专利名称：光学信息记录方法和光学信息记录装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及利用激光光线等将信息记录在光盘中的技术。
背景技术：
作为光盘中的旋转控制方法，一般使用线速度恒定的CLV(Constant Linear Velocity恒定线速度)控制与角速度恒定的CAV(Constant Angular Velocity恒定角速度)控制两种。
在CLV控制中由于内周的光盘旋转速度变大，故近年来的现实是通过CLV控制谋求记录、再现速度高速化。因此，可以实现外周部分的线速度的增加的CAV控制随着记录、再现速度的高速化而被采用。
此外，在光盘上使用标记、空间记录信息的情况下，一般进行精细控制激光的发光功率、发光时间，提高光盘上的标记形成的精度。该控制称为写入策略。
写入策略因在光盘上记录时的线速度而不同。在通过CAV控制在光盘上进行记录的情况下，由于光盘的线速度因半径位置而不同，故根据各半径位置设定脉冲的发光功率、发光时间的控制量这样的写入策略的记录参数成为必要。
此外，由于从激光器照射的记录激光的上升、下降等特性针对各个激光器略有不同，故写入策略针对每个光盘记录装置进行调整成为必要。在CAV方式记录装置中，如日本专利特开2003-85753号公报中所示，使用在最内周与最外周进行记录参数的学习，中间的半径位置的记录参数根据两个学习结果通过线性补间等补间方法求得的方法。
但是，一般来说，在制造工序中，在光盘的外周部分往往发生记录膜厚不均匀和光盘记录槽的变形等。因此，在通过CAV方式进行高速记录的情况下，在外周部分发生比伺服带域更高的噪声成份。这些记录膜厚不均匀和光盘记录槽的变形在以下称为偏差。偏差成为在外周部分的伺服抖动引起的记录不良、再现不良发生的原因。
因此，在高速CAV记录中，如果在外周区域的偏差发生部分进行记录参数学习，则有可能将不合适的记录参数学习成为最佳的记录参数。特别是，因为在DVD-RAM标准中，作为记录参数学习方法的指标，以作为记录标记、空间的边缘成份的摆动的抖动为指标而在标准中推荐，故在因偏差引起的记录不良使S/N比劣化的情况下，对记录参数的取得影响很大，将不合适的记录参数学习成为最佳的记录参数的危险提高。
作为避免这种问题的方法，通过对根据内周区域的试写结果求得的记录参数进行规定的计算，算出外周区域的高线速记录时采用的记录参数的方法是公知的(参照日本专利特开2003-123255号公报)。
但是，因外周的聚焦、跟踪伺服的条件或光盘倾斜等的影响，在根据内周的试写结果的计算而在外周进行高线速度记录的情况下的最佳的记录参数的推定中，存在着无法求得最佳记录参数这样的课题。
此外，光盘的记录功率余量存在随着记录线速度提高而减少的倾向，在根据内周的试写结果的计算的推定中还存在着将记录功率设定在外周区域的记录功率余量内变得困难这样的课题。
发明内容
为了解决上述课题，根据本发明提供的方法，是一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，是将信息记录在任意的地址时的记录参数，根据该记录介质上的线速度不同的两个以上的区域的记录参数学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数的记录方式，其特征是在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定最佳记录参数。
此外，一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，是将信息记录在任意的地址时的记录参数，根据该记录介质上的线速度不同的两个以上的区域的记录参数学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数的记录方式，其特征是在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，根据在线速度慢的区域中求得的记录参数学习结果，以通过规定的计算模块得到的记录参数进行记录，由根据该记录区域的的再现波形的振幅值得到的信息确定前期记录参数。
此外，一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，是将信息记录在任意的地址时的记录参数，根据该记录介质上的线速度不同的两个以上的区域的记录参数学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数的记录方式，其特征是在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，根据之前在该光盘上以该线速度进行的试写结果得到的记录参数进行记录，由根据记录区域的再现波形的振幅值得到的信息确定前期记录参数。
图1是表示本发明的第一实施例的装置构成的一例的示意图。
