带双凸点的四边扁平无引脚三ic芯片封装件的制作方法

文档序号:6910445阅读:138来源:国知局
专利名称:带双凸点的四边扁平无引脚三ic芯片封装件的制作方法
技术领域
本实用新型涉及电子信息自动化元器件制造技术领域,特别是一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件。
背景技术
近年来,移动通信和移动计算机领域的便捷式电子机器市场火爆,直接推动了小型封装和高密度组装技术的发展。同时,也对小型封装技术提出了一系列严格要求,诸如, 要求封装外形尺寸尽量缩小,尤其是封装高度小于1 mm ;封装后的产品可靠性尽可能提高, 为了保护环境适应无铅化焊接,并力求降低成本等。QFN (Quad Flat Non-Leaded Package 方形扁平无引脚封装)由于具有良好的电和热性能、体积小、重量轻、其应用正在快速增长。 但是目前如QFN (0505X0. 75-0. 50) QFN (0909 X 0. 75-0. 50)载体较大,通常内引脚长度固定,靠近载体的内引脚底面已被蚀刻成凹坑,而当IC芯片较小时,从芯片焊盘到引脚部分的距离较大,由于靠近载体的引脚底面悬空,打线时会晃动,焊球打不牢,只能在靠近外露引脚部分打线,致使焊线长度长,造成焊线成本较高,制约了产品的利润空间。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题就是针对上述QFN缺点,提供一种缩小了载体尺寸,所有的内引脚向内延伸靠近载体,从芯片上的焊盘(PAD)到内引脚的距离缩短,从而缩短从芯片焊盘到内引脚的焊线长度,降低焊线成本,适合于小芯片的一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件。本实用新型的技术问题通过下述技术方案解决一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,包括引线框架载体、粘片胶、 IC芯片、内引脚、键合线及塑封体,所述的内引脚向内延伸靠近所述的载体,载体缩小,载体上粘接有第一 IC芯片,第一 IC芯片上端粘接第二 IC芯片,第二 IC芯片上端粘接第三IC 芯片;所述内引脚底部凹坑长度加长,每只内引脚在靠近载体一侧底面形成一外露的凸点, 凹坑外侧的底面是柱形外引脚,外露长度同普通QFN外引脚。所述外露凸点上面的内引脚上打接第一键合线、第三键合线及第五键合线,第一键合线另一端与第一 IC芯片焊接,第三键合线另一端与第二 IC芯片焊接,第五键合线另一端与所述第三IC芯片焊接。所述第一 IC芯片与第二 IC芯片之间连接有第二键合线;第二 IC芯片与第三IC 芯片之间连接有第四键合线。所述的内引脚向内延伸0. 2mm 0. 8mm。所述的载体缩小0. 4mm 1. 6mm。所述内引脚底部的凹坑长度加长0. 2mm 0. 5mm。本实用新型载体缩小,内引脚向内延伸载体,并且延伸部分的底部外露形成一个小凸点,引脚底部的凹坑较大,凹坑外侧是柱形外引脚,其外露部分同普通引脚框架。这样, 载体缩小,提高了芯片和载体的匹配性,同时提高了产品封装质量和可靠性。内引脚延伸并露出凸点,缩小了 IC芯片上的焊盘与内引脚间的距离,并且可以将焊线打在外露凸点上面
3的引脚上,此时引脚不悬空,减少了引线长度,不仅可以节约焊线成本,而且还可提高频率特性。

图1为本发明外露凸点的压焊平面示意图。图2为本发明结构示意图。图3为本发明外露凸点底面示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进行详细说明本实用新型包括引线框架载体、粘片胶、IC芯片、内引脚、键合线、及塑封体,内引脚4向内延伸靠近载体1,载体1缩小,内引脚底部凹坑16长度加长,每只内引脚4在靠近载体一侧形成一外露的凸点15,凹坑外侧的底面是柱形外引脚17,外露长度同普通QFN外引脚。外露凸点15上面的内引脚上打接第一键合线5,第一键合线5另一端与第一 IC芯片 3焊接,第一 IC芯片3上端通过绝缘胶7粘接第二 IC芯片8,第二 IC芯片8上端粘接第三 IC芯片10。第二 IC芯片8与第一 IC芯片3之间连接有第二键合线9 ;外露凸点15上面的内引脚上打接第三键合线12,第三键合线12另一端与第二 IC芯片8焊接。第二 IC芯片 8与第三IC芯片10之间连接有第四键合线14 ;外露凸点15上面的内引脚上打接第五键合线13,第五键合线13的另一端与第三IC芯片10焊接。塑封体6包围了引线框架载体1, 粘片胶(绝缘胶或导电胶》,第一 IC芯片3,内引脚4,第一键合线5,绝缘胶7,第二 IC芯片 8,第二键合线9,第三键合线12,第三IC芯片10,第四键合线14,第五键合线13,凸点15, 凹坑16和外引脚17的上表面构成电路整体,并对其起到了保护作用。本实用新型的生产步骤为1.减薄下层芯片减薄厚度150 μ m,粗糙度Ra 0. IOmm ;第二 IC芯片和第三IC芯片减薄厚度75μπι 50μπι,粗糙度Ra 0. 