一种动态随机存取存储器模块的检测系统与检测方法与流程

本发明系关于一种动态随机存取存储器模块的检测系统与其方法的，尤其是指一种用以检测动态随机存取存储器模块中电可擦除可编程只读存储器之串行存在检测信息写读功能的检测系统与方法。

背景技术：

1、一般来说，例如像服务器组装厂商或是笔记本电脑组装厂商，通常这类厂商仅会对存储器进行读写的压力测试，即测试存储器的稳定度，以及同时测试存储器的储存与检索资料的能力，然而对于存储器上刻录在电可擦除可编程只读存储器(electrically-erasableprogrammableread-onlymemory；eeprom)内的串行存在检测信息却没有进行检测。但串行存在检测(serialpresencedetect；spd)信息上通常记载了存储器模块一些重要的相关信息，如存储器颗粒的种类、序列号、容量、速度、所需电压、以及制造厂商等等，实务上是应该确认串行存在检测信息可以正确写入，在运作上需要得到串行存在检测信息中的相关信息，则可在使用存储器时将所使用的存储器模块的存取时序设定在最佳状态，就可以确保系统能正常稳定的运作。

2、然而在配合intel系统时，串行存在检测信息却没有进行检测，所以当使用者使用intel系统时，在初期虽然会觉得其性价比较高，但长期使用后会发现其稳定性不强、效能下降很快等诸多缺点。

3、因此，为解决intel系统部份使用上不良等问题，本发明主要目的在于提供一种动态随机存取存储器(dynamicrandom-accessmemory；dram)模块的检测系统与检测方法，以必要发展理想的技术方式，来解决上述问题。

技术实现思路

1、有鉴于在先前技术中通常不会检测电可擦除可编程只读存储器中的信息写读功能，缘此，本发明的主要目的在于提供一种动态随机存取存储器模块的检测系统与检测方法。

2、本发明为解决先前技术之问题，所采用的必要技术手段是提供一种动态随机存取存储器模块的检测系统与检测方法，经由操作寄存器通过系统管理(systemmanagement；sm)总线访问动态随机存取存储器模块，以针对动态随机存取存储器模块上的电可擦除可编程只读存储器写入与读取测试资料，以确认串行存在检测信息的写入与读取功能。

3、本发明提供一种动态随机存取存储器模块的检测系统，用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写读功能，检测系统包含至少一个存储器模块插槽、以及处理单元。

4、存储器模块插槽用以提供让动态随机存取存储器模块插入，动态随机存取存储器模块上具有电可擦除可编程只读存储器。

5、而处理单元还包含有至少一个操作寄存器，操作寄存器通过至少一个系统管理总线电性耦接存储器模块插槽。

6、其中，处理单元中的操作寄存器通过系统管理总线访问动态随机存取存储器模块，并可以写入与读取测试资料于电可擦除可编程只读存储器。

7、进一步说明，所述检测系统还具有一个基本输入输出系统(basic input/outputsystem；bios)，即基本输入输出系统，可在通电启动阶段可以执行硬件初始化，以及为了操作系统运行时提供服务的韧体，此外基本输入输出系统可以感测存储器温度。其中，处理单元中的操作寄存器访问动态随机存取存储器模块之前需关闭基本输入输出系统，以避免操作寄存器访问动态随机存取存储器模块时发生冲突。

8、此外，检测系统中所述的处理单元为中央处理器(centralprocessingunit；cpu)，相较于amd中央处理器虽然价格较高，但长期使用下来性能较稳定且较耐用。

9、检测系统透过操作系统关闭基本输入输出系统中存储器调光温度传感器后，并控制中央处理器中的操作寄存器访问动态随机存取存储器模块。

10、进一步，检测系统还包含存储器控制器，通过内存控制器可以读取动态随机存取存储器模块中的串行存在检测信息和调光温度传感器(temperature sensorondimms；tsod)信息。其中，内存控制器通过系统管理总线访问动态随机存取存储器模块，是经由读取动态随机存取存储器模块读写的系统管理总线从属位址。

11、接续，如前述检测系统中的处理单元还包括存储器模块传输寄存器。存储器模块插槽为双列直插式存储器模块(dualin-linememorymodule；dimm)，存储器模块传输寄存器分别电性耦接每一个存储器模块插槽，通过存储器模块传输寄存器能侦测动态随机存取存储器模块是否安装于存储器模块插槽上。

12、又处理单元还包含多个操作寄存器，多个操作寄存器中之一个操作寄存器还包含中央处理器总线寄存器。中央处理器总线寄存器分别电性耦接二个系统管理总线，并通过其对应的总线识别码，访问二个系统管理总线后端所连接的存储器模块插槽。

13、检测系统中的测试资料可以是样本资料及串行存在检测信息中的至少两者之一。当检测系统中尚未具有原始的样本资料时，除了写入样本资料于电可擦除可编程只读存储器之后再读出之外，也可改用先写入串行存在检测信息，同样通过系统管理总线从属位址到动态随机存取存储器模块的电可擦除可编程只读存储器中，之后可再利用系统管理总线来读取动态随机存取存储器模块的电可擦除可编程只读存储器中先前写入的串行存在检测信息。

14、另外，由于电可擦除可编程只读存储器的写读次数有所限制，所以检测系统中的测试资料是以少量写读的方式来进行验证。

15、进一步，本发明也可以是一种动态随机存取存储器模块的检测方法，用于验证动态随机存取存储器模块所包含电可擦除可编程只读存储器中之信息写读功能，特别是可以针对串行存在检测信息的写读功能，检测方法包含以下步骤：

16、步骤一：透过操作系统(os)关闭基本输入输出系统的内存调光温度传感器，以减少中央处理器对于电可擦除可编程只读存储器的影响。

17、步骤二：接续步骤一，侦测中央处理器中具有连接动态随机存取存储器模块功能的操作寄存器，其中操作寄存器还包含中央处理器总线寄存器。

18、步骤三：接续步骤二，中央处理器总线寄存器中通过至少一个系统管理总线扫描总线识别码，并依照所对应的总线识别码连接的存储器模块插槽。

19、步骤四：读取存储器模块传输寄存器，通过存储器模块传输寄存器侦测存储器模块插槽上安装有动态随机存取存储器模块，并确认要访问的位置。

20、步骤五：接续步骤三以及步骤四，访问动态随机存取存储器模块的电可擦除可编程只读存储器，并通过系统管理总线切换电可擦除可编程只读存储器所包含不同的储存页面。

21、步骤六：接续步骤五，写入与读取测试资料于电可擦除可编程只读存储器。

22、因此，利用本发明提供一种动态随机存取存储器模块的检测系统与其方法，经由操作寄存器可以通过系统管理总线访问动态随机存取存储器模块，写入与读取测试资料于电可擦除可编程只读存储器中，以利使用者于长期操作下，可以避免检测系统稳定性不强、效能下降很快等诸多缺点。

23、本发明所采用的具体实施例，将藉由以下之实施例及图式作进一步之说明。