拾取器执行伺服控制。主机接口20从数字信号处理器30接收ECC数据，然后将ECC数据发送到主机3。系统控制器10控制伺服机构50从盘4读取盘管理信息或盘缺陷信息，并控制伺服机构50基于盘管理信息或盘缺陷信息从盘4的无缺陷部分读取数据。
在盘4是顺序地排列有导入区域、用户区域和导出区域的单层记录光盘的情况下，盘管理器11控制读/写单元2从用户数据区域的DL区读取包含关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的DL，并控制读/写单元2从导入区域或导出区域中的DDS/RMD区读取DDS和RMD。
在盘4是顺序地排列有导入区域、用户区域、中间区域和导出区域的双层记录光盘的情况下，盘管理器11控制读/写单元2从用户数据区域的DL区读取包含关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的DL，并控制读/写单元2从导入区域、中间区域或导出区域中的DDS/RMD区读取DDS和RMD。
可选地，在导入区域、用户区域和导出区域被顺序地排列在盘4上的情况下，盘管理器11控制读/写单元2从替换块读取数据，并控制读/写单元2从SA/DL区读取包含关于在用户数据区域发生缺陷的信息的DL，其中，所述替换块位于用户数据区域中的SA/DL区中，并分别替换用户数据区域中的缺陷块。
可选地，在导入区域、用户区域和导出区域被顺序地排列在盘4上的情况下，盘管理器11控制读/写单元2从记录在DDS/RMD区中的第一DDS/RMD块读取用户数据区域中的SA/DL区的位置信息和导入区域或导出区域中的DDS/RMD区的位置信息。
图1的设备可被分成用于将数据记录在光学记录介质上的设备和用于从光学记录介质再现数据的设备，或者可被实现为集成记录设备和再现设备的一个装置。
现在将更详细地描述根据本发明示例性实施例的光学记录介质的结构。
被记录在根据本发明示例性实施例的光学记录介质上的盘管理信息(DMI)包括DDS、RMD和DL记录有DMI的盘管理区域(DMA)包括临时盘管理区域(TDMA)，将临时DMI记录在其中；和最终盘管理区域(FDMA)，将最终DMI记录在其中。
TDMA包括DDS/RMD区，将DDS和RMD记录在其中；和DL区，将DL记录在其中。
DDS包括TDMA的位置信息或DMI的位置信息。具体地讲，DDS包括SA/DL区的位置信息，替换块位于SA/DL区中，并且DL被记录在SA/DL区中；DDS/RMD区的位置信息；SA/DL区中的DL的位置信息；SA/DL区的每一可记录部分的位置信息，更新的DL或替换块被记录在SA/DL区中；一致性标记，用于确定在先前的记录操作期间是否从设备正常地弹出盘；和记录保护信息，用于防止在盘上记录数据。
用于管理盘上记录的数据的RMD包括R-区入口，用于在顺序记录模式下指定各R-区的状态；和比特映射，其是分别指示数据是否被记录在用户数据区域的相应的各记录块中的比特值的映射。
在单层记录盘的导入区域和/或导出区域中，或者在双层记录盘的导入区域、中间区域或导出区域中的任何一个或一些的组合中，提供了记录有DDS和RMD的DDS/RMD区。在使用盘之前初始化盘的阶段，驱动制造商或用户可将盘的部分用户数据区域定义为DDS/RMD区，从而增加了每一DDS/RMD块可被更新的次数。
DL包括在将数据记录在盘上/从盘再现数据期间检测到的缺陷块的位置信息，以及用于分别替换缺陷块的替换块的位置信息。记录有DL的DL区不是固定的区。相反地，每当发出更新DL的请求时，DL区都被排列在盘的用户数据区域中的SA/DL区中。传统地，在盘的预定部分提供备用区域，其中，替换块位于导入区域或导出区域，并且位置被存储在导入区域或导出区域中。替换块位于SA/DL区中，并且将包括盘缺陷信息，即盘的缺陷块的位置信息和替换块的位置信息的DL记录在SA/DL区中。
当在盘上没有留有记录空间时结束盘以便在盘上不能记录新的数据，或者当用户不再想在盘上记录新的数据或仅想为数据再现的目的使用盘时结束盘。将关于最终盘的盘管理信息存储在最终盘的TDMA中。
在盘上提供了功率校准区域(PCA)，所述PCA确定当将数据记录在盘上时使用的多个记录功率中的哪一个是最佳记录功率，并确定与当将数据记录在盘上时使用的写策略相关的变量。
图2A是示出根据本发明示例性实施例的单层记录盘的结构的示图。参照图2A，导出区域是沿单层记录盘的外部圆形成的，导入区域是沿单层记录盘的内部圆形成的，以及数据区域于导出区域和导入区域之间。
导入区域包括PCA#0、FDMA#1、FDMA#2和DDS/RMD区域#0；数据区域包括SA/DL区#0和SA/DL区#1；以及导出区域包括PCA#1、FDMA#3、FDMA#4和DDS/RMD区域#1。