图2是表示DVD-RAM的记录脉冲的示意图。
图3是表示记录功率与再现抖动的关系的一例的示意图。
图4是表示进行试写内容的一例的示意图。
图5是表示偏差引起的伺服信号的抖动的示意图。
图6是表示记录功率与β值的关系的一例的示意图。
图7是第一实施例中的试写实施程序框图。
图8是第二实施例中的试写实施程序框图。
图9是第三实施例中的试写实施程序框图。
具体实施例方式
以下对本发明的实施例进行说明。
实施例1在第一实施例中举例说明作为可改写的光盘的DVD-RAM。
图1表示本实施例的光学信息记录装置的构成。由图示的激光器108射出的激光通过准直透镜105、物镜103照射在DVD-RAM等光盘101的指定半径位置。来自光盘101的反射光通过分光镜104被聚光透镜106聚光，由光电转换元件107转换成电信号(以下称为信号)。所得到的信号经由I/V转换机构109、信号处理机构110被解调机构111解调，经由微计算机114发送到上位主机115。其中，116是电动机，通过微计算机的控制旋转驱动光盘。
在试写动作时，再现信号由信号处理机构110发送到试写信息检测和处理电路112，根据其结果在激光器驱动器113中确定设定策略的记录参数值。在试写信息检测和处理电路112中，包括第一参数确定电路、第二参数确定电路、第三参数确定电路。这些细节下文详述。根据该参数值在光盘101上进行记录动作，再现记录结果并再次发送到试写信息检测和处理机构111的动作重复进行，求得记录参数值的最佳值。
图2表示DVD-RAM的记录波形的一例。201表示记录时钟，202表示NRZ信号，203表示激光器发光波形。在试写中通过记录学习优化图中的记录功率Pw、擦除功率Pe和脉冲沿Tspf、Telp的位置信息。此时由试写记录标记的二值化再现波形与再现时钟的抖动评价优化是标准中推荐的。例如记录功率Pw与抖动的关系成为图3所示，根据表示记录功率Pw与抖动的关系的曲线301求得最佳功率。
图4表示该试写的顺序的一例。首先进行擦除功率Pe的学习(401)、记录功率Pw的学习(402)，接着，由脉冲沿位置学习(以下将其称为移位学习)403确定基本的记录策略。然后，进行擦除功率Pe的再学习(404)、记录功率Pw的再学习(405)，确定记录参数而结束记录参数的学习。
图5表示高倍速再现时的伺服波形的实测图。图5的501表示聚焦误差信号，502表示跟踪误差信号。503、504是起因于光盘成形时产生的偏差等的伺服的信号摆动，如果再现速度提高则摆动的带域也提高，如果大于伺服带域则可以由伺服控制压制。如果在光盘的记录数据再现时存在着偏差，则因再现波形的振幅变动而在二值化数据中发生误差，例如试写结果变得无法正确地评价。此外，在存在着偏差的部位处存在着记录信号紊乱这样的不良影响，在光盘的测试区中存在着偏差时，基于在那里的试写结果确定的记录参数的可靠性降低。
具体地说，在DVD-RAM上进行CAV记录的情况下，在设置在最内周与最外周的驱动器测试区中分别学习记录参数，中途的半径部分根据上述最内周与最外周的学习结果，由线性补间等补间方法算出参数的方法是公知的。但是，在CAV记录中因为外周比内周线速度高，故容易受到上述偏差的影响，正确地学习记录参数变得困难。因此，提出了内周的根据外周结果通过规定的计算算出外周的记录参数的方法。一般来说，由于记录策略对倍速大致为相似形，故虽然脉冲沿位置信息可以通过该方法求得，但是因记录功率与前期偏差的对应，和外周区域的记录膜不均匀等，仅靠计算来求得最佳的记录功率变得困难。进而，因为在外周记录线速度提高，故光盘的记录膜的记录功率的敏感度提高，对记录功率错位的允许量(以下将其称为记录功率余量)减少。由此也可以得到，仅通过根据内周学习结果的计算的外周记录参数算出，有时无法十分确保精度。
因此，在本实施例中，在成为高的线速度的外周区域的试写中，不使用二值化信号，而使用例如再现波形的不对称信息、或者再现波形的β值进行记录功率的评价。例如，记录功率Pw与再现波形的β值的关系如图6所示成为单调增加。因此，例如在根据内周试写结果，通过规定的计算算出的外周记录功率值Pout 602中取得在外周试写区域上进行记录时的再现波形的β值，确认该值是否在预先设定的规定的β值范围。进而，在上述β值不在规定的β值的范围内的情况下，修正记录功率以便成为规定的β值。
上述实施例的CAV记录方式中的记录功率学习的顺序示于图7。以下说明本顺序的动作。
1.开始记录参数学习(701)。
2.通过第一参数确定电路，将二值化数据的抖动值作为指标进行内周试写动作(702)。结果，对内周的参数初始值A，求得内周处的参数学习结果B。
3.根据参数A、B通过规定的计算推定外周试写结果(703)。结果，对外周的参数初始值C，求得外周处的参数学习结果D。
4.通过第二参数确定电路，将再现波形振幅信息作为指标进行外周试写的记录功率确认和修正动作(704)。结果，求得功率修正结果E。
5.结束记录参数的学习(705)。
