专利名称：光记录装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及将信息记录到具有多个记录层的光记录媒体，特别是可以缩短信息写入 时的测试时间的光记录方法、评价指标取得方法、光记录装置、微CPU元件、以及计
算机程序。
背景技术：
先前，在使用激光将数据记录到众所周知的DVD等光记录媒体(光记录媒体)的 光记录装置中，当在特定的记录媒体上进行数据记录时， 一般而言，在实际数据记录前， 通过使用设在记录媒体内的测试记录区域进行测试记录，寻求适合记录媒体的记录条 件。
然而，在高速与大容量记录要求高涨的光记录装置中，当在具有多个记录层的多层 光记录媒体上进行数据记录时，因各记录层而记录灵敏度、光反射率、热传导率等记录 特性不同，所以必须寻求对应于此各记录层的记录脉冲条件。
作为寻求所述记录脉冲条件的先前技术，如图25与图26所示， 一般使用以下方法 对应于以各记录媒体种类为单位的记录速度等条件，使记录驱动器(光记录装置)的存 储器中预先具有记录记录脉冲条件的数据表格，能够以各记录层为单位进行良好记录， 而实际上，在记录媒体上进行数据记录时，从上述数据表格中读出记录媒体类别、记录 层、记录速度所对应的记录脉冲条件，并设定此条件，进行数据记录。
另外，考虑到记录驱动器自身的个体差别或不均或者激光的温度依存性等， 一般也 使用以下方法在数据记录前所进行的测试记录中，仅对记录激光功率的条件进行调整。
专利文献1日本专利特开2005-100610号公报
专利文献2日本专利特开2003-22532号公报
专利文献3日本专利特开2004-171740号公报
专利文献4日本专利特开2004-247024号公报
专利文献5W02002-029791号公报
专利文献6日本专利特开2003-178448号公报
然而，在上述常规技术中，存在第1问题，g卩，对有限的记录驱动器中存储器容量 的负担增加，在使用高容量存储器时，因牵涉到记录驱动器的成本增加，因而限制了可 以对应的记录媒体数。
另外，存在第2问题，g卩，不能充分解决仅依靠记录激光功率而可以弥补的记录媒 体与记录驱动器的特性不均，此外对于预先未存储在记录驱动器存储器中的记录媒体、 以及在记录驱动器出售后所售出的记录媒体等"未知种类的光记录媒体"，虽然一部分以 所谓固件更新的形式加以解决，但也无法充分解决。
因此，业内人士期望根据数据记录的记录媒体与记录驱动器的特性，寻求在短时间 内以记录速度为单位的最佳记录条件的技术开发。
本发明是鉴于上述问题开发而成，其目的在于提供可以縮短信息记录前的测试时 间以便在短时间内记录信息的光记录方法、评价指标取得方法、光记录装置、单芯片 CPU元件、以及计算机程序。
发明内容
为解决上述问题，本发明提出一种光记录方法，是通过光记录装置对具有一个记录 层与其他记录层的包含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息记录时，在各记录层的
测试区域进行测试信息的记录与再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对上述记录媒体照射激光，由此记录信息，且上述光记录装置执行以下步骤基准记录层测试 歩骤，在上述一个记录层上，进行与记录条件的种类变更相应的测试信息的记录与再生； 基准记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果，导出 适合将信息记录到一个记录层上的照射条件；其他记录层测试步骤，以测试记录条件的 种类变更次数少于上述基准记录层测试步骤中的变更次数，在上述其他记录层上进行测 试信息的记录与再生；以及其他记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步 骤所取得的测试结果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息 记录到上述其他记录层上的照射条件。
根据本发明的光记录方法，在上述基准记录层测试步骤中，在上述一个记录层上， 进行与记录条件的种类变更相应的测试信息的记录与再生，另外，在上述基准记录层照 射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息 记录到一个记录层上的照射条件。
此外，在上述其他记录层测试步骤中，以测试记录条件的种类的变更次数少于上述
基准记录层测试步骤中的变更次数，在上述其他记录层上进行测试信息的记录与再生， 而且，在上述其他记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的 测试结果与上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到上述其 他记录层上的照射条件，并利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种光记录方法，是通过光记录装置在对具有 一个记录层与其他记录层的包含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息时，在各记录 层的测试区域进行测试信息的记录与再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对 上述记录媒体进行激光照射，由此记录信息，上述光记录装置执行以下步骤基准记录 层测试步骤，在上述一个记录层上，进行与记录条件的种类变更相应的测试信息的记录 与再生；基准记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结 果，导出适合将信息记录到一个记录层上的照射条件；其他记录层测试步骤，在上述基 准记录层测试步骤的测试记录条件中的任一种测试记录条件下，在上述其他记录层上进 行测试信息的记录与再生；以及其他记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测 试步骤所取得的测试结果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将 信息记录到上述其他记录层上的照射条件。
根据本发明，在上述基准记录层测试步骤中，在上述一个记录层上进行与记录条件 的种类变更相应的测试信息的记录与再生，而且，在上述基准记录层照射条件导出步骤 中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到一个记录 层上的照射条件。
此外，在上述其他记录层测试步骤中，在上述基准记录层测试步骤的测试记录条件 中的任一种测试记录条件下，于上述其他记录层上进行测试信息的记录与再生，而且， 在上述其他记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结 果与上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到上述其他记录 层上的照射条件，并利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种光记录方法，是通过光记录装置对具有一 个记录层与其他记录层的包含多层的记录媒体激光照射并记录信息时，在各记录层的测 试区域进行测试信息的记录与再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对上述记 录媒体进行激光照射，由此记录信息，且上述光记录装置执行以下步骤基准记录层测 试步骤，在与多次条件变更相应的测试记录条件下，在上述一个记录层上进行测试信息 的记录与再生；基准记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步骤所取得的 测试结果，导出适合将信息记录到一个记录层上的照射条件；其他记录层测试步骤，以
测试记录条件数少于上述基准记录层测试步骤中所使用的条件数，在上述其他记录层上 进行测试信息的记录与再生；以及其他记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层 测试步骤所取得的测试结果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合 将信息记录到上述其他记录层上的照射条件。
根据本发明，在上述基准记录层测试步骤中，于上述一个记录层上，在多次条件变 更相应的测试记录条件下，进行测试信息的记录与再生，而且，在上述基准记录层照射 条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记 录到一个记录层上的照射条件。
此外，在上述其他记录层测试步骤中，以测试记录条件数少于上述基准记录层测试 步骤中所使用的条件数，在上述其他记录层上进行测试信息的记录与再生，而且，在上 述其他记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果与 上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到上述其他记录层上 的照射条件，并利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种光记录方法，是通过光记录装置在对具有 一个记录层与其他记录层的包含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息时，在各记录 层的测试区域进行测试信息的记录与再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对 上述记录媒体进行激光照射，由此记录信息，且上述光记录装置执行以下步骤基准记 录层测试步骤，在多种测试记录条件下，在上述一个记录层上进行测试信息的记录与再 生；基准记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果， 导出适合将信息记录到一个记录层上的照射条件；其他记录层测试步骤，在上述其他记 录层上进行测试信息的记录与再生；以及其他记录层照射条件导出步骤，根据上述基准 记录层测试步骤所取得的测试结果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导 出适合将信息记录到上述其他记录层上的照射条件，且上述基准记录层测试步骤包括 第1测试信息记录步骤，在上述一个记录层上记录测试信息，以及第1测试信息再生步 骤，再生由上述第1测试信息记录步骤所记录的测试信息；上述其他记录层测试步骤包 括第2测试信息记录步骤，在上述其他记录层上记录测试信息，以及第2测试信息再 生步骤，再生由上述第2测试信息记录步骤所记录的测试信息；且将上述第2测试信息 记录步骤与上述第2测试信息再生步骤的转换次数设为少于上述第1测试信息记录步骤 与上述第1测试信息再生步骤的转换次数。
根据本发明，在上述基准记录层测试步骤中，于上述一个记录层上，在多种测试记
录条件下，对测试信息进行记录的第1测试信息记录步骤与对上述第1测试信息记录步
骤所记录的测试信息进行再生的第1测试信息再生步骤，以特定次数进行转换。
此外，基准记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测 试结果，导出适合将信息记录到一个记录层上的照射条件。
另外，在上述其他记录层测试步骤中，在上述其他记录层上，对测试信息进行记录 的第2测试信息记录步骤、与对上述第2测试信息记录步骤所记录的测试信息进行再生 的第2测试信息再生步骤，以少于上述基准记录层测试步骤中的转换次数进行转换。
此外，在上述其他记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取 得的测试结果与上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到上 述其他记录层上的照射条件，并利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种光记录方法，是通过光记录装置在对具有 一个记录层与其他记录层的包含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息时，在各记录 层的测试区域进行测试信息的记录与再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对 上述记录媒体进行激光照射，由此记录信息，且上述光记录装置执行以下步骤基准记 录层测试步骤，在上述一个记录层上，多次设置通过记录条件的阶段性变更所构成的测 试信息的记录与再生；基准记录层照射条件导出步骤，根据上述基准记录层测试步骤所 取得的测试结果，导出适合将信息记录到一个记录层上的照射条件；其他记录层测试步 骤，以测试信息的记录与再生的设置次数少于上述基准记录层测试步骤中的次数，在上 述其他记录层上进行测试信息的记录与再生；以及其他记录层照射条件导出步骤，根据 上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测 试结果，导出适合将信息记录到上述其他记录层上的照射条件。