图2B是示出根据本发明另一示例性实施例的单层记录盘的结构的示图。参照图2B，导出区域是沿单层记录盘的外部圆形成的，导入区域是沿单层记录盘的外部圆形成的，以及数据区域置于导出区域和导入区域之间。
导入区域包括FDMA#1、FDMA#2和DDS/RMD区域#0；数据区域包括用户数据区域SA/DL区#0和SA/DL区#1；以及导出区域包括PCA、FDMA#3和FDMA#4。
图3A是示出根据本发明示例性实施例的双层记录逆光道路经(OTP)盘的结构的示图。参照图3A，双层记录OTP盘包括两个记录层L0和L1。导入区域、数据区域#0和中间区域#0顺序地排列在记录层L0上。中间区域#1、数据区域#1和导出区域顺序地排列在记录层L1上。
导入区域包括PCA#0、FDMA#2、DDS/RMD区域#0和FDMA#1。数据区域#0包括SA/DL区#0和用户数据区域#0。中间区域#0包括FDMA#3、DDS/RMD区域#2、FDMA#4和PCA#1。中间区域#1包括FDMA#3、DDS/RMD区域#3、FDMA#4和PCA#3。数据区域#1包括SA/DL区#1和用户数据区域#1。导出区域包括PCA#2、FDMA#2、DDS/RMD区域#1和FDMA#1。
图3B是示出根据本发明示例性实施例的双层记录顺光道路经(PTP)盘的结构的示图。参照图3B，双层记录PTP盘包括两个记录层L0和L1。导入区域、数据区域#0和中间区域#0顺序地排列在记录层L0上。中间区域#1、数据区域#1和导出区域顺序地排列在记录层L1上。
导入区域包括PCA#0、FDMA#2、DDS/RMD区域#0和FDMA#1。数据区域#0包括SA/DL区#0和用户数据区域#0。中间区域#0包括FDMA#3、DDS/RMD区域#2、FDMA#4和PCA#1。导出区域包括FDMA#3、DDS/RMD区域#3、FDMA#4和PCA#3。数据区域#1包括SA/DL区#1和用户数据区域#1。中间区域#1包括PCA#2、FDMA#2、DDS/RMD区域#1和FDMA#1。
图3C是示出根据本发明的另一个示例性实施例的双层记录OTP盘的结构的示图。参照图3C，双层记录OTP盘包括两个记录层L0和L1。导入区域、数据区域#0和中间区域#0顺序地排列在记录层L0上。中间区域#1、数据区域#1和导出区域顺序地排列在记录层L1上。
导入区域包括FDMA#2、DDS/RMD区域#0和FDMA#1。数据区域#0包括SA/DL区#0和用户数据区域#0。中间区域#0包括FDMA#3、PCA#0、和FDMA#4。中间区域#1包括FDMA#7、PCA#2和FDMA#8。数据区域#1包括SA/DL区#1和用户数据区域#1。导出区域包括PCA#1、FDMA#6、DDS/RMD区域#1和FDMA#5。
图3D是示出根据本发明的另一个示例性实施例的双层记录PTP盘的结构的示图。参照图3D，双层记录PTP盘包括两个记录层L0和L1。导入区域、数据区域#0和中间区域#0顺序地排列在记录层L0上。中间区域#1、数据区域#1和导出区域顺序地排列在记录层L1上。
导入区域包括FDMA#2、DDS/RMD区域#0和FDMA#1。数据区域#0包括SA/DL区#0和用户数据区域#0。中间区域#0包括FDMA#3、PCA#0、和FDMA#4。中间区域#1包括PCA#1、FDMA#6、DDS/RMD区域#1和FDMA#5。数据区域#1包括SA/DL区#1和用户数据区域#1。导出区域包括FDMA#7、PCA#2和FDMA#8。
现在将对从图2A到3D中的每一幅附图的盘上设置的临时盘管理区域(即，SA/DL区)进行更加详细的描述。
参照图2A到3D，SA/DL区设置在盘上，作为用户数据区域的一部分，不考虑盘是单层记录盘还是双层记录盘。
如上所述，SA/DL区包括替换块，用于分别替换在用户数据区域的缺陷块，并存储盘缺陷信息，包括在用户数据区域的缺陷块的位置信息和替换块的位置信息。当由于发生在用户数据区域的缺陷需要用替换块替换缺陷块时，缺陷块的位置信息和替换块的位置信息应当被记录在用户数据区域的某处，从而当主机发出从缺陷块读取数据的命令时，盘驱动器可搜索替换块并且从搜索到的替换块取回数据，而不是从缺陷块取回数据。
由于替换块紧密地涉及DL，因此，每当替换块被重新指定为用户数据区域中的每个缺陷块时，所述DL(优选但不必要的)被更新。因此，替换块和DL位于相同的区，而不是不同区域。特定地，替换块被设置在预定区域的可记录部分中，并且随后DL被记录在预定区域的另一个可记录部分中。因此，光头或者光拾取器没有必要在两个不同区域前后移动，在所述两个不同区域的其中一个区域提供替换块，在另一区域记录DL。因此，减少用于查找操作需要的时间并且高效地使用了盘的存储容量。
