去除多层盘中串扰的单元、光拾取器、光记录/再现设备的制作方法

专利名称：去除多层盘中串扰的单元、光拾取器、光记录/再现设备的制作方法
技术领域：
本发明涉及用于去除多层盘的串扰的单元、包括所述单元的光拾取 器、以及包括所述光拾取器的光记录和/或再现设备。
背景技术：
诸如紧致盘(CD)和数字通用盘(DVD)之类的光盘是在其上记录 信息和/或从其中再现信息的信息存储介质。光拾取器在光盘上记录信息 和/或从光盘再现信息，并且包括将激光束聚焦到光盘上的物镜。
近年来已经进行许多研究来开发下一代高密度光盘，例如高清晰度 数字通用盘(HD-DVD)、蓝光盘(BD)和高级光盘(AOD)。
这些光盘依赖于光盘的容量，使用具有不同波长的激光和具有不同 数值孔径(NA)的物镜。在使用激光通过物镜所聚焦到的光斑以在信息 存储介质上记录信息/或从信息存储介质中再现信息的光记录和/或再现 设备中，由光斑的尺寸S来确定记录容量。如下面公式所示，由激光的 波长A和物镜的NA来确定光斑的尺寸S:
因此，为了增加光盘的记录密度，必须减小激光的波长并且增加物 镜的NA。
然而，用于减小激光波长的部件是昂贵的。同样，NA的增加与NA的平方成比例地减小了焦距的深度，并且与NA的立方成比例地增加了慧 形象差。因此，在使用激光和物镜增加记录密度方面存在限制。
因此，为了增加记录密度，已经建议了一种使记录层变厚的方法。 然而，在多层盘的情况下，当相邻层之间的间隔减小时，光电探测器不 但检测到由目标记录层反射的光，而且检测到由与目标记录层相邻的记 录层反射的光，并且由相邻记录层反射的光(即，噪声)影响所需的信 号。
图1示出了在传统光拾取器的4分光电检测器3上形成的光斑Lt 和L。参考图1，由目标记录层反射的光聚焦为光电检测器3上的光斑 Lt。将光斑Lt转换为电信号，该电信号输出为再现信号。例如，可以将 再现信号检测为光电检测器3的四个光接收区域(A+B+C+D)的和信号。 当由要从中再现信息的目标记录层反射的光聚焦到光电检测器3上的光 斑Lt时，由与目标记录层相邻的记录层反射的光到达光电检测器3，并 且形成比光斑L更大的光斑Ln。因为由与目标记录层相邻的记录层反射 的光的光斑L漫射并且形成在整个光电检测器3上，光斑Ln与来自目标 记录层的光斑Lt组合，从而引起再现信号中的噪声。

发明内容
本发明的方面提出了一种用于去除串扰的单元，可以防止由具有多 个记录层的盘中与目标层相邻的记录层反射的光与再现信号干扰。
本发明的方面还提出了一种光拾取器，通过抑制来自目标记录层的 邻近记录层的干扰，可以稳定地检测再现信号，本发明还提出了一种包 括所述光拾取器的光记录和/或再现设备。
根据本发明的一个方面，提出了一种用于去除串扰的单元，所述单
元包括反射区域，用于反射其上的入射光；以及透射区域，设置在所
述反射区域周围，并且透射入射光，其中所述单元相对于入射光的光轴 倾斜预定角度，使得由反射区域反射的光沿入射光入射的方向之外的其 他方向反射。
根据本发明的另 一个方面，提出了 一种用于通过对由具有多个记录 层的盘中与数据要记录到和/或要从中再现数据的目标记录层相邻的记录层反射的光进行衍射并且防止所述光与由目标记录层反射的光干扰以 去除串扰的单元，所述单元包括第一折射表面，对其上的入射光进行 漫射；以及第二折射表面，设置在第一折射表面周围，所述第二折射表 面具有比所述第一折射表面小的曲率，并且将入射光聚焦到目标记录层 上。第一折射表面可以是凹面或凸面。
根据本发明的另一个方面，提出了一种用于去除串扰的单元，所述 单元包括衍射区域，用于对由具有多个记录层的盘中与数据要记录到 和/或要从中再现数据的目标记录层相邻的记录层反射的光进行衍射，以 防止由相邻记录层反射的光与由目标记录层反射的光干扰；以及透射区 域，设置在衍射区域周围并且用于透射入射光，其中将所述衍射区域划 分为第一区域和第二区域，并且第一和第二区域具有沿不同方向设置的 衍射图案。可以将第一区域的衍射图案和第二区域的衍射图案设置为彼 此以直角相交。
根据本发明的另一个方面，提出了一种光拾取器，用于将数据记录 到具有多个记录层的盘中的目标记录层上和/或从其中再现数据，所述光 拾取器包括光源；光路改变器，改变从光源发射的光的路径；用于去 除串扰的单元，所述单元包括用于反射从光路改变器入射的光的反射区 域和用于透射入射光的透射区域，其中用于去除串扰的单元相对于入射 光的光轴倾斜预定角度，使得由反射区域反射的光沿入射光入射的方向 之外的其他方向反射；物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及光电 检测器，检测由所述盘反射的光。
