一种基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元

文档序号:35471331发布日期:2023-09-16 15:37阅读:来源:国知局

技术特征:

1.一种基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,以下简称为“1-bit单元”,以1-bit单元上表面的中心为坐标原点,建立空间直角坐标系,垂直于纸面向外为x轴正方向,水平向右为y轴正方向,竖直向上为z轴正方向;其特征在于,可重构超表面自上而下共包括5层结构:顶层谐振结构、第二层微波介质基板、第三层金属地结构、第四层辅助介质基板,和第五层直流偏置电路层;金属通孔h1和h2贯穿五层结构,使顶层谐振结构和底层直流偏置电路相连;

2.如权利要求1所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,金属辐射结构的矩形贴片厚度为0.035±0.005mm,x方向整体尺寸a在6.20~8.90mm范围内;y方向整体尺寸b在6.00~9.20mm范围内。

3.如权利要求2所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,金属辐射结构x方向整体尺寸a为8.00mm;y方向整体尺寸b为8.00mm。

4.如权利要求1所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,w的宽度0.10~0.80mm。

5.如权利要求4所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,w的宽度优选值为0.40mm。

6.如权利要求1所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,以连接点n1作为交指电容结构ics的位置参数(xi,yi,0),xi的取值在0.20~1.00mm之间;yi的取值在-0.20~0.20mm之间;ics的结构参数指长il的取值在1.85~2.65mm之间;指宽iw的取值在0.10~0.20mm之间;指间隙is的取值在0.10~0.20mm之间。

7.如权利要求6所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,以连接点n1作为交指电容结构ics的位置参数xi的取值为0.60mm;yi的取值为0;ics的结构参数指长il的取值为2.20mm;指宽iw的取值为0.14mm;指间隙is的取值为0.12mm。

8.如权利要求1所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,pin二极管的型号为smp1340-040lf,二极管的中心坐标(xp,yp,0)表示pin二极管的位置,xp在0.20~0.40mm之间,yp在-0.20~0.20mm之间。

9.如权利要求8所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,pin二极管的位置xp为0.30mm,yp为0。

10.如权利要求1所述的基于交指电容结构的低损耗宽带1-bit相位可重构超表面单元,其特征在于,part1部分的6条指条沿x轴正方向依次记为:p11、p12、p13、p14、p15、p16,p12~p16的长度为指长il,p11的长度为il的一半;part2的主体结构位于y>0区域,与其相连接的指条结构向y<0区域延展,part2部分的6条指条沿x轴正方向依次记为:p21、p22、p23、p24、p25、p26,p22~p26的长度为指长i1,p27的长度为i1的一半;相对于p1i、p2i向x方向移动iw+is距离,i为1~6。


技术总结
本发明提出一种基于交指电容结构的低损耗宽带1‑bit相位可重构超表面单元,自上而下共包括5层结构:顶层谐振结构、第二层微波介质基板、第三层金属地结构、第四层辅助介质基板,和第五层直流偏置电路层;金属通孔H<subgt;1</subgt;和H<subgt;2</subgt;贯穿五层结构,使顶层谐振结构和底层直流偏置电路相连。顶层谐振结构包括金属辐射结构、与金属辐射结构共形的交指电容结构ICS、加载在金属辐射结构上的PIN二极管,以及隔离缝隙w。本发明在提高超表面天线效率、拓宽超表面工作带宽和推广超表面应用方面等具有广阔的前景。

技术研发人员:田江浩,周禹龙,张芷昀,杨欢欢,李桐,吉地辽日,郭泽旭,曹祥玉
受保护的技术使用者:中国人民解放军空军工程大学
技术研发日:
技术公布日:2024/1/15
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