专利名称：集成电路、光盘装置以及跟踪误差信号生成方法
技术领域：
本发明涉及在光盘装置中生成跟踪误差(tracking error)信号的技术。
背景技术：
以往，在利用模拟信号处理生成跟踪误差信号的跟踪误差检测装 置中，存在难以应对光盘装置的倍速化以及光记录介质的高密度化的 问题。
专利文献1公开的跟踪误差检测装置中，为了解决上述问题，主 要利用数字信号处理来生成跟踪误差信号。详细而言，专利文献l的 跟踪误差检查装置，利用ADC (Analog to Digital Converter:模拟数 字转换器)对表示四象限光电探测器(four-quadrant photodetector) 的两个受光面的受光量的第一电压信号和表示其余两个受光面的受 光量的第二电压信号进行AD转换，得到以多位(bit)表示第一电压 信号及第二电压信号振幅值的第一数字信号及第二数字信号(参照专 利文献1的图2)。然后，对该第一数字信号及第二数字信号实施插 补处理，检测出插补处理后的第 一数字信号及第二数字信号的零交 点，根据第一数字信号的零交点和第二数字信号的零交点来生成跟踪 误差信号。
专利文献1:日本特开2001-67690号7>净艮
发明内容
但是，在专利文献1的跟踪误差检测装置中，设置多个用于将模 拟信号转换成多位的数字信号的ADC，因此，电路规模变大，结果， 成本增高。本发明鉴于上述问题点，目的在于减少跟踪误差检测装置的成本。
为了解决上述问题，本发明采用一种跟踪误差信号生成处理，在 包括象限光电探测器的光盘装置中根据第一电压信号和第二电压信 号来生成跟踪误差信号，其中，上述象限光电探测器具有在将光照射 到光记录介质上时接受来自该光记录介质的反射光的第一受光面和
第二受光面；上述第一电压信号表示上述第一受光面的受光量；上述 第二电压信号表示上述第二受光面的受光量，该处理包括第一比较
处理，将上述第一电压信号与预定的阈值进行比较，生成与比较结果 相应的第一二值化信号；第二比较处理，将上述第二电压信号与预定 的阈值进行比较，生成与比较结果相应的第二二值化信号；第一数字 采样处理，以预定的采样频率对在上述第一比较处理生成的第一二值 化信号进行采样，从而生成第一采样信号；第二数字采样处理，以预 定的采样频率对在上述第二比较处理生成的第二二值化信号进行采 样，从而生成第二采样信号；相位差检测处理，检测在上述第一数字 采样处理生成的第一采样信号与在上述第二数字采样处理生成的第 二采样信号的相位差，生成表示检测出相位差的相位差信号；以及高 频成分遮断处理，对在上述相位差检测处理生成的相位差信号进行高 频成分的遮断，并作为上述跟踪误差信号而输出。
由此，通过比较处理和数字采样处理，将第一电压信号和第二电 压信号转换为作为数字信号的第一采样信号和第二采样信号，能够根 据这些第一采样信号和第二采样信号生成跟踪误差信号。因此，不需 要使用用于将模拟信号转换为多位的数字信号的ADC,因此能够减 小模拟电路的面积，其结果，能够缩小整个电路的规模，能够减少成 本。
根据本发明，不需要使用用于将模拟信号转换为多位的数字信号 的ADC,因此能够减小模拟电路的面积，其结果，能够缩小跟踪误 差检测装置的电路规模，能够减少成本。
图1是表示实施方式1的跟踪误差检测装置的构成的框图。
图2是表示实施方式2的跟踪误差检测装置的构成的框图。 图3是表示实施方式3的跟踪误差检测装置的构成的框图。 图4是表示实施方式4的跟踪误差检测装置的构成的框图。 图5是表示实施方式4的跟踪误差检测装置的构成的均衡器的群 延迟特性的曲线图。
附图标记说明
101四象限光电探测器(象限光电探测器)
101a 101d受光面
110集成电^各
112a第一比较器
112b第二比较器
113a第一数字采样部
113b第二数字采样部
114相位差4全测电路
115低通滤波器
116平均值电路
210集成电^各
211采样频率设定部
212低通滤波器控制部
310集成电路
311a第一延迟电路
311b第二延迟电路
312延迟量控制部
410集成电-各
411a第一均衡器
411b第二均衡器
具体实施例方式
以下，参照
本发明的实施方式。 《实施方式1》
实施方式1的光盘装置具有图1所示的跟踪误差检测装置100。 该跟踪误差检测装置100包括四象限光电探测器101、四个电流电压 转换器102a 102d及集成电路110。