根据本发明的另一个方面，提出了一种光拾取器，用于将数据记录 到具有多个记录层的盘中的目标记录层上和/或从其中再现数据，所述光 拾取器包括光源；分束器，用于反射一部分入射光并且透射其余的入 射光；用于去除串扰的单元，所述单元包括用于将从分束器入射到其上 的光进行聚焦的第一折射单元和具有比第一折射表面大的曲率以漫射入 射光的第二折射单元；物镜，用于将入射光聚焦到盘上；以及光电检测 器，用于检测由盘反射的光。
根据本发明的另一个方面，提出了一种光拾取器，用于将数据记录 到具有多个记录层的盘中的目标记录层上和/或从其中再现数据，所述光拾取器包括光源；分束器，用于其上的反射一部分入射光并且透射其 余的入射光；用于去除串扰的单元，所述单元包括衍射区域，用于对由 与目标记录层相邻的记录层反射的光进行衍射以防止由相邻记录层反射 的光与由目标记录层反射的光干扰，以及透射区域，设置在所述衍射区 域周围，并且用于透射从分束器入射的光；物镜，用于将入射光聚焦到 盘上；以及光电检测器，用于检测由所述盘反射的光，其中将衍射区域 划分为第一和第二区域，并且第一和第二区域具有沿不同方向设置的衍 射图案。根据本发明的另一个方面，提出了一种光记录和/或再现设备，包 括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从其中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及控制 单元，用于控制所述光拾取器，其中所述光拾取器包括光源；光路改 变器，改变从光源发射的光的路径；用于去除串扰的单元，所述单元包 括用于反射从光路改变器入射到其上的光的反射区域和用于透射入射光 的透射区域，其中用于去除串扰的单元相对于入射光的光轴倾斜预定角 度，使得由反射区域反射的光沿入射光入射的方向之外的其他方向行进； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及光电检测器，检测由所述盘 反射的光。根据本发明的另一个方面，提出了一种光记录和/或再现设备，包 括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从其中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及控制 单元，用于控制所述光拾取器，其中所述光拾取器包括光源；分束器， 用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光；用于去除串扰的单元，所述单元包括用于将从分束器入射到其上的光进行聚焦的第一折 射单元和具有比第一折射表面大的曲率以漫射入射光的第二折射单元；物镜，用于将入射光聚焦到盘上；以及光电检测器，用于检测由所述盘 反射的光。根据本发明的另一个方面，提出了一种光记录和/或再现设备，包 括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从其中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及控制单元，用于控制所述光拾取器，其中所述光拾取器包括光源；分束器， 用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光；用于去除串扰的 单元，所述单元包括衍射区域，用于对由与目标记录层相邻的记录层反 射的光进行衍射并防止所述光与由目标记录层反射的光干扰，以及透射 区域，设置在所述衍射区域周围，并且透射从分束器入射的光；物镜， 用于将入射光聚焦到盘上；以及光电检测器，用于检测由所述盘反射的 光，其中将衍射区域划分为第一和第二区域，并且第一和第二区域具有 沿不同方向设置的衍射图案。根据本发明的另一个方面，提出了一种用于去除串扰的单元，所述 单元包括衍射区域，用于选择性地减小由相邻记录层反射的光之间的 串扰，并且选择性地透射由相邻记录层中的目标记录层反射的光；以及 透射区域，设置在所述衍射区域周围，以透射具有不同波长的光，其中 根据具有不同波长的光来确定衍射区域的衍射效率。可以将所述单元与 物镜整体地形成。透射区域可包括设置在光轴周围的第一区域和设置在第一区域周 围的第二区域，其中将第一区域共同用于具有400±20 nm、 660±20 nm 和780±20 nm的波长的光，并且将第二区域共同用于具有400±20 nm和 660±20 nm的波长的光。透射区域可以包括第一区域，设置在光轴周围；第二区域，设置 在第一区域周围；以及第三区域，设置在第二区域周围，并且可用于递 减顺序的第一至第三波长，其中将第一区域共同用于具有第一至第三波 长的光，将第二区域共同用于具有第二和第三波长的光，以及将第三区 域共同用于具有第二波长的光。衍射区域可以阻挡具有第三波长的光，所述第三波长具有针对第三 波长的零阶衍射光的较低衍射效率，并且可以透射具有第一和第二波长 的光，所述第一和第二波长的光具有针对第一和第二波长的零阶衍射光 的较高衍射效率。衍射区域可以包括具有200至400nm深度的图案。本发明的附加方面和/或优点将部分地在以下描述中阐述，并且部 分地根据所述描述将是显而易见的，或者可以通过本发明的实践来理解。