当制造盘时，根据预定的制造标准，盘的预定部分被定义为导入区域、中间区域和导出区域。但是，SA/DL区在初始化盘的时候被排列在盘上，是因为直到开始使用盘为止，确定替换块和DL需要多少在盘上的区域是困难的。因此，为了在盘上给替换块和DL准备区域，在制造盘的阶段SA/DL区#0根据预定的制造标准被排列在盘上，并且，如果必要，在初始化盘的阶段根据制造商或者用户的意愿，SA/DL区#1可被排列在盘上的用户数据区域的末端部分。当在盘上定义SA/DL区#1时，数据以一定方向被记录在SA/DL区#1中，优选但不必要的，所述方向被设置为与数据被记录在盘上的用户数据区域中的方向相反，从而，最大化了在用户数据区域的数据记录方向上的用户数据区域的存储区域的量。因此，可高效地使用盘的存储容量。
DDS/RMD区设置在单层记录盘的导入区域和/或导出区域中，或者设置在双层记录盘上的导入、中间、导出区域中的任意一种或几种的组合。
如上所述，DDS包括TDMA的位置信息或者DMI的位置信息，RMD可以是在顺序记录模式下的R-区状态信息，在所述顺序记录模式下数据被顺序地记录在用户数据区域中，RMD或者可以是指示数据是否在随机模式下记录在用户数据区域中的多个记录块的每一个上的数据记录状态信息，在所述随机记录模式下，数据被任意地记录在用户数据区域中。
图4是示出根据本发明的示例性实施例的SA/DL区的结构的示图。参照图4，所述SA/DL区包括DL#0、替换块#1、替换块#2、DL#1、替换块#3、替换块#4、替换块#5和DL#2。
DL#0可包括初始化信息。在记录操作#0中，发生缺陷#1和#2。随后，分别替换分别与缺陷#1和#2相对应的缺陷块#1和#2的替换块#1和#2被排列在与由DL#0占用的可记录部分相邻的SA/DL区的可记录部分。其后，包括关于缺陷#1和#2的信息的DL#1被记录在与由替换块#1和#2占用的可记录部分相邻的SA/DL区的可记录部分。在记录操作#1中，发生缺陷#3、#4和#5。随后，分别替换分别与缺陷#3、#4和#5相对应的缺陷块#3、#4和#5的替换块#3、#4和#5被排列在与由DL#1占用的可记录部分相邻的SA/DL区的可记录部分。其后，包括关于缺陷#3、#4和#5的信息的DL#2被记录在与由替换块#3、#4和#5占用的可记录部分相邻的SA/DL区的可记录部分。
如上所述，当发生缺陷时，替换块被排列在SA/DL区的一个可记录部分，并且随后，包括关于缺陷信息的DL被记录在SA/DL区的另一个可记录部分。
图5是示出图4的DL#i的结构的示图，其中i是总数。参照图5，DL#i包括关于至少一个缺陷的信息，例如关于缺陷#1和#2的信息。关于一个缺陷的信息与关于一个缺陷块和一个替换缺陷块的替换块的信息相对应。关于缺陷#i的信息在图6中示出。
图6是示出关于缺陷#i的信息的示图，其中i是总数。参照图6，关于缺陷#i的信息包括缺陷块#i的位置信息和替换块#i的位置信息。例如，缺陷块#i的位置信息可以是缺陷块#i的扇区序号(sector serial number)，以及替换块#i的位置信息也可以是替换块的扇区序号。所述关于缺陷块#i的信息还可以包括预定的状态信息(未示出)。
图7是示出根据本发明的示例性实施例，记录关于缺陷的信息的步骤的示图，所述缺陷发生在盘上的用户数据区域中并且使用SA/DL区被管理。数据可以逐扇区为基础或者以逐簇为基础被处理。扇区是可通过计算机的文件系统或者应用程序来管理的最小单位区域，簇是数据可被一次记录在盘上的最小单位区域，在所述区域上。一般来说，一个或更多扇区组成一个簇。
扇区分为物理扇区或者逻辑扇区。物理扇区是记录数据的空间。被称作物理扇区号(PSN)的地址被分配(allot)给每个物理扇区。逻辑扇区是基于计算机管理数据的文件系统或者应用程序的单位，被称作逻辑扇区号(LSN)的地址被分配给每个逻辑扇区。设备搜索盘上的区域，数据将通过参照所述数据的PSN被记录在所述区域中。文件系统或者应用程序以逐逻辑扇区为基础管理记录在盘上的数据，也通过参照数据的LSN管理数据的位置。
参照图7，多个物理扇区(未示出，PSN被分别分配给所述物理扇区)存在于用户数据区域中的SA/DL区中。LSN被分别分配给连续的物理扇区组，所述每个物理扇区组包括至少一个物理扇区。LSN不被分配给用户数据区域的缺陷扇区。因此，即使物理扇区具有与逻辑扇区相同的大小，当在盘上发生缺陷时，PSN也可不与相应的LSN相同。
参照图7，标号①到⑦指示单元区域，在每个所述单元区域中数据被写入并随后校验。用于在光学记录介质上记录数据/从光学记录介质再现数据的设备在区域①中记录用户数据并且所后返回到区域①的开始以校验用户数据是否被成功地记录在区域①中，或者检验在区域①中是否发生缺陷。如果设备在区域①中检测到缺陷#1，则它将发生缺陷#1的区域①的部分定义为缺陷块#1，并且将已经被记录在缺陷块#1中的用户数据的部分记录在SA/DL区的部分中。通过存储已经被记录在缺陷块#1中的用户数据的部分来替换缺陷块#1的SA/DL区的部分被排列为替换块#1。其后，设备在区域②中记录用户数据，并且随后返回到区域②的开始以校验用户数据是否被成功地记录在区域②中，或者检验在区域②中是否发生缺陷。如果设备在区域②中检测到缺陷#2，则它将发生缺陷#2的区域②的部分定义为缺陷块#2，并且将已经被记录在缺陷块#2中的用户数据的部分记录在SA/DL区的部分中。通过存储已经被记录在缺陷块#2中的用户数据的部分来替换缺陷块#2的SA/DL区的部分被排列为替换块#2。同样地，发生缺陷#3的区域③的部分被排列为缺陷块#3，并且在其中记录已经被记录在缺陷块#3中的用户数据的部分的SA/DL区的部分被排列为替换块#3。由于在区域④中没有发生缺陷，所以区域④的部分不被定义为缺陷块。
