带有调整过的量化器参考电压的σδ调制器的制造方法
【专利摘要】一种ΣΔ调制器（100），包括接收模拟信号并且提供中间信号和第一量化器信号的第一电路，并且还包括接收第一量化器信号并且提供第一量化器输出的第一量化器（120）。还包括接收中间信号并且提供第二量化器信号的第二输入电路以及接收第二量化器信号并且提供第二量化器输出的第二量化器（142）。第一量化器包括具有第一参考输出和第一参考输出的负极性的可编程参考电压电路（204、208），具有耦合于第一量化器信号的第一输入、耦合于第一参考输出的第二输入的第一比较器（206）以及具有耦合于第一量化器信号的第二输入、耦合于负极性的第二输入的第二比较器（210）。第一和第二比较器具有形成第一量化器的输出的输出。
【专利说明】带有调整过的量化器参考电压的Σ Δ调制器
【技术领域】
[0001]本发明通常涉及半导体器件，更具体地说涉及带有调整过的量化器参考电压的Σ Δ调制器。
【背景技术】
[0002]模数转换器(ADC)被用于各种苛刻的应用中，包括计算机系统、无线电话机和功率计量系统。这样的应用要求划算的ADC，该ADC可以在带有最小噪声和失真的频率和信号幅度的宽范围内有效地将模拟输入信号转换成数字输出信号。
[0003]通常，ADC通过在预定采样间隔采样模拟信号以及通过响应于此的量化器生成二进制数序列，将模拟信号转换成数字信号。二进制数序列是被采样模拟信号的数字信号表征。
[0004]被分配给给定模拟信号采样值的二进制数的长度相应于量化器位的数量并且是有限的。因此，数字采样不能总是精确地表示相应的模拟采样。数字采样和相应的模拟采样之间的差表示量化误差。
[0005]ADC的采样频率是采样间隔的倒数。ADC的分辨率直接相应于分配给每个采样值的二进制位数，但逆相关于量化误差。可被量化器表示的连续值之间的最小差值是量化步长。量化误差导致输出数字信号中的量化噪声，这也被称为粒状噪声。
[0006]Σ Δ调制器的性能测量是信号与噪声加失真之比，其是输出信号的不包括量化误差、噪声和失真的一部分的功率与总量化误差、噪声和失真的和之比，以分贝表示。分贝数越高，Σ Δ调制器的性能就越好。量化误差是通过舍入或截断模拟信号和数字信号之间的差被引入的。提高性能的方法之一是使用带有较高检测水平的量化器。量化器的高水平检测增加复杂性并且需要更大数量的组件。然而，期望减小实现所需性能要求的组件的数量。
【专利附图】
【附图说明】
[0007]本公开通过举例的方式说明且不被附图所限制，在附图中类似的参考符号表示相似的元素。附图中的元素说明是为了简便以及清晰，不一定按比例绘制。
[0008]图1是Σ Λ调制器的实施例的示意图。
[0009]图2是可以用于图1的Σ Λ调制器的量化器的实施例的示意图。
[0010]图3是可以和图2的量化器一起使用的可编程参考电压电路的实施例的示意图。
[0011]图4是一种用于调整被图2的量化器所使用的参考电压的方法的实施例的流程图。
【具体实施方式】
[0012]本发明所公开的系统和方法实施例提供Σ Δ调制器，其中该Σ Δ调制器带有被调整以增加量化信号准确率的参考电压。调整过的参考电压通过使用带有与其它方式相比为实现类似性能所必需少的检测电平少的检测电平的量化器来改进Σ Δ调制器的性能。[0013]图1是二级二阶Σ Δ调制器100的实施例的示意图。所述Σ Δ调制器100包括第一级，带有求和结点102、增益因子或增益级104、积分器106、增益级108、积分器110、增益级112、求和结点114、增益级116、求和结点118、量化器120、延迟电路122、124以及数模转换器126。调制器100的第二级包括求和结点128、增益因子或增益级130、积分器132、增益级134、积分器136、增益级138、求和结点140、量化器142、增益级144、求和结点146、数模转换器(DAC) 148、增益级150、求和结点154、158以及延迟电路152、156。
