显示面板及移动终端的制作方法

1.本技术涉及显示技术领域，具体涉及一种显示面板及移动终端。


背景技术：

2.显示面板包括薄膜晶体管阵列、连接各薄膜晶体管的金属走线以及设置于薄膜晶体管阵列一侧的绑定结构，绑定结构包括对薄膜晶体管阵列进行电性测试的阵列测试电路；
3.其中，所述阵列测试电路位于测试电路区，测试电路区内的金属走线往往会部分裸露在外，传统的封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，在高温高湿的信赖性测试环境下，容易导致走线腐蚀，影响显示面板的正常使用。


技术实现要素：

4.本技术实施例提供一种显示面板及移动终端，可以有效避免信号走线在测试电路区因传统的封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，导致在测试条件下被腐蚀进而影响显示面板正常使用的技术问题。
5.本技术实施例提供一种显示面板，包括：
6.基板；
7.驱动电路，设置于所述基板上，包括多个绑定端子和多条信号走线，一所述绑定端子连接有一所述信号走线；
8.多个测试端子，设置于所述基板上；
9.多条测试走线，一所述测试端子通过一所述测试走线与所述信号走线连接，所述测试走线上至少连接有一控制开关；
10.控制端子组，设置于所述基板上，与各所述控制开关的控制端连接；
11.保护功能层，设置于所述基板、所述驱动电路和所述测试走线上，且覆盖所述驱动电路和所述控制开关。
12.可选的，所述控制开关包括薄膜晶体管；
13.一所述测试走线和所述薄膜晶体管中，所述薄膜晶体管的第一连接端通过所述测试走线与一所述信号走线连接，所述薄膜晶体管的第二连接端通过所述测试走线与所述测试端子连接，所述薄膜晶体管的控制端与所述控制端子组连接。
14.可选的，所述控制端子组包括一控制端子，各所述控制开关的控制端均与所述控制端子连接。
15.可选的，多条所述测试走线包括至少两条第一测试走线和至少一条第二测试走线，所述第一测试走线一端连接一所述信号走线，所述第一测试走线另一端连接一所述测试端子，所述第二测试走线一端连接一所述测试端子，所述第二测试走线另一端包括连接不同信号走线的第一分支和第二分支；
16.多个所述控制开关包括设置于所述第一测试走线上的第一控制开关、设置于所述
第一分支上的第二控制开关、以及设置于所述第二分支上的第三控制开关，所述控制端子组包括一第一控制端子、第二控制端子和第三控制端子，各所述第一控制开关的控制端与所述第一控制端子连接，所述第二控制开关的控制端与所述第二控制端子连接，所述第三控制开关的控制端与所述第三控制端子连接。
17.可选的，所述测试端子的数量与所述信号走线的数量相同，一所述测试端子通过一所述测试走线对应连接一所述信号走线，一所述测试走线上设置一所述控制开关。
18.可选的，所述控制开关包括低温多晶硅薄膜晶体管、金属氧化物薄膜晶体管、非晶硅薄膜晶体管中的一种。
19.可选的，一所述测试走线包括相连接的第一段和第二段，所述第一段和所述第二段均位于所述控制开关和所述测试端子之间，在垂直所述基板的方向上，所述第一段的宽度小于所述第二段的宽度。
20.可选的，在垂直所述基板的方向上，所述第一段的宽度与所述第二段的宽度的差值范围为25um～95um。
21.可选的，在垂直所述基板的方向上，所述第一段的宽度大于或等于5um。
22.本技术还提供一种移动终端，包括上述任一项实施例所述的显示面板及终端主体，所述终端主体与所述显示面板组合为一体。
23.本发明有益效果至少包括：通过设置控制开关和测试走线，采用测试走线将信号走线引出，且所述测试走线上至少连接有一控制开关，控制端子组连接所述控制开关的控制端，控制开关将正常的信号走线与测试端子隔离，保护功能层覆盖驱动电路、控制开关及部分测试走线，通过控制端子组输入控制信号改变控制开关的状态对显示面板的驱动电路进行出厂检测，有效避免了现有的信号走线直接穿过测试端子所在区域，信号走线因封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，信号走线裸露，在高温高湿的信赖性测试环境下易发生信号走线腐蚀，造成正常的信号走线断线的问题，提高了显示面板的出厂良率。
