专利名称：光记录和重放装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学重放装置，一种记录和重放装置，一种包括光学重放装置或光学记录和重放装置的处理信息的装置。
近来有多种光学记录介质可供使用。有一种高密度光盘(Compact disk)仅用作重放。一种可记录的高密度盘(CD-R)是可以记录数据的光学记录介质之一。CD-R是高密度盘的标准之一，而且是CD兼容的介质。在记录了信息以后，可以由普通的高密度盘播放机重放。另外，CVD-ROMCVD-RAM等等也可以用作光学记录介质，利用相位变换的盘(PTR)也可使用。除了上述的光盘以外，也可以使用磁-光盘。
然而，CD-R具有比普通的高密度盘更大的反射率波长依赖性。于是，如果安装在光头上的液光器发射更短波长的光束，反射就会减小，CD-R在与普通的高密度盘(CD)相同的状态下不能重放。例如，在波长为780nm时的反射率，CD的是90％，CD-R的是70％，同时在波长为650nm的更短的情况下，CD的反射率是90％，CD-R的是10％。由于CD-R具有650nm(波长)的光的强吸收性能，如果CD-R在和CD相同的状态下重放，记录的数据可能受到破坏。由于反射率低，即使在CD-R上记录的数据不被破坏，数据也不能重放，因为反射率很低。
本发明的目的在于提供一种光学记录和重放装置，该装置能识别具有不同反射率的光记录介质的种类和记录数据。
本发明的另一个目的在于提供一种光学记录和重放装置，该装置能根据光学记录介质的种类稳定地记录和重放数据。
在根据本发明的光记录和重放装置中，在使用光记录介质的反射率的波长依赖性记录和重放以前要识别光记录介质的类型。然后，使用不同波长的两种光源(例如其中一个的波长等于或大于720nm，另一个的波长小于720nm)。在例子中，光源包括发射不同光的发光二极管。有两个光检测器用以接收由光源发射的和由光记录介质反射的光束。当两个光源相继发射光束时，识别器接收在不同的时间的光检测器的信号输出。两个打印头可以合成一个打印头，它包括两个激光二极管和两个光检测器。
在一个改进的发明中有两个印刷头，在光学头中安装的激光二极管用作光源，以及在光学头中安装的光检测器用作光传感器。例如，第一个激光二极管的波长是660±60nm，第二个激光二极管的波长是780±60nm。于是，提供记录和重放数据的光学头也可以用作识别光记录介质的类型。
在一个改进的发明中，用单个光检测器替代两个光检测器。在这种情形下，当两个光源相继发射光束时，识别器在不同的时刻检测该光传感器的信号输出。
当第一和第二光传感器的每一个至少包括两个光敏区时，识别器使用聚焦误差信号或聚焦和信号作为被检测的第一和第二光传感器的输出信号间的差。
最好是识别器包括一个存储较短波长的光检测器的输出的存储器件，并在接收较长的波长(光束)以前接收较短的波长的输出。
另外，控制器根据由识别器确定的光记录介质的类型，最佳化记录或重放的条件。另外，当由于变化而记录或重放不可能进行时，控制器停止该装置的记录或重放或者退出光记录介质。
本发明的优点在于使用简单装置进行记录或重放以前，通过使用在两个波长下反射的波长依赖性能识别光学信息介质的类型。
通过后面结合优选实施例以及说明书附图所作的描述使本发明的这些和那些目的以及特征显而易见。
图1是光记录和重放装置的方框图；图2是根据本发明第一实施例的光记录和重放装置的方框图；图3是CD-R例子的反射率和吸收率的曲线图；图4是根据本发明第二实施例的光记录和重放装置的方框图；图5是该装置的处理器的处理过程的流程图；图6是根据本发明第三实施例的光记录和重放装置的方框图；图7是根据本发明第四实施例的光记录和重放装置的方框图；图8是根据本发明的第五实施例的光记录和重放装置的方框图；图9是根据本发明的第六实施例的光记录和重放装置的方框图；图10是光学头和光记录介质间的距离对聚焦误差信号(FE)的S形波形的曲线；图11是光学头和光记录介质间的距离对聚焦和信号(FS)的波形曲线；图12是根据本发明第七实施例的光记录和重放装置的方框图13是根据本发明第八实施例的光记录和重放装置的方框图；图14是当识别出有3个或更多类型的光记录介质时，多个比较器的联接的示图。