根据如下结合附图对实施例的描述，本发明的这些和/或其他方面 和优点将是显而易见的，并且更加易于理解，其中图1示出了在传统光拾取器的光电检测器上形成的光斑；图2示出了包括本发明示范性实施例的用于去除串扰的单元的光拾取器；图3示出了在图2的光拾取器的光电检测器上形成的光斑； 图4A和4B示出了根据本发明另一示范性实施例的用于去除串扰的单元；图5A示出了根据本发明的另一实施例的用于去除串扰的单元；图5B示出了图5A的用于去除串扰的单元的衍射图案；图6A和6B示出了当形成单一衍射图案时的光路；图7示出了图5A的用于去除串扰的单元的操作；以及图8示出了跟本发明的另一示范性实施例的用于去除串扰的单元，其与物镜整体形成；图9A和9B示出了从根据波长从图8的用于去除串扰的单元的透射区域中划分的区域；图10示出了针对每一个波长，衍射效率根据图8单元的衍射区域的衍射图案深度的变化；以及图11示出了根据本发明示范性实施例的光记录和/或再现设备。
具体实施方式
现在对本发明的实施例进行详细描述，其示例在附图中说明，图中 相同的附图标记始终代表相同的元件。下面参考附图描述实施例以解释 本发明。为了防止具有多个记录层的盘中由与数据将记录到和/或将从中再 现数据的目标记录层相邻的记录层反射的光与由目标记录层反射的光干 扰并产生噪声，根据本发明的用于去除串扰的单元阻挡了入射到其中心 部分上的光，并且防止这种光到达盘，或者阻挡由盘反射、并且入射到用于去除串扰的单元的中心部分上的光，并且防止这种光到达光电检测 器。图2示出了光拾取器200，包括根据本发明示范性实施例的用于去除 串扰的单元113。光拾取器200包括光源100;分束器105，反射从光源 IOO入射到其上的一部分光，并且透射其余的入射光；物镜115，将从分束器入射的光聚焦到盘D上；以及用于去除串扰的单元113，设置在分束器105和物镜115之间。此外，光拾取器200包括光电检测器125，用于检 测从盘D反射的光。用于去除串扰的单元113包括中心反射区域113a，反射从分束器 105入射的光中入射到其上的光；以透射区域113b，设置在反射区域113a 周围，并且透射从分束器105入射的光中入射到其上的光。将透射区域 113b设置在反射区域113a周围，使得根据不同的方面，可以将透射区域 113b设置在反射区域113a的外围周围，或者透射区域113b可以完全地围 绕反射区域113a。反射区域113a可以通过向透明玻璃涂敷反射涂层来形 成。用于去除串扰的单元113相对于入射到其上的光的光轴倾斜预定的角 度以反射光，所述光被反射区域113a沿与入射到用于去除串扰的单元113 上的光相同的路径反射，并且防止所述光进入光电检测器125。用于去除 串扰的单元113相对于光轴的倾斜不会影响通过透射区域113b透射的光。从光源100发射的光透射通过分束器105至用于去除串扰的单元 113。从光源100发射的光中，入射到反射区域113a上的光被反射区域113a 反射，从而不能到达盘D，并且通过物镜115将穿过透射区域113b的光聚 焦到盘D上。当将在其上记录数据和/或将从中再现数据的目标记录层是 第二记录层L,时，在穿过透射区域113b的光中，入射到盘D的第二记录层 L,上的光通过物镜115聚焦到盘D的第二记录层L,上，而入射到与目标记录 层L相邻的第二记录层L。上的漫射光到达第一记录层L。。当第一和第二记 录层L。和L,之间的距离较大时，在与目标记录层L,相邻的第一记录层L。上 形成的漫射光的漫射程度足够高，从而不会作为信号。然而，当所述距 离较小时，漫射光可能作为信号。由盘D反射的光经过物镜115和用于去除串扰的单元的透射区域113b，并且由分束器105反射到光电检测器125。然而，阻挡入射到反射 区域的光到达盘D，并且因此不会由光电检测器125检测到。图3示出了由 盘D反射并且在光电检测器125上形成的光斑。这里，L表示由目标记录层 L,反射的光的光斑，L。