根据本发明，在上述基准记录层测试步骤中，在上述一个记录层上，多次设置通过 记录条件的阶段性变更所构成的测试信息的记录与再生，而且，在上述基准记录层照射 条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记 录到一个记录层上的照射条件。
此外，在其他记录层测试步骤中，以测试信息的记录与再生的设置次数少于上述基 准记录层测试步骤中的次数，在上述其他记录层上进行测试信息的记录与再生，而且， 在上述其他记录层照射条件导出步骤中，根据上述基准记录层测试步骤所取得的测试结 果以及上述其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到上述其他记 录层上的照射条件，并利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种评价指标取得方法，是光记录方法的评价 指标取得方法，此光记录方法是通过光记录装置在对具有一个记录层与其他记录层的包
含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息时，在各记录层的测试区域记录测试信息以 后，对此所记录的测试信息进行再生，以取得用以决定激光照射条件的评价指标，并利 用此评价指标调整激光的照射条件，上述光记录装置执行以下步骤测试信息记录步骤， 在上述一个记录层上，使激光功率的记录条件阶段性变化，并记录测试信息；脉冲宽度 调整用评价指标变化的取得步骤，在对由上述测试信息记录步骤所记录的测试信息进行 再生时取得，此脉冲宽度调整用评价指标的变化含有激光功率记录条件的变化所对应的 脉冲相位偏移、长度偏移以及振幅偏移中的至少任一个；相互关系求得步骤，求出上述 激光功率的变化与上述所取得的脉冲宽度调整用评价指标的变化之相互关第；第2测试 信息记录步骤，在上述其他记录层上，使激光功率的记录条件阶段性变化，并记录测试 信息；计算步骤，使上述第2测试记录的结果符合上述相互关系，以计算出脉冲宽度调 整用评价指标的变化与其他记录层中激光功率的变化之关系；以及脉冲宽度调整用评价 指标的求得步骤，利用上述计算步骤所取得的关系，求出用以决定上述其他记录层中脉 冲宽度条件的脉冲宽度调整用评价指标。
根据本发明的评价指标取得方法，计算出上述一个记录层中激光功率的变化与脉冲 宽度评价指标变化的相互关系、以及上述其他记录层中激光功率的变化与脉冲宽度评价 指标变化的关系，并利用此关系，求出用以决定上述其他记录层中脉冲宽度条件的脉冲 宽度调整用评价指标。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种评价指标取得方法，是光记录方法的评价
指标取得方法，此光记录方法是通过光记录装置在对具有一个记录层与其他记录层的包
含多层的记录媒体进行激光照射并记录信息时，在各记录层的测试区域记录测试信息以
后，对此所记录的测试信息进行再生，以取得激光照射条件的评价指标，并利用此评价
指标调整激光的照射条件，上述光记录装置执行以下步骤测试信息记录步骤，在上述
一个记录层上，使脉冲宽度的记录条件阶段性变化，并记录测试信息；激光功率调整用
评价指标变化的取得步骤，在对通过上述测试信息记录步骤而记录到上述一个记录层上
的测试信息进行再生时，取得脉冲宽度记录条件的变化所对应的激光功率调整用评价指
标；相互关系求得步骤，求出上述脉冲宽度的变化与上述激光功率调整用评价指标的变
化之相互关系；第2测试信息记录步骤，在上述其他记录层上，使脉冲宽度的记录条件
阶段性变化，并记录测试信息；计算步骤，使上述第2测试记录的结果符合上述相互关
系，以计算出激光功率调整用评价指标的变化与其他记录层中的脉冲宽度记录条件的变
化之关系；以及激光功率调整用评价指标的求得步骤，利用上述计算步骤所取得的关系，
求出用以决定上述其他记录层中激光功率条件的激光功率调整用评价指标。
根据本发明的评价指标取得方法，在一个记录层上，使脉冲宽度的记录条件阶段性 变化，以记录测试信息，且对一个记录层上所记录的测试信息进行再生时，取得与脉冲 宽度的记录条件变化所对应的激光功率调整用评价指标。此外，求出脉冲宽度的变化与 激光功率调整用评价指标的变化之相互关系。而且，对于其他记录层，使脉冲宽度的记 录条件阶段性变化，以记录测试信息，且使此记录结果符合上述相互关系，以计算出其 他记录层中脉冲宽度的记录条件变化所对应的激光功率调整用评价指标。
另外，为解决上述问题，本发明提出一种评价指标取得方法，是光记录方法的评价 指标取得方法，此光记录方法是通过光记录装置在对记录媒体的记录层进行激光照射并 记录信息时，在上述记录层上进行信息的记录与信息的再生，以取得激光照射条件的评 价指标，并利用此评价指标调整激光的照射条件，上述光记录装置执行以下步骤信息 记录步骤，在上述记录层上进行测试记录信息与/或用户数据记录信息的记录，以及多种 评价指标的取得步骤，将上述信息记录步骤所记录的信息进行再生，并由此再生信息而 取得与激光照射条件相关的多种评价指标。
根据本发明的评价指标取得方法，在上述记录层上记录信息，且将以此记录的信息 再生，并由此再生信息与上述记录条件而取得与激光照射条件相关的多种评价指标。
另外，为解决上述问题，本发明提出具备上述光记录方法中的各处理步骤之执行单 元的光记录装置、用于此光记录装置的单芯片CPU元件、以及驱动用于上述光记录装 置的CPU以实行上述光记录方法的计算机程序。
根据本发明的光记录方法，对于一个记录层，进行与记录条件的种类变更相应的测 试信息的记录与再生，根据此所取得的测试结果，导出适合将信息记录到一个记录层上 的照射条件，此外，以测试记录条件的种类变更次数少于基准记录层测试步骤的变更次 数，在其他记录层上进行测试信息的记录与再生，并根据一个记录层的测试结果与其他 记录层的测试结果，导出适合将信息记录到其他记录层上的照射条件，且利用此照射条 件在其他记录层上进行信息记录，因此可以缩短用以导出其他记录层的照射条件的测试 时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。此外，与先 前相比，可以减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的光记录方法，在一个记录层上进行与记录条件的种类变更相应
的测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到一个记录层上的
照射条件，此外，在基准记录层测试步骤的测试记录条件中的任一种测试记录条件下，
在其他记录层上进行测试信息的记录与再生，并根据一个记录层的测试结果与其他记录
层的测试结果，导出适合将信息记录到其他记录层上的照射条件，再利用此照射条件将 信息记录到上述其他记录层上，因此可以縮短用以导出其他记录层照射条件的测试时 间，故可以缩短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。此外，与先前 相比，可以减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的光记录方法，对于一个记录层，在与多次条件变更相应的测试 记录条件下进行测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到一 个记录层上的照射条件，此外，以测试记录条件数少于基准记录层测试步骤中所使用的 条件数，在其他记录层上进行测试信息的记录与再生，并根据基准记录层测试步骤所取 得的测试结果与其他记录层测试步骤所取得的测试结果，导出适合将信息记录到其他记 录层上的照射条件，且利用此照射条件在其他记录层上进行信息记录，因此可以缩短用 以导出其他记录层照射条件的测试时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以 在短时间内记录信息。此外，与先前相比，可减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的光记录方法，在一个记录层上，在多种测试记录条件下进行测 试信息的记录与再生时，此记录与再生以特定次数进行转换，并根据此测试结果，导出 适合将信息记录到一个记录层上的照射条件，此外，在其他记录层上进行测试信息的记 录与再生时，此记录与再生以少于上述一个记录层中的转换次数进行转换，并根据一个
记录层的测试结果与其他记录层的测试结果，导出适合将信息记录到其他记录层上的照 射条件，且利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上，因此可以縮短用以导出其 他记录层照射条件的测试时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间 内记录信息。此外，与先前相比，可以减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的光记录方法，在一个记录层上，多次设置通过记录条件的阶段 性变更所构成的测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到一 个记录层上的照射条件，此外，在其他记录层上，以测试信息的记录与再生的设置次数 少于上述一个记录层的测试中的次数，进行测试信息的记录与再生，并根据一个记录层 的测试结果与其他记录层的测试结果，导出适合将信息记录到其他记录层上的照射条 件，且利用此照射条件将信息记录到上述其他记录层上，因此可以缩短用以导出其他记 录层照射条件的测试时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记 录信息。此外，与先前相比，可以减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的评价指标取得方法，计算出一个记录层中激光功率的变化与脉
冲宽度评价指标的变化之相互关系、以及其他记录层中激光功率的变化与脉冲宽度评价
指标的变化之关系，并利用此关系，求出用以决定上述其他记录层中脉冲宽度条件的脉
冲宽度调整用评价指标，因此计算出上述其他记录层中的脉冲宽度评价指标，且为了求 出此脉冲宽度评价指标而无须进行实际的测试记录，因此可以縮短用以导出其他记录层 照射条件的测试时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信 息。此外，与先前相比，可减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的评价指标取得方法，使其他记录层中脉冲宽度的记录条件阶段 性变化而测试的记录结果，符合一个记录层中脉冲宽度的变化与激光功率调整用评价指 标的变化之相互关系，且计算出其他记录层中脉冲宽度的记录条件变化所对应的激光功 率调整用评价指标，因此无须以评价指标的种类为单位记录测试信息，故而可以縮短测 试时间，且可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。此外，与 先前相比，可以减小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的评价指标取得方法，在记录层上使记录条件阶段性变化而记录 测试信息，并将由此记录的测试信息再生，根据此再生信息与上述记录条件，取得与激 光照射条件相关的多种评价指标，因此无须以评价指标的种类为单位记录测试信息，故 而可以縮短测试时间，且可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信 息。此外，与先前相比，可縮小用于测试记录的记录区域。
另外，根据本发明的光记录装置，可易于实现上述光记录方法。 此外，根据本发明的微CPU元件，可易于实现上述光记录方法。 另外，根据本发明的计算机程序，使用任意CPU即可易于实现上述光记录方法。
图1是本发明第1实施形态中的光记录装置结构与光碟结构的示意图。 图2是说明对本发明第1实施形态中的第1记录层进行记录处理的流程图。 图3是说明对本发明第1实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的流 程图。
图4是激光功率调整用测试记录中阶段性激光功率变化的说明图。 图5是表示激光功率与P关系的特性关系示意图。
图6是表示激光功率与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系示意图。 图7是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特 性关系示意图。
图8是表示激光功率与脉冲相位的关系中的相位校正参数的特性关系示意图。
图9是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特
性关系示意图。
图IO是表示激光功率与非对称性关系的特性关系示意图。
图11是表示激光功率与振幅关系中的相位校正参数的特性关系示意图。
图12是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的
特性关系示意图。
