技术特征：
技术总结
本发明的实施例提供了一种设计用于半导体器件的包括标准备用单元的布局的方法。这种方法包括：基于金属化层的带线的第二间距生成用于标准备用单元的第一间距的可能值集合；选择可能值集合中的一个成员作为第一间距；以及根据第一间距将标准备用单元置放到布局的逻辑区中；其中，通过计算机的处理器执行生成、选择和置放中的至少一个。本发明的实施例还提供了半导体器件的布局以及一种包括用于执行设计半导体器件的方法的计算机可执行指令的计算机可读介质。
技术研发人员：邱茂为;江庭玮;庄慧中;田丽钧;卢麒友
受保护的技术使用者：台湾积体电路制造股份有限公司
技术研发日：2017.08.18
技术公布日：2018.04.06