一种内存设备质量评估方法、装置及计算机可读存储介质与流程

1.本发明属于内存质量评估技术领域，具体涉及一种内存设备质量评估方法、装置及计算机可读存储介质。


背景技术：

2.在内存行业，对于内存设备的制造一直有着相应的制造标准，以满足市场的需要。目前对于内存设备的制造标准主要包括市场标准和商家的自有设计标准；其中，市场标准是指以内存芯片供应商为主体制定的jedec行业协会标准，该标准对内存设备的质量要求相对宽松；企业的自有设计标准是指，所有内存生产商都有一套自有的设计标准，例如美国超威半导体公司(amd，advanced micro devices,inc.)、英特尔公司(intel)、美国美光(micron)、三星(samsung)、海力士(sk hynix)等公司均有自有的一套内存设计标准，该设计标准通常要比jedec标准更加严格。
3.然而，现有的对于内存设备的质量评价标准还相对单一，主要以满足jedec行业标准作为市场标准；然而，各个内存设备的生产企业通常又有自己的一套生产设计标准，而这些自有的生产设计标准一般处于保密状态，导致现有的内存设备的设计标准各不相同。因此，从整个市场层面来看，对于那些满足jedec行业标准，而又不符合企业自设计标准的内存产品，因缺乏正确的等级评价，市场通常将其作为“合格品”推出，这对于需要高品质内存产品的设备和厂商来说非常不利，也不利于市场竞争。
4.因此，现有技术中尚缺乏完善的内存设备综合评价的方法，导致产品质量定位不准确、市场竞争不公平的问题。