[0014]到求和结点102的输入包括模拟信号X和源自量化器120且通过数模转换器(DAC)126已从数字信号转换成模拟信号的反馈信号。求和结点102的输出是模拟信号X和源自DAC126的模拟反馈信号之间的差。增益级104、积分器106、增益级108、积分器110以及增益级112彼此按顺序串联连接。增益级112的输出是到求和结点114的输入。增益级116的输入是积分器106的输出。增益级116的输出被添加到求和结点118处的模拟输入信号。求和结点118的输出在求和结点114处被添加到增益级112的输出。求和结点114的输出被显不为到量化器120的信号INl输入。量化器120的输出是到延迟电路122的输入。延迟电路122的输出被提供给延迟电路124。延迟电路124的输出是Σ Δ调制器100的第一级的输出。
[0015]在Σ Λ调制器100的第二级的开始处，到求和结点128的输入包括积分器110的输出和源自量化器142且通过DAC148已从数字信号转换成模拟信号的反馈信号。求和结点128的输出是积分器110的输出和源自DAC148的模拟反馈信号之间的差。增益级130、积分器132、增益级134、积分器136以及增益级138彼此按顺序串联连接。增益级138的输出是到求和结点140的输入。增益级144的输入是积分器132的输出。增益级144的输出在求和结点146处被添加到积分器110的输出。求和结点146的输出在求和结点140处被添加到增益级138的输出。求和结点140的输出被显示为到量化器142的信号ΙΝ2输入。量化器120的输出是到增益级150的输入。增益级150的输出是到延迟电路152的输入。延迟电路152的输出在求和结点154处从增益级150的输出减去。求和结点154的输出是延迟电路156的输入。延迟电路152的输出在求和结点158处从求和结点154的输出减去以生成Σ Δ调制器100的第二级的输出。Σ Δ调制器100的第一级的输出在求和结点160被添加到Σ Δ调制器100的第二级的输出以生成输出信号OUT。量化器120、142分别可以输出两个位。由于求和结点154、158将两个位添加到输出信号0UT[0:5]，求和结点160输出的位数因此总共可以包括6个位。
[0016]调制器100由CMOS组件组成，其中CMOS组件的尺寸不断减小并且在制作中经历了各种变化。此外，随着CMOS半导体器件中所使用的电压电平的减小，在期望器件显示一致的性能的同时，制作变化可能将导致器件之间的性能发生大幅度变化。虽然有制作变化，为了实现一致的高性能，代替使用对于调制器100是可用的默认参考电压，量化器120、142所使用的参考电压被调整以最大化调制器100的输出的信号与噪声加失真之比。
[0017]图2是量化器120的实施例的示意图，所述量化器120耦合于基于信号与噪声加失真之比模块(SNDR模块)202选择的电压和可以被用于图1的Σ Λ调制器100的可编程参考电压模块204。量化器120被耦合以从可编程参考电压模块204接收VREF-T。可编程参考电压模块204从SNDR模块202接收所选择的电压。SNDR模块202可以评估源自测试运行的数据，其中调制器100通过使用量化器120中的参考电压的范围被操作，以确定调制器100实现最高SNDR的量化器120参考电压。SNDR模块202给可编程参考电压模块204提供所选择的参考电压。
[0018]参照图2和图3，图3显示了可以和量化器120 —起使用的可编程参考电压电路的实施例的示意图，其中包括带有串联耦合的电阻器302-310的电阻梯300和一系列耦合于各电阻器302-310之间的电压抽头322-328。每个电压抽头稱合于相应的选择开关312-320。电压抽头322-328在节点处在开关312-330的输出处被连接在一起，调整过的参考电压VREF-T在所述节点处可得到。参考电压VREF在第一电阻器302之前在电阻梯300的顶部被提供。每个抽头处的电压是从前面的抽头处的电压减去相应的电阻器302-310之一。基于来自SNDR模块202所选择的参考电压，相应的其中一个或多个开关312-320可以被操作以给量化器120提供并尽可能相应于来自SNDR模块202所选择的参考电压的调整过的参考电压VREF-T。
[0019]在所显示的例子中，量化器120是三电平或1.5位量化器，包括比较器206、210和在比较器210的负端子处的-1增益因子208。输入电压INl被提供给比较器206、210的正端子，而调整过的参考电压VREF-T被提供给比较器206的负端子。调整过的参考电压VREF-T通过-1增益因子208后形成的调整过的参考电压VREF-T的互补(complement)被提供在比较器210的负端子处。比较器206的输出是单一位信号0UT[0]。比较器210的输出也是单一位信号0UT[1]。