如果记录操作#0(在所述记录操作#0中，在从区域①到④的每个区域中记录并随后校验数据)期望即将结束(例如如果用户点击“弹出”按钮或者分配给记录操作#0的全部用户数据已经被记录)，则设备将包括关于缺陷#1、#2和#3的信息的DL#1记录在SA/DL区中。
当记录操作#1开始时，用户数据被记录在从区域⑤到⑦的每个区域中，在区域⑤和⑥中分别检测到缺陷#4和#5，SA/DL区的部分被定义为替换块#4和#5，以用于分别替换检测到缺陷#4和#5的区域⑤和⑥的部分。其后，如果记录操作#1期望即将结束，则包含关于缺陷#4和#5的信息的DL#2被记录在SA/DL区中。
图8是示出根据本发明示例性实施例的DDS MD区域的结构的图。参照图8，所述DDS/RMD区域包括DDS/RMD#0、DDS/RMD#1、...、DDS/RMD#n。
DDS/RMD#0包含初始信息。DDS/RMD#1、...、DDS/RMD#n的每一个包含DMI或DMA和RMD的位置信息。当盘被使用时，DMA和RMD的位置信息可以变化。因此，当DMA和RMD的位置信息变化时，相应的DDS/RMD被更新。DDS/RMD#1到DDS/RMD#n被顺序并排记录在DDS/RMD区域中在盘上存在多个DDA/RMD区域的情况时，优选的而不是必须的，依次使用DDS/RMD区域。换句话说，只有在一个DDS/RMD区域被用完之后，紧接着的另一个DDS/RMD区域才被使用。参照图2A和2B，如果盘是单层记录盘，则位于盘的内部圆的临近区域中的DDS/RMD区域在位于盘的外部圆的临近区域中的DDS/RMD区域之前被使用。参照图3A到3D，如果盘是双层盘，则在位于盘的内部圆的临近区域中的DDS/RMD区域中，第一记录层L0上的DDS/RMD区域在第二记录层L1上的DDS/RMD区域之前被使用。因此，按照DDS/RMD区域#0、DDS/RMD区域#1、DDS/RMD区域#2、DDS/RMD区域#3的顺序使用盘上的DDS/RMD区域。因此，当盘装入盘驱动器中时，可能容易地识别盘，然后访问盘上的多个DDS/RMD区域中的一个，以DDS/RMD区域将被使用的顺序来预先确定DDS和RMD被最新记录的所述区域。
图9是示出图8的DDS/RMD#0的结构的图。参照图9，DDS/RMD#0是首先记录在图8的DDS/RMD区域中的数据块。DDS/RMD#0包括DDS#0和RMD#0。DDS#0包括SA/DL区的位置信息和DDS/RMD区域的位置信息。
SA/DL区的位置信息指定在盘的初始化阶段SA/DL被分配到盘上的用户数据区域的部分。
DDS/RMD区域的位置信息指定在盘的初始化阶段DDS/RMD区域被分配到的用户数据区域的部分。
图10是示出图8的DDS/RMD#i的结构的图，其中的i是整数。参照图10，DDS/RMD#i包括DDS#i和RMD#i。DDS#i包括DL的位置信息、还没有被使用的SA/DL区的一部分的位置信息、一致性标志、写保护信息。
DL的位置信息指定记录有DL的SA/DL区的一部分。一致性标志是用于确定在前一记录操作之后盘是否被成功的弹出的标志。写保护信息是用于防止数据被记录在盘上的信息。
具体地说，还没有被使用的SA/DL区的一部分的位置信息指定数据将接着被记录在其中的SA/DL区的一部分，从而使得用户能够容易地识别可用的SA/DL部分和从能容易地记录更新的DL或在SA/DL区中定义替换块。
图11是示出图8的DDS/RMD#i的RMD#i的结构的图，其中的i是整数。参照图11，RMD#i包括RMD和最佳功率控制(OPC)相关信息。
如上所述，RMD包括R-区的记录状态信息或指示是否根据记录模式的类型将数据记录在每一记录块中的比特映射。当使用连续记录模式时，RMD包括多个R区，当使用随即记录模式时，RMD包括多个比特映射。OPC相关信息指定用于在盘上记录数据的OPC。
图12是根据本发明示例性实施例，在光盘上记录数据或从光盘再现数据的盘管理方法的流程图。参照图12，在操作1201，设备以写后校验(verify-after-write)的方式在盘上的用户数据区域中记录用户数据。在操作1202，在用户数据区域中检测缺陷块，并将分别替换缺陷块的多个替换块排列在SA/DL区中，所述SA/DL区占据用户数据区域的一部分。在光学记录介质上记录数据/从光学介质再现数据的控制器将还没有被使用的SA/DL区的一部分定义为替换块。