表示由目标记录层L反射、然后由反射区113a阻挡 的光的光斑，L表示由与目标记录层L,相邻的记录层L。反射的光的光斑， 以及U。表示由与目标记录层L,相邻的记录层L。反射、然后由反射区域113a 阻挡的光斑。由与目标记录层L相邻的记录层L。反射、然后由反射区域113a阻挡 的光的光斑U比由目标记录层Ll反射的光的光斑Lt大。因此，防止了由 与目标记录层L相邻的记录层L。反射的光的光斑U与由目标记录层L,反射 的光的光斑Lt干扰。尽管由于由目标记录层Ll反射、然后由反射区域113a 阻挡的光的原因而出现光损耗，所述光损耗较低，并且几乎不会影响再 现信号。用于去除串扰的单元113和物镜115可以彼此整体地形成。即，可以 通过在物镜115的中心部分形成反射区域来去除串扰，以代替用于去除串 扰的单元113。参考图2，可以将用于准直光的准直透镜107设置在分束器105和用 于去除串扰的单元113之间的光路中。可以将光路改变器110设置在准直 透镜107和用于去除串扰的单元113之间。光路改变器110可以包括反射大 部分光而透射其余光的分束器。从光源100发射的光透射穿过分束器105 和光路改变器110至监测光电检测器120。监测光电检测器120检测从光源 IOO发射的光的强度。可以将会聚透镜123和117分别设置在分束器105和光电检测器125 之间以及光路改变器110和监测光电检测器120之间。尽管用于去除串扰的单元113包括图2中的反射区域113a，应该理解 的是可以按照其他多种方式来去除串扰。图4A示出了根据本发明另一示范性实施例的用于去除串扰的单元 120。参考图4A，用于去除串扰的单元120包括第一折射表面124，用于 漫射入射到其上的光；以及第二折射表面122，用于聚焦入射到其上的光。第一折射表面124形成于用于去除串扰的单元120的中心部分，而第二折 射表面122包围第一折射表面124，并且具有比第一折射表面124小的曲 率。具有比第二折射表面122更大曲率的第一折射表面124漫射入射到 其上的光，并且具有比第一折射表面124更小曲率的第二折射表面122聚 焦入射到其上的光。参考图4A，第一折射表面124是凹面。盘D将由第一 折射表面124漫射的光Ld按照较大的角度反射至用于去除串扰的单元120 的外部，从而不会到达光电检测器。盘D将由第二折射表面122聚焦到盘D 上的光反射至光电检测器，并且输出为再现信号。图4B示出了根据本发明另一示范性的用于去除串扰的单元120'。参 考图4B，用于去除串扰的单元120'包括第一折射表面124'和第二折射表面 122'。第一折射表面124'是凸面。入射到第一折射表面124'上的光L/聚焦 到与第一折射表面124'靠近的位置，并且然后漫射至盘D。盘D将漫射至 盘D的光L/反射至用于去除串扰的单元120'的外部，从而不会与再现信号 干扰。可以将用于去除串扰的单元120或120'与物镜分立地形成，并且可 以将第一折射表面124或124'形成于物镜的中心部分。图5A示出了根据本发明另一示范性实施例的用于去除串扰的单元 130。参考图5A，用于去除串扰的单元130包括中心衍射区域130a和设置 在衍射区域130a周围的透射区域130b。将透射区域130b设置在衍射区域 130a周围，使得根据不同方面，可以将透射区域130b设置在衍射区域130a 外围周围，或者透射区域130b可以完全围绕衍射区域130a。衍射区域130a 衍射入射光，并且防止由盘D反射的光到达光电检测器。将物镜115设置 在盘D和用于去除串扰的单元130之间。然而，可以将用于去除串扰的单 元130与物镜115整体地形成。g卩，可以将衍射区设置在物镜115的中心部 分处。图5B示出了图5A的用于去除串扰的单元130的平面图。将衍射区域 130a划分为第一和第二区域130al和130a2，并且可以沿不同方向设置第 一区域130al的衍射图案和第二区域130a2的衍射图案。例如，可以将第 一区域130al的衍射图案和第二区域130a2的衍射图案设置为彼此以直角相交。然而，应该理解的是可以将第一区域130al的衍射图案和第二区域 130a2的衍射图案设置为彼此以任意角度相交。图6A和图6B示出了当形成单一衍射图案时衍射光的运动。参考图 6A，由衍射区域131对光进行衍射，并且由盘D反射光。图6A只示出了由 衍射区域131衍射的光中的+1阶光束。盘D将+1阶光束反射至衍射区域 131。因为衍射区域131只具有单一衍射图案，所以衍射区域131将+1阶光 束再次沿-1阶光束首次入射到衍射区域131上的方向平行的方向进行衍 射。因此，穿过衍射区域131的光入射到光电检测器上，并且可以引起串 扰。