在一些附图中相同的标识符号表示相同的或相应的部件，现在参照附图，图1是根据本发明的第一实施例的光记录和重放装置的主要部件的示图。从图1图示的结构可以知道，它对于下面解释的实施例来说是通用的。光记录介质1例如是仅仅用来重放的高密度盘CD，数据能记录在上面的可记录的高密度盘(CD-R)。在记录和重放启动以前，要确定光记录介质的类型。在下面解释的实施例中，要确定高密度盘(CD)和可记录的高密度盘(CD-R)的类型。
在光记录或重放装置中光信息介质1例如包容在一个托盘上以及由马达10旋转。光学头11向光记录介质1发射激光束和检测由介质，反射的激光束。由光学头11检测的信号由信号处理器12接收，处理器12传送重放的RF信号。另一方面，重放的信号还传送给聚焦跟踪伺服机构13，该机构13能移动光学头。跟踪和聚焦驱动装置14根据从聚焦跟踪伺服机构13接收的信号执行光学头11的跟踪和聚焦。包含中心处理单元的控制器15控制马达10，信号处理器12和聚焦和跟踪伺服和驱动机构13，14。
图2示出了图1所示的确定光学记录介质类型的光学记录和重放装置的一部分。为了便于解释，在图1中所示的部分在图2中未示出。两个光源2和3发射彼此不同的不同波长的光，它们安放在距光记录介质1的预定的距离处。光源2和3从发射红、黄、绿和红外的光发射二极管中选择。例如，光源2是发射红外光的光发射二极管，同时光源3是红的光发射二极管。由第一光源2发射的光的波长比第二光源3的波长要短。光检测器4和5接收由光源2和3发射的和由介质1发射的光。例如元件2至5安装在包容光学记录介质1的托盘上。最好是光源2和3与光检测器4和5的定位使得光检测器4和5能输出最大的信号。由运算放大器构成的差分放大器6检测光检测器4和5的输出间的差，以及比较器8将差分放大器6的输出和由可变电压源7供给的电压相比较。比较器8的输出传送给控制器15(图1)。在记录和重放数据前，根据比较器8的输出识别出具有反射率的不同波长依赖性的光记录介质1的类型。光学系统和光源2和3的输出功率是这样地根据介质1的类型设定的，以致光记录介质1的记录面不被破坏。应当注意到由于提供两个不同波长的光源2和3识别光信息介质，可以在较宽的电压范围内设定可变电压7，和具有一个光源的装置相反，检测的容限比较大。上述确定介质类型的结构可以用低的成本简单地制造。
如果图2所示的装置和由两个光源及一个光检测器执行识别的下面描述的实施例比较，该电路的结构就更简单。这是由于当光源在不同的时间发射时，不需要开关或类似的元件以及不使用保持光传感器输出的保持电路。另外，由于在相同的时间两个光源同时发射和光检测器的输出直接比较，识别速度是高的。
另外，如果光源和光检测器放置在包容光记录介质的托盘中，当光记录介质放入托盘中时，可以迅速判定光记录介质的类型。因此，如果图2所示的装置和下面描述的使用光学头的实施例比较，识别速度高是由于它不需要等待直到记录和重放变为可能的一种状态(或托盘的加载，盘的夹具和在普通的光盘驱动机构中的光盘马达开始旋转)。
用高密度盘(CD)和可记录高密度盘(CD-R)的例子解释了信息记录介质的类型的识别。根据尺寸不能将CD-R与CD区分出来。然而，CD-R具有由有机材料制成的记录面，而且反射率有大的波长依赖性。例如，反射率在780nm时是70％左右，而在650nm时是10％。对于具有反射率较小波长依赖性的CD-R，在650nm波长的的折射率是35％。图12示出了CD-R反射率和吸收率的一个例子。另一方面，CD具有由铝制成的记录面，而且反射率的波长依赖性小。在波长是780nm和680nm时它的反射率大约是90％。那么，如果光源2的波长是650nm和另一个光源3的波长是780nm、CD和CD-R间的光检测器5的输出不变化。同时，CD-R的另一个光传感器4的输出大约是CD的另一个光检测器4的输出的1/2至1/10。因此可以观察到大的差别。于是，通过用差分放大器6检测光检测器4和5的差以及用比较器8比较差分放大器6的输出与可变电压源7产生的基准值用比较器8的双电平输出信号可以确定光信息介质CD或CD-R的类型。在图1和2所示的装置中，为了确定光记录介质CD或CD-R的类型，可变电压源当CD和CD-R放入时可以设定为电压的中点值。于是，当CD置入该装置时，比较器8的输出电压是正的，然而当CD-R置入时，比较器8的输出电压是负的。
在以上解释的第一实施例中，由光源2和3发射的光具有彼此不同的波长。另一方面，发射白光的光源替代光源2和3，在两个光检测器4和5的光接收面可以提供不同特性的滤光片。在这个改进的实施例中也可以得到上述实施例的类似优点。