图13是表示激光功率与振幅关系中的相位校正参数的特性关系示意图。 图14是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的 特性关系示意图。
图15是说明对本发明第2实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的
流程图。
图16是说明对本发明第3实施形态中的第1记录层进行记录处理的流程图。 图17是说明对本发明第3实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图18是说明对本发明第4实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图19是说明对本发明第5实施形态中的第1记录层进行记录处理的流程图。 图20是说明对本发明第5实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图21是说明对本发明第6实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图22是说明对本发明第7实施形态中的第1记录层进行记录处理的流程图。 图23是说明对本发明第7实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图24是说明对本发明第8实施形态中除第1记录层以外的记录层进行记录处理的 流程图。
图25是先前例的图表示意图。
图26是先前例的策略表格示意图。
图27是说明对本发明第1实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。 图28是激光功率调整用测试记录中的阶段性激光功率变化的说明图。 图29是表示激光功率与(3关系的特性关系示意图。 图30是表示激光功率与脉冲相位关系的特性关系示意图。
图31是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的 特性关系示意图。
图32是表示激光功率与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关系示意图。 图33是表示脉冲上升与下降的位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的 特性关系示意图。 [符号的说明〗
10 光碟(记录媒体)
11 第1记录层(一个记录层)
12 第2记录层(其他记录层)
13 第3记录层(其他记录层) 100 光记录装置
110 光学拾波器
111 激光二极管(LD)
112 光电探测器(PD)
113 准直透镜
114 物镜
115 检测透镜
116 光束分裂器
121 LD驱动器
122 切割机
123 解调电路
124 特征值检测部
125 单芯片CPU元件(CPU)
126 存储电路
127 存储器
128 界面(I/F)
131 显示部
132 操作部
具体实施例方式
以下，参照
本发明的一实施形态。
图1是本发明第1实施形态中的光记录装置结构与光碟结构的示意图。图中，10表 示光碟，是众所周知的DVD、 HD-DVD、 Blu-ray (蓝光)光碟等多层光记录媒体，本实 施形态中，表示从距离激光照射面最远位置开始依次具有第1记录层11、第2记录层 12、第3记录层13的3个记录层的光记录媒体。再者，本实施形态中是利用具有3个 记录层的光记录媒体进行说明，也可以将具有2层以上记录层的光记录媒体作为光碟10， 利用光记录装置IOO进行信息的记录再生。
IOO表示光记录装置，具备光学拾波器110、激光二极管(以下称为LD)驱动器121、 切割机122、解调电路123、特征值检测部124、单芯片CPU元件(以下称为CPU) 125、 存储器127、以及界面(以下称为I/F) 128。再者，此处仅揭示与本发明具有特别关系 的结构部分并进行说明。
而且，光记录装置100中，连接有由个人计算机或显示器等构成的显示部131以及 由键盘等构成的操作部132。
光学拾波器IIO具有激光二极管(以下称为LD) 111、光电探测器(以下称为PD) 112、准直透镜113、物镜114、检测透镜115、以及光束分裂器116。从LD111射出的 激光透过准直透镜113、光束分裂器116与物镜114而照射至光碟10上。
另外，由光碟10反射的激光透过物镜114以后，由光束分裂器116反射，并经由 检测透镜115而射入PD112中。PD112输出与所射入光的光量值相对应的电流。
LD驱动器121根据从CPU元件125输入的记录信号，将驱动电流供给到LD111 中，以使LD111发光。
切割机122对输出电流在特定的阈值进行切割，并将其转化为二值化电压信号而从 PD112输出。
解调电路123是对从切割机122输出且经编码的二值化信号进行解调，并且输出到 CPU125的电路，例如，将从切割机122输出的二值化电压信号，即以3T 11T的脉冲 宽度进行EFM调制编码的信号加以解调后，将所获得的数字信号输出到CPU125中。
特征值检测部124输入从PD112所输出的电流信号，根据此电流值，并由来自光碟 IO的反射光而检测特征值，将其作为数字信息输出到CPU125中。作为由此反射光所检 测的特征值，例如依存于记录激光功率或记录脉冲条件，且具有相应于使记录脉冲条件 最佳的特征值即可，本实施形态中，检测出P、非对称性(Asymmetry)、相位、振幅 等。
CPU125是众所周知的单芯片CPU元件，具备存储电路126，此存储电路126之内
部存储有用以使CPU运行的计算机程序。另外，CPU125控制驱动机构部(未图示)，
调整光学拾波器110的位置、跟踪、焦距以及进行光碟10的旋转驱动控制，并根据存 储到存储器127中的数据表格，将从外部输入的信息记录到光碟10中(写入)，或者
读出记录到光碟io中的信息并输出到外部装置。而且，通过下述处理，在对光碟10记
录信息时进行测试，求出最佳的激光条件，以进行信息记录。
存储电路127与CPU125连接，在其内部，将与其他种类光碟所对应的数据记录到 数据表格，作为与先前例相同的策略表格。
I/F128是用以将CPU与外部显示部131及操作部132相连接的界面，将外部装置与 CPU125之间的记录 再生信息加以传送。
上述结构中，利用从LDlll输出的激光，对光碟IO进行信息的记录再生，在与个 人计算机(PC)等外部装置之间进行信息的发送与接收。再者，光记录装置100在将信 息记录到光碟10中时，依次以第1记录层11、第2记录12、第3记录层13的顺序记 录信息。
对光碟10进行信息记录时，将记录信息进行编码，利用CPU125对此编码后的记 录信息进行处理，由此决定作为对光碟10的记录条件的策略，利用LD驱动器121将此 策略转换为记录脉冲，并从LD111输出根据此记录脉冲而脉冲化的激光。
LD驱动器121根据所输入的记录脉冲驱动LDlll， LD111与此记录脉冲对应而控 制输出激光，使此受控制的激光经由准直透镜113、光束分裂器116、物镜114，照射到 以线速度固定或旋转速度固定的方式而旋转的光碟10上，由此将与预期记录信息对应 的由凹坑与间隙列所构成的记录图案记录到光碟10上。
另外，将信息记录到光碟IO中时，如众所周知，在光碟IO的测试区域进行测试信 息的记录与测试信息的再生，以决定最佳的激光照射条件。本实施形态的光记录装置100 中，决定此激光照射条件的测试时间与先前相比可以縮短。
以下，详细说明决定本实施形态中激光照射条件的方法。
图2与图3是说明对第1实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。将执行此处 理的计算机程序预先存储在CPU125的存储电路126中，由CPU125进行以上处理。另 外，本实施形态中，将信息记录到光碟10的第1记录层11时的测试处理，与先前大致 相同，而将信息记录到除第1记录层11以外的记录层时的测试处理，与第l记录层ll 中的测试处理不同，前者时间可以縮短。
即，将信息记录在第1记录层11中时，执行图2所示的处理。此处理中，使与先
前相同的记录激光强度最佳化(OPC: Optimum Power Control,最佳功率控制，以下称
为OPC)，由此在以下两种测试记录条件下进行测试，即，特定次数的激光功率调整用
测试记录，与特定次数的脉冲宽度调整用测试记录，并将所记录的信息再生(SA1)， 检测出激光照射条件下的参数(评价指标)(SA2)。作为此参数，例如DVD时列举卩 (非对称性)、激光照射功率、脉冲相位等。另外，激光功率调整用测试记录如图4所 示，是使激光功率(WrigtePW)阶段性变化而进行，脉冲宽度调整用测试记录同样地， 是使脉冲宽度阶段性变化而进行。再者，进行上述参数检测时，在可以使用存储器127 中所存储的策略表格的数据之情形下使用，而对于无法使用存储器127中所存储的策略 表格的数据之未知种类的光碟10，则进行众所周知的自动策略检测处理。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SA3)。作为此特性关系式，例如 导出表示如图5中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与|3关系的特性关系式、表示如 图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关 系式、以及表示如图7中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。此处，由使激光功率阶段性变化 而记录的测试信息，导出表示两种参数(评价指标)，即表示如图5中图表所示的激 光功率(Wrigte PW)与卩关系的特性关系式，与表示如图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关系式。
此后，使用由上述已求出的特性关系式所取得的参数，导出激光功率与脉冲宽度的 最佳值(SA4)。此外，判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用 于以特定品质所进行的信息记录(SA5)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的 激光功率与脉冲宽度中的至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条
件变化所对应的激光功率调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)， 成为适合以特定品质进行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SA5的判定结果可以适用时，转到下述SA8的处理，当其不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成记录中止(SA6)，判断是否为记 录中止(SA7)，当记录中止时，转到下述SA10的处理，在使记录速度降低而设定时， 转到上述SA5的处理。
当上述SA5的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与
处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟
10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SA8)。以此方式，作为记录而保留，可
以在其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记
录测试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器
127的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，
而且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SA9)。其次，使上述判
断结果与处理内容显示于显示部131 (SA10)，并结束对第1记录层11的信息记录。
再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显示部131。 另外，在对除第1记录层11以外的其他记录层12、 13进行信息记录时，执行如图
3所示的处理。
艮P，将信息记录到除第1记录层11以外的记录层12、 13时，执行图3所示的处理。 此处理中，通过与先前相同的OPC，仅以记录次数少于第1记录层11中的次数，进行 仅为激光功率调整用测试记录的一种测试记录条件下的测试，并将所记录的信息再生 (SB1)，检测出激光照射条件下的参数(评价指标)(SB2)。另外，激光功率调整 用测试记录如图4所示，是使激光功率(WrigtePW)阶段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SB3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参 数的特性关系式。