在操作1203，生成和缺陷有关的信息即缺陷块的位置信息和替换块的位置信息，并将所述信息存储在存储器中。在当前记录操作被期望结束之前，重复操作1201到1203。
在完成用户数据区域中用户数据的记录之后，如果在操作1204中期望结束当前记录操作，则在操作1205中，所述设备的控制器从存储器读取和缺陷有关的信息。
在操作1206，生成DL，所述DL包括和至少一个缺陷有关的信息。在操作1207，所述DL被记录在最新被分配给替换块的SA/DL区的下一个SA/DL区的一部分中。
在操作1208，在占据导入区域或导出区域的一部分的DDS/RMD区域中记录DDS和RMD，所述DDS包括将接着记录数据的SA/DL区的一部分。
本发明的方面不仅可以应用于一次写入记录介质而且可以应用于多次写入记录介质。
根据本发明的在盘记录介质上记录数据/从盘记录介质再现数据的方法可以被构造为计算机可读的记录介质上的计算机可读的代码。所述计算机可读记录介质是能够存储此后可以被计算机系统读取的数据的任意数据存储装置。所述计算机可读记录介质的例子包括只读存储器(ROM)、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘、光数据存储装货子和载波(例如，通过因特网发送数据)。该计算机可读记录介质还可分布在通过连接计算机系统的网络上以便能够以分布的方式存储和执行所述计算机可读的代码。此外，本发明所述领域内的程序员可以很容易地构建用于构造本处理方法的函数程序、代码、代码段。
尽管已参照本发明的特定优选实施例表示和描述了本发明，但本领域技术人员应该理解，在不脱离由权利要求及其等同物限定的本发明的精神和范围的情况下，可以对这些实施例进行各种修改。
产业上的可利用性本发明适用于光学记录介质、在光学记录介质上记录数据/从光学记录介质再现数据的设备及其方法。
权利要求
1.一种光学记录介质，包括单记录层，导入区域、用户数据区域和导出区域被排列在所述单记录层上，其中，用户数据区域包括缺陷列表区域，在所述缺陷列表区域中记录包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的缺陷列表，导入区域或者导出区域，包括盘定义结构/记录管理数据区域，在所述盘定义结构记录管理数据区域中记录用于管理光学记录介质的盘定义结构和用于管理光学记录介质的记录状态的记录管理数据。
2.一种光学记录介质，包括双记录层，导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域被排列在所述双记录层上，其中，用户数据区域包括缺陷列表区域，在所述缺陷列表区域中记录包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息的缺陷列表，导入区域、导出区域或者中间区域包括盘定义结构/记录管理数据区域，在所述盘定义结构记录管理数据区域中记录用于管理光学记录介质的盘定义结构和用于管理光学记录介质的记录状态的记录管理数据。
3.一种光学记录介质，包括被排列在所述光学记录介质上的导入区域、用户数据区域和导出区域，其中，用户数据区域包括备用区域/缺陷列表区，在所述备用区域/缺陷列表区中排列有分别替换用户数据区域中的发生缺陷的块的替换块，并且包含关于在用户数据区域的缺陷的信息的缺陷列表被记录。
4.如权利要求3所述的光学记录介质，其中，当需要在备用区域/缺陷列表区中排列每个替换块时，确定备用区域/缺陷列表区的部分，而不是预先确定，在所述备用区域/缺陷列表区的部分中每个替换块被分别排列。
5.如权利要求3所述的光学记录介质，其中，当需要在备用区域/缺陷列表区中记录缺陷列表时，确定备用区域/缺陷列表区的部分，而不是预先确定，在所述备用区域/缺陷列表区的部分中缺陷列表被记录。
6.如权利要求3所述的光学记录介质，其中，所述用户数据区域的开始部分或者结束部分被定义为备用区域/缺陷列表区。
7.如权利要求3所述的光学记录介质，其中，导入区域或者导出区域包括盘定义结构/记录管理数据区域，在所述盘定义结构/记录管理数据区中记录盘定义结构/记录管理数据块，并且所述盘定义结构/记录管理数据块包括盘定义结构，用于管理光学记录介质；和记录管理数据，用于管理光学记录介质的记录状态。
8.如权利要求7所述的光学记录介质，其中，所述盘定义结构包括备用区域/缺陷列表区的下一个可记录部分的位置信息。
9.如权利要求7所述的光学记录介质，其中，盘定义结构/记录管理数据块根据光学记录介质的记录状态被更新，并且更新的盘定义结构/记录管理数据块顺序位于在盘定义结构/记录管理数据区域中。