附图说明
24.为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
25.图1是现有技术中的驱动电路连接测试端子的结构示意图；
26.图2是本技术实施例提供的一种驱动电路靠近绑定端的走线结构示意图；
27.图3是本技术实施例提供的另一种驱动电路靠近绑定端的走线结构示意图；
28.图4是本技术实施例提供的另一种驱动电路靠近绑定端的走线结构示意图；
29.图5是本技术实施例提供的一种显示面板的结构示意图；
30.图6是本技术实施例提供的一种控制开关连接测试端子之间的测试走线的结构示意图。
具体实施方式
31.下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完
整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
32.本技术实施例提供一种显示面板及移动终端。以下分别进行详细说明。需说明的是，以下实施例的描述顺序不作为对实施例优选顺序的限定。另外，在本技术的描述中，术语“包括”是指“包括但不限于”。用语第一、第二、第三等仅仅作为标示使用，并没有强加数字要求或建立顺序。本发明的各种实施例可以以一个范围的型式存在；应当理解，以一范围型式的描述仅仅是因为方便及简洁，不应理解为对本发明范围的硬性限制；因此，应当认为所述的范围描述已经具体公开所有可能的子范围以及该范围内的单一数值。例如，应当认为从1到6的范围描述已经具体公开子范围，例如从1到3，从1到4，从1到5，从2到4，从2到6，从3到6等，以及所数范围内的单一数字，例如1、2、3、4、5及6，此不管范围为何皆适用。另外，每当在本文中指出数值范围，是指包括所指范围内的任何引用的数字(分数或整数)。
33.如图1所示，目前，常规的阵列基板50设置结构中信号走线101穿过测试电路区后再连接绑定端子40，测试电路区内的信号走线101往往会部分裸露在外，传统的封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，在高温高湿的信赖性测试环境下，容易导致信号走线101腐蚀，信号走线101断开，影响驱动电路10的正常使用。
34.为了解决上述技术问题，本技术提供下述技术方案，具体请参照下述实施例。
35.本实施例提供一种显示面板，具体可以参照图2-图6所示，包括：
36.基板50；
37.驱动电路10，设置于所述基板50上，包括多个绑定端子40和多条信号走线101，一所述绑定端子40连接有一所述信号走线101；
38.多个测试端子30，设置于所述基板50上；
39.多条测试走线201，一所述测试端子30通过一所述测试走线201与所述信号走线101连接，所述测试走线201上至少连接有一控制开关202；
40.控制端子组301，设置于所述基板50上，与各所述控制开关202的控制端t3连接；
41.保护功能层m1，设置于所述基板50、所述驱动电路10和所述测试走线201上，且覆盖所述驱动电路10和所述控制开关202。
42.需要说明的是，如图5所示，所述显示面板包括显示区aa、包围所述显示区aa的非显示区va，非显示区va包括绑定区a2和测试区a1，多个绑定端子40位于所述绑定区a2，多个测试端子30位于测试区a1；
43.在显示区aa一侧的非显示区va内设置有栅极驱动电路10；显示区aa内设置有阵列排列的像素单元px，每个像素单元px都与对应的子驱动电路10电连接；
44.栅极驱动电路10以及各子驱动电路10组成上述驱动电路10，栅极驱动电路10会在行方向上通过多种信号走线101连接各像素单元px的子驱动电路10，每个子驱动电路10也会在列方向连接多种信号走线101，通过对驱动电路10中的各信号走线101输入相应的信号可以驱动像素单元px进行发光。
45.具体地，如图2和图5所示，驱动电路10的多条信号走线101由显示区aa朝所述绑定区a2延伸信号走线101的端部连接至对应的绑定端子40上，多条测试走线201与待检测的多条信号走线101连接，将所述信号走线101引出连接至测试区a1内对应的测试端子30上，所
