专利名称：数据采集系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及模数转换技术，特别是涉及一种基于模数转换的数据采集系统。
背景技术：
数据采集系统是利用模数转换器(Analog to Digital Converter,ADC)将传感器传输来的模拟信号转换为数字信号的装置。发明人在实现本发明过程中发现:数据采集系统中的ADC的转换准确性与电压参考源提供的参考信号密切相关。在实际应用中，各种电压参考源的输出都会随着芯片的温度的变化而漂移，尤其是对于低成本的电压参考源来说，温度漂移现象更加严重。电压参考源温度漂移会导致ADC的基准电压出现偏差，基准电压的偏差会导致数据转换的误差。一个例子:对于输出为1.2V且温度漂移为10ppm/°C的高稳定性的电压参考源来说，当芯片温度从25°C变化到70°C时，电压参考源的输出会变化为:AVeef = (70-25) X IOXlO-6Xl.2 = 0.54mV在ADC的分辨率为12位，且输入电压范围为0-1.2V的情况下，ADC的最高分辨率为0.293mV,显然电压参考源的温度漂移量AVkef相对于ADC的最高分辨率不能忽略不计，而且会必然导致ADC数据转换的误差。对于更高分辨率的ADC而言，电压参考源温度漂移的对测量结果的影响则更加严重。有鉴于上述现有的数据采集系统存在的问题，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型的数据采集系统，能够克服现有的数据采集系统存在的问题，使其更具有实用性。经过不断的研究设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的数据采集系统存在的问题，而提供一种新型结构的数据采集系统，所要解决的技术问题是，避免电压参考源温度漂移对测量结果的影响，提高数据采集系统的模数转换的准确性，非常适于实用。本发明的目的及解决其技术问题可采用以下的技术方案来实现。依据本发明提出的一种数据采集系统，主要包括:AduC7060芯片，所述芯片的ADCO至ADC9管脚为模拟信号输入端，芯片输出电压采样量；所述芯片内部集成设置的电压参考源作为模数转换的电压参考源 ，所述芯片内部集成设置的温度传感器检测所述芯片的当前温度；所述芯片根据检测到的当前温度对输出的电压采样量进行补偿；所述芯片与串口连接，所述芯片通过该串口与上位机进行信息交互。较佳的，前述的数据采集系统，其中所述AduC7060芯片通过下述公式获取芯片的当前温度T:
权利要求
1.一种数据采集系统，其特征在于，包括: ADuC7060芯片，所述芯片的ADCO至ADC9管脚为模拟信号输入端，所述芯片输出电压采样量； 所述芯片内部集成设置的电压参考源作为模数转换的电压参考源，所述芯片内部集成设置的温度传感器检测所述芯片的当前温度； 所述芯片根据检测到的当前温度对输出的电压采样量进行补偿； 所述芯片与串口连接，所述芯片通过该串口与上位机进行信息交互。
2.如权利要求1所述的数据采集系统，其特征在于，所述AduC7060芯片通过下述公式获取芯片的当前温度T:
3.如权利要求1所述的数据采集系统，其特征在于，所述AduC7060芯片通过下述公式获取芯片的当前温度T:
4.如权利要求2或3所述的数据采集系统，其特征在于，所述SsmsOT为:
5.如权利要求1所述的数据采集系统，其特征在于，所述芯片根据检测到的当前温度对输出的电压采样量进行补偿包括: 所述芯片根据下述公式获得补偿后的电压采样量:
6.如权利要求5所述的数据采集系统，其特征在于: 所述
7.如权利要求1所述的数据采集系统，其特征在于，所述串口为ΜΑΧ3232。
全文摘要
本发明是有关于一种数据采集系统，包括AduC7060芯片，所述芯片的ADC0至ADC9管脚为模拟信号输入端，所述芯片输出电压采样量；所述芯片内部集成设置的电压参考源作为模数转换的电压参考源，所述芯片内部集成设置的温度传感器检测所述芯片的当前温度；所述芯片根据检测到的当前温度对输出的电压采样量进行补偿；所述芯片与串口连接，所述芯片通过该串口与上位机进行信息交互。本发明提供的上述技术方案能够有效提高数据采集系统的模数转换的准确性，非常适于实用。
文档编号H03M1/06GK103166637SQ20111041217
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月13日 优先权日2011年12月13日
发明者刘伟, 耿全领 申请人:洛阳天枢光电技术有限公司