一种共模电感磁芯恢复阻抗值的方法与流程

本发明涉及共模电感磁芯加工技术领域，更具体地说，它涉及一种共模电感磁芯恢复阻抗值的方法。

背景技术：

共模电感的磁芯如图1、2所示，磁芯a由多层导磁材料制成的磁圈b组成。磁芯a在制造完成后，磁芯a内部的应力没有释放完全，在测量共模电感的阻抗时候，往往会出现性能不合的现象，性能不合的磁芯a需要返工，甚至直接报废，影响了生产效率，造成了极大浪费。

技术实现要素：

本发明要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，本发明提供一种能避免磁芯返工、保证生产效率、节省成本的共模电感磁芯恢复阻抗值的方法。

本发明的技术方案是：一种共模电感磁芯恢复阻抗值的方法，该方法是在磁芯的弹性变形范围用机械形变方式对磁芯进行加工，使磁芯应力释放，得到恢复阻抗值的磁芯。

作为进一步地改进，径向挤压磁芯使其形变后再恢复原形，直到挤压的次数达到预设挤压次数。

进一步地，所述预设挤压次数为1～3次。

进一步地，轴向往复推动磁芯的各磁圈使相邻两磁圈之间产生位移，直到推动的次数达到预设推动次数。

进一步地，所述预设推动次数为2～5次。

进一步地，以预设速度使磁芯撞击固定平面，直到撞击的次数达到预设撞击次数。

进一步地，所述预设速度为25mm/s～45mm/s。

进一步地，所述预设撞击次数为1～3次。

有益效果

本发明与现有技术相比，具有的优点为：通过对磁芯进行挤压变形、推动磁圈或撞击平面，可以使磁芯的内应力释放完全，阻抗值恢复，避免磁芯返工、保证生产效率、节省成本。

附图说明

图1为磁芯的立体结构示意图；

图2为磁芯的俯视结构示意图。

其中：a-磁芯、b-磁圈。

具体实施方式

下面结合附图中的具体实施例对本发明做进一步的说明。

参阅图1-2，一种共模电感磁芯恢复阻抗值的方法，该方法是在磁芯的弹性变形范围用机械形变方式对磁芯进行加工，使磁芯应力释放，得到恢复阻抗值的磁芯。

对磁芯进行加工的方式一可以是径向挤压磁芯使其形变后再恢复原形，直到挤压的次数达到预设挤压次数，可以根据阻抗值的偏差大小设定预设挤压次数，每次挤压的位置可以不同，以保证磁芯应力充分释放，挤压过程不能破坏掉磁芯外层的焊接焊点，避免焊接层脱落掉层；在本实施例中，预设挤压次数为1～3次，可以用手指将磁芯挤压成椭圆形，保持1～2秒钟后，松开手使磁芯恢复原形。

对磁芯进行加工的方式二可以是轴向往复推动磁芯的各磁圈使相邻两磁圈之间产生位移，直到推动的次数达到预设推动次数，可以根据阻抗值的偏差大小设定预设推动次数，相邻两磁圈之间产生的位移要小于磁圈的宽度，由于热处理过程使得磁芯产生应力，磁芯会变硬，往复推动磁芯的各磁圈可以使磁芯变得有韧性和弹性，使磁芯应力充分释放，往复推动结束后要保证各磁圈的端面平齐；在本实施例中，预设推动次数为2～5次，可以用双手拿住磁芯端面，用手轴向往复推动磁芯的各磁圈。

对磁芯进行加工的方式三可以是以预设速度使磁芯撞击固定平面，直到撞击的次数达到预设撞击次数，可以根据阻抗值的偏差大小设定预设撞击次数，磁芯撞击平面可以释放磁芯的内应力，磁芯的内应力充分释放后阻抗值得到恢复；在本实施例中，预设速度为25mm/s～45mm/s，预设撞击次数为1～3次，可以用手拿起磁芯到距离桌面30～100mm的高度，松开手使磁芯跌落到桌面。

当然，对磁芯进行加工也可以是上面方式一、方式二、方式三3种方式的任意组合，以提高加工效率和阻抗恢复效果。

例如，刚制作好的规格为20*32*10磁芯，测试阻抗1mhz时，阻抗测试值为11ω，磁芯依次经过本发明中方式一、方式二、方式三3种方式加工后，磁芯的阻抗值可以回复到35ω以上；测试阻抗5mhz时，磁芯的阻抗值可以回复到55ω以上。

本发明通过对磁芯进行挤压变形、推动磁圈或撞击平面，可以使磁芯的内应力释放完全，阻抗值恢复，避免磁芯返工、保证生产效率、节省成本。

以上所述的仅是本发明的优选实施方式，应当指出对于本领域的技术人员来说，在不脱离本发明结构的前提下，还可以作出若干变形和改进，这些都不会影响本发明实施的效果和专利的实用性。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种共模电感磁芯恢复阻抗值的方法，该方法是在磁芯的弹性变形范围用机械形变方式对磁芯进行加工，使磁芯应力释放，得到恢复阻抗值的磁芯。本发明能避免磁芯返工、保证生产效率、节省成本。

技术研发人员：左海军
受保护的技术使用者：北流市柯顺电子有限公司
技术研发日：2018.12.20
技术公布日：2019.04.09