述测试走线201上至少连接一控制开关202(图5未示出)。
46.具体地，可以根据信号走线101上传输的信号不同进行设置，例如，当多条信号走线101上传输相同信号时，该多条信号走线101通过测试走线201连接一测试端子30；传输不同信号的多条信号走线101各自连接对应的测试端子30。
47.具体地，所述测试端子30用于连接外部检测电路或检测设备，以在测试阶段向显示面板输入相应的测试信号，点亮显示面板进行测试，在测试结束，且测试结果符合绑定标准时，将驱动芯片绑定到上述绑定端子40上，由此，由驱动芯片向显示面板输入显示信号进行图像显示。
48.具体地，所述控制开关202具体包括：控制端t3，输入端以及输出端；所述控制端t3控制所述输入端的信号传输到所述输出端；所述输入端连接所述测试端子30，所述输出端连接信号走线101。
49.控制端子组的控制端子3011通过控制走线203连接所述控制开关202的控制端t3，所述控制开关202的控制端t3输入的信号需要与输入端输入的信号之间产生的压差大于阈值电压时才可以被打开，因此控制开关202的输入端连接的测试端子30输入的测试信号的电位与控制开关202的控制端t3连接的控制端子3011输入的电源信号的电位不同。
50.具体地，所述控制端子组301包括至少一个控制端子3011，控制端子3011可以外接电源，以提供不同的电位的电源信号。
51.具体地，所述基板50以及所述驱动电路10上设置一保护功能层m1，所述保护功能层m1具体可以为封装胶层，封装胶层的材料可以为uv胶；通过设置保护功能层m1对驱动电路10进行封装，能够防止测试过程中的水分子或者氧腐蚀裸露的信号走线101。
52.具体地，所述保护功能层m1可以覆盖所述驱动电路10、信号走线101、控制开关202以及部分测试走线201，所述测试端子30和所述控制端子组301裸露不进行封装。
53.具体地，本发明实施例中，在非显示区va内的基板50上可以设置多条测试走线201，通过对测试走线201进行合理的布局，将信号走线101引出与测试电路区内的测试端子30连接，所述测试电路区未设置保护功能层m1。
54.具体地，所述测试走线201上连接有控制开关202，所述控制开关202的数量可以与所述信号走线101的数量相同，所述控制开关202用于将信号走线101与测试端子30间隔开。
55.需要说明的是，所述控制开关202用于在测试阶段响应测试端子30向所述信号线输入的信号(即外接的测试电路或测试设备产生的测试信号)，将所述测试端子30输入的测试信号传输向所述信号走线101；在显示阶段切断所述测试走线201上的信号(即外接的测试电路或测试设备产生的测试信号)向所述测试电路信号输入端子传输。
56.控制开关202的控制端t3输入的信号受测试端子30所输入的信号的控制，而测试端子30只有在连接外部检测电路或检测设备对显示面板进行点亮测试时才会有信号输入，因此，只有在测试阶段控制开关202处于开启的状态，此时测试信号可以由测试端子30通过控制开关202向对应的信号走线101传输。
57.当测试阶段结束，没有信号向测试端子30输入，此时控制开关202的控制端t3处于悬空状态(控制开关202关闭)，此时，即使测试走线201(信号走线101至控制开关202间的)上有传输的信号，也无法通过控制开关202向测试端子30传输，这样就可以保证测试端子30上不带电，那么也就不会发生电化学反应，避免了测试端子30带电被腐蚀的情况发生。
58.可以理解的是，通过设置控制开关202和测试走线201，采用测试走线201将信号走线101引出，且所述测试走线201上连接控制开关202，且所述测试走线201上至少连接有一控制开关202，控制端子组301连接所述控制开关202的控制端t3，控制开关202将正常的信号走线101与测试端子30隔离，保护功能层m1覆盖驱动电路10、控制开关202及部分测试走线201，通过控制端子组301输入控制信号改变控制开关202的状态对显示面板的驱动电路10进行出厂检测，有效避免了现有的信号走线101直接穿过测试端子30所在区域，信号走线101因封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，信号走线101裸露，在高温高湿的信赖性测试环境下易发生信号走线101腐蚀，造成正常的信号走线101断线的问题，提高了显示面板的出厂良率。
