一种串行的存储产品性能测试方法
【专利摘要】本发明特别涉及一种串行的存储产品性能测试方法。该串行的存储产品性能测试方法，将多台存储产品同时连接到一台服务器，并完成相关的挂载和配置；在各存储产品之间通过控制程序按照一个串行的闭环的方式进行数据传输；所述服务器设有单独编写的脚本程序，预先设定的标准和单独编写的循环脚本程序。该串行的存储产品性能测试方法，可以实现一台服务器对多台存储产品同时进行不同功能测试，并对测试过程的自动控制和性能是否合格做出自动判断，还能进行对存储产品之间多次循环的老化测试，从而极大简化了测试操作，节约了大量的服务器设备投入，提高了效率和节省了时间。
【专利说明】
【技术领域】
[0001] 本发明属于计算机应用领域，特别涉及一种串行的存储产品性能测试方法。 一种串行的存储产品性能测试方法
【背景技术】
[0002] 存储产品在生产环节一般需要进行性能测试，而通常操作方式是将存储产品连接 到服务器上，通过两者之间进行数据传输来测试。这种方式下，一台服务器一般每次只能测 试一台存储产品，如果大批量生产时则需要大量的服务器，因此该种方式不适合大批量生 产存储的测试。
【发明内容】
[0003] 本发明为了弥补现有技术的缺陷，提供了一种同时对多台存储产品进行性能测试 的串行的存储产品性能测试方法。
[0004] 本发明是通过如下技术方案实现的： 一种串行的存储产品性能测试方法，其特征在于：将多台存储产品同时连接到一台服 务器，并完成相关的挂载和配置；在各存储产品之间通过控制程序按照一个串行的闭环的 方式进行数据传输。
[0005] 所述服务器设有单独编写的脚本程序和预先设定的标准，能够自动完成是否合格 的判定。
[0006] 所述服务器还设有单独编写的循环脚本程序，能够对存储产品进行多次循环的老 化测试。
[0007] 本发明的有益效果是：该串行的存储产品性能测试方法，可以实现一台服务器对 多台存储产品同时进行不同功能测试，并对测试过程的自动控制和性能是否合格做出自动 判断，还能进行对存储产品之间多次循环的老化测试，从而极大简化了测试操作，节约了大 量的服务器设备投入，提高了效率和节省了时间。
【专利附图】
【附图说明】
[0008] 下面结合附图对本发明作进一步的说明。
[0009] 附图1为本发明流程示意图。
[0010] 附图2为本发明连接拓扑图。
【具体实施方式】
[0011] 附图为本发明的一种具体实施例。该串行的存储产品性能测试方法，将多台存储 产品同时连接到一台服务器下，完成相关的挂载和配置。在测试时，通过控制程序，在各存 储产品之间按照一个串行的闭环的方式进行数据传输，这样，在每两台存储产品之间进行 数据传输时，既对前一台进行了读功能测试，又对后一台进行了写性能测试。同时，通过运 行单独编写的脚本程序和预先设定的标准，自动完成是否合格的判定。另外，还可通过单独 编写的循环脚本程序来控制循环的次数，从而实现对存储产品之间多次循环的老化测试。 [0012] 本发明运行步骤如下： (1) 准备：在服务器上连接和配置好存储产品； (2) 测试：通过执行脚本程序，开始在存储产品1 一2- 3……N之间进行串行的数据传 输性能测试，将每两台存储产品之间测试完成后，记录并返回测试结果； (3) 判定测试结果：通过脚本程序和预设的判断标准，完成各个存储产品测试结果的判 定； (4) 输出判断结果：最终输出试各存储产品是否合格的判断结果，测试结束。
【权利要求】
1. 一种串行的存储产品性能测试方法，其特征在于：将多台存储产品同时连接到一台 服务器，并完成相关的挂载和配置；在各存储产品之间通过控制程序按照一个串行的闭环 的方式进行数据传输。
2. 根据权利要求1所述的串行的存储产品性能测试方法，其特征在于：所述服务器设 有单独编写的脚本程序和预先设定的标准，能够自动完成是否合格的判定。
3. 根据权利要求1所述的串行的存储产品性能测试方法，其特征在于：所述服务器还 设有单独编写的循环脚本程序，能够对存储产品进行多次循环的老化测试。
4. 根据权利要求1所述的串行的存储产品性能测试方法，其特征在于包括以下步骤： (1) 准备：在服务器上连接和配置好存储产品； (2) 测试：通过执行脚本程序，开始在多台存储产品之间进行串行的数据传输性能测 试，将每两台存储产品之间测试完成后，记录并返回测试结果； (3) 判定测试结果：通过脚本程序和预设的判断标准，完成各个存储产品测试结果的判 定； (4) 输出判断结果：最终输出试各存储产品是否合格的判断结果，测试结束。
【文档编号】G11C29/56GK104103324SQ201410387785
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2014年8月8日 优先权日:2014年8月8日
【发明者】卢业勇 申请人:浪潮电子信息产业股份有限公司