此后，利用由上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而 取得的参数，预测表示其他记录层12、 13中的脉冲位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲 相位校正参数，即如图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse(Topr， Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式(SB4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SB5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的信 息记录(SB6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质进 行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SB6的判定结果可以适用时，转到下述SB9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SB7)，判断是否为 记录中止(SB8)，当记录中止时，转到下述SB11的处理，在使记录速度降低而设定 时，转到上述SB6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中 止，而再次从上述SB1的处理开始重复执行。
当上述SB6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与
处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟
10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SB9)。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟10进行信息记录(SB10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SB12)，并结束对第2或第3记录层12、 13
的信息记录。
根据上述实施形态，对第1记录层11进行与记录条件的种类变更相应的测试信息 的记录与再生，并根据由此所取得的测试结果，导出适合将信息记录到第1记录层11 上的照射条件，此外，以测试记录条件的种类变更次数少于第1记录层的测试中所进行 的变更次数，在第2与第3记录层12、 13上进行测试信息的记录与再生，且根据第1 记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信息记录到 第2或第3记录层12、 13上的照射条件，并利用此照射条件对第2或第3记录层12、 13进行信息记录，因而可以缩短用以导出第2与第3记录层12、 13的照射条件的测试 时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使激光功率变化的测试， 而不进行使用较多时间与测试区域来使脉冲宽度变化的测试，因此可以进一步縮短测试 时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对(3的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅进行激光功率调整用测试，并且在使测试记录条 件数减少以缩短测试时间后，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
而且，根据本实施形态的光记录装置100，可易于实现上述光记录方法。此外，根 据本实施形态的微CPU元件125，可易于实现上述光记录方法。另外，根据本实施形态 的计算机程序，使用任意的CPU可易于实现上述光记录装置100与光记录方法。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而使
用HD-DVD作为光碟10时，也可以利用同样的处理而取得上述效果。另外，使用众所
周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，由于与DVD的规格不同，因此在第l记录层中，
导出表示如图IO中图表所示的激光功率(Write PW)与非对称性(Asymmetry)关系的
特性关系式、表示如图11中图表所示的激光功率(Write PW)与振幅关系中的相位校
正参数的特性关系式、以及表示如图12中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse
(Topr， Tlast))与振幅关系中的相位校正参数的特性关系式，且在除第l记录层以外
的记录层中，通过测试而求出表示如图13中图表所示的激光功率(Write PW)与振幅
关系中的相位校正参数的特性关系式，由上述特性关系式的相互关系，预测表示其他记 录层中如图14中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与振 幅关系中的相位校正参数的特性关系式，故可以求出其他记录层中的最佳值。另外，所 谓脉冲宽度调整用参数(评价指标)是指相位偏移、长度偏移、振幅偏移。 其次，说明本发明的第2实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第2实施形态中，所使用的CPU125中存储有与除第1记录层11以外的记录层 12、 13的记录处理互不相同的计算机程序。在以下的说明中，与第l实施形态具有相同 结构的部分使用相同符号加以说明。
艮口，本实施形态的光记录装置100中，对光碟10中第1记录层11的信息记录处理 与图2中流程图所示的第1实施形态的处理相同。而且，对除第1记录层11以外的记 录层12、 13的信息记录处理如图15的流程图所示，通过与先前相同的OPC，仅以记录 次数少于第1记录层11中的次数，进行仅为脉冲宽度调整用测试记录的一种测试记录 条件下的测试，并将所记录的信息再生(SC1)，检测出激光照射条件下的参数(评价 指标)(SC2)。另外，脉冲宽度调整用测试记录是使脉冲宽度阶段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SC3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图9中图所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与脉冲 相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。
此后，利用上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而取 得的参数，预测表示其他记录层12、 13中激光功率与脉冲的位置偏移关系中的脉冲相 位校正参数，即如图8中图所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校 正参数的特性关系式(SC4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SC5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的信 息记录(SC6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质进 行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SC6的判定的结果可以适用时，转到下述SC9的处理，当结果不可以适用
时，设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成中止记录(SC7)，判断是否
为记录中止(SC8)，当记录中止时，转到下述SC11的处理，在使记录速度降低而设
定时，转到上述SC6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录 中止，而再次从上述SC1的处理开始重复执行。
上述SC6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与处 理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟10 的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SC9)。以此方式，作为记录而保留，可以在 其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记录测 试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器127 的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，而 且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SC10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SC12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显 示部131。
根据上述实施形态，对第1记录层11进行与记录条件的种类变更相应的测试信息 的记录与再生，并根据由此所取得的测试结果，导出适合将信息记录到第1记录层11 上的照射条件，此外，以测试记录条件的种类变更次数少于第1记录层的测试中所进行 的变更次数，在第2与第3记录层12、 13上进行测试信息的记录与再生，且根据第1 记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信息记录到 第2或第3记录层12、 13上的照射条件，并利用此照射条件对第2或第3记录层12、 13进行信息记录，因而可以縮短用以导出第2与第3记录层12、 13的照射条件的测试 时间，故可以縮短信息记录前的测试时间，从而能够在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使脉冲宽度变化的测试， 因此可以进一歩縮短测试时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对P的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅进行脉冲宽度调整用测试，并且在使测试记录条 件数减少以縮短测试时间后，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟加以说明，而与第l 实施形态同样地使用HD-DVD或众所周知的Blu-my碟片作为光碟10时，也可以利用 同样的处理取得上述效果。
其次，说明本发明的第3实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第3实施形态中，所使用的CPU125中存储有光碟10中各记录层11、 12、 13的
记录处理互不相同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实施形态具有相同结构的部 分使用相同符号加以说明。
图16与图17是说明对第3实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。执行此处 理的计算机程序预先存储在CPU125的存储电路126中，并通过CPU12进行上述处理。 而且，本实施形态中，将信息记录到光碟10的第1记录层11时的测试处理与先前大致 相同，而将信息记录到除第1记录层11以外的记录层时的测试处理，与第l记录层ll 中的测试处理不同，前者时间可以縮短。
艮P，将信息记录到第1记录层11时，执行图16中流程图所示的处理。此处理中， 通过与先前相同的OPC，在以下两种测试记录条件下进行测试，即，特定条件数的激光 功率调整用测试记录，与特定条件数的脉冲宽度调整用测试记录，并将所记录的信息再 生(SD1)，检测出激光照射条件下的参数(评价指标)(SD2)。
例如，作为用于激光功率调整用测试记录，是在激光功率为lmW、2mW-----10mW
的10个条件下进行。此外，脉冲宽度调整用测试记录也同样地在不同的IO个条件下进 行。
另外，作为参数，例如在DVD时列举P (非对称性)、激光照射功率、脉冲相位 等。而且，激光功率调整用测试记录如图4所示，使激光功率(Wrigte PW)阶段性变 化而进行，脉冲宽度调整用测试记录同样地，使脉冲宽度阶段性变化而进行。再者，进 行上述参数检测时，在可以使用存储器127中所存储的策略表格的数据之情形下使用， 而对于无法使用存储器127中所存储的策略表格的数据之未知种类的光碟10，则进行众 所周知的自动策略检测处理。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SD3)。作为此特性关系式，例如
