基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构的制作方法

文档序号:6967303阅读:147来源:国知局
专利名称:基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构。属于半导 体封装技术领域。
背景技术
传统的封装结构主要有二种第一种采用金属基板的正面进行化学蚀刻及表面电镀层后,在金属基板的背面 贴上一层耐高温的胶膜形成可以进行封装过程的引线框载体(如图3所示);第二种采用金属基板的正面进行化学蚀刻及表面电镀层后,即完成引线框的制 作(如图4所示)。而引线框的背面则在封装过程中再进行背面蚀刻。而上述的二种引线框在封装过程中存在了以下的不足点第一种1)此种的引线框架因背面必须要贴上一层昂贵可抗高温的胶膜。所以直接增加了 高昂的成本。2)也因为此种的引线框架的背面必须要贴上一层可抗高温的胶膜,所以在封装过 程中的装片工艺只能使用导电或是不导电的树脂工艺,而完全不能采用共晶工艺以及软焊 料的工艺进行装片,所以可选择的产品种类就有较大的局限性。3)又因为此种的引线框架的背面必须要贴上一层可抗高温的胶膜,而在封装过程 中的球焊键合工艺中,因为此可抗高温的胶膜是软性材质,所以造成了球焊键合参数的不 稳定,严重的影响了球焊的质量与产品可靠度的稳定性。4)再因为此种的引线框架的背面必须要贴上一层可抗高温的胶膜,而在封装过程 中的塑封工艺过程,因为塑封的高压关系很容易造成引线框架与胶膜之间渗入塑封料,而 将原本应属金属脚是导电的型态因为渗入了塑封料反而变成了绝缘脚(如图5所示)。第二种此种的引线框架结构在金属基板正面进行了半蚀刻工艺,虽然可以解决第一种引 线框架的问题,但是因为只在金属基板正面进行了半蚀刻工作,而在塑封过程中塑封料只 有包覆住半只脚的高度,所以塑封体与金属脚的束缚能力就变小了,如果塑封体贴片到PCB 板上不是很好时,再进行返工重贴,就容易产生掉脚的问题(如图6所示)。尤其塑封料的种类是采用有填料时候,因为材料在生产过程的环境与后续表面贴 装的应力变化关系,会造成金属与塑封料产生垂直型的裂缝,其特性是填料比例越高则越 硬越脆越容易产生裂缝。

发明内容本实用新型的目的在于克服上述不足,提供一种降低封装成本、可选择的产品种 类广、球焊的质量与产品可靠度的稳定性好、塑封体与金属脚的束缚能力大的基岛露出型 及下沉基岛露出型无源器件封装结构。[0015]本实用新型的目的是这样实现的一种基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封 装结构,包括基岛、引脚、导电或不导电粘结物质、芯片、金属线和有填料塑封料,所述基岛 有二组,一组为第一基岛,另一组为第二基岛,所述第二基岛正面中央区域下沉,在所述第 一基岛和引脚的正面设置有第一金属层,在所述第一基岛、第二基岛和引脚的背面设置有 第二金属层,在第二基岛正面中央下沉区域和第一基岛正面通过导电或不导电粘结物质设 置有芯片,芯片正面与引脚正面第一金属层之间以及芯片与芯片之间均用金属线连接,在 引脚与引脚之间或引脚与基岛之间跨接有无源器件,在所述基岛和引脚的上部以及芯片、 金属线和无源器件外包封有填料塑封料,在所述引脚外围的区域、引脚与第一基岛之间的 区域、第一基岛与第二基岛之间的区域以及第二基岛与引脚之间的区域嵌置无填料塑封 料,所述无填料塑封料将引脚下部外围、引脚与第一基岛下部、第一基岛与第二基岛下部以 及第二基岛与引脚下部连接成一体,且使所述基岛和引脚背面尺寸小于基岛和引脚正面尺 寸,形成上大下小的基岛和引脚结构。本实用新型的有益效果是1)此种的引线框的背面不须要贴上一层昂贵可抗高温的胶膜。所以直接降低了高 昂的成本。2)也因为此种的引线框架的背面不须要贴上一层可抗高温的胶膜,所以在封装过 程中的装片工艺除了能使用导电或是不导电的树脂工艺外,还能采用共晶工艺以及软焊料 的工艺进行装片,所以可选择的产品种类就广。3)又因为此种的引线框架的背面不须要贴上一层可抗高温的胶膜,确保了球焊键 合参数的稳定性,保证了球焊的质量与产品可靠度的稳定性。4)再因为此种的引线框架不须要贴上一层可抗高温的胶膜,而在封装过程中的塑 封工艺过程,完全不会造成引线框与胶膜之间渗入塑封料。5)由于在所述金属脚(引脚)与金属脚间的区域嵌置无填料软性填缝剂,该无填 料的软性填缝剂与在塑封过程中的常规有填料塑封料一起包覆住整个金属脚的高度,所以 塑封体与金属脚的束缚能力就变大了,不会再有产生掉脚的问题。6)由于采用了正面与背面分开蚀刻作业的方法,所以在蚀刻作业中可形成背面基 岛的尺寸稍小而正面基岛尺寸稍大的结构,而同个基岛的上下大小不同尺寸在被无填料塑 封料所包覆的更紧更不容易产生滑动而掉脚。

