专利名称：一种高速存储器故障的快速排错方法
技术领域：
本发明涉及计算机存储器的故障査找方法，特别是一种高速存储器故 障的快速排错方法。
背景技术：
间歇性存储器故障错综复杂而难于排除，故障可能是由一个原因或多个不同原因共同导致的，包括BIOS错误、协议错误、信号完整性问题、 硬件故障以及存储器或其它子系统问题。虽然某些工程技术人员具有存储 器排错的快速解决方案，但很多工程技术人员在排除间歇性存储器故障时 仍遇到困难。发明内容本发明的目的在于提供一种高速存储器故障的快速排错方法，主要解 决现有的在排除间歇性存储器故障时遇到困难的技术问题，有利于存储器 设备的正常运行。为解决上述问题，本发明是这样实现的一种高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于方法步骤如下 第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生；
第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和 协议错误；第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测 量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲， 就在SDRAM端进行探测，而若要捕获来自存储器的READ脉冲，在存储器 控制器端探测。所述的高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于所述的第一步中 在尝试重复故障状态时，要记住问题的根源有可能来自某一个子系统或者 来自不直接连接存储器的器件。所述的高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于所述第二步中 对DDR系统进行排错时，逻辑分析仪弥补高速示波器的不足。
具体实施方式
本发明提供了一种高速存储器故障的快速排错方法，主要解决现有的 在排除间歇性存储器故障时遇到困难的技术问题，有利于存储器设备的正 常运行。该方法都可以应用于DDR、 DDR2和全缓冲DI,系统SDRAM侧的 排错，具体测试方案根据所使用的连接器或者存储器是否是嵌入式的而不 同。本发明方法的主要步骤如下第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生，这样
做通常可以获得对问题性质很重要的深刻认识。第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和 协议错误。第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测 量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲， 就在SDRAM端进行探测，而若要捕获来自存储器的READ脉冲，在存储器 控制器端探测。所述第一步中在尝试重复故障状态时，要记住问题的根源有可能来自 某一个子系统或者来自不直接连接存储器的器件。局域网访问、子系统的 上电时序、进入/退出睡眠模式及电源周期(频率)都是评估存储器故障时 要考虑的重要因素。串扰和不同子系统的资源冲突、工作模式和周期也会 引发许多间歇性存储器故障。通过一个特定试验或者条件设置将问题隔离出来，将更加容易对问题 进行评估。例如，在某个特定试验发生的故障可能定位在软件程序，或者 诸如串扰或码间干扰等信号完整性问题。对于一个可重复的故障，可以 在故障状态下进行多次测量。重复故障状态通常是说起来容易，做起来难。需要考虑的细节包括检 查错误日志、识别故障时的运行软件，还要注意BI0S、操作系统以及故障 发生前运行的应用程序。环境变化也会导致系统故障，需要考虑系统发生 故障时的室内温度，并检査进入系统的气流。
如果故障状态是可重复的，则在故障状态反复试验。如果故障无法重 复，则选择一个鲁棒的存储器，并按顺序改变温度和电源电压限制等试验 条件进行试验。所述第二步中，对DDR系统进行排错时，逻辑分析仪可以弥补高速示 波器的不足。带有DDR测试探头、转接板或者直插件的逻辑分析仪可让工 程师快速抓住整个DDR总线中的问题。但逻辑分析仪缺乏示波器所具有的 分辨率和模拟信号测量能力，这种可以观察相关总线上所有信号的能力对 设计工程师来说非常重要。使用逻辑分析仪可以快速縮小问题的范围，从而节省时间。在用分析 仪确定了可疑信号后，就可以用高性能示波器进行更细致的检査。逻辑分 析仪系统可提供高达64M深度的状态追踪，具有为功能验证转换命令的协 议解码功能。在状态捕获的同时，还可在一个简便的连接上(时序縮放)提 供64k深度的DDR总线高分辨率时序分析追踪能力。64k踪迹深度的显示 区域可在10(F。前触发到100%后触发的范围内进行调节。利用逻辑分析仪的高分辨率眼图测量功能，可以识别百万分之一的误 差，还可让工程师一眼就可以观察到由时钟指令CK0/CK0tt.采集的所有信 号(在READ和WRITE周期之间的建立和保持时间内有三态选通和移位信号 时，利用眼图测量数据信号可能会更复杂一些)。逻辑分析仪的搜寻功能可以自动设置多达1024的全局标记，全局标 记可在波形和显示窗口之间进行追踪，以对可疑区域进行不同角度的观 察。
利用逻辑分析仪的全局标记特性还可进行手动追踪， 一个后处理分析 软件也可以完成同样测量，设计工程师可利用逻辑分析仪提供的软件分析 选项编写他们自己的程序。软件分析工具使工程师对重复性测量任务有更 深的认识并自动进行重复性工作和测量。这样，通过自动测量就可以得到 有效的统计结果。综上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用来限定本发明的实施 范围。即凡依本发明申请专利范围的内容所作的等效变化与修饰，都应为 本发明的技术范畴。
权利要求
1、一种高速存储器故障的快速排错方法，其特征在于方法步骤如下第一步，确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生；第二步，在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和协议错误；第三步，使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲，就在SDRAM端进行探测，而若要捕获来自存储器的READ脉冲，在存储器控制器端探测。
2、 根据权利要求1所述的高速存储器故障的快速排错方法，其特 征在于所述的第一步中在尝试重复故障状态时，要记住问题的根源有可 能来自某一个子系统或者来自不直接连接存储器的器件。
3、 根据权利要求1或2所述的高速存储器故障的快速排错方法， 其特征在于所述第二步中对DDR系统进行排错时，逻辑分析仪弥补 高速示波器的不足。
全文摘要
本发明涉及计算机存储器的故障查找方法，特别是一种高速存储器故障的快速排错方法。步骤是首先确定故障是否是重复性的，试着使故障状态重复发生；其次在存储器总线上接一个带探测器或内插器的逻辑分析仪，可以快速了解整个DDR2总线的时序关系、百万分之一的误差、时钟质量和协议错误；最后使用具有高带宽探测能力的高性能示波器实施技术参数的测量，这需要在信号的接收端进行探测，若要捕获送到存储器的WRITE脉冲，就在SDRAM端进行探测，而若要捕获来自存储器的READ脉冲，在存储器控制器端探测。本方法主要解决现有的在排除间歇性存储器故障时遇到困难的技术问题，有利于存储器设备的正常运行。
文档编号G11C29/56GK101399089SQ20071004669
公开日2009年4月1日 申请日期2007年9月29日 优先权日2007年9月29日
发明者洋 于 申请人:上海市闵行中学;项 敏