四象限光电^:测器101具有作为A通道、B通道、C通道和D通 道的四个受光面101a 101d，输出与各受光面101a 101d的受光量相 应的光电流。在此，受光面101a和受光面101c相当于4又利要求书中 的第一受光面，受光面101b和受光面101d相当于权利要求书中的第 二受光面。
电流电压转换器102a将与受光面101a的受光量相应的光电流转 换为电压信号而输出。同样，电流电压转换器102b将与受光面101b 的受光量相应的光电流转换为电压信号而输出，电流电压转换器102c 将与受光面101c的受光量相应的光电流转换为电压信号而输出，电 流电压转换器102d将与受光面101d的受光量相应的光电流转换为电
压信号而车lr出。
集成电路110包括加法器llla、 lllb、第一比较器(CMP: comparator) 112a、第二比较器(CMP ) 112b、第一数字采样部113a、 第二数字采样部113b、相位差检测电路114、低通滤波器(LPF: low-pass filter) 115及平均值电路116。
加法器llla将由电流电压转换器102a输出的电压信号与由电流 电压转换器102c输出的电压信号相加而输出第一电压信号。另一方 面，加法器lllb将由电流电压转换器102b输出的电压信号与由电流 电压转换器102d输出的电压信号相加而输出第二电压信号。第一电 压信号和第二电压信号成为相互相位变化的两个信号序列。另外，第 一电压信号和第二电压信号分别与返回到位于光电探测器的对角的 一对受光面的光的量对应。
8第一比较器112a将由加法器llla输出的第一电压信号与预定阈 值比较，生成并输出与比较结果相应的第一二值化信号。例如，在第 一电压信号大于预定阈值时，将成为H(High,高)电平的信号作为 第一二值化信号输出，在第一电压信号为预定阈值以下时，将成为L
(Low，低)电平的信号作为第一二值化信号输出。
第二比较器112b将由加法器lllb输出的第二电压信号与预定阈 值比较，生成并输出与比较结果相应的第二二值化信号。例如，在第 二电压信号大于预定阈值时，将成为H电平的信号作为第二二值化信 号输出，在第二电压信号为预定阈值以下时，将成为L电平的信号作 为第二二值化信号输出。
第一数字采样部113a以预定的采样频率对由第一比较器112a输 出的第一二值化信号进行采样，从而生成第一采样信号。
第二数字采样部113b以预定的采样频率对由第二比较器112b输 出的第二二值化信号进行采样，从而生成第二采样信号。
第一数字采样部113a的采样频率和第二数字采样部113b的采样 频率设定为相同值。
相位差检测电路114检测由第 一 数字采样部113 a生成的第 一 采样 信号及由第二数字采样部113b生成的第二采样信号的相位差，并生 成表示相位差的相位差信号。具体而言，生成包括宽度与上述第一采 样信号的变化和上述第二采样信号的变化的时间差相应的脉沖的相 位差信号。例如，如日本特开2001-67690的图8等所示的那样，生 成第一信号和第二信号，并将从第一信号减去第二信号得到的信号作 为相位差信号，上述第一信号是在第一采样信号为H电平的状态下， 从第二采样信号下降的时刻起到接下来第 一采样信号下降的时刻为 止的期间为H电平，而除此之外的期间，第一信号为L电平，上述 第二信号是在第二采样信号为H电平的状态下，从第 一采样信号下降 的时刻起到接下来第二采样信号下降的时刻为止的期间为H电平，而 除此之外的期间，第二信号为L电平。
低通滤波器115对由相位差检测电路114生成的相位差信号进行频带限制、即高频成分的遮断，从而作为跟踪误差信号而输出。
平均值电路116对由低通滤波器115输出的跟踪误差信号进行平 均化。详细而言，按每个与第一数字采样部113a和第二数字采样部 113b的采样周期的多个周期相当的期间，计算出该期间的跟踪误差信 号的平均值，将该期间的跟踪误差信号置换为作为计算结果的平均值 并输出。
本实施方式的光盘装置包括用于对光记录介质照射光的光拾取 器，根据由平均值电路116输出的跟踪误差信号进行跟踪控制。该跟 踪控制是驱动光拾取器内的透镜以减'J、跟踪误差的控制。