05mm,粗磨、细磨,抛光防翘曲工艺;8" 12"晶圆厚度减薄贴片机用DR3000 III /NITIO,8" 12"减薄机PG300RM/TSN.测厚仪 DH151/TSK ;2.划片8" 12"划片机:WD300TXB,贴片用 DR3000 III /TSK,下层芯片减薄厚度150 μ m,采用普通QFN划片工艺第二 IC芯片和第三IC芯片减薄厚度75μπι 50μπι,采用防碎片工艺划片;3.上芯8" 12"选用 DB-700FC/ 粘片机;粘片材料底层粘片采用膨胀系数80 195PPM/°C、低吸水率< 0. 15%的导电胶或绝缘胶,二层和三层芯片采用绝缘胶QMI538NB,引线框架选用带双凸点的四面扁平无引脚框架,粘好一层芯片后,在175°C下,使用粘片胶烘烤工艺烘烤1小时。然后分别粘完二层和三层芯片,再在175°C下,使用粘片胶烘烤工艺烘烤2小时;4、压焊[0030]压焊选用Eagle60键合机,焊线材料选用金线,压焊采用超低弧度压焊工艺,高低弧正反打线方式,避免交丝和断丝现象,焊线温度210°C ;先在金线键合机上,给IC芯片10和IC芯片8、IC芯片8和IC芯片3间焊线的焊盘上各植1个金球,然后给IC芯片10和IC芯片8、IC芯片8和IC芯片3已植金球间打键合线9和键合线14,最后给IC芯片10、IC芯片8和IC芯片3和对应在的脚间打键合线 5、键合线12和键合线13;5.塑封塑封设备采用通用QFN自动包封系统,塑封料选用低应力、低吸水率的CEL9220 系列环保塑封料,模温180°C,注塑压力35Kgf/Crrf,并使用自动包封系统的多段注塑程序,调整控制塑封过程,防止冲线和芯片表面等分层;后固化时,使用带螺旋加压装置的专用防翘曲固化夹具;6.电镀和打印同普通QFN工艺;7、切割切割机选择DAD3350,清洗机DCS1440,QFN双焊点切割夹具。按正常工艺将矩阵式框架封装的单元产品切割成单个产品,机器自动检测合格后放入料盘。
权利要求1.一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,包括引线框架载体、粘片胶、IC 芯片、内引脚、键合线及塑封体,其特征在于所述的内引脚(4)向内延伸靠近所述的载体 (1),载体(1)缩小,载体(1)上粘接有第一 IC芯片(3),第一 IC芯片(3)上端粘接第二 IC芯片(8),第二 IC芯片(8)上端粘接第三IC芯片(10);所述内引脚(4)底部凹坑(16)长度加长,每只内引脚(4)在靠近载体一侧底部形成一外露的凸点(15),凹坑(16)的外侧底部是柱形外引脚(17),所述外露凸点(15)上面的内引脚(4)上打接第一键合线(5)、第三键合线 (12)及第五键合线(13),第一键合线(5)另一端与第一 IC芯片(3)焊接,第三键合线(12) 另一端与第二 IC芯片(8)焊接,第五键合线(13)另一端与所述第三IC芯片(10)焊接。
2.根据权利要求1所述的一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,其特征在于所述第一 IC芯片(3)与第二 IC芯片(8)之间连接有第二键合线(9);第二 IC芯片(8) 与第三IC芯片(10)之间连接有第四键合线(14)。
3.根据权利要求1或2所述的带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,其特征在于所述的内引脚(4)向内延伸0. 2mm 0. 8mm。
4.根据权利要求1或2所述的带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,其特征在于所述的载体(1)缩小0. 4謹 1. 6謹。
5.根据权利要求1或2所述的带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件,其特征在于所述内引脚底部的凹坑(16)长度加长0. 2mm 0. 5_。
专利摘要本实用新型是一种带双凸点的四边扁平无引脚三IC芯片封装件。包括引线框架载体、粘片胶、IC芯片、内引脚、键合线及塑封体,内引脚向内延伸靠近所述的载体,载体上粘接有第一IC芯片,第一IC芯片上端粘接第二IC芯片,第二IC芯片上端粘接第三IC芯片;内引脚底部凹坑长度加长,每只内引脚在靠近载体一侧底部形成一外露凸点,凹坑外侧底部是柱形外引脚,外露凸点上面的内引脚上打接第一键合线、第三键合线及第五键合线,第一键合线另一端与第一IC芯片焊接,第三键合线另一端与第二IC芯片焊接,第五键合线另一端与所述第三IC芯片焊接。本实用新型载体缩小,提高了芯片和载体的匹配性。内引脚延伸并露出凸点,引脚不悬空,减少引线长度,节约焊线成本,而且还提高频率特性。
文档编号H01L23/49GK202339910SQ20112027363
公开日2012年7月18日 申请日期2011年7月29日 优先权日2011年7月29日
发明者何文海, 慕蔚, 郭小伟 申请人:华天科技(西安)有限公司, 天水华天科技股份有限公司
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