在上述中，由于作为外周试写时的记录功率确认的指标使用的不对称，β值全都是再现波形的粗密信息的相对值，故即使在因偏差等而发生再现波形的振幅变动的情况下，与上述内周的试写中使用的再现波形的二值化信号的抖动值进行比较也稳定而可以进行记录功率的评价，可以提高外周的最佳记录功率的取得精度。
基于像这样求得的内周、外周处的最佳记录功率值，第三参数确定电路求得任意的线速度、记录位置的最佳记录参数。由此在任意的线速度、位置都可以实现适当的记录质量。
实施例2接下来就本发明的第二实施例进行说明。由于本实施例中的光学信息记录装置的构成与上述第一实施例中的光学信息记录装置是同样的，故省略其说明。虽然在实施例1中就在外周的记录功率的确认和修正中使用依存于再现波形的振幅值，具体地说对使用不对称、β值的方法进行了描述，但是在DVD-RAM之类可改写型光盘的情况下，有必要学习记录功率Pw与擦除功率Pe。有必要确认对擦除功率的基底记录的区域写入记录后的记录品质，根据再现波形的振幅信息判断基底记录波形与覆盖写入记录之差变得困难。
另一方面，例如在DVD-RAM中有可以记录驱动器的固有信息的区域(盘信息区Disc Information ZoneDIZ)。因此，在任意的装置中通过将实施试写的结果记录在DIZ中，在下次将同一光盘插入同一装置的情况下可以利用上述记录在DIZ中的信息。
由此，在对某个光学信息记录装置插入初次的光盘时，在外周与内周同样实施二值化信号的抖动评价的试写，学习记录功率Pw与擦除功率Pe。此时，同时还求得外周的学习结果的记录功率、擦除功率的振幅信息值，例如不对称、或者β值。试写结束后，将这些结果记录在DIZ中。
下次同一光盘再次插入光学信息记录装置的情况下的顺序示于图8。以下就本顺序进行说明。
1.开始记录参数学习(801)。
2.以二值化数据的抖动值为指标进行内周试写动作(802)。
3.确认上次的外周试写的记录参数学习结果是否保存在DIZ中(803)。
4.在上述保存的情况下，以记载在DIZ中的外周记录参数学习结果作为外周试写结果(804)，以β等再现波形振幅信息为指标进行外周试写的记录功率和擦除功率的确认和修正动作(805)。
5.在上述未保存的情况下，与内周同样地以二值化数据的抖动值为指标进行外周试写动作(806)。
6.按规定的保存方法保持试写结果(807)。
7.结束记录参数的学习(808)。
根据该顺序，由于在光盘最初插入光学信息记录装置时在顺序5(806)中学习详细的记录功率与擦除功率，故可以简易且高精度地取得外周的擦除功率的学习结果。此外，因为在该时刻求得了记录功率与擦除功率的最佳比(PwPe比)，故顺序4中的记录功率、擦除功率在学习时通过固定上述PwPe比而确认β值，可以确认、修正记录功率、擦除功率。
再者，作为顺序6(807)的规定的保存方法，可以考虑例如将记录参数记录在光盘的规定区域中，在进行下次试写时读取该记录的记录参数的方法，或者，将记录参数保存在光学信息记录装置的内部存储器中，在进行下次试写时读取保存的记录参数等方法。
此外，虽然在本实施例中，在外周的试写时利用上次试写结果的保存值，但是在内周的试写中也同样可以以上次试写结果作为初始值进行试写。由此可以确认、修正内周处的记录功率、擦除功率。
实施例3
接下来，对本发明的第三实施例进行说明。本实施例中的光学信息记录装置的构成与第一实施例中的光学信息记录装置的构成是同样的，省略其说明。图9表示本实施例的试写处理顺序。以下就本顺序的动作进行说明。
1.开始记录参数的学习(901)。
2.以二值化数据的抖动值为指标进行内周试写动作(902)。
3.根据内周试写进行结果通过规定的计算来计算外周试写的初始值(903)。
4.确认是否已保存外周的前次试写β(904)。
5.在已保存的情况下，以所保存的β值为目标进行设定(905)。
6.在未保存的情况下，以该装置中所设定的β值为目标进行设定(906)。
7.对所设定的目标β值，通过外周试写取得β值而进行记录功率和擦除功率的确认和修正动作(907)。
8.根据规定的保存方法保持试写结果的β值(908)。
9.结束记录参数的学习(909)。
作为上述顺序8(908)的保存方法，可以用与实施例2的顺序6的保存方法同样。
根据本实施例，在光盘或光学信息记录装置中，即使在不能充分确保可以保存记录参数的区域的情况下，通过仅保存再现试写结果的记录参数的记录波形时的β值，也可以在外周区域中进行稳定的记录参数学习，由此可以确认、修正记录功率、擦除功率。
权利要求
1.一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数。
2.一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，根据在所述线速度慢的区域中求得的记录参数学习结果，以通过规定的计算模块得到的记录参数进行试写，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数。