10.如权利要求7所述的光学记录介质，其中，记录在所述盘定义结构/记录管理数据区域中的第一盘定义结构包括在用户数据区域中的备用区域/缺陷列表区的位置信息和在导入区域或者导出区域的盘定义结构/记录管理数据区域的位置信息。
11.一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，包括读/写单元，用于将数据写在单层记录介质上或从单层记录介质读取数据，在所述单层记录介质上排列有导入区域、用户数据区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将缺陷列表写入在用户数据区域中排列的缺陷列表区中，并控制读/写单元将盘定义结构和记录管理数据写入在导入区域或导出区域中排列的盘定义结构/记录管理数据区域中，其中，所述缺陷列表包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息，所述盘定义结构用于管理单层记录介质，所述记录管理数据用于管理单层记录介质的记录状态。
12.一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，包括读/写单元，用于将数据写在双层记录介质上或从双层记录介质读取数据，在所述双层记录介质上排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将缺陷列表写入在用户数据区域中排列的缺陷列表区中，并控制读/写单元将盘定义结构和记录管理数据写入在导入区域、中间区域或导出区域的至少一个中排列的盘定义结构/记录管理数据区域中，其中，所述缺陷列表包括关于在用户数据区域中发生的缺陷的信息，所述盘定义结构用于管理双层记录介质，所述记录管理数据用于管理双层记录介质的记录状态。
13.一种将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备，包括读/写单元，用于将数据写入光学记录介质或从光学记录介质读取数据，在所述光学记录介质上排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域；和控制单元，用于控制读/写单元将用于分别替换发生了缺陷的用户数据区域中的块的替换块写入在用户数据区域中排列的备用区域/缺陷列表区中，并将包括关于用户数据区域中的缺陷的信息的缺陷列表记录在备用区域/缺陷列表区。
14.如权利要求13所述的设备，其中，控制单元控制读/写单元将替换块顺序地写入备用区域/缺陷列表区的可记录部分。
15.如权利要求13所述的设备，其中，控制单元控制读/写单元将缺陷列表写入备用区域/缺陷列表区的可记录部分。
16.如权利要求13所述的设备，其中，控制单元在用户数据区域的开始或结束部分分配备用区域/缺陷列表区。
17.如权利要求13所述的设备，其中，控制单元控制读/写单元将包括盘定义结构和记录管理数据的盘定义结构/记录管理数据块写入在导入区域或导出区域中排列的盘定义结构/记录管理数据区域中，其中，所述盘定义结构用于管理光学记录介质，所述记录管理数据用于管理光学记录介质的记录状态。
18.如权利要求17所述的设备，其中，控制单元还控制控制读/写单元将盘定义结构写入盘定义结构/记录管理数据区域中，其中，所述盘定义结构包含备用区域/缺陷列表区的下一可记录部分的位置信息。
19.如权利要求17所述的设备，其中，控制单元还控制控制读/写单元将更新的盘定义结构/记录管理数据块写入盘定义结构/记录管理数据区域中。
20.如权利要求17所述的设备，其中，控制单元还控制控制读/写单元从而读/写单元将包括盘定义结构和记录管理数据的盘定义结构/记录管理数据块写入盘定义结构/记录管理数据区域的开始部分，其中，所述盘定义结构用于管理光学记录介质，所述记录管理数据用于管理光学记录介质的记录状态。
21.一种在排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括在排列在用户数据区域的缺陷列表区中记录包括和用户数据区域中发生的缺陷有关的信息的缺陷列表；和在排列在导入区域和/或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中记录盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构用于管理单层记录介质，所述记录管理数据用于管理单层记录介质的记录状态。
22.一种在排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域的光学记录介质上记录数据/再现数据的方法，该方法包括在排列在用户数据区域中的缺陷列表区中记录缺陷列表，所述缺陷列表包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息；在排列在导入区域、中间区域或导出区域的至少一个中的盘定义结构/记录管理数据区域中记录盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构用于管理双层记录介质，所述记录管理数据用于管理双层记录记录介质的记录状态。