图4示出了根据本发明第二实施例的光记录和重放装置。在这个装置中，使用单个光检测器104。发射彼此不同波长的光源102和103安置在距光记录介质1的预定距离上。光检测器104接收由光源102和103发射的以及与光源102和103的光发射同步的由介质1反射的光。当光源102打开，另外的光源103就关闭，光检测器104接收由第一光源102发射的和由介质1反射的光束。当第一光源103接通时，另一个光源102关闭，光检测器104接收由第二光源103发射的和由介质1反射的光束。最好是光检测104在光源102和103发射的光的波长上有小的波长依赖性。光检测器104的输出传送给控制器15，以确定光记录介质的类型。
图5示出了控制器15识别光记录介质类型的流程。首先激励第一光源102发射光束，较短波长光的光检测器104的输出被接收，以便存储(步骤S10)。由于首先接收较短波长的输出，如果发现该输出不正常，立即停止操作。然后激励第二光源103发射光束，光检测器104的较长波长的光的输出被接收(步骤S12)。然后计算该两个输出的差(步骤S14)，通过比较该差与基准值确定光记录介质的类型(步骤S16)。上述的识别光记录介质类型的处理过程也可应用到其他实施例。在光记录介质的类型确定后，如果必要，该装置被控制，以稳定具有波长依赖性的光记录介质的记录和重放(步骤S18)。例如，在光学头11中的激光器的输出功率，在光学头中的光检测器的输出增益或介质的转数根据光记录介质的类型最佳化。如果记录和重放不可能，为了防止介质1的记录面的破坏，操作停止下来，或者介质退出来(步骤S20)。在本发明的实施例中，在确定介质类型后控制器15的控制处理过程是共同的，随后将解释。
用不同的方法，一个开关用以与光源102和103的光发射同步地提供光检测器104的输出，而且如图2所示的一个差分放大器检测光检测器的两个输出间的差。在差分放大器的输入级有一个峰值保持电路或者类似的电路。于是，一个比较器将差分放大器的输出和基准电压相比较。
图6示出了根据本发明第三实施例的一种光记录和重放装置。在这个装置中使用单个光源202和单个光检测器204。光源202安置在离光记录介质预定的距离上。而且光检测器接收由光源202发射的和由介质1反射的光。比较器208将光检测器204的输出与可变电压207相比较。光源202发射这样的光，该光束的波长，在要识别的光信息介质1的反射率是大大地不同。
图7示出了根据本发明第四实施例的记录和重放装置。在这个装置中，使用光学头591和592替代图1中所示的光源2、3和光检测器4和5。在这个实施例中，光学头591和592对应于用作记录和重放的图1中所示的光学头11。第一个光学头591是由作为光源的第一激光器二极管5911，第一物镜5921和第一光检测器5931所组成，同时，第二个光学头592是由作为光源的第二激光器二极管5912，第二物镜5922和第二光检测器5932所组成。第一光检测器5931接收由第一激光器二极管5911发射的，经第一物镜5921传播，由介质1反射的和再次通过第一物镜5921传播的光，同时，第二光检测器5932接收由第二激光器二极管5911发射的，经第二物镜5922传播的，由介质1反射的和再次通过第二物镜5922传播的光。差分放大器506放大光检测器5931和5932输出间的差，以及比较器509将差分放大器506的输出与由可变电压源507产生的基准电压相比较。因此，在记录或重放数据以前，根据比较器的输出识别具有不同的反射率波长依赖性的光记录介质1的类型。在这个实施例中，如果光记录介质1的记录面易于受到破坏，激光器二极管5911和5912的功率输出设定得充分地小。
由于使用两个光学头591和592，具有上述的波长依赖性的两种或更多种类的光学信息介质能确实执行记录和重放。另外，由于通过使用安装在光学头上的光源和光检测器能检测光信息记录介质的类型，和上述的实施例相反，不需要检测光信息介质类型的附加元件。当一种CD-R和一种CD-R相当时，波长为650nm的第一激光器二极管5911和波长为780nm的第二激光器二极管5912被使用。在650nm和在780nm波长，CD的的反射率基本相同，而CD-R就很大地不同了。然而，CD-R能容易与CD相区别。另外，由于使用两个光学头，基准电压可以在很宽的电压范围内设定，而且识别的容限是大的。两个激光器二极管的波长不限制为上述的值。当开发了更短的激光器二极管时，两个激光器二极管的波长能减小。
