存储器控制器及其操作方法和存储器系统与流程

文档序号:20770806发布日期:2020-05-19 20:16阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种存储器控制器,被配置为控制包括多个存储器芯片的存储器装置的存储器操作,所述存储器控制器包括:

纠错码ecc电路,被配置为对从所述存储器装置读取的码字执行错误检测;以及

处理器,被配置为将所述多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片设置为指示器芯片,基于所述错误检测的结果监视所述指示器芯片中的错误发生,以及基于监视的结果输出指示所述存储器装置的可靠性劣化的可靠性劣化信息。

2.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为从所述存储器装置接收关于所述多个存储器芯片的寿命信息,并且将所述多个存储器芯片中具有相对短寿命的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片。

3.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为在所述存储器装置的初始操作期间接收关于所述多个存储器芯片的测试结果,并将所述多个存储器芯片中具有相对大位错误率的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片。

4.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述存储器控制器被配置为对所述多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片执行多个伪编程操作,以及

所述处理器被配置为将对其执行伪编程操作的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片。

5.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述存储器控制器被配置为将包括在所述码字中的奇偶校验数据写入所述多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片,以及

所述处理器被配置为将奇偶校验数据被写入的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片。

6.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为当在所述指示器芯片中发生错误时输出所述可靠性劣化信息。

7.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为当所述指示器芯片中的错误发生频率超过特定参考值时输出所述可靠性劣化信息。

8.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为当所述指示器芯片的错误发生频率比所述多个存储器芯片中的其他存储器芯片的错误发生频率大特定比率时输出所述可靠性劣化信息。

9.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器还被配置为基于所述错误检测的结果输出指示所述多个存储器芯片中已经发生错误的存储器芯片的位置的第一信息;

将所述至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片,并输出指示被设置为所述指示器芯片的存储器芯片的第二信息;以及

基于所述第一信息和所述第二信息监视所述指示器芯片中的错误发生,并输出所述可靠性劣化信息。

10.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述处理器被配置为将所述多个存储器芯片中具有最低可靠性的第一存储器芯片设置为所述指示器芯片,并且

在响应于所述第一存储器芯片中的错误输出所述可靠性劣化信息之后,所述指示器芯片被改变为所述多个存储器芯片中具有第二最低可靠性的第二存储器芯片。

11.根据权利要求1所述的存储器控制器,

其中,所述多个存储器芯片中的第一存储器芯片被设置为所述指示器芯片,所述第一存储器芯片包括多个单元块,以及

所述处理器被配置为将所述多个单元块中的第一单元块设置为指示器区域,并且当在所述第一单元块中发生错误时,输出所述可靠性劣化信息并将所述指示器区域改变为所述多个单元块中的第二单元块。

12.一种存储器系统,包括:

存储器模块,包括安装在模块板上的多个存储器芯片;以及

存储器控制器,被配置为控制所述存储器模块的所述多个存储器芯片的存储器操作,将所述多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片设置为指示器芯片,并且当基于对从所述存储器模块读取的码字的错误检测的结果确定在所述指示器芯片中已经发生错误时,输出指示所述存储器模块的可靠性劣化的可靠性劣化信息。

13.根据权利要求12所述的存储器系统,

其中,所述存储器控制器包括:

纠错码ecc电路,被配置为对所述码字执行所述错误检测;以及

处理器,被配置为将所述多个存储器芯片中具有相对低可靠性的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片并监视所述指示器芯片中的错误发生。

14.根据权利要求12所述的存储器系统,

其中,所述存储器控制器将包括在所述码字中的奇偶校验数据写入所述多个存储器芯片中的第一存储器芯片,并将所述第一存储器芯片设置为所述指示器芯片。

15.根据权利要求14所述的存储器系统,

其中,当所述第一存储器芯片中的错误发生频率超过特定参考值时,所述存储器控制器输出所述可靠性劣化信息。

16.根据权利要求12所述的存储器系统,

其中,所述存储器模块的所述多个存储器芯片中的每一个包括寿命信息,以及

其中,所述存储器控制器从所述存储器模块接收关于所述多个存储器芯片的寿命信息,并且将所述多个存储器芯片中具有相对短寿命的至少一个存储器芯片设置为所述指示器芯片。

17.根据权利要求12所述的存储器系统,

其中,所述多个存储器芯片中的每一个包括以二维结构或三维结构实现的电阻存储器单元。

18.根据权利要求12所述的存储器系统,

其中,所述存储器模块包括缓冲器芯片,所述缓冲器芯片包括纠错码ecc电路,所述纠错码电路被配置为对从所述存储器模块读取的所述码字执行所述错误检测,以及

所述存储器控制器被配置为基于来自所述缓冲器芯片的错误检测的结果确定所述指示器芯片中是否已经发生错误。

19.一种操作存储器控制器的方法,所述存储器控制器被配置为控制包括多个存储器芯片的存储器装置的存储器操作,所述方法包括:

将所述多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片设置为指示器芯片;

基于对从所述存储器装置读取的码字的错误检测的结果,监视所述指示器芯片中的错误发生;以及

当所述指示器芯片中发生错误时,输出指示所述存储器装置的可靠性劣化的可靠性劣化信息。

20.根据权利要求19所述的方法,

其中,当在所述指示器芯片以外的存储器芯片中发生错误时,不输出所述可靠性劣化信息。

21.根据权利要求19所述的方法,

其中,所述多个存储器芯片中的第一存储器芯片存储包括在所述码字中的奇偶校验数据,以及

将所述第一存储器芯片设置为所述指示器芯片。

22.根据权利要求19所述的方法,

其中,在输出所述可靠性劣化信息时,当所述指示器芯片中的错误发生频率超过特定参考值时,输出所述可靠性劣化信息。


技术总结
提供一种具有改进的数据可靠性的存储器控制器、包括该存储器控制器的存储器系统以及操作该存储器控制器的方法。存储器控制器包括纠错码(ECC)电路,被配置为对从存储器装置读取的码字执行错误检测;以及处理器,被配置为将多个存储器芯片中的至少一个存储器芯片设置为指示器芯片,基于错误检测的结果监视指示器芯片中的错误发生,以及基于监视的结果输出指示存储器装置的可靠性劣化的可靠性劣化信息。

技术研发人员:慎钒揆;朴成奎
受保护的技术使用者:三星电子株式会社
技术研发日:2019.08.01
技术公布日:2020.05.19
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