技术实现要素：

5.本发明的目的在于提供一种内存设备质量评估方法、装置及计算机可读存储介质，用以解决现有技术中缺乏完善的内存设备综合评价的方法，导致产品质量定位不准确、市场竞争不公平的技术问题。
6.为了实现上述目的，本发明采用以下的技术方案：
7.一种内存设备质量评估方法，所述方法包括：
8.获取所述内存设备的性能参数；
9.将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；
10.根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。
11.进一步的，所述获取所述内存设备的性能参数包括：
12.在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；
13.获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率；
14.其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压vdd、vref的波动；所述时序参数包
括tcl、trcd、trp、trfc、twr、tdelay。
15.进一步的，所述将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二性能标准参数进行比对，并获取比对结果包括：
16.将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为jedec协会内存性能标准参数；
17.将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；
18.其中，自设计内存性能标准高于jedec协会内存性能标准。
19.进一步的，所述根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价包括：
20.当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为a类产品；
21.当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为b类产品；
22.当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为c类产品。
23.本发明还一种内存设备质量评估装置，所述装置包括：
24.性能参数获取单元，用于获取所述内存设备的性能参数；
25.性能参数比对单元，用于将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；
26.等级评价单元，用于根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。
27.进一步的，所述性能参数获取单元包括：
28.参数获取模块，用于在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；
29.出错比率获取模块，用于获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率；
30.其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压vdd、vref的波动；所述时序参数包括tcl、trcd、trp、trfc、twr、tdelay。
31.进一步的，所述性能参数比对单元包括：
32.第一比对结果获取模块，用于将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为jedec协会内存性能标准参数；
33.第二比对结果获取模块，用于将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；
34.其中，自设计内存性能标准高于jedec协会内存性能标准。
35.进一步的，所述等级评价单元包括：
36.第一等级判定模块，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为a类产品；
37.第二等级判定模块，用于当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为b类产品；
38.第三等级判定模块，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为c类产品。
39.本发明还提供一种内存设备质量评估装置，包括依次通信相连的存储器、处理器和收发器，其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述收发器用于收发消息，所述处理器用于读取所述计算机程序，执行如上述的内存设备质量评估方法。
40.本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如上述的内存设备质量评估方法。
41.本发明的有益效果为：本发明通过获取所述内存设备的性能参数；然后将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；最后根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。本发明通过设立综合的分等级评估标准来评估内存设备的质量，能够有效规制现有内存设备等级评价不清晰，导致产品质量差异较大，市场定位不准确的问题，从而在提高内存质量的同时从整体上降低了内存生产的成本。
附图说明
42.图1是本发明实施例一种内存设备质量评估方法的流程示意图；
43.图2是本发明实施例中步骤s1的具体流程图；
44.图3是本发明实施例中步骤s2的具体流程图；
45.图4是本发明实施例中步骤s3的具体流程图；
46.图5是本发明中一种内存设备质量评估装置的模块示意图。
具体实施方式
47.为使本说明书实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本说明书一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本说明保护的范围。
48.应当理解，尽管本文可能使用术语第一、第二等等来描述各种单元，但是这些单元不应当受到这些术语的限制。这些术语仅用于区分一个单元和另一个单元。例如可以将第一单元称作第二单元,并且类似地可以将第二单元称作第一单元，同时不脱离本发明的示例实施例的范围。
49.应当理解，对于本文中可能出现的术语“和/或”，其仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，a和/或b，可以表示：单独存在a，单独存在b，同时存在a和b三种情况；对于本文中可能出现的术语“/和”，其是描述另一种关联对象关系，表示可以存在两种关系，例如，a/和b，可以表示：单独存在a，单独存在a和b两种情况；另外，对于本文中可能出现的字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”关系。
50.应当理解，在本文中若将单元称作与另一个单元“连接”、“相连”或“耦合”时，它可以与另一个单元直相连接或耦合，或中间单元可以存在。相対地，在本文中若将单元称作与
另一个单元“直接相连”或“直接耦合”时，表示不存在中间单元。另外，应当以类似方式来解释用于描述单元之间的关系的其他单词(例如，“在
……
之间”对“直接在
……
之间”,“相邻”对“直接相邻”等等)。
51.应当理解，本文使用的术语仅用于描述特定实施例，并不意在限制本发明的示例实施例。若本文所使用的，单数形式“一”、“一个”以及“该”意在包括复数形式，除非上下文明确指示相反意思。还应当理解，若术语“包括”、“包括了”、“包含”和/或“包含了”在本文中被使用时,指定所声明的特征、整数、步骤、操作、单元和/或组件的存在性,并且不排除一个或多个其他特征、数量、步骤、操作、单元、组件和/或他们的组合存在性或增加。
52.应当理解，还应当注意到在一些备选实施例中，所出现的功能/动作可能与附图出现的顺序不同。例如,取决于所涉及的功能/动作,实际上可以实质上并发地执行,或者有时可以以相反的顺序来执行连续示出的两个图。
53.应当理解，在下面的描述中提供了特定的细节,以便于对示例实施例的完全理解。然而,本领域普通技术人员应当理解可以在没有这些特定细节的情况下实现示例实施例。例如可以在框图中示出系统，以避免用不必要的细节来使得示例不清楚。在其他实例中，可以不以不必要的细节来示出众所周知的过程、结构和技术，以避免使得示例实施例不清。
54.实施例一
55.为了解决现有技术中缺乏完善的内存设备综合评价的方法，导致产品质量定位不准确、市场竞争不公平的技术问题，本申请实施例提供了一种内存设备质量评估方法，该内存设备质量评估装置通过设立综合的分等级评估标准来评估内存设备的质量，能够有效规制现有内存设备等级评价不清晰，导致产品质量差异较大，市场定位不准确的问题，从而在提高内存质量的同时从整体上降低了内存生产的成本。
56.本申请实施例提供的内存设备质量评估方法可应用于各类型内存设备的质量评估中，采用专门的测试仪器、结合实际应用的平台以及测试软件来对设备设备的质量进行评估。其中，所述实际应用的平台可以是智能终端，包括但不限于智能手机、平板电脑、车载电脑、个人电脑(personal computer，pc)、膝上型便携计算机、个人数字助理(personal digital assistant，pda)、移动上网设备(mobile internet device，mid)等的内存设备上，具体不做限定。
57.请具体参见图1
‑
4，示出了本发明实施例的一种内存设备质量评估方法，包括以下步骤：
58.步骤s1，获取所述内存设备的性能参数；
59.在本发明实施例中，优选的，所述步骤s1包括：
60.步骤s11，在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；