在如上所述构成的光盘装置中，当对光记录介质照射光时，四象 限光电探测器101的受光面101a 101d接受来自光记录介质的反射 光。于是，从四象限光电探测器101输出与各受光面101a 101d的受 光量相应的光电流。然后，电流电压转换器102a将与受光面101a的 受光量相应的光电流转换为电压信号并输出，电流电压转换器102b 将与受光面101b的受光量相应的光电流转换为电压信号并输出，电 流电压转换器102c将与受光面101c的受光量相应的光电流转换为电 压信号并输出，电流电压转换器102d将与受光面101d的受光量相应 的光电流转换为电压信号并输出。在此，将由电流电压转换器102a 输出的电压信号的电平设为A,将由电流电压转换器102b输出的电 压信号的电平设为B,将由电流电压转换器102c输出的电压信号的 电平设为C,将由电流电压转换器102d输出的电压信号的电平设为 D。利用加法器llla将由电流电压转换器102a输出的电压信号和由 电流电压转换器102c输出的电压信号相加，将(A+C)电平的第一 电压信号作为和信号而由加法器llla输出。另一方面，利用加法器 lllb将由电流电压转换器102b输出的电压信号和由电流电压转换器 102d输出的电压信号相加，将(B+D)电平的第二电压信号作为和信 号而由加法器lllb输出。
在此，在光点位于位的宽度方向中心时，第一电压信号和第二电 压信号成为相同相位。而在光点位于偏离位的宽度方向中心的位置
10时，第一电压信号和第二电压信号的相位产生误差。以下，说明基于 该第一电压信号和第二电压信号生成与上述相位的误差量相应的跟 踪误差信号的方法。
由加法器llla输出的第一电压信号被第一比较器112a二值化为 第一二值化信号。然后，第一数字采样部113a对该第一二值化信号 进行采样，并输出第一采样信号。同样，由加法器lllb输出的第二 电压信号被第二比较器112b 二值化为第二二值化信号。然后，第二 数字采样部113b对该第二二值化信号进行采样，并输出第二采样信 号。然后，相位差检测电路114根据上述第一采样信号和上述第二采 样信号生成相位差信号。该相位差信号经过低通滤波器115的高频成 分的遮断处理和平均值电路116的平均化处理，作为跟踪误差信号而 用于跟踪控制。通常，与同伺服控制的周期对应的频率相比，输入 RF信号的频率即第一电压信号和第二电压信号的频率较高，因此， 可进行平均值电路116的平均化处理。
根据本实施方式，低通滤波器115对由相位差检测电路114生成 的相位差信号进行跟踪误差信号所需的对频带的频带限制，因此，能 够降低对跟踪误差信号的噪声影响。
平均值电路116对由低通滤波器115输出的跟踪误差信号进行平 均化，因此在由第一数字采样部113a、第二数字采样部113b对表现 出较大噪声影响的瞬间的第一二值化信号、第二二值化信号进行了采 样时，能够降低其噪声的影响。其结果，能够利用数字信号处理取得 高精度的跟踪误差信号，并用于跟踪控制。
另外，第一数字采样部113a和第二数字采样部113b的采样频率、 即是使第一数字采样部113a和第二数字采样部113b工作的采样时钟 的频率越高，则越能高精度地检测出第 一 电压信号和第二电压信号的 相位误差量，能够生成高精度的跟踪误差信号。另外，也可以通过可 变地设定采样频率，根据第一电压信号和第二电压信号的频率、光盘 装置的状态来进行最佳的采样。
另外，也可以使低通滤波器115和平均值电路116的顺序相反。即，可以将由相位差检测电路114生成的相位差信号输入到平均值电
路116,将平均值电路116的输出输入到低通滤波器115。在这样的 情况下，也能得到上述的噪声降低效果。
鉴于低通滤波器的特性可知，能够使用低通滤波器115进行噪声 除去和平均化。
《实施方式2》
本发明的实施方式2的光盘装置，取代实施方式1的跟踪误差检 测装置100而具有图2所示的跟踪误差检测装置200。跟踪误差检测 装置200具有集成电路210来取代跟踪误差检测装置100的集成电路 110。该集成电路210除了实施方式1的集成电路110的构成之外， 还包括采样频率设定部211和低通滤波器控制部212。本实施方式的 光盘装置的其他构成及动作与实施方式1相同，因此省略其详细说明。
