，还可以包括其他的测试项目。其中，对于每一测试项目的具体测试可以采用现有技术实现，在此不作赘述。
[0118]如图2所示，一种电子设备性能测试方法，可以包括:
[0119]S201，接收开始测试指令；
[0120]当需要测试电子设备的性能时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。
[0121]S202，检测该电子设备的运行模式；
[0122]由于当电子设备处于省电模式时，系统会自动降低CPU和GPU频率，并且，如果CPU多核的，还可能减少运行核心数，这样会导致对电子设备的性能测试比正常运行(即在非省电模式下运行)时得分较低。因此，在接收到开始测试指令后，并不立即对电子设备的性能进行测试，而是检测该电子设备的运行模式，并根据所检测到的运行模式进行后续的处理。
[0123]S203，判断所检测的该电子设备的运行模式是否为非省电模式，如果是，执行步骤S205 ;否则，执行步骤S204 ；
[0124]当检测到电子设备的运行模式后，可以判断所检测的该电子设备的运行模式是否为非省电模式，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当检测到电子设备的运行模式为非省电模式时，表明不存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S205，从而直接响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；而当检测到电子设备的运行模式为省电模式时，表明存在影响性能测试准确性的因素，因此，需要执行步骤S204。
[0125]S204,自动将该电子设备的运行模式切换为非省电模式，进而执行步骤S205 ；
[0126]因此，当检测到电子设备的运行模式为省电模式时，表明存在影响性能测试准确性的因素；而为了消除影响，可以自动将该电子设备的运行模式切换为非省电模式，进而执行步骤S205。
[0127]当然，在实际应用中，还可以向用户展示提示信息，以提示用户是否对运行模式进行切换，并在接收到用户发出的运行模式切换指令后，将该电子设备的运行模式切换为非省电模式。
[0128]S205，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。
[0129]需要说明的是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试的具体方式可以采用现有方式，在此不作赘述。
[0130]可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，当检测到电子设备处于省电模式时，自动将该电子设备的运行模式切换为非省电模式，避免了省电模式对电子设备性能测试所带来的影响，最终提高了电子设备性能测试的准确性。
[0131]下面以该设备状态包括第一系统设置的状态为例，对本发明实施例所提供的方案进行介绍。当然，该设备状态还可以包括运行模式、运行状态、第一应用程序的状态中的至少一种，并且，各个设备状态的检测及判断互不影响。
[0132]其中，需要说明的是，本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以为:手机、笔记本、平板电脑等设备；并且，对电子设备的性能进行测试所涉及到的测试项目可以包括:虚拟机性能、多任务性能、CPU整数性能、CPU浮点性能、RAM速度性能、RAM运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O性能中的至少一种，当然并不局限于此，还可以包括其他的测试项目。其中，对于每一测试项目的具体测试可以采用现有技术实现，在此不作赘述。
[0133]如图3所示，一种电子设备性能测试方法，可以包括:
[0134]S301，接收开始测试指令；
[0135]当需要测试电子设备的性能时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。
[0136]S302，检测该电子设备的第一系统设置的状态；
[0137]由于系统设置中的第一系统设置如果处于开启状态，会过多使用系统资源，此时将影响测试结果。因此，在接收到开始测试指令后，并不立即对电子设备的性能进行测试，而是检测该电子设备的第一系统设置的状态，并根据所检测到的第一系统设置的状态进行后续的处理。
[0138]其中，该第一系统设置可以包括:GPU抗锯齿、USB调试、GPS (Global Posit1ningSystem,全球定位系统)的至少一种，当然，并不局限于此。
[0139]S303，判断所检测的该电子设备的每一第一系统设置的状态是否均为关闭状态，如果是，执行步骤S305 ;否则，执行步骤S304 ；
[0140]当检测到电子设备的第一系统设置的状态后，可以判断所检测的该电子设备的每一第一系统设置的状态是否均为关闭状态，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出所检测的该电子设备的每一第一系统设置的状态均为关闭状态时，表明不存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S305，从而直接响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；而当判断出存在未处于关闭状态的第一系统设置时，表明存在影响性能测试准确性的因素，因此，需要执行步骤S304。
[0141]S304,自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置，进而执行步骤S305 ；
[0142]因此，当判断出存在未处于关闭状态的第一系统设置时，表明存在影响性能测试准确性的因素；而为了消除影响，可以自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置，进而执行步骤S305。
[0143]当然，在实际应用中，还可以向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一系统设置，并在接收到用户发出的关闭指令后，关闭未处于关闭状态的第一系统设置。
[0144]S305,响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。
[0145]需要说明的是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试的具体方式可以采用现有方式，在此不作赘述。
[0146]可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，当检测到未处于关闭状态的第一系统设置时，自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置，避免了第一系统设置处于开启状态而对电子设备性能测试所带来的影响，最终提高了电子设备性能测试的准确性。
[0147]下面以该设备状态包括运行状态为例，对本发明实施例所提供的方案进行介绍。当然，该设备状态还可以包括运行模式、第一系统设置的状态、第一应用程序的状态中的至少一种，并且，各个设备状态的检测及判断互不影响。
[0148]其中，需要说明的是，本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以为:手机、笔记本、平板电脑等设备；并且，对电子设备的性能进行测试所涉及到的测试项目可以包括:虚拟机性能、多任务性能、CPU整数性能、CPU浮点性能、RAM速度性能、RAM运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O性能中的至少一种，当然并不局限于此，还可以包括其他的测试项目。其中，对于每一测试项目的具体测试可以采用现有技术实现，在此不作赘述。
[0149]如图4所示，一种电子设备性能测试方法，可以包括:
[0150]S401，接收开始测试指令；
[0151]当需要测试电子设备的性能时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。
[0152]S402，检测该电子设备的运行状态；
[0153]由于如果当前电量过低或者当前温度过高，系统就会自动降低系统频率，此时将导致测试结果不准确；如果当前剩余内存太低，因为任何应用程序都会使用到内存，内存对电子设备整个性能的影响是非常大的，因此，也将导致测试得分偏低。因此，在接收到开始测试指令后，并不立即对电子设备的性能进行测试，而是检测该电子设备的运行状态，并根据所检测到的运行状态进行后续的处理。
[0154]其中，运行状态可以包括:
[0155]当前温度、当前电量和当前剩余内存大小中的至少一种。
[0156]S403，判断所检测的该电子设备的每一种运行状态是否均符合所对应的第一条件，如果是，执行步骤S405 ;否则，执行步骤S404 ；
[0157]当检测到电子设备的运行状态后，可以判断所检测的该电子设备的每一种运行状态是否均符合所对应的第一条件，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出所检测的该电子设备的每一种运行状态均符合所对应的第一条件，表明不存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S405，从而直接响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；而当判断出存在不符合所对应第一条件的运行状态时，表明存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S404。
[0158]其中，当运行状态包括当前温度时，运行状态所对应的第一条件可以包括:
[0159]该当前温度不高于第一温度阈值；
[0160]当运行状态包括当前电量时，运行状态所对应的第一条件可以包括:
[0161]该当前电量不低于第一电量阈值；
[0162]当运行状态包括当前剩余内存大小时，