图8示出了本发明的第五实施例的光记录和重放装置。在这个装置中，使用单个光学头690。这个实施中的光学头690与在图1中所示用于记录和重放的光学头11相对应。这个光学头690是由第一激光器二极管6911，第二激光器二极管6912，公共物镜692，第一光检测器6931和第二光检测器6932所构成。第一光检测器6931接收由第一激光器二极管6911发射的，经过物镜692传播的，由介质1反射的和再次经过物镜692传播的光，同时，第二光检测器6932接收由第二激光器二极管6912发射的，经过相同的物镜692传播的，由介质1反射的和经过物镜692再次传播的光。差分放大器606放大光检测器6931和6932的输出间的差，以及比较器608将差分放大器606的输出与由可变电压源607产生的基准电压相比较，这类似于图7所示的第四实施例的装置的类似的部件506和508。
图9示出了本发明的第六实施例的光记录和重放装置。在这个装置中，使用公共的光检测器793，而且光学头有紧凑的尺寸。光学头790是由第一激光器二极管7911，第二激光器二极管7912，公共物镜792和公共光检测器793组成的。在这实施例中，光学头790与图1所示的用于记录和重放的光学头11相对应。光检测器793接收由激光器二极管7911或7912发射的以及同步于光源7911和7912的光发射，由介质1反射的光。当第一激光器二极管7911开启，第二激光器二极管7912关断时，光检测器793接收由第一激光器二极管7911发射的，通过物镜792传播的，由介质1反射的和再次通过物镜792传播的光。当第二激光二极管7912开启，第一激光器二极管7911关断时，光检测器793接收由第二激光器二极管7912发射的，通过物镜792传播的，由介质1反射的和再次通过物镜792传播的光。最好是光检测器793具有在激光器二极管7911和7912发射的光的波长上有小的波长依赖性。光检测器793的输出传送给控制器15，以确定光记录介质的类型。控制器15的处理过程与第二实施例中解释的相同。
在图7和图8所示的第四和第五实施例的装置中，最好是第一和第二光检测器5931，5932，6931，6932的每一个至少由两个光敏区所构成。于是，通过减法可以导出光检测器的两个光敏区的输出信号的差(聚焦误差信号)。图10示出了当执行聚焦时聚焦误差信号(FE)相对光学头和介质间的距离的曲线。然后，两个光检测器的聚焦误差信号间的差由差分放大器放大。
在图7至图9中所示的第四至第六实施例的装置中，最好是光检测器5931，5932，6931，6932和793的每一个至少由两个光敏区域构成。于是通过求和可以导出两个光敏区的输出信号的和(聚焦和信号)。图11示出了绘制的当执行聚焦时，光学头和介质间的距离对聚焦和信号11的波形的例子。为了识别光信息介质的类型，比较器508，608将波形11的峰值电平与基准电压相比较。由于甚至是因为表面损伤或类似的原因不能执行聚焦的光记录介质能被确定光记录介质的类型，这种识别是有优点的。
在图7所示的装置中，或具有两个光源的类似的设备中，通过同时由两个光源发射激光束来执行聚焦。因此，在短的时间内可以精确地确定光记录介质的类型。
另外，在图8所示的过程中，由于使用了在相关激光波长上有反射率波长依赖性的光检测器6931和6932或者在光检测器6931和6932前提供滤光器能加强识别的精确度。
图12示出了根据本发明第七实施例的光记录和重放装置。在这个装置中，单个光学头390是由光源391，物镜392和光检测器393所构成，而且它在这个实施例中对应用于记录和重放的图1所示的光学头11。该光检测器393接收由光源391发射的，通过物镜392传播的，由介质1反射的和再次通过物镜393传播的光。比较器308将光检测器393的输出与由可变电压源307产生的基准电压相比较。光源391发射例如650nm波长的光，在该波长650nm上，识别的光信息介质上的反射率有很大的不同。在光记录和重放装置中，必须使用的光学头390还用以识别光记录介质的类型。因此，识别光记录介质的类型不需要新的元件。