[0020]虽然电阻梯300被显示为用于产生选择作为VREF - T的不同电压电平的装置，用于产生或提供不同电压电平的其它机制，例如一系列保险丝、电感、电容、或其它组件可以被用于代替或添加到电阻梯300。而且，虽然电阻梯300被显示有5个电阻器302-310，任何合适数量的电阻器或其它组件可以被使用。
[0021]选择开关312-320可以通过使用任何合适组件被实现，所述组件能够进行操作以使相应的电压在VREF-T节点是可用的或防止相应的电压在所述VREF-T节点是可用的。在所显示的例子中，开关312-320通过N-沟道晶体管被实现，其中所述N-沟道晶体管的漏极电耦合于电阻梯300以及源电极耦合于VREF-T节点。控制栅极耦合于被设置以激活或去活晶体管中的导通的相应的控制信号S1-SN。信号Sl-SN的值可被SNDR模块202、可编程参考电压模块204、或其它合适组件设置。
[0022]当调制器100在调制器100或包括调制器100的器件被传递到最终用户之前被测试的时候，可以执行设置信号Sl-SN的过程。信号Sl-SN的设置可被存储在非易失性存储器(未显示)或在其中被编程；所述非易失性存储器被调制器100访问，或例如使用开关312-320的可编程保险丝永久允许每个抽头上的电压都是可用的机制可以被使用。
[0023]量化器142的参考电压也可以通过在量化器142的参考电压的范围内测试调制器100的性能以及使用SNDR模块202和相应的可编程参考电压模块204被调整以确定并给量化器142提供调整过的参考电压。调整过的参考电压可以与量化器120的调整过的参考电压相同或不同，这取决于在没有调整过的参考电压的情况下的量化器120和量化器142之间性能的差。如果量化器120和142在没有调整过的参考电压的情况下有类似性能，那么相同的参考电压可以被用于两个量化器120和142，否则，不同的调整过的参考电压可被用于每个量化器。
[0024]参照图1和图4，图4是一种用于调整被图1的量化器120、142使用的参考电压的方法400的实施例的流程图。过程402可以包括选择用于量化器120、142中的其中一个或二者的参考电压的默认值或初始值。注意，量化器120、142可以被单独或同时测试。初始参考电压可以是可以用于量化器120、142的最低的、最高的、或中间值。
[0025]过程404包括在用于量化器120、142的参考电压值的范围内测试调制器100。该范围可以覆盖可用的最低参考电压到最高参考电压。调制器100性能上的数据在每个参考电压处被提取并且至少是被暂时存储，以便受测的每个参考电压处的调制器100的性能可以在过程406受到比较。可以使用的性能测量是信号与噪声加失真之比，其是输出信号的不包括量化误差、噪声和失真的一部分的功率与量化误差、噪声和失真之和的功率的比。SNDR是用分贝表示的。分贝数越高，Σ Δ调制器的性能就越好。因此，最大化了调制器100的SNDR的参考电压可以被选择为在正常操作期间被量化器120、142所使用的参考电压。
[0026]过程408可以包括为量化器120、142编程所选择的或调整过的参考电压。在一些实施中，例如图3中所显示的，调整过的参考电压VREF-T可以使用电阻梯300和一系列位于电阻梯300上的电压抽头322-328上的开关312-320被编程。在其它实施中，调整过的参考电压可以使用保险丝、或开关电容器或电感器被编程。用于将提供给调制器100的参考电压调整为被量化器120、142所使用的调整过的参考电压的其它合适技术可以被使用。
[0027]过程400可以在测试站被实现，其中所述测试站被连接以给调制器100提供参考电压测试值以及从调制器100接收性能信息以确定SNDR和/或其它参数；所述参数可以被用于确定被量化器120、142所使用的调整过的参考电压以优化调制器100的性能。测试站可被用于在芯片或晶圆级的组件上运行自动测试，因此提供测试信号并处理了测试结果。测试站可被编程以运行根据需要从测试结果产生的功能。
