本实用新型涉及天线结构领域，尤其涉及一种具有调试片的天线结构。
背景技术：
现时的天线结构一般包括数个振子列阵，振子列阵之间容易互相干扰，导致极化不纯，交叉极化比指标恶化等现象。
技术实现要素：
本实用新型的目的在于提供一种能减少干扰，使天线交叉极化更纯的具有调试片的天线结构。
为了实现上述目的，本实用新型的技术方案为：提供一种具有调试片的天线结构，包括反射板及若干列互相平行的置于所述反射板上的振子列阵，同一振子列阵的振子之间连续或者间隔设置有C型调试片及U型调试片，所述C型调试片及所述U型调试片与所述反射板之间垫设有绝缘层。
所述C型调试片的长度大于或者小于所述U型调试片的长度。
所述C型调试片的长度小于所述U型调试片的长度。
与现有技术相比，本实用新型具有调试片的天线结构的同一振子列阵的振子之间间隔设置有C型调试片及U型调试片，从而减少同阵列中，辐射单元+45，及-45度极化之间的相互耦合影响，提升天线交叉极化比指标。
通过以下的描述并结合附图，本实用新型将变得更加清晰，这些附图用于解释本实用新型的实施例。
附图说明
图1为本实用新型具有调试片的天线结构第一个角度的结构图。
图2为本实用新型具有调试片的天线结构第二个角度的结构图。
图3为本实用新型具有调试片的天线结构第三个角度的结构图
具体实施方式
参考图1至图3，本实用新型具有调试片的天线结构100包括反射板10及若干列互相平行的置于所述反射板10上的振子列阵20。同一振子列阵20的振子21之间连续或者间隔设置有C型调试片22及U型调试片23。所述C型调试片22及所述U型调试片23与所述反射板10之间垫设有绝缘层(图未示)。通过绝缘层的垫设，从而达到C型调试片22及U型调试片23悬浮于所述反射板10上的作用。所述C型调试片的长度大于或者小于所述U型调试片的长度。本实施例中，所述C型调试片的长度小于所述U型调试片的长度。
该具有调试片的天线结构的同一振子列阵的振子之间间隔设置有C型调试片及U型调试片，从而减少同阵列中，辐射单元+45，及-45度极化之间的相互耦合影响，提升天线交叉极化比指标。
以上结合最佳实施例对本实用新型进行描述，但本实用新型并不局限于以上揭示的实施例，而应当涵盖各种根据本实施例的本质进行的修改、等效组合。