图1为本实用新型基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构示意图。图2为图1的俯视图。图3为以往在金属基板的背面贴上一层耐高温的胶膜图作业。图4为以往采用金属基板的正面进行化学蚀刻及表面电镀层作业图。图5为以往形成绝缘脚示意图。图6为以往形成的掉脚图。图中附图标记基岛1、第一基岛1. 1、第二基岛1. 2、引脚2、无填料塑封料3、第一金属层4、第二 金属层5、导电或不导电粘结物质6、芯片7、金属线8、有填料塑封料9、无源器件10。
具体实施方式
参见图1 2,图1为本实用新型基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构 示意图。图2为图1的俯视图。由图1和图2可以看出,本实用新型基岛露出型及下沉基 岛露出型无源器件封装结构,包括基岛1、引脚2、导电或不导电粘结物质6、芯片7、金属线 8和有填料塑封料9,所述基岛1有二组,一组为第一基岛1. 1,另一组为第二基岛1.2,所述 第二基岛1. 2正面中央区域下沉,在所述第一基岛1. 1和引脚2的正面设置有第一金属层 4,在所述第一基岛1. 1、第二基岛1. 2和引脚2的背面设置有第二金属层5,在第二基岛1. 2 正面中央下沉区域和第一基岛1. 1正面通过导电或不导电粘结物质6设置有芯片7,芯片7 正面与引脚2正面第一金属层4之间以及芯片7与芯片7之间均用金属线8连接,在引脚2 与引脚2之间或引脚2与基岛1之间跨接有无源器件10,在所述基岛1和引脚2的上部以 及芯片7、金属线8和无源器件10外包封有填料塑封料9,在所述引脚2外围的区域、引脚 2与第一基岛1. 1之间的区域、第一基岛1. 1与第二基岛1. 2之间的区域以及第二基岛1. 2 与引脚2之间的区域嵌置无填料塑封料3,所述无填料塑封料3将引脚下部外围、引脚2与 第一基岛1. 1下部、第一基岛1. 1与第二基岛1. 2下部以及第二基岛1. 2与引脚2下部连 接成一体,且使所述基岛1和引脚2背面尺寸小于基岛1和引脚2正面尺寸,形成上大下小 的基岛和引脚结构。
权利要求一种基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构,包括基岛(1)、引脚(2)、导电或不导电粘结物质(6)、芯片(7)、金属线(8)和有填料塑封料(9),所述基岛(1)有二组,一组为第一基岛(1.1),另一组为第二基岛(1.2),所述第二基岛(1.2)正面中央区域下沉,在所述第一基岛(1.1)和引脚(2)的正面设置有第一金属层(4),在所述第一基岛(1.1)、第二基岛(1.2)和引脚(2)的背面设置有第二金属层(5),在第二基岛(1.2)正面中央下沉区域和第一基岛(1.1)正面通过导电或不导电粘结物质(6)设置有芯片(7),芯片(7)正面与引脚(2)正面第一金属层(4)之间以及芯片(7)与芯片(7)之间均用金属线(8)连接,在引脚(2)与引脚(2)之间或引脚(2)与基岛(1)之间跨接有无源器件(10),在所述基岛(1)和引脚(2)的上部以及芯片(7)、金属线(8)和无源器件(10)外包封有填料塑封料(9),其特征在于在所述引脚(2)外围的区域、引脚(2)与第一基岛(1.1)之间的区域、第一基岛(1.1)与第二基岛(1.2)之间的区域以及第二基岛(1.2)与引脚(2)之间的区域嵌置无填料塑封料(3),所述无填料塑封料(3)将引脚下部外围、引脚(2)与第一基岛(1.1)下部、第一基岛(1.1)与第二基岛(1.2)下部以及第二基岛(1.2)与引脚(2)下部连接成一体,且使所述基岛(1)和引脚(2)背面尺寸小于基岛(1)和引脚(2)正面尺寸,形成上大下小的基岛和引脚结构。
专利摘要本实用新型涉及一种基岛露出型及下沉基岛露出型无源器件封装结构,包括基岛(1)、引脚(2)、导电或不导电粘结物质(6)、芯片(7)、金属线(8)和有填料塑封料(9),基岛有二组,一组为第一基岛(1.1),另一组为第二基岛(1.2),第二基岛(1.2)正面中央区域下沉,在第一基岛(1.1)和引脚(2)的正面设置有第一金属层(4),在第一基岛(1.1)、第二基岛(1.2)和引脚(2)的背面设置有第二金属层(5),在引脚(2)与引脚(2)之间或引脚(2)与基岛(1)之间跨接有无源器件(10),在所述引脚(2)外围的区域、引脚(2)与第一基岛(1.1)之间的区域、第一基岛(1.1)与第二基岛(1.2)之间的区域以及第二基岛(1.2)与引脚(2)之间的区域嵌置无填料塑封料(3),且使基岛(1)和引脚(2)背面尺寸小于基岛(1)和引脚(2)正面尺寸。本实用新型塑封体与金属脚的束缚能力大。
文档编号H01L21/48GK201681903SQ20102018475
公开日2010年12月22日 申请日期2010年5月5日 优先权日2010年5月5日
发明者梁志忠, 王新潮 申请人:江苏长电科技股份有限公司
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