导出表示如图5中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与P关系的特性关系式、表示如
图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关
系式、以及表示如图7中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))
与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。此处，由使激光功率阶段性变化
而记录的测试信息，导出表示两种参数(评价指标)，即表示图5中图表所示的激光
功率(Wrigte PW)与卩关系的特性关系式，与表示如图6中图表所示的激光功率(Wrigte
PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关系式。此后，使用由上述己求出的特性关系式所取得的参数，导出激光功率与脉冲宽度的 最佳值(SD4)。此外，判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用 于以特定品质所进行的信息记录(SD5)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的
激光功率与脉冲宽度中的至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条 件变化所对应的激光功率调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，
成为适合以特定品质进行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SD5的判定结果可以适用时，转到下述SD8的处理，当其不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SD6),判断是否为 记录中止(SD7)，当记录中止时，转到下述SD10的处理，在使记录速度降低而设定 时，转到上述SD5的处理。
当上述SD5的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 IO的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SD8)。以此方式，作为记录而保留，可 以在其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记 录测试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器 127的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息， 而且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SD9)。其次，使上述判 断结果与处理内容显示于显示部131 (SD10)，并结束对第1记录层11的信息记录。 再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显示部131。
另外，在对除第1记录层11以外的其他记录层12、 13进行信息记录时，执行如图 17中流程图所示的处理。
艮口，将信息记录到除第1记录层11以外的记录层12、 13时，执行图17所示的处 理。此处理中，通过与先前相同的OPC，仅以记录条件数少于第1记录层11中的条件 数，进行仅为激光功率调整用测试记录的一种测试记录条件下的测试，并将所记录的信 息再生(SE1)，检测出激光照射条件下的参数(评价指标)(SE2)。另外，激光功率 调整用测试记录如图4所示，是使激光功率(Wrigte PW)阶段性变化而进行。此处， 使用第1记录层11的测试记录中所使用IO个条件(lmW、 ...、 10mW)中的5个条件 进行测试记录。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SE3)。作为此特性关系式，例如，
导出表示如图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参
数的特性关系式。
此后，利用上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而取 得的参数，预测表示其他记录层12、 13中的脉冲位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相 位校正参数，即如图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr,Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式(SE4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SE5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的信 息记录(SE6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质进 行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SE6的判定结果可以适用时，转到下述SE9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SE7)，判断是否为 记录中止(SE8)，当记录中止时，转到下述SEll的处理，在使记录速度降低而设定时， 转到上述SE6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中止， 而再次从上述SE1的处理开始重复执行。
当上述SE6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SE9)。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SE10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SE12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。
根据上述实施形态，在与IO次条件变更相应的测试记录条件下，对第1记录层11
进行测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到第1记录层11
上的照射条件，此外，在其他记录层12、 13上，以测试记录条件数少于第1记录层的
测试记录中所使用的条件数5个时，进行测试信息的记录与再生，并根据第l记录层ll
的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信息记录到第2或第3
记录层12、 13上的照射条件，且利用此照射条件将信息记录到第2或第3记录层12、
13,故可以缩短用以导出第2或第3记录层12、 13的照射条件的测试时间，因此可以
縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使激光功率变化的测试，
而不进行使用较多时间与测试区域来使脉冲宽度变化的测试，因此可以进一步缩短测试 时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对P的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅使条件数减少而进行激光功率调整用测试，并且 可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而使 用HD-DVD或众所周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，也可以利用同样的处理而取得 上述效果。
其次，说明本发明的第4实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第4实施形态中，所使用的CPU125中存储有除第1记录层11以外的记录层12、 13的记录处理与第3实施形态中的部分不同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实 施形态具有相同结构的部分使用相同符号加以说明。
艮口，本实施形态的光记录装置100中，对光碟10中第1记录层11的信息记录处理 与图16中流程图所示的第3实施形态的处理相同。而且，对除第1记录层11以外的记 录层12、 13的信息记录处理如图18的流程图所示，通过与先前相同的OPC，仅以条件 数少于第1记录层11中的条件数，进行仅为脉冲宽度调整用测试记录的一种测试记录 条件下的测试，并将所记录的信息再生(SF1)，检测出激光照射条件下的参数(评价 指标)(SF2)。另外，脉冲宽度调整用测试记录是使脉冲宽度阶段性变化而进行。此 处，使用第1记录层11的测试记录中所使用的IO个脉冲宽度条件中的5个条件进行测 试记录。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SF3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与脉 冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。
此后，利用上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而取
得的参数，预测表示其他记录层12、 13中激光功率与脉冲相位关系的脉冲相位校正参
数，即如图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数
的特性关系式(SF4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SF5)。此外，
判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的信 息记录(SF6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质迸 行记录信息的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SF6的判定结果可以适用时，转到下述SF9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SF7)，判断是否为 记录中止(SF8)，当记录中止时，转到下述SFll的处理，在使记录速度降低而设定时， 转到上述SF6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中止， 而再次从上述SF1的处理开始重复执行。
上述SF6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与处 理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟10 的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SF9)。以此方式，作为记录而保留，可以在 其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记录测 试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器127 的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，而 且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SF10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SF12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显 示部131。