图6B只示出了由衍射区域131衍射的光中的-l阶光束。参考图6B， -1阶光束被盘D反射，并且由衍射区域131沿与+1阶光束首次入射到衍射 区域131上的方向平行的方向进行衍射。穿过衍射区的光入射到光电检测 器上，并且可以引起串扰。为了防止由盘D反射的光穿过衍射区域进入光电检测器，可以将衍射区域划分为两个区域，并且可以沿不同方向设置这两个区域的衍射图 案。图7示出了当将第一区域130al和第二区域130a2的衍射图案设置为彼 此以直角相交时图5的用于去除串扰的单元130的操作。然而，再次应该 理解的是，可以将第一区域130al和第二区域130a2的衍射图案设置为彼 此以任意角度相交。参考图7，入射光被衍射为+l阶光束和-l阶光束，并 且入射到盘D上。因为将第二区域130a2和第一区域130al的衍射图案沿不 同的方向设置，第二区域130a2将由盘D反射的光沿与光入射到第一区域 103a上的方向不同的方向进行衍射。因此，穿过衍射区域130a的光不会 入射到光电检测器上，从而防止了串扰。尽管在图7中将衍射区域130a 划分为两个区域130al和130a2，可以将衍射区域130a划分为三个或更多 区域，并且可以沿不同方向设置所述区域的衍射图案。图8示出了根据本发明另一示范性实施例的、与物镜140整体形成的 用于去除串扰的单元。参考图8，物镜140包括衍射区域140a和透射区域 140b。将物镜140设计为用于具有多个波长的光，使得衍射区域140a阻挡 具有特定波长的光并且透射具有除了特定波长之外波长的光。可以将衍射效率定义为衍射光强度与入射光强度的比率，并且可以通过改变衍射图案的深度d来控制衍射效率。参考符号T表示衍射图案的间距。根据波 长来控制衍射效率，以便物镜140选择性地阻挡或透射具有多个波长的 光。物镜140与具有使用两个或更多波长的光的不同厚度或格式的两个或 更多盘相兼容。即，物镜140根据波长具有不同的NA。将物镜140划分为 绕光轴的两个或更多同心区域，并且将每一个区域用于不同的波长。例 如，如图9A所示，物镜140可以包括衍射区域140a和透射区域140b，将所 述透射区域140b划分为绕光轴设置的第一至第三区域141、 142和143。当将物镜140用于具有第一至第三波长的光时，第一区域141可以共 同用于第一至第三波长，第二区域142可以共同用于到第二和第三波长， 而第三区域可以用于第三波长。第一至第三波长可以分别是780nm、660nm 和400nm。然而，应该理解的是物镜140不局限于此，可以将第一区域用 于第一波长，将第二区域142用第二波长和第三波长，而可以将第三区域 143共同用于第一至第三波长。图8的用于去除串扰的单元的物镜140可以与每一个均具有多个记 录层的蓝光盘(BD)、数字通用盘(DVD)和紧致盘(CD)兼容，或者可 以与每一个均具有多个记录层的高分辨率-数字通用盘(HD-DVD)、 DVD 和CD兼容。在这种情况下，例如，物镜140的NA在HD-DVD和DVD情况下可 以是0.62，并且在CD的情况下是0.45。然而,还应该理解的是物镜的NA 不必局限于此，并且依赖于所使用的技术而不同。衍射区域140a可以在多个波长中阻挡具有相对较短波长的光，并且 可以透射具有相对较长波长的光。因为使用相对较长波长的光的盘的相 邻层之间的间隔比使用相对较短波长的盘的相邻层之间的间隔大，使用 相对较长波长的盘更不易受到相邻层之间的串扰的影响。因此，通过衍 射区域140a阻挡具有较长波长光的需要较小。因此，衍射区域140根据光 的波长选择性地阻挡或透射光，以减小具有较短波长的光的透射率并且 增加具有较长波长的光的透射率，从而改善了光效率。如图9B所示，物镜140可以包括衍射区域140a和透射区域140b，将 所述透射区域140b划分为第一和第二区域151和152，其中可以将第一区域151共同用于第一至第三波长，并且可以将第二区域152用于具有第一 至第三波长中的中间波长的光。例如，物镜140的NA在HD-DVD的情况下可 以是0.65，在DVD的情况下可以是0.63，以及在CD情况下可以是O. 45。可 选地，当使用具有第一和第二波长的光时，可以将第一区域151共同用于 具有第一和第二波长的光，并且可以将第二区域152用于具有较短波长的 光。例如，第一和第二波长可以分别是400nm和660nm。将用于兼容性的 全息图形成于透射区域140b的每一个区域151和152中，并且使用由全息 图衍射的光中的一阶光。然而，应该理解的是在每一个第一和第二区域 151和152中使用的光的波长不局限于此，可以使用具有更长或更短波长 的光。