本技术涉及芯片测试，特别涉及一种芯片测试机及其芯片料位调节机构。
背景技术：
1、随着芯片技术的不断发展与成熟，芯片的运用涉及到各行各业的各个领域，芯片的使用环境也变得更加复杂，对芯片的各项性能有了更高的要求。目前一般通过芯片测试机对芯片的性能进行测试。芯片测试机包括机械手和功能站，功能站可以为定位站或测试站等。各功能站均具有用于容置芯片的料槽，机械手用于将芯片送入各功能站的料槽内，以对芯片进行相应的处理，比如定位或测试等。其中，为了使机械手能够将芯片送入相应的料槽内，料槽的位置应当可调，而如何对料槽的位置进行调节成了本领域技术人员急需解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本实用新型提供一种芯片测试机及其芯片料位调节机构，主要所要解决的技术问题是：如何对料槽的位置进行调节。
2、为达到上述目的，本实用新型主要提供如下技术方案：
3、一方面，本实用新型的实施例提供一种芯片料位调节机构，包括支撑座、安装件、活动件和驱动机构；所述安装件上设有用于容置芯片的料槽，所述安装件设置在所述活动件上、且高度可调；所述支撑座上设有导轨，所述导轨上设有卡槽，所述活动件上设有可开合的搭扣；所述搭扣用于在闭合时与所述卡槽卡接，且在打开时与所述卡槽脱离，以使所述活动件与导轨可拆卸；所述驱动机构用于在搭扣闭合时推动活动件沿所述导轨运动。
4、可选的，所述驱动机构包括第一螺丝，所述活动件上设有供第一螺丝穿过的第一螺纹孔，所述第一螺丝用于穿过所述第一螺纹孔、且与所述导轨的一端相抵，以向一侧旋拧时推动活动件沿导轨运动。
5、可选的，所述导轨的一端具有斜面，以通过所述斜面与第一螺丝的一端相抵。
6、可选的，所述活动件上设有限位滑槽，所述活动件通过所述限位滑槽与导轨滑动配合。
7、可选的，当驱动机构包括第一螺丝时，所述活动件上还设有安装块，所述安装块位于限位滑槽的一侧开口处，所述第一螺纹孔设置在所述安装块上。
8、可选的，所述活动件上设有搭扣座，所述搭扣安装在所述搭扣座上；
9、其中，所述搭扣座沿导轨方向的位置可调。
10、可选的，所述活动件上设有第二螺纹孔，所述搭扣座上设有第一条形孔，所述第一条形孔的延伸方向与导轨方向平行；
11、所述芯片料位调节机构还包括第二螺丝，第二螺丝用于穿过第一条形孔与第二螺丝孔螺接。
12、可选的，所述的芯片料位调节机构还包括第三螺丝，所述安装件上设有第三螺纹孔，所述活动件上设有第二条形孔，所述第二条形孔沿高度方向延伸；所述第三螺丝用于穿过第二条形孔、且与第三螺纹孔螺接。
13、可选的，所述的芯片料位调节机构还包括第一支撑限位板和第二支撑限位板，所述第一支撑限位板与第二支撑限位板相对，第一支撑限位板用于对安装件的一侧限位，第二支撑限位板用于对安装件的另一侧限位。
14、另一方面，本实用新型的实施例还提供一种芯片测试机，其可以包括上述任一种所述的芯片料位调节机构。
15、借由上述技术方案，本实用新型芯片测试机及其芯片料位调节机构至少具有以下有益效果：
16、1、通过调节安装件和活动件，可以对料槽的高度和前后方向的位置均进行调节；
17、2、通过开合搭扣，即可实现对活动件的快速拆装，使活动件连同安装件的拆装更加快捷，从而方便了部件的维修和更换。
18、上述说明仅是本实用新型技术方案的概述，为了能够更清楚了解本实用新型的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本实用新型的较佳实施例并配合附图详细说明如后。
1.一种芯片料位调节机构，其特征在于，包括支撑座、安装件(7)、活动件(1)和驱动机构；
2.根据权利要求1所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
3.根据权利要求2所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
4.根据权利要求1至3中任一项所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
5.根据权利要求4所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
6.根据权利要求1所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
7.根据权利要求6所述的芯片料位调节机构，其特征在于，
8.根据权利要求1所述的芯片料位调节机构，其特征在于，还包括第三螺丝(10)，所述安装件(7)上设有第三螺纹孔，所述活动件(1)上设有第二条形孔(71)，所述第二条形孔(71)沿高度方向延伸；
9.根据权利要求8所述的芯片料位调节机构，其特征在于，还包括第一支撑限位板和第二支撑限位板，所述第一支撑限位板与第二支撑限位板相对，第一支撑限位板用于对安装件(7)的一侧限位，第二支撑限位板用于对安装件(7)的另一侧限位。
10.一种芯片测试机，其特征在于，包括权利要求1至9中任一项所述的芯片料位调节机构。