3.一种光学信息记录方法，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于在光盘上线速度慢的区域，根据试写的再现波形的抖动值确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，在光盘上线速度快的区域，根据之前在该光盘上以该线速度进行的试写结果确定的记录参数进行试写，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定该线速度下的记录波形的最佳记录参数，根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数。
4.如权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于作为根据振幅值得到的信息，以再现波形的β值为指标。
5.如权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于作为根据振幅值得到的信息，使用再现波形的不对称值。
6.如权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于所述线速度慢的区域是设置在所述光盘的内周侧的试写区域，所述线速度快的区域是设置在所述光盘的外周侧的试写区域。
7.如权利要求1所述的光学信息记录方法，其特征在于所述记录参数包括供给到激光器的记录功率、擦除功率。
8.一种光学信息记录装置，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于，包括发生激光的激光器；根据规定的记录参数驱动所述激光器的激光器驱动器；以规定的旋转速度旋转驱动光盘的电动机；根据试写的再现波形的抖动值确定光盘上线速度慢的区域的记录波形的最佳记录参数的第一参数确定电路；根据试写的再现波形的振幅值确定光盘上线速度快的区域的记录波形的最佳记录参数的第二参数确定电路；根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数的第三参数确定电路；以及控制所述激光器驱动器、电动机、第一试写电路、第二试写电路、以及第三试写电路的控制电路。
9.一种光学信息记录装置，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于，包括发生激光的激光器；根据规定的记录参数驱动所述激光器的激光器驱动器；以规定的旋转速度旋转驱动光盘的电动机；根据试写的再现波形的抖动值确定光盘上线速度慢的区域的记录波形的最佳记录参数的第一参数确定电路；根据在所述线速度慢的区域中求得的记录参数学习结果，以通过规定的计算模块得到的记录参数进行试写，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定光盘上线速度快的区域的记录波形的最佳记录参数的第二参数确定电路；根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数的第三参数确定电路；以及控制所述激光器驱动器、电动机、第一试写电路、第二试写电路、以及第三试写电路的控制电路。
10.一种光学信息记录装置，在通过照射激光并在记录层上形成标记而进行信息的记录的可改写的光盘上记录信息，其特征在于，包括发生激光的激光器；根据规定的记录参数驱动所述激光器的激光器驱动器；以规定的旋转速度旋转驱动光盘的电动机；根据试写的再现波形的抖动值确定光盘上线速度慢的区域的记录波形的最佳记录参数的第一参数确定电路；以之前在该光盘中以该线速度进行的试写结果所确定的记录参数进行试写，由根据试写的再现波形的振幅值得到的信息确定光盘上线速度快的区域的记录波形的最佳记录参数的第二参数确定电路；根据该光盘上线速度不同的两个以上的区域中最佳记录参数的学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录于光盘上任意的地址位置时的记录波形的最佳记录参数的第三参数确定电路；以及控制所述激光器驱动器、电动机、第一试写电路、第二试写电路、以及第三试写电路的控制电路。
全文摘要
本发明在需要高线速度下的试写的光盘中，提供一种在高线速度下发生偏差引起的伺服振动等的情况下，使高线速度下的试写结果稳定的方法。根据该记录介质上的线速度不同的两个以上的区域的记录参数学习结果，通过规定的计算方法算出记录参数而确定将信息记录在光盘上任意的地址位置时的记录参数的记录方式，根据在线速度快的区域试写时的再现波形的振幅值得到的信息确定最佳记录参数。
文档编号G11B20/00GK101022015SQ20061012652
公开日2007年8月22日 申请日期2006年8月25日 优先权日2006年2月14日
发明者西村孝一郎, 山田敦史, 川嶋彻, 户田刚 申请人:株式会社日立制作所, 日立乐金资料储存股份有限公司