图13示出了根据本发明第八实施例的记录和重放装置。在这个装置中，使用不同类型的光源。光源402发射由光检测器404接收的光。另一方面，光学头490由激光器二极管491构成的光源，物镜492和光检测器93所构成。光检测器493接收由光二极管491发射的，通过物镜492传播的，由介质1反射的和再次通过物镜492传播的光。差分放大器406放大光检测器404和493的输出间的差。两个光检测器404和493的输出电平在加给差分放大器以前适当地调整。比较器408将差分放大器406的输出与由可变电压源407产生的基准电压相比较。光学头490与图1所示的在光记录和重放装置中必须使用的光学头11相对应。相同的光学头还用于光记录介质的类型的识别。因此，用于识别光记录介质类型的元件数减少，以及甚至是由于表面损伤或类似原因不能执行聚焦的光记录介质也能确定出光记录介质的类型。另外，由于使用两个光源，可变电压源7能设定在宽的电压范围内，以及如先前的实施例，识别的容限是大的。
在上述的实施例中，识别CD-R和CD。然而，如果它们在特殊的波长具有不同的反射率，就可以识别三种或更多种类型的光记录介质。例如象图14所示，用彼此平行的两个比较器81和82可以将在充分地分开的两个波长上有反射率差别的三种光记录介质类型识别开来。比较器81和82将差分放大器与彼此不同的可变电压71和72相比较。如果差分放大器的电压输出以三种类型光记录介质1的电压输出辐度的次序V1，V2和V3排列，则可变电压71设定在V1和V2间的中间电压，另一个可变电压72设定在V2和V3中间的电压。如果光记录介质的类型数多于三个，比较器和可变电压的数目将减少。如果在特殊的单一波长下它们有不同的反射率，也可以识别三种或更多种类型的光记录介质。
在光记录介质的类型识别以后，光记录和重放装置根据介质的类型以适当的状态记录或重放数据。根据光记录介质的反射率改变记录和重放的工作状态。根据光记录介质的类型最佳化光学头的激光功率的上限。由光检测器接收的由激光器二极管发射的和由介质反射的光的数量，当激光功率增加时，在记录和在重放时通常是增加的。然而，如果激光功率变得太高，介质的记录面将损坏。于是，光学头的激光功率的上限最佳化，以致在光检测处能接收适当的信号。
另外，最佳化光检测器的输出的增益。由于光检测器接收的信号的大小取决于光记录介质的类型。然后改变信号的增益以便使用该信号。
另外，如果光记录介质是光盘、光盘的旋转速度根据光盘的类型而变。如果在具有低反射率的光盘上的数据被重放，当光学头的激光功率低时，在光检测器上不能得到充分的信号。如果激光功率增加易于破坏介质的记录面，为了防止损坏记录面减少在记录面上的辐射时间就要增加光盘的旋转速度。另一方面，当激光功率辐射到介质上不会损坏介质时，光盘的旋转速度可以减小。这样，由于旋转而产生的噪音可以减小，记录和重放变为可能。
最后，由甚至使用上述的装置判定光记录介质不能用以记录和重放时，例如，当聚焦不可能时或者当记录测试数据时，记录数据不能读出时，记录和重放操作被停止，或者禁止在光记录介质上记录或重放。用不同的方法，光记录介质从光记录和重放装置中退出。因此，防止了介质遭破坏的最坏的情况。
在上述的实施例中，解释了光记录和重放装置。然而，该领域的普通技术人员将很容易知道本发明还可以应用于仅用作重放的装置。
如上解释，在记录和重放前通过提供使用反射率的波长依赖性的简单装置识别光信号信息介质的类型。于是，根据光记录介质类型的识别，激光功率的上限，光检测器的增益，光盘的转数等等被最佳化。甚至如果记录或重放变得不可能，也能防止介质被破坏的最坏情形，因此，可以保护记录在光记录介质上的重要数据。
虽然结合优选实施例以及它的附图完全描述了本发明，应当明白对于本领域的普通技术人员来说各种变化和改进是显而易见的。可以理解那些变化和改进都包含在由从属的权利要求限定的本发明的范围内，除非这些变化和改进离开了该范围。
权利要求
1.一种光记录和重放装置包括发射第一波长光的第一光源；发射比第一波长要长的第二波长的光的第二光源，第一和第二光源安放在距光记录介质预定的距离上；接收由第一光源发射的和由光记录介质反射的光的第一光检测器；接收由第二光源发射的和由光记录介质反射的光的第二光检测器；和检测第一和第二光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里根据该差确定所说的光记录介质的类型。
2.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是这里所说的第一波长等于或大于720nm，和第二波长小于720nm。
