本发明涉及一种测试结构，具体是一种太阳电池片的测试结构，属于太阳电池片技术领域。
背景技术：
目前晶体硅太阳电池片的尺寸以156mm*156mm为主，栅线数量以四栅、五栅居多，电池片的测试台也多针对该类型的电池片制作，随着晶体硅电池片的工艺及技术演进速率正在逐年加快，无主栅（多条细栅线）及半片等高效电池片数量逐年增加，双面电池片技术应用也在逐渐增多。
目前电池片转换效率测试采用传统测试台、压针式接触方式进行测试，测试台背接触面为铜面，反射率高，导致双面电池片测试结果短路电流较大；接触针遮挡面积较大，难以适应无主栅双面电池片测试需求。
技术实现要素：
本发明的目的是针对现有技术的问题，提供一种太阳电池片的测试结构，该测试结构能够有效解决无主栅（多条细栅线）及双面太阳电池片的测试需求，减少或消除测试过程中的表面遮挡，降低测试台背面反射，提高测试精度。
为实现以上技术目的，本发明的技术方案是：一种太阳电池片的测试结构，包括固定台，其特征在于，所述固定台上固定有用于放置被测电池片的接触台，所述接触台上方设置有若干根平行的顶接触导线，所述顶接触导线的两端固定在导轨上，所述导轨与开合架上下滑动配合，所述开合架与固定台转动连接，所述接触台位于开合架的框架内。
进一步地，所述开合架的一侧设有转轴，所述转轴两端通过固定块固定在固定台上，且开合架可以转轴为中心轴扇形开合。
进一步地，所述开合架的框架上固定有滑块，所述滑块上设有斜置长形孔，所述导轨上设有凸块，所述凸块可穿过滑块上的斜置长形孔，且沿着斜置长形孔滑动。
进一步地，所述接触台与被测电池片的接触面为弧形接触面，所述弧形接触面上涂覆有低反射层，在所述低反射层上设有电流测试线和电压测试线。
进一步地，所述若电流测试线为多根且相互平行，所述电压测试线为多根导线并排平行放置在一起，所述低反射层由反射率较低的绝缘材料制成，且表面为绒面结构。
进一步地，所述电流测试线和电压测试线的材料与顶接触导线的材料相同，均为铜线或镀金的铜线。
进一步地，所述顶接触导线为多根，且两端通过调节固定块固定，用于固定及调节张力的调节固定块固定在导轨上，所述导轨上设有标尺刻度。
与现有技术相比，本发明具有以下优点：
1）本发明的顶接触线采用张力可调的铜线或镀金铜线进行表面接触，减少或消除表面接触遮挡；
2）本发明采用方便拆卸安装的调节固定块来固定顶接触线，解决不同类型的无主栅（多栅线）电池片表面接触问题及测试问题；
3）本发明背面接触采用铜线或镀金铜线与弧形表面接触形式，线中间采用低反射率材料及绒面结构，有效降低背面反射，满足双面电池片测试需求；
4）本发明测试结构可以移动拆卸，适用于稳态及瞬态太阳光模拟器，满足不同类型高效电池片测试需求。
附图说明
图1为本发明的结构示意图。
图2为图1的右视结构示意图。
图3为本发明的侧示图。
图4为本发明接触台的俯视结构示意图。
附图标记说明：1—导轨；2—调节固定块；3—顶接触导线；4—接触台；5—开合架；6—固定台；7—低反射层；8—电流测试线；9—电压测试线；10—滑块；11—固定块和12—凸块。
具体实施方式
下面结合具体附图和实施例对本发明作进一步说明。
根据图1、图2和图4所示，实施例1以15栅的双面单晶perc电池片测试为例，一种太阳电池片的测试结构，包括固定台6，所述固定台6上固定有用于放置被测电池片的接触台4，所述接触台4上放置有15栅双面单晶perc被测电池片，且被测电池片的背面与接触台4表面电接触，所述被测电池片的正面可与13根顶接触导线3电接触，所述顶接触导线3的两端通过调节固定块2固定在导轨1上，所述导轨1上设有标尺刻度，调节固定块2还可以调节顶接触导线3的张力，通过螺母收紧或放松顶接触导线3，并按照导轨1上的标尺位置调节顶接触导线3的位置及数量，所述导轨1设置在开合架5上，并可上下小幅滑动，以压紧或抬起顶接触导线3，所述开合架5设置在固定台6上，所述接触台4位于开合架5的框架内。
所述导轨1与开合架5滑动配合，所述开合架5的框架上固定有滑块10，所述滑块10上设有斜置长形孔，所述导轨1上设有凸块12，所述凸块12可穿过滑块10上的斜置长形孔，且沿着斜置长形孔滑动；
所述开合架5与固定台6转动连接，所述开合架5的一侧设有转轴，所述转轴两端通过固定块11固定在固定台6上，且开合架5可以转轴为中心轴扇形开合，便于放置和取出被测电池片。
如图3所示，所述接触台4与被测电池片的接触面为弧形接触面，所述弧形接触面上涂覆有低反射层7，在所述低反射层7上设有电流测试线8和电压测试线9，所述电流测试线8为10根，且相互平行，所述电压测试线9为多根导线并排平行放置在一起，所述低反射层7由反射率较低的绝缘材料制成，且表面为绒面结构，所述电流测试线8和电压测试线9的材料与顶接触导线3的材料相同，均为铜线或表面镀金的铜线，且电流测试线8和电压测试线9的高度稍高于低反射层7的平面。
本发明测试过程为，将本测试结构放置并连接于瞬态太阳光模拟器中，被测电池片的栅线数量与顶接触导线3数量相同，根据导轨1上的标尺将顶接触导线3通过调节固定块2固定在导轨1上，调节各接触线张力使其一致，向上掀起开合架5，将被测电池片正面朝上放置于接触台4的弧形接触面上，边缘与接触台4边缘对齐，向下合上开合架5，向下压导轨1，使凸块10沿着斜置长形孔向下向前滑动，使得顶接触导线3与被测电池片正面的栅线紧密接触，被测电池片的背面与接触台4的弧形接触面紧密接触，开始测试；测试后，首先上移导轨1，再向上掀起开合架5，取出被测电池片。
实施例1中被测电池片的栅线数量较多（15根），宽度减小，测试所用的顶接触线3会对电池片产生一定的遮挡，因此测试过程中，先安装5根顶接触线3，获得测试5根测试线状态下的参数，再安装10根顶接触线3，获得测试10根测试线状态下的参数，最后安装15根顶接触线3，获得测试15根测试线状态下的参数，根据5、10、15根顶接触线3测试结果，采用线性推算的办法获得没有测试线状态下被测电池片的短路电流，进而得出被测电池片的准确转换效率；本发明测试结构能够有效解决无主栅（多条细栅线）及双面太阳电池片的测试需求，减少或消除测试过程中的表面遮挡的问题，降低测试台背面反射的影响，提高测试精度。
以上对本发明及其实施方式进行了描述，该描述没有限制性，附图中所示的也只是本发明的实施方式之一，实际结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本发明创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本发明的保护范围。