23.一种在排列有导入区域、用户数据区域、中间区域和导出区域的光学记录介质上记录数据的方法，该方法包括在排列在用户数据区域中的空闲区域/缺陷列表区中定义多个替换块和在空闲区域/缺陷列表区中记录缺陷列表，所述缺陷列表包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息，所述多个替换块分别替换用户数据区域中发生缺陷的多个块。
24.如权利要求23所述的方法，其中，空闲区域/缺陷列表区中的多个替换块的定义包括在空闲区域/缺陷列表区中的可记录的部分中连续排列多个替换块。
25.如权利要求23所述的方法，其中，在缺陷列表的记录中，缺陷列表被记录在空闲区域/缺陷列表区中的可记录部分中。
26.如权利要求23所述的方法，还包括在用户数据区域的开始或末端部分分配空闲区域/缺陷列表区。
27.如权利要求23所述的方法，还包括在排列在导入区域和/或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中记录盘定义结构/记录管理数据块，该块包括用于管理光学记录介质的盘定义结构和用于管理光学记录介质的记录状态的记录管理数据。
28.如权利要求27所述的方法，还包括形成包括空闲区域/缺陷列表区的下一可记录部分的位置信息的盘定义结构。
29.如权利要求27所述的方法，还包括在盘定义结构/记录管理数据区域中连续地记录更新的盘定义结构/记录管理数据块。
30.如权利要求27所述的方法，还包括在盘定义结构/记录管理数据区域的开始部分中记录盘定义结构/记录管理数据块，该块包括用于管理光学记录介质的盘定义结构和用于管理光学记录介质的记录状态的记录管理数据。
31.一种从排列有导入区域、用户数据区域、导出区域的光学记录介质上再现数据的方法，该方法包括从排列在用户数据区域中的缺陷列表区中读取缺陷列表，所述缺陷列表包含和发生于单层记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域和/或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中读取盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构用于管理单层记录介质，所述记录管理数据用于管理单层记录光学记录介质的记录状态。
32.一种从排列有导入区域、用户数据区域、中间区域、导出区域的光学记录介质上再现数据的方法，该方法包括从排列在用户数据区域中的缺陷列表区中读取缺陷列表，所述缺陷列表包含和发生于单层记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域、中间区域或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中读取盘定义结构或记录管理数据，所述盘定义结构用于管理单层记录介质，所述记录管理数据用于管理单层记录光学记录介质的记录状态。
33.一种从排列有导入区域、用户数据区域、导出区域的光学记录介质再现数据的方法，该方法包括从光学记录介质上的空闲区域/缺陷列表区中的多个替换块读取数据和从空闲区域/缺陷列表区读取缺陷列表，所述缺陷列表包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息，所述多个替换块分别替换用户数据区域中发生缺陷的多个块。
34.如权利要求33所述的方法，还包括从排列在导入区域和导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域读取盘定义结构/记录管理数据块，该块包括用于管理光学记录介质的盘定义结构和用于管理光学记录介质的记录状态的记录管理数据。
35.如权利要求34所述的方法，还包括从盘定义结构获取空闲区域/缺陷列表区的下一可记录部分的位置信息。
36.如权利要求34所述的方法，还包括从盘定义结构/记录管理数据区域中的多个盘定义结构/记录管理数据块中的最后一个盘定义结构/记录管理数据块读取最新被更新的盘定义结构/记录管理数据，当光学记录介质的记录状态改变时，所述盘定义结构/记录管理数据被更新。
37.如权利要求34所述的方法，还包括从盘定义结构/记录管理数据区域中的多个盘定义结构/记录管理数据块中的第一个盘定义结构/记录管理数据块读取用户数据区域中的空闲区域/缺陷列表区的位置信息和导入区域和导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域的位置信息。
