存储装置测试方法及系统的制作方法
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种存储装置测试方法及系统。
【背景技术】
[0002] 目前存储装置，如存储器和硬盘，在制造商出货时都需要进行测试，例如，一个服 务器若拥有16GB的存储器，大概需要25分钟的时间测试，如果一间工厂生产了一千片服务 器，则需要约139天的时间来做存储器测试，耗费大量时间。
【发明内容】
[0003]鉴于以上内容，有必要提供一种存储装置测试方法及系统。
[0004] 所述存储装置测试方法包括：对待测存储装置的区块进行编号；从上述编号中随 机挑选一个编号作为二叉树的根节点；根据预设随机算法计算上述二叉树每层节点被全 部建造的机率，所述预设随机算法使该每层节点被全部建造的机率随该层树深的增加而减 小；根据计算得到的每层节点被全部建造的机率，以上述区块的编号作为二叉树的每层节 点的编号，建造二叉树；动态测试二叉树新建造的每个节点编号对应的待测存储装置的区 块；当出现待测存储装置的一个区块被测试出错误时，提示测试失败，并停止建造上述二叉 树；当新建造的每个节点编号对应的待测存储装置区块都通过测试时，提示测试成功。
[0005] 所述存储装置测试系统包括：编号模块，用于对待测存储装置的区块进行编号； 挑选模块，用于从上述编号中随机挑选一个编号作为二叉树的根节点；计算模块，用于根据 预设随机算法计算上述二叉树每层节点被全部建造的机率，所述预设随机算法使每层节点 被全部建造的机率随该层树深的增加而减小；建造模块，用于根据计算得到的每层节点被 全部建造的机率，以上述区块的编号作为二叉树的每层节点的编号，建造二叉树；测试模 块，用于动态测试二叉树新建造的每个节点编号对应的待测存储装置的区块；所述测试模 块，还用于当出现待测存储装置的一个区块被测试出错误时，提示测试失败，并停止建造上 述二叉树；所述测试模块，还用于当新建造的每个节点编号对应的待测存储装置区块都通 过测试时，提示测试成功。
[0006] 本发明以待测存储装置的区块编号为节点编号，根据预设随机算法建立二叉树， 并对二叉树每个节点编号对应的待测存储装置区块进行测试，使存储装置的区块被均匀抽 样测试，改变了以往测试待测存储装置需耗费大量时间。
【附图说明】
[0007] 图1是本发明存储装置测试系统的较佳实施方式的运行环境图。
[0008]图2是本发明存储装置测试系统的较佳实施方式的功能模块图。
[0009] 图3是系发明存储装置测试方法的较佳实施方式的流程图。
[0010] 图4是系建造所述二叉树的示意图。
[0011] 主要元件符号说明
【主权项】
1. 一种存储装置测试方法，其特征在于，该方法包括： 对待测存储装置的区块进行编号； 从上述编号中随机挑选一个编号作为二叉树的根节点； 根据预设随机算法计算上述二叉树每层节点被全部建造的机率，所述预设随机算法使 该每层节点被全部建造的机率随该层树深的增加而减小； 根据计算得到的每层节点被全部建造的机率，W上述区块的编号作为二叉树的每层节 点的编号，建造二叉树；动态测试二叉树新建造的每个节点编号对应的待测存储装置的区 块； 当出现待测存储装置的一个区块被测试出错误时，提示测试失败，并停止建造上述二 叉树； 当新建造的每个节点编号对应的待测存储装置区块都通过测试时，提示测试成功。
2. 根据权利要求1所述的存储装置测试方法，其特征在于，所述根节点为上述编号中 位于中间位置的编号。
3. 根据权利要求1所述的存储装置测试方法，其特征在于，所述预设随机算法为： 每层节点被全部建造的机率=1-0. 04*每层树深。
4. 一种存储装置测试系统，其特征在于，该系统包括： 编号模块，用于对待测存储装置的区块进行编号； 挑选模块，用于从上述编号中随机挑选一个编号作为二叉树的根节点； 计算模块，用于根据预设随机算法计算上述二叉树每层节点被全部建造的机率，所述 预设随机算法使每层节点被全部建造的机率随该层树深的增加而减小； 建造模块，用于根据计算得到的每层节点被全部建造的机率，W上述区块的编号作为 二叉树的每层节点的编号，建造二叉树； 测试模块，用于动态测试二叉树新建造的每个节点编号对应的待测存储装置的区块； 所述测试模块，还用于当出现待测存储装置的一个区块被测试出错误时，提示测试失 败，并停止建造上述二叉树； 所述测试模块，还用于当新建造的每个节点编号对应的待测存储装置区块都通过测试 时，提示测试成功。
5. 根据权利要求4所述的存储装置测试系统，其特征在于，所述根节点为上述编号中 位于中间位置的编号。
6. 根据权利要求4所述的存储装置测试系统，其特征在于，所述预设随机算法为： 每层节点被全部建造的机率=1-0. 04*每层树深。
【专利摘要】一种存储装置测试方法及系统，该方法包括：给待测存储装置区块编号；随机挑选一个编号作为二叉树根节点；根据预设随机算法计算二叉树每层节点被全部建造的机率；根据每层节点被全部建造的机率，以区块编号作为二叉树的每层节点编号，建造二叉树；测试二叉树新建造的每个节点编号对应的区块；当待测存储装置的一个区块被测试出错误时，提示测试失败，并停止建造二叉树；当新建造的每个节点编号对应的区块都通过测试时，提示测试成功。本发明以区块编号为节点，建立二叉树，并对每个节点对应区块进行测试，使存储装置的区块被均匀抽样测试，改变了以往测试存储装置需耗大量时间。
【IPC分类】G11C29-56
【公开号】CN104575621
【申请号】CN201310494768
【发明人】黄思纶
【申请人】鸿富锦精密工业（深圳）有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2013年10月21日