为了根据光的波长来控制衍射区域140a的光透射率，可以改变衍射 区域140a的衍射图案。例如，可以通过改变衍射图案的深度d和间距T、 并且确定所得到的衍射效率或透射率，来获得具有所需衍射效率的衍射 图案。图10示出了根据衍射图案深度d的衍射效率变化。与具有不同格式的盘兼容的物镜140可以用于具有400土20 rnn的波 长、660土20nm的波长和780土20nm的波长的光。在这种情况下，物镜140 针对具有较长波长的光降低衍射效率，从而降低其透射率，而物镜140 针对具有较短波长的光增加衍射效率，从而增加其透射率。例如，当将 物镜140用于具有波长405、 660和790nm的光时，将衍射区域140a的衍射 效率形成为使得降低具有405nm波长的光的透射率或衍射效率，以便阻挡 具有405nm波长的光，并且将衍射区域140a形成为使得增加具有660nm和 790nm波长的光的透射率或衍射效率，以便透射具有660nm和790nm的波长 的光。衍射区域140a透射零阶光，并且一阶光的衍射效率相对于全部三 个波长较低。因此，以下解释将集中于零阶光的衍射效率。图IO示出了根据衍射图案深度n的针对405nm、 660nm和790nm波长的 衍射效率。参考图IO，衍射区域140a可以具有深度为200至400nm的衍射 图案，使得光透射率或衍射效率针对660mn和790nm波长相对较高，而针 对405nm波长相对较低。在这种情况下，衍射效率对于405mn的波长小于 约40%，衍射效率对于660nm的波长大于约2(m，以及衍射效率对于790nm的波长大于约40%。因此，可以通过形成相对于具有相对较短波长的光具有较低衍射效 率的物镜140来阻挡具有相对较短波长的光，并且可以通过形成相对于具 有相对较长波长的光具有较高衍射效率的物镜140来将具有相对较长波 长的光有效地用于向盘记录数据和/或从盘再现数据。尽管以上描述参考 了物镜140，本发明的方面不局限于此，与物镜分离的单元(如图2所示) 可以具有类似的光学性质，并且根据相同的方面来使用。采用图2至图8的用于去除串扰的单元之一的光拾取器可以防止由 与目标记录层相邻的记录层反射的光与由目标记录层反射的光干扰。图 11示出了根据本发明示范性实施例的光记录和/或再现设备。参考图ll 该光记录和/或再现设备包括在转台205下面安装的主轴电机(spindle motor),其旋转安装到转台205上的盘D;以及夹具210，面对转台205并 且使用通过转台205和夹具210之间的相互作用产生的电磁力来卡住盘D (即信息存储介质)。当通过主轴电机215旋转盘D时，沿盘D的径向移动光拾取器200，并 且光拾取器200将数据记录到盘D上和/或从盘D中再现数据。通过驱动单 元200来驱动主轴电机215和光拾取器200，并且通过控制单元230来控制 光拾取器200的聚焦和跟踪伺服，所述光拾取器200执行将数据记录到盘D 上和/或从盘D再现数据。如以上参考图2所述来构建光拾取器200，并且可以如以上参考图 4A、 4B、 5A、 5B、 9A和9B所述来构建用于去除串扰的单元。将由光拾取器200检测并且转换为光电信号的光通过驱动单元220 输入至控制单元230。驱动单元220控制主轴电机215的旋转速度，放大输 入信号，并且驱动光拾取器200。控制单元230将基于从驱动单元200输入的信号调节的聚焦伺服命 令和跟踪伺服命令再次传送至驱动单元200，以便使光拾取器200能够执 行聚焦和跟踪操作。光拾取器200的用于去除串扰的单元通过防止由与目 标记录层相邻的记录层反射的光与由目标记录层反射的再现信号干扰来 去除串扰，从而避免了再现信号中的噪声，并且改进了记录和/或再现特性。如上所述，根据本发明方面的用于去除串扰的单元可以防止由具有 多个记录层的盘中与记录数据将记录和/或将从中再现数据的目标记录 层相邻的记录层反射的光免于与由目标记录层反射的光结合，并且免于 在再现信号中产生噪声，从而改进了盘的记录和/或再现特性。此外，根据本发明方面的光拾取器和光记录和/或再现设备采用用 于去除串扰的单元来将数据记录到盘上和/或从盘中再现数据,从而防止 了由与目标记录层相邻的记录层反射的光干扰再现信号并且使再现信号 恶化。尽管己经示出和描述了本发明的一些实施例，但本领域技术人员应 当理解，在不脱离本发明的原理和精神的情况下，可以在该实施例中做 出改变，本发明的范围由所附权利要求及其等价物限定。
权利要求
1.一种用于去除串扰的单元，包括反射区域，用于反射其上的入射光；以及透射区域，设置在所述反射区域周围，并且透射入射光，其中，所述单元相对于入射光的光轴倾斜预定角度，使得由反射区域反射的光沿入射光入射的方向之外的其他方向反射。
