电子设备性能测试方法及装置的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及性能测试领域，特别涉及一种电子设备性能测试方法及装置。
【背景技术】
[0002]随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。
[0003]其中，不同机型的电子设备的硬件性能参差不齐，因此，为了用户充分了解电子设备的性能，需要对电子设备的性能进行测试。为了让用户更好的了解电子设备的性能，技术人员开发了一些测评软件，通过在电子设备上运行这些测评软件可以获得电子设备的软硬件参数信息、各个软硬件测评得分等测评结果。其中，用户通过查看测评结果可以充分了解电子设备的性能，为用户购机或随时了解自己电子设备的性能提供参考。
[0004]现有技术中，当用户下发对电子设备进行性能测试的指令后，将运行测试程序对电子设备的性能进行测试。但是，电子设备的设备状态对测试结果存在很大影响，例如:电子设备的当前温度、当前内存状态、当前运行模式(省电模式/非省电模式)、运行频率、当前运行的应用程序等都会影响测试结果。
[0005]可见，如何避免电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性是一个亟待解决的问题。
【发明内容】
[0006]基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备性能测试方法及装置，以避免电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性。技术方案如下:
[0007]第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备性能测试方法，包括:
[0008]接收开始测试指令；
[0009]检测所述电子设备的至少一种设备状态；
[0010]判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件；
[0011]如果是，响应所述开始测试指令，对所述电子设备进行性能测试；
[0012]否则，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而响应所述开始测试指令，对所述电子设备进行性能测试。
[0013]可选的，所述设备状态包括:
[0014]运行模式、第一系统设置的状态、运行状态、第一应用程序的状态中的至少一种。
[0015]可选的，
[0016]所述当前设备状态包括运行模式；
[0017]所述运行模式所对应的预定条件包括:所述电子设备的运行模式为非省电模式；
[0018]相应的，所述执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，包括:
[0019]自动将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式；
[0020]或者，
[0021]向用户展示提示信息，以提示用户是否对运行模式进行切换，并在接收到用户发出的运行模式切换指令后，将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式。
[0022]可选的，
[0023]所述设备状态包括第一系统设置的状态；
[0024]所述第一系统设置的状态所对应的预定条件包括:
[0025]所述电子设备的每一第一系统设置的状态均为关闭状态；
[0026]相应的，所述执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，包括:
[0027]自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置；
[0028]或者，
[0029]向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一系统设置，并在接收到用户发出的关闭指令后，关闭所述未处于关闭状态的第一系统设置。
[0030]可选的，所述第一系统设置包括:
[0031 ] GPU抗锯齿、USB调试、GPS中的至少一种。
[0032]可选的，
[0033]所述设备状态包括运行状态；
[0034]所述运行状态所对应的预定条件包括:所述电子设备的每一种运行状态均符合所对应的第一条件；
[0035]相应的，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，包括:
[0036]向用户展示提示信息，以提示用户所述不符合第一条件的运行状态影响测试准确性，并建议用户稍后进行测试。
[0037]可选的，所述运行状态包括当前温度、当前电量和当前剩余内存大小中的至少一种；
[0038]当所述运行状态包括当前温度时，所述运行状态所对应的第一条件包括:所述当前温度不高于第一温度阈值；
[0039]当所述运行状态包括当前电量时，所述运行状态所对应的第一条件包括:所述当前电量不低于第一电量阈值；
[0040]当所述运行状态包括当前剩余内存大小时，所述运行状态所对应的第一条件包括:所述当前剩余内存大小不低于第一内存阈值。
[0041]可选的，所述设备状态包括第一应用程序的状态；
[0042]所述第一应用程序的状态所对应的预定条件包括:所述电子设备的每一第一应用程序均处于关闭状态；
[0043]相应的，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，包括:
[0044]自动关闭未处于关闭状态的第一应用程序；
[0045]或者，
[0046]向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一应用程序，并在接收到用户发出关闭指令后，关闭所述未处于关闭状态的第一应用程序。
[0047]可选的，所述第一应用程序包括:
[0048]杀毒程序、监控程序、助手程序中的至少一种。
[0049]第二方面，本发明实施例提供了一种电子设备性能测试装置，包括:
[0050]测试指令接收模块，用于接收开始测试指令；
[0051]设备状态检测模块，用于检测所述电子设备的至少一种设备状态；
[0052]判断模块，用于判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，触发指令响应模块；否则，触发第一操作执行模块；
[0053]所述指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，对所述电子设备进行性能测试；
[0054]所述第一操作执行模块，用于执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而触发所述指令响应模块。
[0055]可选的，所述设备状态检测模块，包括:
[0056]运行模式检测子模块、系统设置检测子模块、运行状态检测子模块、应用程序检测子模块中的至少一种；
[0057]其中，所述运行模式检测子模块，用于检测所述电子设备的运行模式；
[0058]所述系统设置检测子模块，用于检测所述电子设备的第一系统设置的状态；
[0059]所述运行状态检测子模块，用于检测所述电子设备的运行状态；
[0060]所述应用程序检测子模块，用于检测所述电子设备的第一应用程序的状态。
[0061]可选的，当所述设备状态检测模块包括运行模式检测子模块时，所述判断模块，包括:
[0062]第一判断子模块，用于判断所述电子设备的运行状态是否为非省电模式，如果是，触发指令响应模块；否则，触发第一操作执行模块；
[0063]相应的，所述第一操作执行模块，包括:
[0064]第一执行子模块，用于自动将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式；
[0065]或者，
[0066]向用户展示提示信息，以提示用户是否对运行模式进行切换，并在接收到用户发出的运行模式切换指令后，将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式。
[0067]可选的，所述设备状态检测模块包括系统设置检测子模块时，所述判断模块，包括:
[0068]第二判断子模块，用于判断所述电子设备的每一第一系统设置的状态是否均为关闭状态，如果是，触发指令响应模块；否则，触发第一操作执行模块；
[0069]相应的，所述第一操作执行模块，包括:
[0070]第二执行子模块，用于自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置；
[0071]或者，
[0072]向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一系统设置，并在接收到用户发出的关闭指令后，关闭所述未处于关闭状态的第一系统设置。
[0073]可选的，当所述设备状态检测模块包括运行状态检测子模块时，所述判断模块，包括:
[0074]第三判断子模块，用于判断所述电子设备的每一种运行状态是否均符合所对应的第一条件，如果是，触发指令响应模块；否则，触发第一操作执行模块；
[0075]相应的，所述第一操作执行模块，包括:
[0076]第三执行子模块，用于向用户展示提示信息，以提示用户所述不符合第一条件的运行状态影响测试准确性，并建议用户稍后进行测试。
[0077]可选的，当所述设备状态检测模块包括应用程序检测子模块时，所述判断模块，包括:
[0078]第四判断子模块，用于判断所述电子设备的每一第一应用程序是否均处于关闭状态，如果是，触发指令响应模块；否则，触发第一操作执行模块；
[0079]相应的，所述第一操作执行模块，包括: