一种FLASH冗余替换系统和方法与流程

文档序号:40042497发布日期:2024-11-19 14:20阅读:244来源:国知局
技术特征:

1.一种flash冗余替换系统,用于使用冗余区的位线替换主区的缺陷位线,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的flash冗余替换系统,其特征在于,还包括:

3.如权利要求2所述的flash冗余替换系统,其特征在于,还包括:

4.一种flash冗余替换方法,采用如权利要求1至3任一项所述的flash冗余替换系统,其特征在于,

5.如权利要求4所述的flash冗余替换方法,其特征在于,当第二指针rdn_no指向冗余区的最后一个位线,并且又发生一次替换后,若仍读取出主区的缺陷位线,则结束替换流程,将flash判为废片。

6.如权利要求5所述的flash冗余替换方法,其特征在于,当冗余区的sa检测到冗余区的位线有缺陷时,将该冗余区的位线标记为坏;并使第二指针rdn_no在单调增加时跳过该被标记为坏的位线。

7.如权利要求6所述的flash冗余替换方法,其特征在于,当flash完成冗余替换后,在接受主机访问时,当主机要访问的地址main_addr与lut[n:0]记录的信息匹配时,即可获取lut[m:0]的具体信息,进而得到与该lut[m:0]对应的flag[m:0][1:0],从而得知该主机要访问的地址main_addr是否发生过替换以及是否被检测为坏。

8.如权利要求7所述的flash冗余替换方法,其特征在于,当开始冗余替换后,根据多个sa每次读取的结果进行相应逻辑操作,在读取过程中,如果发现主区的缺陷位线数量大于冗余区的位线数量,则提前结束流程,否则直到主区的字线和位线均达到最大值时,流程结束。

9.如权利要求8所述的flash冗余替换方法,其特征在于,多个sa每次读取的结果为x+y形式,x表示主区的检测结果,y表示冗余区的检测结果,检测结果为1或0,1表示有缺陷,0表示无缺陷,根据不同的读取结果x+y进行不同的逻辑操作,具体如下:


技术总结
本发明公开一种FLASH冗余替换系统和方法,配置第一指针rdn_addr作为冗余区位线的索引指针,配置第二指针rdn_no指向用于替换所述缺陷位线的冗余区位线;在对FLASH进行冗余替换时,首先确定要读取的字线,在同一个字线上,当读取出主区的某个位线有缺陷时,将第二指针rdn_no当前指向的冗余区的位线替换给该主区的缺陷位线,并使第二指针rdn_no指向冗余区的下一个位线;再读取当前字线上的下一组位线,并进行相应的替换行为,直至读取完当前字线,再读取下一个字线,直至将主区的所有字线全部读取结束。本方法通过两种指针与主区同步进行检测,在主区进行一次检测的过程中,冗余区能够进行循环验证并实现错误替换的纠正,减少测试时间的同时,保证了冗余替换的准确性。

技术研发人员:张笑天,吴明森,贾陆陆,彭亦华
受保护的技术使用者:聚辰半导体股份有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/11/18
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