专利名称：一种记忆卡测试方法
技术领域：
本发明涉及一种记忆卡测试方法。
背景技术：
一般快闪式记忆卡(例如SD卡、mini SD卡)在厂商出货前，须至少通过二道的测 试作业。第一道为开卡测试，此测试参数是由记忆卡生产厂商提供，确认记忆卡是否为不良 品。第二道为读写测试，此测试参数一般改为使用厂商提供。使用厂商是根据市面各家读 卡机的特性，制定适当的测试参数，确保通过读写测试的记忆卡在卖给消费者后，该记忆卡 仍能正常使用现有记忆卡开卡测试作业是采用手动模式，测试流程依序为确认测试物数 量、设定测试参数、连接测试治具、将测试物放置于测试治具处、进行开卡测试、以及依测试 结果区分良品与不良品。由于是手动模式，故须利用大量人员操作及进行测试，因此也须大 量测试治具及设备。另外记忆卡另一道的读写测试作业也是采用手动模式，测试流程基本 上与前述开卡测试流程大致相同，不同之处在于设定的测试参数不同以及配合使用的测 试装置也不同。整体而言，昔用记忆卡测试作业因采用手动模式效率较差且设备及人力成 本较高。再者，由于开卡测试与读写测试所采用的装置并不相同，故须区分二个工作区域分 别进行。当记忆卡先经开卡测试后区分出良品与不良品，经统计分类后，再将良品移动至读 写测试区进行测试，之后再次区分出良品与不良品，再次经分类统计而后收集，如此不断统 计收集方式不仅费时费工，也容易因人为操作的不当，造成最终数量的不正确。由于上述原因，部份厂商即开始研发自动化的测试机台，但由于开卡测
试或读写测试所使用的测试装置有些不同，再加上开卡测试时间较短，而读写测试因 目前记忆卡容量不断提升，使得测试时间愈来愈长。因此目前自动化的测试机台通常仅能 提供单一模式的测试，例如业界俗称之Tl测试机仅能提供开卡测试，T2测试机则仅提供读 写测试。此方式则乃存在着一个缺点，仍然需要人力将通过开卡测试的良品以人力搬运移 动至读写测试机台，再进行输入数量及统计的工作。而且单一的Tl测试机在使用时，仅能 对单一记忆卡生产公司的产品进行测试，如果测试不同厂商的记忆卡，则须先全部更新不 同厂商的测试界面，非常麻烦且费时。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种测试效率高，而且测试时间精简，结果正确 的记忆卡测试方法。本发明是通过以下技术方案来实现的
本发明的一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管 理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单 元，其步骤为1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元；
2).开卡测试单元对测试物进行测试；
3).通过测试的测试物以移 载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的 测试物则送回储放管理单元对应的置放区；
4).读写测试单元对测试物进行读写的测试；
5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。作为优选，所述储放管理单元能供测试物放置；所述开卡测试单元能对测试物进 行开卡作业的相关测试；所述读写测试单元能对测试物进行读写作业的相关测试；所述移 载单元能将测试物于储放管理单元、开卡测试单元与读写测试单元等三等元之间作移入或 移出的动作；所述控制单元能控制前述
单元产生预期的动作，使得放置于储放管理单元的测试物能依序进行开卡或读写测
试ο作为优选，所述储放管理单元内形成有测试物置放区、未通过开卡测试的置放区、 未通过读写测试的置放区、以及通过测试的置放区。作为优选，所述通过测试的置放区可区分为通过开卡测试的成品区及通过读写测 试的成品区。作为优选，其中该测试物为记忆卡。本发明的一种记忆卡测试方法，使用方便适用范围广，该测试机能使不同厂商的 记忆卡在同一台机上进行开卡测试，之后再分别进行后续的读写测试，再依测试结果分别 储存收集，让厂商在测试时更为方便。而且购买此单一机台除了能个别进行开卡与读写测 试外，也能采一贯化的测试流程如依序进行开卡测试、读写测试，为厂商减少设备的投资成 本。
为了易于说明，本发明由下述的较佳实施例及附图作以详细描述。图1为本发明测试机的结构方块图； 图2为本发明记忆卡测试方法的流程图。
具体实施例方式
本发明的一种记忆卡测试方法，如图1和图2所示，自动化测试机主要包括有储放 管理单元11、至少一组的开卡测试单元12、至少一组的读写测试单元13、移载单元14、 以及控制单元15。该储放管理单元11能供测试物放置其中，在本实施例中该测试物为 快闪式记忆卡，例如SD卡、mini SD卡、MMC卡…等。该储放管理单元11内至少形成有测 试物置放区、未通过开卡