采样频率设定部211将第 一数字采样部113a的采样频率和第二数 字采样部113b的采样频率均设定为与RF信号的频率的整数倍不同的 频率，即设定为与第一电压信号和第二电压信号的频率的整数倍不同 的频率。在本实施方式中，第一数字采样部113a和第二数字采样部 113b的采样频率、即采样时钟的频率是可变的，按照第一电压信号和 第二电压信号的频率、在系统中求出的跟踪误差信号的精度、光盘装 置的状态等进行设定。
低通滤波器控制部(系数控制部)212设定低通滤波器115的截 止频率，以确保低通滤波器115的频率特性恒定。即，低通滤波器115 的截止频率是可变的，在第一数字采样部113a和第二数字采样部 113b的采样时钟的频率被改变时被切换。
根据本实施方式，能得到与实施方式1相同的效果，并且根据第 一电压信号及第二电压信号的频率、在系统中求出的跟踪误差信号的 精度、光盘装置的状态等条件而可变地设定采样频率，因此能进行与 这些条件相应的适当采样。因此，能够生成高精度的跟踪误差信号。
此外，例如在第一数字采样部113a和第二数字采样部113b的采 样时钟与输入rf信号即第一电压信号和第二电压信号同步时，有可能相位差检测电路114不能正确检测出相位差量。根据本实施方式，
采样频率设定部2U将第一数字采样部113a和第二数字采样部113b 的采样频率设定为与第一电压信号和第二电压信号的频率的整数倍 不同的频率。因此，能够防止第一数字采样部113a和第二数字采样 部113b的采样时钟与输入RF信号同步，其结果，能够正确检测出相 位差，能够生成高精度的跟踪误差信号。而且，能够确保由相位差检 测得到的跟踪误差信号的线性，并且防止在相位差接近0时的频率特 性的恶化。
《实施方式3》
本发明的实施方式3的光盘装置，取代实施方式1的跟踪误差检 测装置100而具有图3所示的跟踪误差检测装置300。跟踪误差检测 装置300具有集成电路310来取代跟踪误差检测装置100的集成电路 110。该集成电3各310除了实施方式1的集成电^各110的构成之外， 还包括第一延迟电路311a、第二延迟电路311b和延迟量控制部(控 制器)312。本实施方式的光盘装置的其他构成及动作与实施方式1 相同，因此省略其详细"^兌明。
第一延迟电路311a在向第一数字采样部113a输入由第一比较器 112a输出的第一二值化信号之前使该第一二值化信号延迟。
第二延迟电路311b在向第二数字采样部113b输入由第二比较器 112b输出的第二二值化信号之前使该第二二值化信号延迟。
延迟量控制部312设定第一延迟电路311a和第二延迟电路311b 的延迟量，以使得第一二值化信号与第一数字采样部113a的采样定 时不同步，且第二二值化信号与第二数字采样部113b的采样定时不 同步。第一延迟电路311a和第二延迟电路31 lb的延迟量设定为相同 值。优选的是，延迟量控制部312构成为能够设定第一数字采样部 113a和第二数字采样部113b的采样时钟周期以上的延迟量。
根据本实施方式，能够得到与实施方式1相同的效果，并且，例 如在比与伺服控制的周期对应的频率高、且比RF信号的频率低的频 带中，能总是改变延迟量。即，能够在比与伺服控制的周期短、且比RF信号的周期长的周期，改变延迟量。
此外，在本实施方式中，延迟量控制部312设定第一延迟电路311a 和第二延迟电路311b的延迟量，以使得第一二值化信号与第一数字 采样部113a的采样定时不同步，且第二二值化信号与第二数字采样 部113b的采样定时不同步。因此，能够防止第一数字采样部113a和 第二数字采样部113b的采样时钟与输入RF信号同步，其结果，能够 正确检测出相位差，能够生成高精度的跟踪误差信号。而且，能够确 保由相位差检测得到的跟踪误差信号的线性，并且能够防止在相位差 接近0时的频率特性恶化。
此外，通过将第一延迟电路311a和第二延迟电路31 lb的延迟量 设定为相同值而进行同时控制，能够不会影响本来的跟踪误差信号的 值，能防止第一数字采样部113a和第二数字采样部113b的采样时钟 与输入RF信号同步。 《实施方式4》
本发明的实施方式4的光盘装置具有图4所示的跟踪误差检测装 置400，来取代实施方式1的跟踪误差检测装置100。跟踪误差检测 装置400具有集成电路410来取代跟踪误差#r测装置100的集成电路 110。该集成电^各410除了实施方式1的集成电^各110的构成之外， 还包括第一均衡器(EQ:叫ualizer) 411a、第二均衡器(EQ ) 411b。 本实施方式的光盘装置的其他构成及动作与实施方式1相同，因此省 略其详细^兌明。