根据上述实施形态，在与IO次条件变更相应的测试记录条件下，对第l记录层ll 进行测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到第l记录层11 上的照射条件，此外，在其他记录层12、 13上，以测试记录条件数少于第1记录层的 测试记录中所使用的的条件数5个时，进行测试信息的记录与再生，并根据第l记录层 11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信息记录到第2或 第3记录层12、 13上的照射条件，且利用此照射条件将信息记录到第2或第3记录层 12、 13，故可以縮短用以导出第2或第3记录层12、 13的照射条件的测试时间，因此 可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使脉冲宽度变化的测试， 因此可以进 一 步縮短测试时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对I3的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅进行脉冲宽度调整用测试，并且在使测试记录条 件数减少以縮短测试时间后，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而与 第1实施形态同样地，使用HD-DVD或众所周知的Blu-my碟片作为光碟10时，也可 以利用同样的处理而取得上述效果。
其次，说明本发明的第5实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第5实施形态中，所使用的CPU125中存储有光碟10中各记录层11、 12、 13的 记录处理互不相同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实施形态具有相同结构的部 分使用相同符号加以说明。
图19与图20是说明对第5实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。执行此处 理的计算机程序预先存储在CPU125的存储电路126中，并通过CPU125进行上述处理。 而且，本实施形态中，将信息记录到光碟10的第1记录层11时的测试处理与先前大致 相同，而将信息记录到除第1记录层11以外的记录层时的测试处理，与第l记录层ll 中的测试处理不同，前者时间可以縮短。
艮P，将信息记录到第1记录层11时，执行图19中流程图所示的处理。此处理中， 通过与先前相同的OPC，在以下两种测试记录条件下进行测试，即，激光功率调整用测 试记录与脉冲宽度调整用测试记录，并将所记录的信息再生(SG1)，检测出激光照射 条件下的参数(评价指标)(SG2)。此时，记录与再生以特定次数进行转换。
另外，作为参数，例如在DVD时列举p (非对称性)、激光照射功率、脉冲相位 等。而且，激光功率调整用测试记录如图4所示，使激光功率(Wrigte PW)阶段性变 化而进行，脉冲宽度调整用测试记录同样地，使脉冲宽度阶段性变化进行。再者，进行 上述参数检测时，在可以使用存储器127中所存储的策略表格的数据之情形下使用，而 对于无法使用存储器127中所存储的策略表格的数据之未知种类的光碟10，则进行众所 周知的自动策略检测处理。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SG3)。作为此特性关系式，例如
导出表示如图5中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与P关系的特性关系式、表示如
图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关
系式、以及表示如图7中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， TIast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。此处，由使激光功率阶段性变化 而记录的测试信息，导出表示两种参数(评价指标)，即表示图5中图表所示的激光 功率(Wrigte PW)与p关系的特性关系式，与表示如图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关系式。
此后，使用由上述已求出的特性关系式所取得的参数，导出激光功率与脉冲宽度的 最佳值(SG4)。此外，判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用 于以特定品质所进行的信息记录(SG5)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的 激光功率与脉冲宽度中的至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条 件变化所对应的激光功率调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)， 成为适合以特定品质进行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SG5的判定结果可以适用时，转封下述SG8的处理，当其不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SG6)，判断是否为 记录中止(SG7)，当记录中止时，转到下述SG10的处理，在使记录速度降低而设定 时，转到上述SG5的处理。
当上述SG5的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SG8)。以此方式，作为记录而保留，可 以在其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记 录测试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器 127的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息， 而且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SG9)。其次，使上述判 断结果与处理内容显示于显示部131 (SG10)，并结束对第1记录层11的信息记录。 再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显示部131。
另外，在对除第1记录层11以外的其他记录层12、 13进行信息记录时，执行图20 中流程图所示的处理。此处理中，通过与先前相同的OPC，仅以记录与再生的转换次数 少于第1记录层11中的转换次数，进行仅为激光功率调整用测试记录的一种测试记录 条件下的测试，并将所记录的信息再生(SH1)，检测出激光照射条件下的参数(评价 指标)(SH2)。另外，激光功率调整用测试记录如图4所示，是使激光功率(WrigtePW) 阶段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SH3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参 数的特性关系式。
此后，利用上述所求出的特性关系式与第1记录层U中所求出的特性关系式而取 得的参数，预测表示其他记录层12、 13中的脉冲位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相 位校正参数，即表示图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(PuIse(Topr， Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式(SH4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SH5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的记 录信息(SH6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质进 行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SH6的判定结果可以适用时，转到下述SH9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SH7)，判断是否为 记录中止(SH8)，当记录中止时，转到下述SH11的处理，在使记录速度降低而设定 时，转到上述SH6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中 止，而再次从上述SH1的处理开始重复执行。
当上述SH6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SH9)。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SH10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SH12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。
根据上述实施形态，在多种测试记录条件下对第1记录层11进行测试信息的记录
与再生时，以特定次数对此记录与再生进行转换，并根据此测试结果，导出适合将信息
记录到第1记录层11上的照射条件，此外，在其他记录层12、 13上进行测试信息的记
录与再生时，以转换次数少于第1记录层11中的次数，对此记录与再生进行转换，并
根据第1记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信
息记录到第2或第3记录层上的照射条件，且利用此照射条件将信息记录到第2或第3
记录层12、 13，故可以縮短用以导出第2或第3记录层12、 13的照射条件的测试时间，
因此可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使激光功率变化的测试，
而不进行使用较多时间与测试区域来使脉冲宽度变化的测试，因此可以进一步縮短测试 时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对p的特
性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅使记录与再生的转换次数减少而进行激光功率调 整用测试，并且可以导出具有最佳的激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而使 用HD-DVD或众所周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，也可以利用同样的处理而取得 上述效果。
其次，说明本发明的第6实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第6实施形态中，所使用的CPU125中存储有除第1记录层11以外的记录层12、 13的记录处理与第5实施形态中的部分不同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实 施形态相同结构的部分使用相同符号加以说明。
艮P，本实施形态中的光记录装置100中，对光碟10中第1记录层11的信息记录处 理与图19中流程图所示的第5实施形态的处理相同。而且，对除第l记录层11以外的 记录层12、 13的信息记录处理如图21的流程图所示，通过与先前相同的OPC，仅以记 录与再生的转换次数少于第1记录层11中的转换次数，进行仅为脉冲宽度调整用测试 记录的一种测试记录条件下的测试，并将所记录的信息再生(SI1)，检测出激光照射 条件下的参数(评价指标)(SI2)。另外，脉冲宽度调整用测试记录是使脉冲宽度阶 段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SI3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与脉 冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。
此后，利用由上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而 取得的参数，预测表示其他记录层12、 13中脉冲位置偏移与脉冲相位校正参数的关系， 即表示图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的 特性关系式(SI4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SI5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的记 录信息(SI6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质记 录信息的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SI6的判定结果可以适用时，转到下述SI9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SI7)，判断是否为 记录中止(SI8)，当记录中止时，转到下述SI11的处理，在使记录速度降低而设定时， 转到上述SI6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中止， 而再次从上述SIl的处理开始重复执行。