38.一种记录有用于执行在排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质上记录数据的方法的程序和计算机可读地记录介质，所述方法包括在排列在用户数据区域中的缺陷列表区中记录缺陷列表，所述缺陷列表包含和在用户数据区域中发生的缺陷有关的信息；在导入区域或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中记录盘定义结构或记录管理数据，所述盘定义结构用于管理单层记录介质，所述记录管理数据用于管理所述光学记录介质的记录状态。
39.一种记录有用于执行从排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质再现数据的方法的程序和计算机可读记录介质，所述方法包括从排列在用户数据区域中的缺陷列表区中读取缺陷列表，所述缺陷列表包含和发生于单层记录光学记录介质中的用户数据区域中的缺陷有关的信息；从排列在导入区域或导出区域中的盘定义结构/记录管理数据区域中读取盘定义结构或记录管理数据，所述盘定义结构用于管理单层记录光学记录介质，所述记录管理数据用于管理单层记录光学记录介质的记录状态。
40.一种和记录和/或再现设备一起使用的光学记录介质，包括数据区域，记录和/或再现设备在该区域记录数据和/或从该区域记录数据；缺陷列表区域，其存储发生与用户数据区域中的缺陷的位置信息和相应于该缺陷的替换数据，其中，根据所述记录和/或再现设备的控制将所述缺陷列表区域被设置在数据区域的一部分中。
41.如权利要求40所述的光学记录介质，其中，记录和/或再现设备以第一方向中将数据记录在数据区域中，并以与第一方向相反的第二方向将位置信息和替换信息记录在缺陷列表区域中。
42.如权利要求40所述的光学记录介质，其中，所述缺陷列表区域包括位于数据区域的开始处的第一部分和数据区域的末端的第二部分。
43.如权利要求40所述的光学记录介质，还包括盘定义结构/记录管理数据区域，其包括被记录和/或再现设备记录在光学记录介质的导入区域和/或导出区域的至少一个中的盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构存储光学记录介质的管理信息，记录管理数据管理光学记录介质的记录状态。
44.如权利要求43所述的光学记录介质，其中，所述缺陷列表区域包括数据区域的第一部分和不与数据区域的第一部分相邻的第二部分。
45.一种管理排列有导入区域、用户数据区域和导出区域的光学记录介质上的数据的方法，所述方法包括在空闲/缺陷区中并置排列存储相应于数据区域的缺陷块的替换块的空闲区域和存储数据区域部分中的替换块和缺陷块的位置信息的缺陷列表信息。
46.如权利要求45所述的方法，其中，数据区域的记录方向和和空闲/缺陷区相对。
47.如权利要求45所述的方法，其中，空闲/缺陷区被放置在数据区域的末端部分。
48.如权利要求45所述的方法，还包括将盘定义结构/记录管理数据区域记录在光学记录介质的导入和/或导出区域的至少一个中，所述导入和/或导出区域包括盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构存储光学记录介质的管理信息，记录管理数据管理光学记录介质的记录状态。
49.如权利要求45所述的方法，还包括当为数据区域中的一个缺陷块创建替换块时，更新缺陷列表信息。
50.如权利要求45所述的光学记录介质，还包括当光学记录介质包括至少两个记录层时，在光学记录介质的导入区域、导出区域或中间区域的至少一个中记录盘定义结构/记录管理数据区域，其包括盘定义结构和记录管理数据，所述盘定义结构存储光学记录介质的管理信息，记录管理数据管理光学记录介质的记录状态。
全文摘要
提供了一种光学记录介质、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法、以及记录有用于执行所述方法的程序的计算机可读记录介质。在所述光学记录介质上排列有导入区域、用户数据区域和导出区域。用户数据区域包括缺陷列表(DL)区域，在DL区域中记录有包括关于在用户数据区域发生的缺陷的信息的DL，导入区域或导出区域包括盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区域，在所述DDS/RMD区域中记录有用于管理光学记录介质的DDS和用于管理光学记录介质的记录状态的RMD。因此，通过对盘有效地执行缺陷管理来高效地管理盘的存储容量。
文档编号G11B7/007GK1902689SQ200480039941
公开日2007年1月24日 申请日期2004年12月29日 优先权日2004年1月5日
发明者黄盛熙, 高祯完 申请人:三星电子株式会社