第一均衡器(滤波器)411a使由加法器llla输出的第一电压信 号发生群延迟。即，使构成第一电压信号的各频率成分在向第一比较 器112a输入之前延迟与其频率相应的延迟量。
第二均衡器(滤波器)411b使由加法器lllb输出的第二电压信 号发生群延迟。即，使构成第二电压信号的各频率成分在向第二比较 器112b输入之前延迟与其频率相应的延迟量。
图5表示第一均衡器411a和第二均衡器411b的群延迟特性。对 于第一均衡器411a和第二均衡器411b，频带成分越高，延迟的延迟量越大。在此，产生延迟的频率即信号频带及与各频率对应的延迟量
可以为固定值，也可以设定为可变。第一均衡器411a和第二均衡器 41 lb的延迟量即第一电压信号和第二电压信号的延迟量被设定为相 同值。
根据本实施方式，能够利用第一均衡器411a和第二均衡器411b 使第 一 电压信号和第二电压信号延迟例如与从光记录介质读出的调 制数据的反演间隔相对应的延迟量。在光记录介质为DVD时，调制 数据的反演间隔设定为3T 11T、 14T (T是时钟的周期)。在这种情 况下，例如与读出了反演间隔为IIT的调制数据的情况相比，在读出 了反演间隔为3T的调制数据的情况下，能够增大延迟量。如此，通 过使第一电压信号和第二电压信号延迟与调制数据的反演间隔相对 应的延迟量，第一电压信号和第二电压信号在被施加了基于时间轴方 向的符号间干涉的跳动的状态下被输入到第一比较器112a和第二比 较器112b。因此，通过设定第一均衡器411a和第二均衡器411b的延 迟量以使得第一数字采样部113a和第二数字采样部113b的采样时钟 不与第一电压信号和第二电压信号(输入RF信号)同步，从而能够 防止采样时钟与输入RF信号的同步。其结果，能够更加正确地检测 出相位差，能够生成高精度的跟踪误差信号。并且，能够确保由相位 差检测得到的跟踪误差信号的线性，并能够防止在相位差接近0时的 频率特性恶化。
此外，通过将第一电压信号和第二电压信号的延迟量设定为相同 值来进行同时控制、即使与所有输入通道对应的延迟量相等，从而 不会影响本来的跟踪误差信号的值，能够防止第一数字采样部113a 和第二数字采样部113b的采样时钟与输入RF信号同步。
对光记录介质为DVD的情况的例子进行了说明，但本实施方式 也能适用于光记录介质为DVD以外的情况，例如，在使用蓝色激光 的下一代的标准光盘的情况下也能够适用于生成高精度的跟踪误差 信号。在光记录介质为蓝光光盘(Blu-rayDisc (注册商标))的情况 下，调制数据的反演间隔设定为2T 8T、 9T(T为时钟的周期)。此外，在上述实施方式1 4中，使用了具有四个受光面101a 101d 的四象限光电探测器101,但也可以不使用具有四个受光面的象限光 电探测器，只要使用至少具有两个受光面的象限光电探测器即可。
此外，在上述实施方式1 4中，可以不设置平均值电路116。即， 可以将由低通滤波器115输出的跟踪误差信号在不进行平均化的状态 下用于跟踪控制。
工业实用性
本发明的集成电路、光盘装置以及跟踪误差信号生成方法具有能 够缩小跟踪误差检测装置的电路规模、降低成本的效果，其作为在光 盘装置中生成跟踪误差信号的技术是有用的。
权利要求
1.一种集成电路，在包括象限光电探测器的光盘装置中根据第一电压信号和第二电压信号来生成跟踪误差信号，其中，上述象限光电探测器具有在将光照射到光记录介质上时接受来自该光记录介质的反射光的第一受光面和第二受光面；上述第一电压信号表示上述第一受光面的受光量；上述第二电压信号表示上述第二受光面的受光量，该集成电路的特征在于，其包括第一比较器，将上述第一电压信号与预定的阈值进行比较且输出与比较结果相应的第一二值化信号；第二比较器，将上述第二电压信号与预定的阈值进行比较且输出与比较结果相应的第二二值化信号；第一数字采样部，通过以预定的采样频率对由上述第一比较器输出的第一二值化信号进行采样来生成第一采样信号；第二数字采样部，通过以预定的采样频率对由上述第二比较器输出的第二二值化信号进行采样来生成第二采样信号；相位差检测电路，检测由上述第一数字采样部生成的第一采样信号与由上述第二数字采样部生成的第二采样信号的相位差，并生成表示检测出的相位差的相位差信号；以及低通滤波器，对由上述相位差检测电路生成的相位差信号进行高频成分的遮断来作为上述跟踪误差信号进行输出。