3.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是所说的第一光源包含发射红外光的发光二极管，以及所说的第二光源包含发射红光的发光二极管。
4.根据权利要求1的光记录和重放装置，其特征是还包括一个控制器，该控制器用以根据由所说的识别器确定的光记录介质的类型最佳化记录和重放状态。
5.根据权利要求4的光记录和重放装置，其特征是即使控制器最佳化记录和重放状态，当记录和重放变得不可能时，控制器停止记录和重放。
6.一种光记录和重放装置包括发射第一波长的光的第一光源，发射短于第一波长的第二波长的光的第二光源，第一和第二光源安置在距光记录介质预定的距离的位置，接收第一和第二光源的任意一个发射的和由光记录介质反射的光的光检测器；和检测所说的光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里是根据该差来确定所说的光记录介质的类型，在这里，所说的第一和第二光源在不同的时间发射光，以及识别器与光发射同步检测所说的光检测器的输出信号间的差。
7.根据权利要求6的光记录和重放装置，其特征是第一波长等于或大于720nm，以及第二波长小于72nm。
8.根据权利要求6的光记录和重放装置，其特征是所说的第一光源包含发射红外光的发光二极管和所说的第二光源包含发射红光的发光二极管。
9.一种光记录和重放装置，其特征是包括第一光学头，包括发射第一波长的光的第一激光二极管，第一物镜和用以接收由第一激光二极管发射，通过第一物镜传播的，由光记录介质反射的和再次通过第一物镜传播的光的第一光检测器；第二光学头，包括发射比第一波长要长的第二波长的光的激光二极管，第二物镜，和接收由第二激光器二极管发射的，通过第二物镜传播的，由光记录介质发射的和再次通过第二物镜传播的光的第二光检测器；检测第一和第二光检测器的输出信号之间差的识别器，其中是根据该差来确定所说的光记录介质的类型。
10.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区构成的，而且所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号间的第一差，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号间的第二差和得到用作检测的所说第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一差和第二差间的差。
11.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区所构成的，而且所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号的第一和，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号的第二和以及得到用作检测的所说的第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一和第二和间的差。
12.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是第一激光器二极管的第一波长是660±60nm，和第二激光器二极管的第二波长是780±60nm。
13.根据权利要求9的光记录和重放装置，其特征是还包括一个根据由所说的识别器确定的光记录介质的类型最佳化记录或重放状态的控制器。
14.根据权利要求13的光记录和重放装置，其特征在于即使所说的控制器最佳化记录和重放状态，当记录或重放变得不可能进行时停止记录或重放。
15.一种光记录和重放装置包括光学头是由发射第一波长的光的第一激光二极管，一个物镜，接收由第一激光二极管发射的，通过所说的物镜传播的，由光学记录介质反射的和再次通过所说的物镜传播的光的第一光检测器，发射比第一波长短的第二波长的光的第二激光二极管，和接收由第二激光二极管发射的，通过所说的物镜传播的，由光记录介质反射的和再次通过所说物镜传播的光的第二光检测器所构成；和检测所说的第一和第二光检测器输出信号间的差的识别器，其中根据该差确定所说光记录介质的类型。
