[0080]第四执行子模块，用于自动关闭未处于关闭状态的第一应用程序；
[0081]或者，
[0082]向用户展示提示信息，以提示用户是否关闭未处于关闭状态的第一应用程序，并在接收到用户发出关闭指令后，关闭所述未处于关闭状态的第一应用程序。
[0083]本发明实施例中，当需要对电子设备进行性能测试时，接收开始测试指令；检测该电子设备的至少一种设备状态；判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；否则，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，执行针对于不符合预定条件的设备状态的第一操作，从而在每一设备状态符合所对应预定条件下或向用户提示测试不准确信息的前提下，对电子设备进行性能测试，避免了电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性。
【附图说明】
[0084]为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0085]图1为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法的第一种流程图；
[0086]图2为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法的第二种流程图；
[0087]图3为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法的第三种流程图；
[0088]图4为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法的第四种流程图；
[0089]图5为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法的第五种流程图；
[0090]图6为本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试装置的结构示意图。
【具体实施方式】
[0091]下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
[0092]为了避免电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性，本发明实施例提供了一种电子设备性能测试方法及装置。
[0093]下面首先对本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法进行介绍。
[0094]其中，需要说明的是，本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以为:手机、笔记本、平板电脑等设备；并且，对电子设备的性能进行测试所涉及到的测试项目可以包括:虚拟机性能、多任务性能、CPU整数性能、CPU浮点性能、RAM速度性能、RAM运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O性能中的至少一种，当然并不局限于此，还可以包括其他的测试项目。其中，对于每一测试项目的具体测试可以采用现有技术实现，在此不作赘述。
[0095]如图1所示，一种电子设备性能测试方法，可以包括:
[0096]S101，接收开始测试指令；
[0097]当需要测试电子设备的性能时，用户可以通过人机交互界面向电子设备发出开始测试指令，而该电子设备可以接收到该开始测试指令，进而进行后续的处理。
[0098]S102，检测该电子设备的至少一种设备状态；
[0099]由于电子设备的设备状态会影响到电子设备的性能测试，因此，在接收到开始测试指令后，并不立即对电子设备的性能进行测试，而是检测该电子设备的至少一种设备状态，并根据所检测到的设备状态进行后续的处理。
[0100]其中，该设备状态可以包括:
[0101]运行模式、第一系统设置的状态、运行状态、第一应用程序的状态中的至少一种。
[0102]需要说明的是，该运行模式包括省电模式和非省电模式，其中，当电子设备处于省电模式时，系统会自动降低CPU和GPU频率，并且，如果CPU多核的，还可能减少运行核心数，这样会导致对电子设备的性能测试比正常运行(即在非省电模式下运行)时得分较低，因此，对电子设备进行测试时需要处于非省电模式。
[0103]而系统设置中的第一系统设置如果处于开启状态，会过多使用系统资源，此时也将影响测试结果，因此，需要检测第一系统设置的状态，其中，第一系统设置可以包括:GPU抗锯齿、USB调试、GPS等。
[0104]而对于电子设备的运行状态而言，其可以包括:当前温度、当前电量和当前剩余内存大小中的至少一种。本领域技术人员可以理解的是，如果当前电量过低或者当前温度过高，系统就会自动降低系统频率，此时将导致测试结果不准确；如果当前剩余内存太低，因为任何应用程序都会使用到内存，内存对电子设备整个性能的影响是非常大的，因此，也将导致测试得分偏低，因此，需要对电子设备的运行状态进行检测。
[0105]而对于第一应用程序而言，其包括:杀毒程序、监控程序、助手程序中的至少一种；而由于第一应用程序对电子设备的性能测试结果影响较大，因此需要检测第一应用程序的状态。
[0106]需要说明的是，在设备状态包括至少两种状态时，每一种状态的检测互不影响，也就是各种状态可以同时被检测，当然，也可以按照预设的检测顺序对该至少两种状态进行检测，这也是合理的。
[0107]S103，判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，执行步骤S105 ;否则，执行步骤S104 ；
[0108]当检测到电子设备的至少一种设备状态后，可以判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，并根据不同的判断结果执行不同的操作。其中，当判断出所检测的每一设备状态均符合所述设备状态对应的预定条件时，表明不存在影响性能测试准确性的因素，因此，可以执行步骤S105，从而直接响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；而当判断出存在不符合所对应的预定条件的设备状态时，表明存在影响性能测试准确性的因素，此时，可以执行步骤S104。
[0109]需要说明的是，不同种类的设备状态对应的预定条件不同；并且，不同种类的设备状态的判断互不影响，因此可以同时执行或按照特定顺序执行，这都是合理的。
[0110]S104，执行针对于不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而执行步骤S105 ；
[0111]在判断出存在不符合所对应的预定条件的设备状态时，可以执行针对于不符合预定条件的设备状态的第一操作，并在执行完毕后，进而执行步骤S105。
[0112]需要说明的是，不同种类的设备状态所对应的第一操作可以不同。例如:设备状态为运行模式时，所对应的第一操作可以为动将该电子设备的运行模式切换为非省电模式；而当设备状态为运行状态时，例如:运行状态为当前温度时，所对应的第一操作可以为展示用于提示用户不符合第一条件的当前温度影响测试准确性的信息，这都是合理的。
[0113]S105,响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。
[0114]需要说明的是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试的具体方式可以采用现有方式，在此不作赘述。
[0115]本发明实施例中，当需要对电子设备进行性能测试时，接收开始测试指令；检测该电子设备的至少一种设备状态；判断所检测的每一设备状态是否均符合所述设备状态对应的预定条件，如果是，响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试；否则，执行针对于所述不符合预定条件的设备状态的第一操作，进而响应该开始测试指令，对该电子设备进行性能测试。可见，本方案中，对电子设备的性能测试之前，执行针对于不符合预定条件的设备状态的第一操作，从而在每一设备状态符合所对应预定条件下或向用户提示测试不准确信息的前提下，对电子设备进行性能测试，避免了电子设备的设备状态对性能测试结果的影响，进而提高电子设备性能测试的准确性。
[0116]下面以该设备状态包括运行模式为例，对本发明实施例所提供的方案进行介绍。当然，该设备状态还可以包括第一系统设置的状态、运行状态、第一应用程序的状态中的至少一种，并且，各个设备状态的检测及判断互不影响。
[0117]其中，需要说明的是，本发明实施例所提供的一种电子设备性能测试方法适用于电子设备中，其中，在实际应用中，该电子设备可以为:手机、笔记本、平板电脑等设备；并且，对电子设备的性能进行测试所涉及到的测试项目可以包括:虚拟机性能、多任务性能、CPU (Central Processing Unit,中央处理器)整数性能、CPU 浮点性能、RAM (random accessmemory,随机存储器)速度性能、RAM运算性能、GPU (Graphic Processing Unit,图形处理器)的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、数据库I/O性能、存储器I/O (input/output，输入输出端口)性能中的至少一种，当然并不局限于此