技术特征：
技术总结
本发明公开了一种母板及其检测方法，该母板，包括基板，位于所述基板上的多个显示区域，以及位于所述显示区域之间的非显示区域，所述显示区域包括用于控制像素显示的薄膜晶体管，包括：位于所述非显示区域的至少一个检测元件；通过在非显示区域内设置与有源层和源漏电极等同的检测元件，通过对非显示区域内的第一电极或第二电极与第三电极之间的接触电阻进行检测，从而反映薄膜晶体管内的源漏电极与有源层之间的界面的品质，实现对源漏电极与有源层之间的界面的品质的监控，从而提高显示面板的质量。
技术研发人员：赵永强;樊超;廖中伟;蒋冬舜;陈胡建;李世维
受保护的技术使用者：京东方科技集团股份有限公司;重庆京东方光电科技有限公司
技术研发日：2018.09.21
技术公布日：2019.01.15