一种存储器的板级环境测试装置及方法与流程

本发明涉及集成电路测试，特别涉及一种存储器的板级环境测试装置及方法。

背景技术：

1、大容量存储器因其存储容量大，在保证其故障覆盖率的情况下，其测试向量大，测试系统因其有限的存储容量，很难保障大容量存储器高故障覆盖率测试。与此同时，军用存储器为了保障其可靠性，需要对其进行三温测试。原有测试装置和技术包括：基于ate的环境测试装置和方法；通过自动化测试系统开发存储器芯片测试程序，实现存储器芯片的高低温自动化测试筛选，该方法通过插座把被测存储器芯片固定在测试系统上，通过热流罩对存储器芯片进行温度控制，实现高低温测试。基于ate的环境测试装置和方法，热流罩无法长时间扣压在ate机台上使用，行业常规为热流罩不超过5分钟扣压在ate机台，否则会导致ate机台掉电重启——ate机台无法在军用高低温下运行；热流罩体积较小，只能支持单/双site测试；除此以外，该方法只能在常温下对大容量flash进行测试，且占用了大量的ate测试机时，测试成本较高。

2、故此传统的高低温测试方法存在如下缺陷：通过热流罩对成品芯片进行升温、降温处理，一方面热流罩体积较小，多工位测试能力受限，另一方面，热流罩无法长时间扣压在ate机台上，而大容量的flash存储器如2gb的flash存储器功能测试需耗时数小时。因此，亟需在原有的技术基础上进行突破创新，实现大容量的flash存储器的军用高低温测试，同时提升测试效率，降低测试成本。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种存储器的板级环境测试装置及方法，将原本flash存储器测试过程耗时最长的功能测试部分从ate机台转移至本发明提出的测试装置中，以解决ate机台无法对flash存储器长时间进行军用高低温测试的难题，同时通过大量释放ate机台的机时以及可实现存储器芯片12site同测，以解决上述测试成本较高，测试效率较低的问题。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种存储器的板级环境测试装置，包括：

3、驱动板，包括：串口模块、fpga芯片、存储模块、电源模块、时钟模块、电平转化模块和金手指一；所述fpga芯片分别与所述存储模块、所述串口模块、所述电源模块、所述时钟模块和所述电平转化模块连接，所述电平转化模块与所述金手指一连接；

4、上位机，所述上位机通过所述串口模块与所述驱动板进行连接和通讯；

5、工位板，包括：被测芯片插座和金手指二，所述金手指二与所述被测芯片插座连接；其中所述工位板放置于高低温箱内；通过所述金手指一和所述金手指二连接，完成所述驱动板与所述工位板进行连接和通讯。

6、优选的，所述串口模块为rs232串口，所述上位机通过rs232协议与所述驱动板进行通讯。

7、优选的，所述电平转化模块为16t245型号芯片，用于将所述fpga芯片输出的1.8v电压转换成3.3v电压。

8、优选的，还包括上位机控制模块，包括：用于与所述fpga芯片之间的串口通信；用于给所述fpga芯片施加启动命令以及数据测试结果的显示与存储。

9、优选的，所述被测芯片插座上的被测存储器芯片为norflash型号芯片，其存储容量为2gb。

10、本发明还提供了如下技术方案：一种存储器的板级环境测试装置的测试方法，包括如下：

11、步骤一：设计存储器板级环境测试装置；

12、步骤二：在存储模块烧录指令程序；

13、步骤三：通过上位机控制模块，启动fpga芯片读取存储模块内部的烧录指令程序，实现测试动作；

14、步骤四：完成对被测存储器芯片的高低温功能测试。

15、优选的，所述存储模块的烧录指令程序包括：对被测存储器芯片的全地址写、读数据功能测试。

16、优选的，还包括烧录指令程序的功能测试状态机，使用如下跳转过程：

17、首先对被测存储器芯片进行全地址擦写，然后读全地址，若非全1，则跳转至错误状态；

18、接着对被测存储器芯片进行全地址写0，然后读全地址，若非全0，则跳转至错误状态；

19、随后对被测存储器芯片进行全地址擦写，然后全地址写0xaa55，然后读全地址，若非全0xaa55，则跳转至错误状态；

20、最后对被测存储器芯片进行全地址擦写，然后全地址写0x55aa，然后读全地址，若非全0x55aa，则跳转至错误状态。

21、本发明与现有技术相比，具有以下有益效果：

22、本发明针对原有的测试装置和技术进行突破，创新设计存储器的板级环境测试装置及方法，通过上位机启动fpga芯片对高低温箱内的被测存储器芯片进行测试，缓解了测试系统存储向量有限的问题，高低温箱升温、降温速度快，其体积大，可实现存储器芯片12site同测，通过存储器板级环境测试装置及方法的创新应用，提高了测试效率，降低了测试成本。

技术特征：

1.一种存储器的板级环境测试装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的一种存储器的板级环境测试装置，其特征在于，所述串口模块为rs232串口，所述上位机通过rs232协议与所述驱动板进行通讯。

3.如权利要求1所述的一种存储器的板级环境测试装置，其特征在于，所述电平转化模块为16t245型号芯片，用于将所述fpga芯片输出的1.8v电压转换成3.3v电压。

4.如权利要求1所述的一种存储器的板级环境测试装置，其特征在于，还包括上位机控制模块，包括：用于与所述fpga芯片之间的串口通信；用于给所述fpga芯片施加启动命令以及数据测试结果的显示与存储。

5.如权利要求1所述的一种存储器的板级环境测试装置，其特征在于，所述被测芯片插座上的被测存储器芯片为norflash型号芯片，其存储容量为2gb。

6.如权利要求1-5任一项所述的一种存储器的板级环境测试装置的测试方法，其特征在于，包括如下：

7.如权利要求6所述的一种存储器的板级环境测试装置的测试方法，其特征在于，所述存储模块的烧录指令程序包括：对被测存储器芯片的全地址写、读数据功能测试。

8.如权利要求7所述的一种存储器的板级环境测试装置的测试方法，其特征在于，还包括烧录指令程序的功能测试状态机，使用如下跳转过程：

技术总结
本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种存储器的板级环境测试装置及方法。包括：驱动板，包括：串口模块、FPGA芯片、存储模块、电源模块、时钟模块、电平转化模块和金手指一；所述FPGA芯片分别与所述存储模块、所述串口模块、所述电源模块、所述时钟模块和所述电平转化模块连接，所述电平转化模块与所述金手指一连接；上位机，所述上位机通过所述串口模块与所述驱动板进行连接和通讯；工位板，包括：被测芯片插座和金手指二，所述金手指二与所述被测芯片插座连接；其中所述工位板放置于高低温箱内；通过所述金手指一和所述金手指二连接，完成所述驱动板与所述工位板进行连接和通讯。以解决上述测试成本较高，测试效率较低的问题。

技术研发人员：侯晓宇,王建超,常艳昭
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第五十八研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14