一种Flash存储器的自动检测系统及方法与流程

本发明涉及存储器，具体涉及一种flash存储器的自动检测系统及方法。

背景技术：

1、flash存储器：“flashmemory”，简称为“flash”，中文简称“闪存”，它属于内存器件的一种，是一种不挥发性(non-volatile)内存。flash的物理特性与常见的内存有根本性的差异：目前各类ddr、sdram或者rdram都属于挥发性内存，即只要停止电流供应内存中的数据便无法保持，因此每次电脑开机都需要把数据重新载入内存；flash在没有电流供应的条件下也能够长久地保持数据，其存储特性相当于硬盘，这项特性正是flash得以成为各类便携型数字设备的存储介质的基础。

2、而flash根据厂家、型号、容量的不同进行区分可达到几百种器件，在芯片研发中后期阶段需要对市面上大多数flash器件进行功能、性能、兼容性测试，这往往需要消耗大量的研发人力和物力。传统的测试方法往往是测试完一片flash后，重新焊接更换一片新的flash继续进行测试，并且反复焊接电路板或者插拔器件这容易造成测试开发板的损坏，当遇到不同型号和容量的flash时，往往还要进行软件的修改来匹配对应的flash。通常的flash兼容性测试是把要测试的flash子板直接插接在被测设备测试板卡的socket端口上，直接对其进行各项擦除和读写测试。测试中需要手动更换flash子板，设定各测试项的参数，变换读、写、擦除的方式，如果flash的型号较多时，比如五十种以上，这种手动的测试既浪费时间和人力，效率非常低。

技术实现思路

1、为了克服现有技术中flash测试存在的效率低、需要耗费大量人力和物力的技术问题，本发明提供一种flash存储器的自动检测系统及方法，可对需要测试的flash存储器进行自动测试且可同时测试多个flash存储器，提高工作效率。

2、本发明采用的技术方案如下：

3、一种flash存储器的自动检测系统，包括被测flash芯片、pc端、测试板卡、主芯片板卡和子板，

4、其中，所述pc端用于传达测试指令，所述pc端分别与主芯片板卡和测试板卡之间通信连接；

5、所述测试板卡上设置有多个flashsocket接口，所述flashsocket接口能够兼容spiflash,所述被测flash芯片焊接在子板上，所述子板设置有多个，所述子板设置有插针，所述子板可插接设置在测试板卡的flashsocket接口上，即每个flashsocket接口对应的可插接安装一个子板，每个子板上可焊接一个被测flash芯片，当需要同时测试多个被测flash芯片时，则可以同时进行安装在flashsocket接口上；

6、所述主芯片板卡上设置有平台flash接口，所述测试板卡通过平台flash接口插接在主芯片板卡上，所述主芯片板卡接收pc端的测试指令后通过平台flash接口传递给测试板卡。

7、进一步的，所述每个flashsocket接口设有cs、do、sclk、di多个信号线，所述测试板卡上还设置有多掷继电器开关器件，所述多掷继电器开关器件为uart多掷继电器开关器件，所述uart多掷继电器开关器件被pc端控制每路继电器的通断，所述uart多掷继电器开关器件通过每路继电器的通断实现对测试板卡上每个flashsocket接口的片选信号cs的选通控制，所述uart多掷继电器开关器件通过uart接口与pc端连接，接收pc端的指令并选择对应的flash socket接口进行片选信号cs的接通。

8、进一步的，所述自动检测系统还包括控制单元，所述控制单元设置在pc端，所述控制单元存储有编写好的flash测试脚本程序和多掷继电器开关器件控制程序，用于控制主芯片板卡和uart多掷继电器开关器件开始执行测试。

9、进一步的，所述pc端与主芯片板卡之间通过uart、i2c或spi来实现通信连接，pc端将flash测试脚本程序传递给主芯片板卡实现测试指令与主芯片板卡之间的信息交互，主芯片板卡将测试过程和测试结果反馈给pc端；所述pc端与测试板卡上的uart多掷继电器开关器件之间通过uart接口来实现通信连接，pc端将多掷继电器开关器件控制程序传递给uart多掷继电器开关器件。

10、为了解决现有技术存在的问题，本发明还提供一种flash存储器的自动检测方法，在上述所述的flash存储器的自动检测系统中进行，具体的自动检测方法包括以下执行步骤：

11、s1：安装被测flash芯片，启动自动检测系统；

12、s2：pc端开始运行flash测试脚本程序，控制单元控制uart多掷继电器开关器件选择每个flashsocket接口的连通，并逐个读取安装在每个flashsocket接口上的被测flash芯片的型号和容量，记录存储在pc端；

13、s3：多掷继电器开关器件选择接通一个flashsocket接口的片选信号cs；

14、s41：判断flashsocket接口的片选信号cs是否成功接通，若接通失败则不进行擦除和读写测试，仅记录过程和失败的结果；若接通成功则根据s2记录的被测flash芯片的型号和容量，主芯片板卡对该接口的被测flash芯片开始对应的擦除和读写测试；

15、s42：将记录的测试过程和测试结果通过pc端与主芯片板卡之间的通信反馈给pc端进行分析。

16、s5：重复s3、s41和s42，遍历每个flashsocket接口，完成所有被测flash芯片的测试。

17、进一步的，所述步骤1中安装被测flash芯片具体操作为将本轮需要进行测试的每个flash芯片焊接在对应的子板上，并将每个子板插接在flashsocket接口上。

18、进一步的，所述步骤5中的遍历每个flashsocket接口指每完成一个flash socket接口的被测flash芯片的测试后检查当前是否为最后一个flashsocket接口，若是则完成了所有被测flash芯片的测试；若否则继续下一个flash socket接口的片选信号cs的接通。

19、由此可见，本发明提供的一种flash存储器的自动检测系统及方法，能够一次测试多个flash芯片，通过多掷继电器开关器件控制flashsocket接口的片选信号cs的接通，进而对flashsocket接口上插接的子板上的被测芯片进行擦除、读写测试。

20、本发明至少具有以下有益效果：

21、1、本发明提供的一种flash存储器的自动检测系统，通过设计一个设置有多个flashsocket接口的测试板卡，可同时将多个被测flash芯片安装在子板上后分别插接在flashsocket接口，实现同时对多个被测flash芯片进行擦除、读写测试；

22、2、本发明提供的一种flash存储器的自动检测系统，通过多掷继电器开关器件实现flashsocket接口的片选信号cs的接通，进而实现对被测flash芯片进行自动检测，提高效率的同时减少人力成本；

23、3、本发明提供的一种flash存储器的自动检测方法，在正式测试前先读取安装在每个flashsocket接口上的被测flash芯片的型号和容量并记录下来，用于对每个被测flash芯片进行相对应的擦除、读写测试，使得与不同类型的被测flash芯片相匹配，操作更灵活。