上述SI6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与处 理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟10 的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SI9)。以此方式，作为记录而保留，可以在 其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记录测 试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器127 的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，而 且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟10进行信息记录(SI10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SI12)，并结束对第2或第3记录层12、 13的 信息记录。再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显示 部131。
根据上述实施形态，在多种测试记录条件下对第1记录层11进行测试信息的记录
与再生时，以特定次数对此记录与再生进行转换，并根据此测试结果，导出适合将信息
记录到第1记录层11上的照射条件，此外，在其他记录层12、 13上进行测试信息的记
录与再生时，以转换次数少于第1记录层11中的次数，对此记录与再生进行转换，并
根据第1记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适合将信
息记录到第2或第3记录层上的照射条件，且利用此照射条件将信息记录到第2或第3
记录层12、 13，故可以縮短用以导出第2与第3记录层12、 13的照射条件的测试时间，
因此可以缩短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使脉冲宽度变化的测试，
因此可以进一步縮短测试时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对P的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，仅进行脉冲宽度调整用测试，并且在使测试记录条 件数减少以縮短测试时间后，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而与 第l实施形态同样地，使用HD-DVD或众所周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，也可 以利用同样的处理而取得上述效果。
其次，说明本发明的第7实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第7实施形态中，所使用的CPU125中存储有光碟10中各记录层11、 12、 13的 记录处理互不相同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实施形态具有相同结构的部 分使用相同符号加以说明。
图22与图23是说明对第7实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。执行此处 理的计算机程序预先存储在CPU125的存储电路126中，并通过CPU125进行上述处理。 而且，本实施形态中，将信息记录到光碟10的第1记录层11时的测试处理与先前大致 相同，而将信息记录到除第1记录层11以外的记录层时的测试处理，与第1记录层11 中的测试处理不同，前者时间可以縮短。
艮口，将信息记录到第1记录层11时，执行图22中流程图所示的处理。此处理中， 通过与先前相同的OPC，在以下两种测试记录条件下进行测试，即，激光功率调整用测 试记录与脉冲宽度调整用测试记录，并将所记录的信息再生(SJ1)，检测出激光照射 条件下的参数(评价指标)(SJ2)。此时，将记录与再生作为1组，并以特定次数进 行此设置。
另外，作为参数，例如在DVD时列举(3 (非对称性)、激光照射功率、脉冲相位
等。而且，激光功率调整用测试记录如图4所示，使激光功率(Wrigte PW)阶段性变
化而进行，脉冲宽度调整用测试记录同样地，使脉冲宽度阶段性变化而进行。再者，进
行上述参数检测时，在可以使用存储器127中所存储的策略表格的数据之情形下使用，
而对于无法使用存储器127中所存储到的策略表格的数据之未知种类的光碟10，则进行
众所周知的自动策略检测处理。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SJ3)。作为此特性关系式，例如
导出表示如图5中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与p关系的特性关系式、表示如 图6中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位即脉冲上升与下降的位置偏移关 系中的相位校正参数的特性关系式、以及表示如图7中图表所示的脉冲上升与下降的位 置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。 此处，由使激光功率阶段性变化而记录的测试信息，导出表示两种参数(评价指标)， 即表示图5中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与P关系的特性关系式，与表示图6 中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关系式。 此后，使用由上述已求出的特性关系式所取得的参数，导出激光功率与脉冲宽度的 最佳值(SJ4)。此外，判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用 于以特定品质所进行的信息记录(SJ5)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的 激光功率与脉冲宽度中的至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条
件变化所对应的激光功率调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)， 成为适合以特定品质进行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SJ5的判定结果可以适用时，转到下述SJ8的处理，当其不可以适用时，设 定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SJ6)，判断是否为记 录中止(SJ7)，当记录中止时，转到下述SJ10的处理，在使记录速度降低而设定时， 转到上述SJ5的处理。
当上述SJ5的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SJ8)。以此方式，作为记录而保留，可以 在其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记录 测试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟IO或存储器127 的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，而 且也可以仅记录参数(评价指标)或利用此参数进行的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SJ9)。其次，使上述判 断结果与处理内容显示于显示部131 (SJ10)，并结束对第1记录层11的信息记录。再 者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显示部131。
另外，在对除第l记录层11以外的其他记录层12、 13进行信息记录时，执行图23
中流程图所示的处理。此处理中，通过与先前相同的OPC，仅以记录与再生的设置次数
次数少于第1记录层11中的设置次数，进行仅为激光功率调整用测试记录的一种测试
记录条件下的测试，并将所记录的信息再生(SK1)，检测出激光照射条件下的参数(评
价指标)(SK2)。另夕卜，激光功率调整用测试记录如图4所示，是使激光功率(Wrigte PW)阶段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SK3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校正参 数的特性关系式。
此后，利用上述所求出的特性关系式与第1记录层U中所求出的特性关系式而取 得的参数，预测表示其他记录层12、 13中的脉冲位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相 位校正参数，即表示图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse(Topr， Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式(SK4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SK5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的信 息记录(SK6)。再者，此调整是对照射到记录层上的激光的激光功率与脉冲宽度中的 至少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率 调整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质进 行信息记录的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SK6的判定结果可以适用时，转到下述SK9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SK7)，判断是否为 记录中止(SK8)，当记录中止时，转到下述SK11的处理，在使记录速度降低而设定 时，转到上述SK6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中 止，而再次从上述SK1的处理开始重复执行。
当上述SK6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与 处理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟 10的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SK9)。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SK10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SK12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。
根据上述实施形态，对第1记录层11多次设置通过记录条件的阶段性变更所构成
的测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到第1记录层11
上的照射条件，此外，以记录与再生的设置次数少于第1记录层11的测试中测试信息
的设置次数，在除第1记录层11以外的其他记录层12、 13上进行测试信息的记录与再
生，并根据第1记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出适
合将信息记录到第2或第3记录层12、 13上的照射条件，且利用此照射条件将信息记 录到第2或第3记录层12、 13，故可以縮短用以导出第2与第3记录层12、 13的照射 条件的测试时间，因此可以縮短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。 另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使激光功率变化的测试， 而不进行使用较多时间与测试区域来使脉冲宽度变化的测试，因此可以进一步縮短测试 时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对P的特 性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层11以外的记录层，将记录与再生作为1组，仅使此组数减少而进行激 光功率调整用测试，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而使 用HD-DVD或众所周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，也可以利用同样的处理而取得 上述效果。