59.在一实施例中，所述控制开关202包括薄膜晶体管；一所述测试走线201和所述薄膜晶体管中，所述薄膜晶体管的第一连接端t1通过所述测试走线201与一所述信号走线101连接，所述薄膜晶体管的第二连接端t2通过所述测试走线201与所述测试端子30连接，所述薄膜晶体管的控制端t3与所述控制端子组301连接。
60.具体地，所述薄膜晶体管为低温多晶硅薄膜晶体管、金属氧化物薄膜晶体管、非晶硅薄膜晶体管中的一种，具体可以根据实际生产需要进行选择。
61.具体地，所述薄膜晶体管的控制端t3连接控制端子组301的控制端子3011，多个薄膜晶体管的控制端t3可以连接一个控制端子3011，也可以多个薄膜晶体管的控制端t3连接不同的控制端子3011。
62.例如，在显示面板为oled显示面板时，控制端子组301的控制端子3011输入的电源信号可以为vgh信号，也可以为vss信号，除此之外，上述控制端子3011也可以用于传输其它电源信号，当显示面板为液晶显示面板或者其它类型的显示面板时，控制端子组301的控制端子3011也可以用于传输相应面板中所需要的电源信号。
63.具体地，所述薄膜晶体管可以为高电位开启，低电位关闭的薄膜晶体管；也可以为低电位开启，高电位关闭的薄膜晶体管，具体可以根据实际测试的需求进行调整。
64.在一实施例中，如图2所示，所述控制端子组301包括一控制端子3011，各所述控制开关202的控制端t3均与所述控制端子3011连接。
65.具体地，在本实施例中，多条信号走线101可以包括集成的栅极驱动走线、数据信号线、扫描线等。
66.可以理解的是，通过设置多个控制开关202的控制端t3通过控制走线203连接一控制端子3011可以实现测试电路的同步开启或关闭，能够简化电路结构，提升显示面板的空间利用程度。
67.在一实施例中，如图3所示，多条所述测试走线201包括至少两条第一测试走线2020和至少一条第二测试走线2030，所述第一测试走线2020一端连接一所述信号走线101，所述第一测试走线2020另一端连接一所述测试端子30，所述第二测试走线2030一端连接一所述测试端子30，所述第二测试走线2030另一端包括连接不同信号走线101的第一分支2031和第二分支2032；
68.如图3所示，多个所述控制开关202包括设置于所述第一测试走线2020上的第一控制开关202f1、设置于所述第一分支2031上的第二控制开关202f2、以及设置于所述第二分支2032上的第三控制开关202f3，所述控制端子组301包括一第一控制端子、第二控制端子
和第三控制端子，各所述第一控制开关202f1的控制端与所述第一控制端子连接，所述第二控制开关202f2的控制端与所述第二控制端子连接，所述第三控制开关202f3的控制端与所述第三控制端子连接。
69.具体地，如图3所示，两条信号走线101可以通过第二测试走线2030连接一测试端子30，第二测试走线2030包括第一分支2031和第二分支2032，第一分支2031上设置第二控制开关202f2，第二分支2032上设置第三控制开关202f3，第二控制开关202f2和第三控制开关202f3可以同时开启，也可以不同时开启；所述第二控制端子和第三控制端子连接的电源信号电位可以相同，也可以不同，具体可以根据实际测试情况进行调整，在oled显示面板中，第二控制端子3011可以连接stv信号，第三控制端子可以连接rst信号，stv信号和rst信号均为高电压和低电压分时切换的信号，stv信号的高电压在第一帧，rst信号的高电压位于最后一帧，使得第二控制开关和第三控制开关在不同的时段开启，实现对应的电路检测，简化电路结构。
70.具体地，如图4所示，也可以三条信号走线101通过测试走线201连接一测试端子30，该测试走线201具有三条分支，分别连接三条信号走线101，三条分支上各连接一控制开关202，在一具体的oled显示面板中，三个控制开关202的控制端t3分别连接vgh信号，stv信号和rst信号。
71.可以理解的是，通过该设置方式可以简化测试区a1的电路结构，提高显示面板的空间利用率。