2. 根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于，还包括平均值电路，该平均值电路在每个与上述第 一数字采样部 和上述第二数字采样部的采样周期的多个周期相当的期间，计算由上 述低通滤波器输出的该期间的跟踪误差信号的平均值，并将该期间的 跟踪误差信号置换为作为计算结果的平均值。
3. 根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于， 还包括采样频率设定部，其将上述第一数字采样部和上述第二数字采样部的采样频率设定为与第一电压信号和第二电压信号的频率的整数倍不同的频率；和低通滤波器控制部，其设定上述低通滤波器的截止频率，以确保 上述低通滤波器的频率特性恒定。
4. 根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于， 还包括第一延迟电路，使由上述第一比较器输出的第一二值化信号在向 上述第一数字采样部输入之前延迟；第二延迟电路，使由上述第二比较器输出的第二二值化信号在向 上述第二数字采样部输入之前延迟；以及延迟量控制部，设定上述第一延迟电路和上述第二延迟电路的延 迟量，以使上述第一二值化信号与上述第一数字采样部的采样定时不 同步且上述第二二值化信号与上述第二数字采样部的采样定时不同 步。
5. 根据权利要求1所述的集成电路，其特征在于， 还包括第一均衡器，使构成上述第一电压信号的各频率成分在向上述第 一比较器输入之前延迟与其频率相应的延迟量；和第二均衡器，使构成上述第二电压信号的各频率成分在向上述第二比较器输入之前延迟与其频率相应的延迟量。
6. —种光盘装置，其特征在于，包括权利要求1所述的集成电路和上述象限光电探测器， 根据由上述低通滤波器输出的跟踪误差信号来进行跟踪控制。
7. —种跟踪误差信号生成方法，在包括象限光电探测器的光盘装 置中根据第一电压信号和第二电压信号来生成跟踪误差信号，其中， 上述象限光电探测器具有在将光照射到光记录介质上时接受来自该 光记录介质的反射光的第一受光面和第二受光面；上述第一电压信号 表示上述第一受光面的受光量；上述第二电压信号表示上述第二受光 面的受光量，其特征在于，该方法包括第一比较步骤，将上述第一电压信号与预定的阈值进行比较且生 成与比较结果相应的第一二值化信号；第二比较步骤，将上述第二电压信号与预定的阈值进行比较且生 成与比较结果相应的第二二值化信号；第一数字采样步骤，通过以预定的采样频率对在上述第一比较步 骤中生成的第一二值化信号进行采样来生成第一采样信号；第二数字采样步骤，通过以预定的采样频率对在上述第二比较步 骤中生成的第二二值化信号进行采样来生成第二采样信号；相位差检测步骤，检测在上述第一数字采样步骤中生成的第一采 样信号与在上述第二数字采样步骤中生成的第二采样信号的相位差， 并生成表示检测出的相位差的相位差信号；以及高频成分遮断步骤，对在上述相位差检测步骤中生成的相位差信 号进行高频成分的遮断来作为上述跟踪误差信号进行输出。
全文摘要
第一比较器(112a)将第一电压信号与预定的阈值进行比较，输出与比较结果相应的第一二值化信号。第二比较器(112b)将第二电压信号与预定的阈值进行比较，输出与比较结果相应的第二二值化信号。第一数字采样部(113a)以预定的采样频率对由第一比较器(112a)输出的第一二值化信号进行采样，从而生成第一采样信号。第二数字采样部(113b)以预定的采样频率对由第二比较器(112b)输出的第二二值化信号进行采样，从而生成第二采样信号。相位差检测电路(114)检测由第一数字采样部(113a)生成的第一采样信号和由第二数字采样部(113b)生成的第二采样信号的相位差。
文档编号G11B7/09GK101689383SQ200880023100
公开日2010年3月31日 申请日期2008年7月2日 优先权日2007年7月2日
发明者坂井满, 山元猛晴, 片山刚 申请人:松下电器产业株式会社