16.根据权利要求15的光记录和重放装置，其特征是所说的第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区构成，所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号间的第一差，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号间的第二差以及得到用作检测第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一差和第二差间的第三差。
17.根据权利要求15的光记录和重放装置，其特征是第一和第二光检测器的每一个至少是由两个光敏区构成的，所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号间的第一和，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号间的第二和，以及得到作为要检测的第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一与第二和间的差。
18.根据权利要求15的光记录和重放装置，其特征是所说的第一激光二极管的第一波长是660±60nm，以及第二激光二极管的第二波长是780±60nm。
19.一种光记录和重放装置包括光学头包含发射第一波长的光的第一激光二极管，发射短于第一波长的第二波长的光的第二激光二极管，一个物镜和接收由第一和第二激光器二极管发射的，通过所说的物镜传播的，由光记录介质反射的和再次通过所说的物镜传播的光的光检测器；和当第一和第二激光二极管发射光时检测所说的接收用的光检测器的输出信号间的差的识别器，在这里根据该差确定光记录介质的类型；在这里第一和第二激光二极管在不同的时间发射光，以及所说的识别器与光的发射同步检测接收的光检测器的输出信号间的差。
20.根据权利要求19的光记录和重放装置，其特征在于其中第一和第二光检测器的每一个至少包含两个光敏区，所说的识别器得到所说的第一光检测器的两个光敏区的输出信号间的第一差，得到所说的第二光检测器的两个光敏区的输出信号间的第二差以及得到用作检测的第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一和第二差间的第三差。
21.根据权利要求19的光记录和重放装置，其特征在于所说的第一和第二光检测器的每一个至少包含两个光敏区，所说的识别器得到所说第一光检测的两个光敏区的输出信号的和，得到所说的第二光检测的两个光敏区的输出信号的和，以及用作检测的第一和第二光检测器的输出信号间的差的第一和第二和之间的差。
22.根据权利要求19的光记录和重放装置，其特征是第一激光二极管的第一波长是660±60nm，第二激光二极管的第二波长是780±60nm。
23.一种光记录和重放装置包括光学头，包括发射第一波长的光的激光二极管，一个物镜，和接收由所说的激光二极管发射的，通过所说的物镜传播的，由光记录介质反射的和再次通过所说的物镜传播的光的第一光检测器；发射不同于第一波长的第二波长的光的光源，所说的光源安置在距光记录介质预定的距离上；接收由所说的光源发射的和由光记录介质反射的光的第二光检测器；检测第一和第二光检测器的输出信号间的差的识别器，其中根据该差确定光记录介质的类型。
24.根据权利要求23的光记录和重放装置，其特征是其中所说的激光二极管发射780±60nm的第一波长的光，以及所说的光源包含发射不同于780±60nm的25波长的光的发光二极管。
25.根据权利要求23的光记录和重放装置，其特征是其中所说的激光二极管发射660±60的第一波长的光，以及所说的光源由发射不同于660±60nm的波长的光发射二极管所构成。660±60nm的波长的光发射二极管所构成。
全文摘要
在一种光记录和重放装置中有两个诸如彼此不同波长的激光器二极管的光源,光检测器接收由光源发射的和由光记录介质反射的光。在记录和重放开始以前,识别具有不同的反射率波长依赖性的光记录介质的类型。由于使用两个波长,而且输出的差别是大的,根据光检测器的输出确定识别光记录介质的类型。通过最佳化激光功率,控制器的增益和介质的转数等等,根据光记录介质的类型,该装置能稳定地工作。
文档编号G11B7/125GK1170929SQ9711024
公开日1998年1月21日 申请日期1997年2月14日 优先权日1996年2月14日
发明者香山博司, 今中良一, 细美哲雄 申请人:松下电器产业株式会社