其次，说明本发明的第8实施形态。
本实施形态中的装置结构与上述第1实施形态相同，而与第1实施形态的不同之处 在于第8实施形态中，所使用的CPU125中存储有除第1记录层11以外的记录层12、 13的记录处理与第7实施形态中的部分不同的计算机程序。在以下的说明中，与第1实 施形态相同结构的部分使用相同符号加以说明。
艮口，本实施形态中的光记录装置100中，对光碟10中第1记录层11的信息记录处 理与图22中流程图所示的第7实施形态的处理相同。而且，对除第l记录层ll以外的 记录层12、 13的信息记录处理如图24的流程图所示，通过与先前相同的OPC，仅以记 录与再生的设置次数少于第1记录层11中的设置次数，进行仅为脉冲宽度调整用测试 记录的一种测试记录条件下的测试，并将所记录的信息再生(SL1),检测出激光照射 条件下的参数(评价指标)(SL2)。另外，脉冲宽度调整用测试记录是使脉冲宽度阶 段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SL3)。作为此特性关系式，例如， 导出表示如图9中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast))与脉 冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。
此后，利用由上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而
取得的参数，预测表示其他记录层12、 13中激光功率与脉冲相位关系中的脉冲相位校
正参数，即表示图8中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉冲相位关系中的相位校 正参数的特性关系式(SL4)。
其次，利用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳值(SL5)。此外， 判断此最佳值在预期的记录速度下实施调整后，是否能够适用于以特定品质所进行的记 录信息(SL6)。再者，此调整是对照射到记录层的激光的激光功率与脉冲宽度中的至 少任一个进行调整，使激光功率与脉冲宽度的阶段性记录条件变化所对应的激光功率调 整用参数(评价指标)与脉冲宽度调整用参数(评价指标)，成为适合以特定品质记录 信息的特定值。此调整中也可以进行OPC。
当上述SL6的判定结果可以适用时，转到下述SL9的处理，当结果不可以适用时， 设定成使记录速度降低后的特定记录速度或者设定成使记录中止(SL7)，判断是否为 记录中止(SL8)，当记录中止时，转到下述SL11的处理，当使记录速度降低而设定时， 转到上述SL6的处理。再者，使记录速度降低也不能够适用时，也可以取代记录中止， 而再次从上述SL1的处理开始重复执行。
上述SL6的判定结果是上述最佳值可以适用于预期的记录速度时，将判断结果与处 理内容以及参数(评价指标)与调整结果的信息记录到光碟10中，并且使之与光碟10 的媒体ID相对应而记录到存储器127中(SL9)。以此方式，作为记录而保留，可以在 其后于同种光碟10上进行记录时活用此信息。再者，也可以对应于上述信息而记录测 试记录中所使用的条件数据。而且，也可以将上述信息仅记录到光碟10或存储器127 的任一个中。另外，可以仅记录判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个信息，而 且也可以仅记录参数(评价指标)或使用此参数的调整结果的任一个信息。
此后，使用上述所求出的最佳值对光碟IO进行信息记录(SL10)。其次，使上述 判断结果与处理内容显示于显示部131 (SL12)，并结束对第2或第3记录层12、 13 的信息记录。再者，也可以仅将判断结果或与此判断相应的处理内容的任一个显示于显 示部131。
根据上述实施形态，对第1记录层11多次设置通过记录条件的阶段性变更所构成 的测试信息的记录与再生，并根据此测试结果，导出适合将信息记录到第1记录层11 上的照射条件，此外，以记录与再生的设置的次数少于第1记录层n的测试中测试信 息的设置次数，在除第1记录层11以外的其他记录层12、 13上进行测试信息的记录与 再生，并根据第1记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、 13的测试结果，导出 适合将信息记录到第2或第3记录层12、 13上的照射条件，且利用此照射条件将信息 记录到第2或第3记录层12、 13，故可以縮短用以导出第2与第3记录层12、 13的照
射条件的测试时间，因此可以缩短信息记录前的测试时间，从而可以在短时间内记录信 息。
另外，在第2或第3记录层12、 13的测试记录中，仅进行使脉冲宽度变化的测试，
因此可以进一步縮短测试时间。
如上所述，在通常的测试记录中，在激光功率调整用测试中求出激光功率对p的特
性关系，由此特性关系而导出最佳的激光功率；在脉冲宽度调整用测试中求出脉冲对相 位偏移的特性关系，由此特性关系求出最佳的脉冲宽度即策略；而在本实施形态中，关 于除第1记录层II以外的记录层，仅进行脉冲宽度调整用测试，并且在使测试记录条 件数减少以縮短测试时间后，可以导出具有最佳激光功率与脉冲宽度的策略。
再者，上述实施形态是例举使用众所周知的多层DVD作为光碟IO加以说明，而与 第1实施形态同样地，使用HD-DVD或众所周知的Blu-ray碟片作为光碟10时，也可 以利用同样的处理而取得上述效果。
另外，上述实施形态仅为本发明的一具体例，本发明并不限定于上述实施形态的结 构。例如，上述各实施形态是在求出最佳值以后进行调整处理，而在没有必要进行调整 处理时，也可以省去此调整处理。而且，根据需要，也可优选执行降低记录速度或中止 记录的处理、判断处理结果等的显示处理以及此信息的记录处理等。
另外，上述各实施形态是以第1记录层11为基准，在短时间内求出对其他记录层 12、 13进行激光照射的最佳值，也能够以除第1记录层以外的记录层为基准，在短时间 内求出对其他记录层进行激光照射的最佳值。另外，上述各实施形态是从离开激光照射 面的位置即第1记录层11，直至接近照射面的位置即第3记录层13，依次进行信息记 录，但不限于此，也可以从除第1记录层11以外的记录层开始进行信息记录。
另外，说明其他实施形态。
图27使说明对第1实施形态中的记录层进行记录处理的流程图。执行此处理的计 算机程序预先存储在CPU125的存储电路126中，并通过CPU125进行上述处理。另外， 本实施形态中，将数据记录到光碟10的第1记录层11时的测试处理与先前大致相同， 而将数据记录到除第1记录层11以外的记录层时的测试处理，与第1记录层11中的测 试处理不同，前者时间可以縮短。
艮P，将数据记录到第1记录层11时，执行图27所示的处理。处理开始时，判断在 光碟10的第1记录层11上是否进行记录(SA1)。将信息记录到除第1记录层11以外 的记录层时，转到下述SA9的处理；将数据记录到第1记录层11时，通过与先前相同 的使记录激光强度最佳化(OPC: Optimum Power Control,以下称为OPC)，利用调整
用数据图案，以特定次数进行激光功率调整用测试记录与脉冲宽度调整用测试记录的测 试，并将所记录的信息再生(SA2)，检测出激光照射条件下的参数(特征值)(SA3)。 作为此参数，例如DVD时列举p (非对称性)、激光照射功率、脉冲相位等。而且， 激光功率调整用测试记录如图28所示，使激光功率(WrigtePW)阶段性变化而进行， 脉冲宽度调整用测试记录同样地，使脉冲宽度阶段性变化而进行。再者，进行上述参数 检测时，在可以使用存储器127中所存储的策略表格的数据之情形下使用，而对于无法 使用存储器127中所存储的策略表格的数据之未知种类的光碟10，则进行众所周知的自 动策略检测处理。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SA4)。作为此特性关系式，例如 导出表示如图29中图表所示的激光功率(WrigtePW)与p关系的特性关系式、表示如 图30中图表所示的激光功率(WrigtePW)与脉冲相位关系中的相位校正参数的特性关 系式、以及表示如图31中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse(T叩r， Tlast)) 与脉冲相位关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式。此处，由使激光功率阶段性变化 而记录的测试数据，导出表示两种参数，即表示图29中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与(3关系的特性关系式，与表示图30中图表所示的激光功率(Wrigte PW)与脉 冲相位关系中的相位校正参数的特性关系式。
此后，使用由上述已求出的特性关系式所取得的参数，导出激光功率与脉冲宽度的 最佳记录脉冲条件(SA5)，并利用此最佳记录脉冲条件，对第1记录层11进行实际的 信息记录(SA6)。
其次，判断在数据记录过程中，是否有必要变更记录层(SA7),当必须变更记录 层时，转到上述SA1的处理；当无须变更时，判断信息记录是否结束(SA8)。当此判 定结果是信息记录尚未结束时，转到上述SA6的处理；当判定结果是信息记录己结束时， 结束处理。
另一方面，当上述SA1的判定结果是在除第1记录层11以外的记录层上进行信息 记录时，首先，通过与先前相同的OPC，并且使用的调整用数据图案与第1记录层11 的测试时所使用的相同，仅以次数少于第1记录层11中的次数，进行仅激光功率调整 用测试记录的测试，并将所记录的信息再生(SA9)，检测出激光照射条件下的参数(特 征值)(SA10)。另外，激光功率调整用测试记录如图28所示，使激光功率(WrigtePW) 阶段性变化而进行。
其次，由上述所求出的参数而导出特性关系式(SA11)。作为此特性关系式，例如
导出表示如图32中图表所示的激光功率(WrigtePW)与脉冲相位关系中的相位校正参
数的特性关系式。在以此方式对第2记录层12进行记录时，仅导出与第l记录层ll不 同的特性关系式，因此也可以实现时间縮短。
此后，使用由上述所求出的特性关系式与第1记录层11中所求出的特性关系式而 取得的参数，预测表示其他记录层12的脉冲位置偏移与脉冲相位关系中的脉冲相位校 正参数，即表示图33中图表所示的脉冲上升与下降的位置偏移(Pulse (Topr， Tlast)) 与脉冲相位的关系中的脉冲相位校正参数的特性关系式(SA12)。
其次，使用上述特性关系式而导出激光功率与脉冲宽度的最佳记录脉冲条件 (SA13)。此后，利用上述所求出的最佳记录脉冲条件，对光碟10进行信息记录(SA6)。
其次，判断在数据记录过程中，是否有必要变更记录层(SA7)，当必须变更记录层 时，转到上述SA1的处理；当无须变更时，判断信息记录是否结束(SA8)。当此判定 结果是信息记录尚未结束时，转到上述SA6的处理；当判定结果是信息记录已结束时， 结束处理。
根据上述实施形态，在实际的信息记录之前，在第1记录层11上进行测试记录， 并在特定的测试时间内，导出适合第1记录层11的记录脉冲条件，并且在第2记录层 12中，仅进行使激光功率变化的测试，而不进行使用较多的时间与测试区域来使脉冲宽 度变化的测试，在测试时间少于第1记录层11中的时间内，导出记录脉冲条件，因此 可以縮短用以导出第2记录层12的记录脉冲条件的测试时间，故可以縮短信息记录前 的测试时间，从而可以在短时间内记录信息。
权利要求
1. 一种光记录装置，其特征在于在对记录媒体的记录层上进行激光照射并记录信息时，在上述记录层上进行信息的记录与信息的再生，导出激光的照射条件，并利用此照射条件对上述记录媒体进行激光照射，以记录信息，且具备信息记录单元，在上述记录层上记录测试记录信息与/或用户数据记录信息，以及多种评价指标取得单元，将通过上述信息记录单元所记录的信息再生，并根据此再生信息而取得与激光照射条件相关的多种评价指标。
全文摘要
本发明提供一种可以缩短信息记录前的测试时间以便在短时间内记录信息的光记录方法、评价指标取得方法、光记录装置、单芯片CPU元件、以及计算机程序。此光记录方法是在第1记录层11上进行与记录条件的种类变更相应的测试信息的记录与再生，导出适合将信息记录到第1记录层11上的照射条件，并以测试记录条件的种类变更次数少于第1记录层测试时的变更次数，在第2与第3记录层12、13上进行测试信息的记录与再生，且根据第1记录层11的测试结果与第2或第3记录层12、13的测试结果，导出适合将信息记录到第2或第3记录层12、13的照射条件。由此，可以缩短用于导出第2与第3记录层12、13的照射条件而花费的测试时间。
文档编号G11B7/125GK101383159SQ200810130778
公开日2009年3月11日 申请日期2006年8月9日 优先权日2005年8月9日
发明者关口慎生, 垣本博哉, 宫泽冬树 申请人:太阳诱电株式会社