2. —种用于去除串扰的单元，通过对由具有多个记录层的盘中与 数据要记录到和/或要从中再现数据的目标记录层相邻的记录层反射的 光进行衍射并且防止所述光与由目标记录层反射的光发生干扰，以去除串扰，所述单元包括第一折射表面，对其上的入射光进行漫射；以及 第二折射表面，设置在第一折射表面周围，所述第二折射表面具有 比所述第一折射表面小的曲率，以将入射光聚焦到目标记录层上。
3. 根据权利要求2所述的单元，其中，第一折射表面是凹面。
4. 根据权利要求2所述的单元，其中，第一折射表面是凸面。
5. —种用于去除串扰的单元，包括衍射区域，用于对由具有多个记录层的盘中与数据要记录到和/或 要从中再现数据的目标记录层相邻的记录层反射的光进行衍射，以防止 由相邻记录层反射的光与由目标记录层反射的光发生干扰；以及 透射区域，设置在衍射区域周围，以透射入射光， 其中，将所述衍射区域划分为第一区域和第二区域，并且第一和第 二区域具有沿不同方向设置的衍射图案。
6. 根据权利要求5所述的单元，其中，将第一区域的衍射图案和 第二区域的衍射图案设置为彼此以直角相交。
7. 根据权利要求5所述的单元，其中，所述单元还包括 物镜，与衍射区域和透射区域整体地形成，其中，所述物镜将入射光聚焦到目标记录层上。
8. —种光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层上和/或从目标记录层中再现数据，所述光拾取器包括光源；光路改变器，用于改变从光源发射的光的路径； 根据权利要求1所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，检测由所述盘反射的光，其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自由与 目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
9. 一种光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目 标记录层上和/或再现目标记录层上的数据，所述光拾取器包括光源；分束器，用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光； 根据权利要求2所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，用于检测由所述盘反射的光，其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自由与 目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
10. —种光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目 标记录层上和/或从目标记录层中再现数据，所述光拾取器包括光源；分束器，用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光； 根据权利要求5所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，用于检测由所述盘反射的光，其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自由与 目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
11. 根据权利要求10所述的光拾取器，其中，将第一和第二区域 的衍射图案设置为彼此以直角相交。
12. 根据权利要求IO所述的光拾取器，其中，将用于去除串扰的单元和物镜彼此整体地形成。
13. —种光记录和/或再现设备，包括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从目标记录层中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及 控制单元，用于控制所述光拾取器， 其中，所述光拾取器包括-光源；光路改变器，改变从光源发射的光的路径； 根据权利要求1所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，检测由所述盘反射的光，其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自 由与目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