72.在一实施例中，如图2所示，所述测试端子30的数量与所述信号走线101的数量相同，一所述测试端子30通过一所述测试走线201对应连接一所述信号走线101，一所述测试走线201上设置一所述控制开关202。
73.可以理解的是，测试端子30的数量与信号走线101的数量相同可以使得每条信号走线101的测试线路相对独立，降低驱动电路10故障后故障原因的排除难度。
74.在一实施例中，如图6所示，一所述测试走线201包括相连接的第一段d1和第二段d2，所述第一段d1和所述第二段d2均位于所述控制开关202和所述测试端子30之间，在垂直所述基板50的方向上，所述第一段d1的宽度小于所述第二段d2的宽度。
75.具体地，所述测试走线201的宽度可以和第二段d2的宽度相同，第一段d1和第二段d2之间具有宽度段差，该具有第一段d1和第二段d2的测试线用于连接控制开关202和测试端子30，所述第一段d1的宽度与所述第二段d2的宽度的差值范围为25um～95um范围为25um～95um之间，包括端点值，具体可以为25um、32um、38um、40um、55um、72um、95um中的任一种，具体可以根据实际生产情况进行调整。
76.具体地，所述第二段d2的宽度范围30um～100um之间，包括端点值。
77.具体地，本身实施将控制开关202和测试端子30之间的设置为具有段差的结构，使得测试端子30与控制开关202之间的测试走线201在腐蚀后更容易在第一段d1的位置直接断开，降低测试端子30连接的测试走线201腐蚀对控制开关202的影响。
78.可以理解的是，由于在显示面板测试完成后，产品合格就能够进行驱动芯片的绑定然后出厂，因此测试端子30在测试后与控制开关202是否连通不影响显示面板的正常使用，因此，设置控制开关202和测试端子30之间的测试走线201包括第一段d1和第二段d2，测试走线201在第一段d1容易腐蚀断裂，降低后续测试走线201腐蚀对控制开关202的影响，进
而防止正常信号走线101被腐蚀。
79.在一实施例中，在垂直所述基板50的方向上，所述第一段d1的宽度与所述第二段d2的宽度的差值范围为25um～95um。
80.具体地，所述第一段d1的宽度与所述第二段d2的宽度可以为25um、32um、38um、40um、55um、72um、95um中的任一种。
81.在一实施例中，在垂直所述基板50的方向上，所述第一段d1的宽度大于或等于5um。
82.可以理解的是，通过设置第一段d1的宽度大于或等于5um，使得测试走线201在正常传输信号的同时，也能够在显示面板测试后，测试走线201被腐蚀时及时断裂，降低后续测试走线201腐蚀对控制开关202的影响，进而防止正常信号走线101被腐蚀。
83.本技术还提供一种移动终端，包括上述任一项实施例所述的显示面板及终端主体，所述终端主体与所述显示面板组合为一体。
84.综上，本技术通过设置控制开关202和测试走线201，采用测试走线201将信号走线101引出，且所述测试走线201上至少连接有一控制开关202，控制端子组301连接所述控制开关202的控制端t3，控制开关202将正常的信号走线101与测试端子30隔离，保护功能层m1覆盖驱动电路10、控制开关202及部分测试走线201，通过控制端子组301输入控制信号改变控制开关202的状态对显示面板的驱动电路10进行出厂检测，有效避免了现有的信号走线101直接穿过测试端子30所在区域，信号走线101因封装胶无法覆盖或者覆盖不完全，信号走线101裸露，在高温高湿的信赖性测试环境下易发生信号走线101腐蚀，造成正常的信号走线101断线的问题，提高了显示面板的出厂良率。
85.以上对本技术实施例所提供的一种显示面板及移动终端进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本技术的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本技术的方法及其核心思想；同时，对于本领域的技术人员，依据本技术的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本技术的限制。