61.其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压vdd、vref的波动；所述时序参数包括tcl、trcd、trp、trfc、twr、tdelay。
62.步骤s12，获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率。
63.步骤s2，将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；
64.在本发明实施例中，优选的，所述步骤s2包括：
65.步骤s21，将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为jedec协会内存性能标准参数；
66.步骤s22，将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；其中，自设计内存性能标准高于jedec协会内存性能标准。
67.在本发明实施例中，所述第二内存性能标准参数是企业自有的一种内存设计标准参数，例如像美国超威半导体公司(amd，advanced micro devices,inc.)、英特尔公司(intel)、美国美光(micron)、三星(samsung)、海力士(sk hynix)等公司均有自有的一套内存设计标准，该设计标准通常要比jedec标准更加严格。
68.步骤s3，根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。
69.在本发明实施例中，所述步骤s3包括：
70.步骤s31，当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为a类产品；
71.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数既符合jedec协会的内存性能参数的标准，又符合企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是a类产品，所述a类产品为正品或者优等品。
72.步骤s32，当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为b类产品；
73.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数只符合jedec协会的内存性能参数的标准，但是没有达到企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是b类产品，所述b类产品为标准品。
74.步骤s33，当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为c类产品。
75.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数既达不到jedec协会的内存性能参数的标准，又没有达到企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是c类产品，所述c类产品为不合格品。
76.本发明实施例通过获取所述内存设备的性能参数；然后将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；最后根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。本发明通过设立综合的分等级评估标准来评估内存设备的质量，能够有效规制现有内存设备等级评价不清晰，导致产品质量差异较大，市场定位不准确的问题，从而在提高内存质量的同时从整体上降低了内存生产的成本。
77.实施例二
78.请具体参见图5，示出了本发明实施例的一种内存设备质量评估装置100，包括：
79.性能参数获取单元1，用于获取所述内存设备的性能参数；
80.在本发明实施例中，优选的，性能参数获取单元1包括：
81.参数获取模块11，用于在不同环境压力下获取所述内存设备的时序参数、内存存储单元数据保持能力、数据翻转速度、频率特性、功耗水平中的一种或多种参数；
82.其中，所述环境压力包括温度的变化、相关电压vdd、vref的波动；所述时序参数包括tcl、trcd、trp、trfc、twr、tdelay。
83.出错比率获取模块12，用于获取所述内存设备的内存颗粒存储单元的出错比率。
84.比对结果获取单元2，用于将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；
85.在本发明实施例中，优选的，所述比对结果获取模块2包括：
86.第一比对结果获取模块21，用于将所述性能参数与所述第一内存性能标准参数进行比对，并获取第一比对结果；其中，所述第一内存性能标准参数为jedec协会内存性能标准参数；
87.第二比对结果获取模块22，用于将所述性能参数与所述第二内存性能标准参数进行比对，并获取第二比对结果；其中，所述第二内存性能标准参数为自设计内存性能标准参数；其中，自设计内存性能标准高于jedec协会内存性能标准。
88.在本发明实施例中，所述第二内存性能标准参数是企业自有的一种内存设计标准参数，例如像美国超威半导体公司(amd，advanced micro devices,inc.)、英特尔公司(intel)、美国美光(micron)、三星(samsung)、海力士(sk hynix)等公司均有自有的一套内存设计标准，该设计标准通常要比jedec标准更加严格。
89.等级评价单元3，用于根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。
90.在本发明实施例中，所述等级评价单元3包括：
91.第一等级判定模块31，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为合格时，判定所述内存设备为a类产品；
92.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数既符合jedec协会的内存性能参数的标准，又符合企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是a类产品，所述a类产品为正品或者优等品。
93.第二等级判定模块32，用于当所述第一比对结果为合格，所述第二比对结果为不合格时，判定所述内存设备为b类产品；
94.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数只符合jedec协会的内存性能参数的标准，但是没有达到企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是b类产品，所述b类产品为标准品。
95.第三等级判定模块33，用于当所述第一比对结果与所述第二比对结果均为不合格时，判定所述内存设备为c类产品。
96.在本发明实施例中，当所述内存设备的各项性能参数既达不到jedec协会的内存性能参数的标准，又没有达到企业自设计的内存设备性能参数的标准时，判定所述内存设备是c类产品，所述c类产品为不合格品。
97.本发明实施例通过性能参数获取单元1获取所述内存设备的性能参数；然后通过性能参数比对单元2将所述性能参数分别与第一内存性能标准参数以及第二内存性能标准参数进行比对，并获取比对结果；最后通过等级评价单元3根据所述比对结果，对所述内存设备进行等级评价。本发明通过设立综合的分等级评估标准来评估内存设备的质量，能够有效规制现有内存设备等级评价不清晰，导致产品质量差异较大，市场定位不准确的问题，从而在提高内存质量的同时从整体上降低了内存生产的成本。
98.实施例三
99.本发明还提供一种内存设备质量评估装置，包括依次通信相连的存储器、处理器
和收发器，其中，所述存储器用于存储计算机程序，所述收发器用于收发消息，所述处理器用于读取所述计算机程序，执行如上述的内存设备质量评估方法。
100.应当理解，在本申请实施例中，处理器可以是中央处理单元，该处理器还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignal processor，dsp)、专用集成电路(application specific integrated circuit，asic)、现成可编程门阵列(field
‑
programmable gate array，fpga)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。其中，通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
101.实施例四
102.本领域普通技术人员可以理解的是实现上述实施例的方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。该计算机程序包括程序指令，计算机程序可存储于一存储介质中，该存储介质为计算机可读存储介质。该程序指令被该计算机系统中的至少一个处理器执行，以实现上述内存设备质量评估方法的实施例的流程步骤。
103.因此，本发明还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有一个或者多个程序，所述一个或者多个程序可被一个或者多个处理器执行，以实现如上述的内存设备质量评估方法。所述存储介质可以是u盘、移动硬盘、只读存储器(read
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only memory，rom)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的计算机可读存储介质。
104.在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的。例如，各个单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。
105.显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。