14. 一种光记录和/或再现设备，包括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从目标记录层中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及 控制单元，用于控制所述光拾取器， 其中，所述光拾取器包括 光源；分束器，用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光；根据权利要求2所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，用于检测由所述盘反射的光， 其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自 由与目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
15. —种光记录和/或再现设备，包括光拾取器，用于将数据记录到具有多个记录层的盘中的目标记录层 上和/或从目标记录层中再现数据；驱动单元，用于驱动所述光拾取器；以及 控制单元，用于控制所述光拾取器， 其中，所述光拾取器包括 光源；分束器，用于反射其上的一部分入射光并且透射其余的入射光；根据权利要求5所述的用于去除串扰的单元； 物镜，用于将入射光聚焦到所述盘上；以及 光电检测器，用于检测由所述盘反射的光， 其中，用于去除串扰的单元减小了由光电检测器检测到的来自 由与目标记录层相邻的多个记录层反射的光的噪声。
16. 根据权利要求15所述的光记录/再现设备，其中，将第一和第二区域的衍射图案设置为彼此以直角相交。
17. 根据权利要求15所述的光记录/再现设备，其中，将用于去除串扰的单元和物镜彼此整体地形成。
18. —种用于去除串扰的单元，所述单元包括-衍射区域，用于选择性地减小由相邻记录层反射的光之间的串扰， 以及选择性地透射由所述相邻记录层中的目标记录层反射的光；以及 透射区域，设置在所述衍射区域周围，以透射具有不同波长的光， 其中，根据所述具有不同波长的光来确定衍射区域的衍射效率。
19. 根据权利要求18所述的单元，其中，所述单元还包括与衍射区域和透射区域整体地形成的物镜，其中，物镜将所述具有不同波长的光聚焦到目标记录层上。
20. 根据权利要求18所述的单元，其中，透射区域进一步包括-第一区域，设置在光轴周围；以及第二区域，设置在第一区域周围，其中，第一区域共同透射具有400±20 nm、 660±20 nm和780±20 nm 的波长的光，并且第二区域共同透射具有400±20 nm和660土20 nm的波 长的光。
21. 根据权利要求18所述的单元，其中，透射区域进一步包括第一区域，设置在光轴周围； 第二区域，设置在第一区域周围；以及第三区域，设置在第二区域周围，其中，所述具有不同波长的光包 括第一、第二和第三波长的光，第一波长最长而第三波长最短，并且第 一区域共同透射具有第一至第三波长的光，第二区域共同透射具有第二 和第三波长的光，以及第三区域共同透射具有第三波长的光。
22. 根据权利要求21所述的单元，其中，衍射区域针对第三波长 以较低的零阶衍射光衍射效率来透射具有第三波长的光，并且针对第一 和第二波长以较高的零阶衍射光衍射效率来透射具有第一和第二波长的 光。
23. 根据权利要求18所述的单元，其中，衍射区域包括具有200 至400nm深度的图案。
24. 根据权利要求18所述的单元，其中，衍射区域的衍射效率对于 具有400±20 nm波长的光小于约40%，衍射效率对于具有660±20 nm波长 的光大于约20%,以及衍射效率对于具有780土20 nm波长的光大于约40呢。
全文摘要
一种用于去除多层盘中的串扰的单元，包括所述单元的光拾取器和包括所述光拾取器的光记录/再现设备，其中所述光拾取器，包括光源；光路改变器，用于改变从光源发射的光的路径；用于去除串扰的单元；物镜，用于将入射光聚焦到盘上；以及光电检测器，检测由盘反射的光，使得用于去除串扰的单元将由盘的目标记录层反射的光与由相邻记录层反射的光相分离，从而由目标记录层反射的光和由相邻记录层反射的光不会在光电检测器上重叠。
文档编号G11B7/135GK101221781SQ20071019712
公开日2008年7月16日 申请日期2007年12月5日 优先权日2007年1月8日
发明者全永仙, 刘长勋, 尹涌汉, 朴寿韩, 金明奭 申请人:三星电子株式会社