测试的置放区、未通过读写测试的置放区、以及通过测试的置放区。该通过测试的置放 区进一步可区分为通过开卡测试的成品区及通过读写测试的成品区。该移载单元14是用 于将测试物移动至各测试单元，并将测试物依测试结 果依序送回储放管理单元11内相对应的置放区。该移载单元14包括有数组水平横向移载机构、数组水平纵向移载机构、数组垂直升降机构、数组吸嘴单元…等，各组分别独立适时作动，此部份与现有相似，故不 再详加描述。该开卡测试单元12用于对放至此处的测试物进行开卡测试，其包括有数个承 座、数个开卡机…等，一次能对数个测试物进行开卡测试，该开卡机的界面则由记忆卡制造 厂商提供。该开卡测试单元12并与控制单元15相连接，以操作测试的流程，统计最后测试 的结果。该读写测试单元13则是用以对放置此处的测试物进行读写测试，此读写测试单元 13的测试界面则由使用厂商自行设计或根据市面上各家读卡机的特性制定测试参数，以确 保经测试后的记忆卡的通用性。而该控制单元15分别与各单元连接，负责控制各单元产生 预期的动作。例如控制移载单元14将测试物移出储放管理单元11，再将测试物移载至开 卡测试单元12与读写测试单元13，驱动开卡测试单元12与读写测试单元13进行相关的测 试，最后再依测试结果将测试物以移载单元14移回储放管理单元11相对的位置。如第二图所示，为本发明的测试流程图，本发明的记忆卡测试方法须运用前述的 自动化测试机，其步骤为
1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元；
2).开卡测试单元对测试物进行测试；
3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的 测试物则送回储放管理单元对应的置放区；
4).读写测试单元对测试物进行读写的测试；
5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放 区。在本实施例中，本发明的自动化测试机的开卡测试单元与读写测试单元仅画出一 组，但并不以此为限，也可为两或三组。另外由于开卡测试的时间较短，而读写测试的时间 依着记忆容量的加大时间愈来愈长，因此该自动化测试机的构件配置也可采一组开卡测试 单元搭配两 三组读写测试单元，以缩短测试过程的等待时间，提升测试的效率。另外本发明的自动化测试机的开卡测试单元也可让不同厂商的开卡机设置其中， 以控制单元负责控制，将相对应厂商的记忆卡测试物移载至开卡测试单元内的相对应的位 置，在经开卡或读写测试后再移载至储放管理单元相对应的置放区。如此一来，不管收到那 一家记忆卡制造厂的记忆卡皆可更为方便地进行测试。综合以上所述，本发明的自动化测试机是将开卡测试单元与读写测试单元整合在 同一台机器上，故能依序对记忆卡进行开卡测试以及读写测试，简化测试的流程，提升工作 效率。上述实施例，只是本发明的一个具体实例，并不是用来限制本发明权利范围，凡依 据本发明所作的等效变化和修饰，均应包括在本发明的专利要求范围内。
权利要求
1.一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元， 及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步 骤为1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元；2).开卡测试单元对测试物进行测试；3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的 测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试；5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。
2.根据权利要求1所述的一种记忆卡测试方法，其特征在于所述储放管理单元能供 测试物放置；所述开卡测试单元能对测试物进行开卡作业的相关测试；所述读写测试单元 能对测试物进行读写作业的相关测试；所述移载单元能将测试物于储放管理单元、开卡测 试单元与读写测试单元等三等元之间作移入或移出的动作；所述控制单元能控制前述单元 产生预期的动作，使得放置于储放管理单元的测试物能依序进行开卡或读写测试。
3.根据权利要求2所述的一种记忆卡测试方法，其特征在于所述储放管理单元内形 成有测试物置放区、未通过开卡测试的置放区、未通过读写测试的置放区、以及通过测试的 置放区。
4.根据权利要求3所述的一种记忆卡测试方法，其特征在于所述通过测试的置放区 可区分为通过开卡测试的成品区及通过读写测试的成品区。
5.根据权利要求1所述的一种记忆卡测试方法，其特征在于其中该测试物为记忆卡。
全文摘要
本发明是关于一种记忆卡测试方法，主要用于自动化测试机，该自动化测试机包括储放管理单元，及一组以上的开卡测试单元，及一组以上的读写测试单元，及移载单元，及控制单元，其步骤为:1).以移载单元将测试物从储放管理单元处移出并送至开卡测试单元;2).开卡测试单元对测试物进行测试;3).通过测试的测试物以移载单元自开卡测试单元处移动至读写测试单元，不通过的测试物则送回储放管理单元对应的置放区；4).读写测试单元对测试物进行读写的测试;5).将测试物依测试结果以移载单元移动至储放管理单元相对应的置放区。其测试效率高，而且测试时间精简，结果正确。
文档编号G11C29/08GK102136298SQ201010612139
公开日2011年7月27日 申请日期2010年12月29日 优先权日2010年12月29日
发明者陈志明 申请人:东莞矽德半导体有限公司