运行状态所对应的第一条件可以包括:
[0163]该当前剩余内存大小不低于第一内存阈值。
[0164]需要说明的是，上述运行状态所对应第一条件仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
[0165]S404，展示用于提示用户不符合第一条件的运行状态影响测试准确性的信息，进而执行步骤S405 ；
[0166]当判断出存在不符合所对应第一条件的运行状态时，表明存在影响性能测试准确性的因素；而为了保证用户的使用体验，需要展示用于提示用户不符合第一条件的运行状态影响测试准确性的信息。
[0167]当然，在实际应用中，还可以向用户展示提示信息，以提示用户所述不符合第一条件的运行状态影响测试准确性，并建议用户稍后进行测试。
[0168]S405，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。
[0169]需要说明的是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试的具体方式可以采用现有方式，在此不作赘述。
[0170]可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，当检测到不符合所对应第一条件的运行状态时，展示用于提示用户不符合第一条件的运行状态影响测试准确性的信息，提高了用户的使用体验。
[0171]下面以该设备状态包括第一应用程序的状态为例，对本发明实施例所提供的方案进行介绍。当然，该设备状态还可以包括运行模式、第一系统设置的状态、运行状态中的至少一种，并且，各个设备状态的检测及判断互不影响。
[0172]其中，需要说明的是，本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以为:手机、笔记本、平板电脑等设备；并且，对电子设备的性能进行测试所涉及到的测试项目可以包括:虚拟机性能、多任务性能、CPU整数性能、CPU浮点性能、RAM速度性能、RAM运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O性能中的至少一种，当然并不局限于此，还可以包括其他的测试项目。其中，对于每一测试项目的具体测试可以采用现有技术实现，在此不作赘述。
[0173]如图5所示，一种电子设备性能测试方法，可以包括:
[0174]S501，接收开始测试指令；
[0175]当需要测试电子设备的性能时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。
[0176]S502，检测该电子设备的第一应用程序的状态；
[0177]由于第一应用程序对电子设备的性能测试结果影响较大，因此，在接收到开始测试指令后，并不立即对电子设备的性能进行测试，而是检测该电子设备的第一应用程序的状态，并根据所检测到的第一应用程序的运行状态进行后续的处理。
[0178]其中，所述第一应用程序可以包括:
[0179]杀毒程序、监控程序、助手程序中的至少一种。
[0180]S503，判断所检测的该电子设备的每一第一应用程序是否均处于关闭状态，如果是，执行步骤S505 ;否则，执行步骤S504 ；
[0181]当检测到电子设备的第一应用程序的状态后，可以判断所检测的该电子设备的每一第一应用程序的状态是否均为关闭状态，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出所检测的该电子设备的每一第一应用程序的状态均为关闭状态时，表明不存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S405，从而直接响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；而当判断出存在未处于关闭状态的第一应用程序时，表明存在影响性能测试准确性的因素，因此，需要执行步骤S504。
[0182]S504,自动关闭未处于关闭状态的第一应用程序，进而执行步骤S505 ；
[0183]当判断出存在未处于关闭状态的第一应用程序时，表明存在影响性能测试准确性的因素；而为了消除影响，可以自动关闭未处于关闭状态的第一应用程序，进而执行步骤S504。
[0184]当然，还可以向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一应用程序，并在接收到用户发出关闭指令后，关闭未处于关闭状态的第一应用程序。
[0185]S505，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。
[0186]需要说明的是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试的具体方式可以采用现有方式，在此不作赘述。
[0187]可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，当检测到存在未处于关闭状态的第一应用程序时，自动关闭未处于关闭状态的第一应用程序，避免了未处于关闭状态的第一应用程序对电子设备性能测试所带来的影响，最终提高了电子设备性能测试的准确性。
[0188]相应于上述方法实施例，本发明实施例提供了一种电子设备性能测试装置，如图6所示，可以包括:
[0189]测试指令接收模块610，用于接收开始测试指令；
[0190]设备状态检测模块620，用于检测所述电子设备的至少一种设备状态；
[0191]判断模块630，用于判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，触发指令响应模块640 ;否则，触发第一操作执行模块650 ；
[0192]所述指令响应模块640，用于响应所述开始测试指令，对所述电子设备进行性能测试；
[0193]所述第一操作执行模块650，用于执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而触发所述指令响应模块。
[0194]本发明实施例中，当需要对电子设备进行性能测试时，接收开始测试指令；检测该电子设备的至少一种设备状态；判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；否则，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，执行针对于不符合预定条件的设备状态的第一操作，从而在每一设备状态符合所对应预定条件下或向用户提示测试不准确信息的前提下，对电子设备进行性能测试，避免了电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性。
[0195]其中，所述设备状态检测模块620，可以包括:
[0196]运行模式检测子模块、系统设置检测子模块、运行状态检测子模块、应用程序检测子模块中的至少一种；
[0197]其中，所述运行模式检测子模块，用于检测所述电子设备的运行模式；
[0198]所述系统设置检测子模块，用于检测所述电子设备的第一系统设置的状态；
[0199]所述运行状态检测子模块，用于检测所述电子设备的运行状态；
[0200]所述应用程序检测子模块，用于检测所述电子设备的第一应用程序的状态。
[0201]其中，当所述设备状态检测模块620包括运行模式检测子模块时，所述判断模块630，可以包括:
[0202]第一判断子模块，用于判断所述电子设备的运行状态是否为非省电模式，如果是，触发指令响应模块640 ;否则，触发第一操作执行模块650 ；
[0203]相应的，所述第一操作执行模块650，可以包括:
[0204]第一执行子模块，用于自动将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式；
[0205]或者，
[0206]向用户展示提示信息，以提示用户是否对运行模式进行切换，并在接收到用户发出的运行模式切换指令后，将所述电子设备的运行模式切换为非省电模式。
[0207]其中，所述设备状态检测模块620包括系统设置检测子模块时，所述判断模块630，可以包括:
[0208]第二判断子模块，用于判断所述电子设备的每一第一系统设置的状态是否均为关闭状态，如果是，触发指令响应模块640 ;否则，触发第一操作执行模块650 ；
[0209]相应的，所述第一操作执行模块650，可以包括:
[0210]第二执行子模块，用于自动关闭未处于关闭状态的第一系统设置；
[0211]或者，
[0212]向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一系统设置，并在接收到用户发出的关闭指令后，关闭所述未处于关闭状态的第一系统设置。
[0213]其中，当所述设备状态检测模块包括运行状态检测子模块时，所述判断模块630，可以包括:
[0214]第三判断子模块，用于判断所述电子设备的每一种运行状态是否均符合所对应的第一条件，如果是，触发指令响应模块640 ;否则，触发第一操作执行模块650 ；
[0215]相应的，所述第一操作执行模块650，可以包括:
[0216]第三执行子模块，用于向用户展示提示信息，以提示用户所述不符合第一条件的运行状态影响测试准确性，并建议用户稍后进行测试。
[0217]其中，当所述设备状态检测模块包括应用程序检测子模块时，所述判断模块630，可以包括:
[0218]第四判断子模块，用于判断所述电子设备的每一第一应用程序是否均处于关闭状态，如果是，触发指令响应模块640 ;否则，触发第一操作执