[0028]目前应了解，在一些实施例中，已提供Σ Δ调制器(100)。所述Σ Δ调制器(100)可以包括接收模拟信号并且提供中间信号(在110和120之间)和第一量化器信号的第一输入电路(102、104、106、108、110、112、114、116、118)。接收所述第一量化器信号并且提供第一量化器输出的第一量化器(120)。具有接收所述第一量化器输出并且给求和器(160)提供第一处理信号的输入的第一输出电路(122、124)。可以接收所述中间信号并且提供第二量化器信号的第二输入电路(128、130、132、134、136、138、140、144、146)。可以接收所述第二量化器信号并且提供第二量化器输出的第二量化器(142)。具有接收所述第二量化器输出并且给所述求和器提供第二处理信号的输入的第二输出电路(150、152、154、156、158)。所述第一量化器可以包括可编程参考电压电路(204、208)，所述可编程参考电压电路(204、208)有第一参考输出和所述第一参考输出的负极性,具有第一输入I禹合于所述第一量化器信号、第二输入I禹合于所述第一参考输出以及作为所述第一量化器输出的第一部分的输出的第一比较器(206),以及具有第二输入I禹合于所述第一量化器信号、第二输入I禹合于所述第一参考输出的所述负极性以及作为所述第一量化器输出的第二部分的输出的第二比较器(208)。
[0029]另一方面，所述Σ Δ调制器还可以包括被编程以选择所述第一参考输出的大小以及所述第一参考输出的所述负极性的大小的电压选择器(202)。
[0030]另一方面，所述电压选择器可以包括多个保险丝。
[0031]另一方面，所述电压选择器可以包括非易失性存储器。
[0032]另一方面，所述可编程参考电压电路包括多个串联耦合的电阻器(302、304、306、308、310)。
[0033]另一方面，所述第一参考输出可以被施加为跨过所述多个电阻器的选择端子(Vref-输出)和参考端子(接地)的电压以及所述第一参考输出的所述负极性被施加为所述选择端子和所述参考端子的反向。
[0034]另一方面，所述第一参考输出可以被施加于所述第一比较器的负端子，所述第一参考输出的所述负极性被施加于所述第二比较器的负端子，以及所述第一量化器信号耦合于所述第一比较器的正输入和所述第二比较器的正输入。
[0035]另一方面，所述第一输入电路可以包括用于接收所述模拟信号的第一求和器
(102)，还包括有输入耦合于所述第一量化器输出以及有输出耦合于所述第一求和器的数模转换器(126)。
[0036]另一方面，所述第一输入电路还可以包括I禹合于所述第一求和器、提供中间输出的顺序积分器(106、110);以及所述第二输入电路包括接收所述中间输出的第二求和器
(128)。
[0037]另一方面，Σ Δ调制器外部的可编程非易失性存储电路(202)可以向所述可编程参考电压电路提供输出。所述可编程参考电压电路通过以从所述Σ Δ调制器外部选择的大小提供所述第一参考输出和所述第一参考输出的所述负极性而响应于所述非易失性存储电路的所述输出。
[0038]在其它实施例中，一种操作Σ Δ调制器(100)的量化器(120)的方法(400)可以包括基于所述Σ Δ调制器的性能，使用多个参考输出和所述参考输出的负极性从多个参考输出和所述参考输出的负极性之中选择(408)参考输出(Vref)和所述参考输出的负极性(输出208);以及使用所述选择的参考输出和所述参考输出的负极性在量化器信号上执行量化器操作以产生量化器输出。
[0039]另一方面，所述选择的特征还在于通过存储(408)选择器信息以识别所述选择的参考输出和所述参考输出的负极性。
[0040]另一方面，所述存储可以在保险丝中被执行。
[0041]另一方面，所述存储可以在非易失性存储器中被执行。
[0042]另一方面，所述执行可以包括确定最大信号与噪声加失真之比(406)。
[0043]另一方面，所述选择可以包括使用所述多个参考输出和所述参考输出的负极性运行实验(402和404)以确定最佳参考输出和所述参考输出的负极性。
[0044]另一方面，所述选择的特征还在于将所述最佳参考输出和所述参考输出的负极性存储在非易失性存储器中。
[0045]在其它实施例中，Σ Δ调制器(100)包括量化器(120)。所述量化器(120)可以包括以由到所述可编程参考电压电路的输入所选择的大小提供参考电压和所述参考电压的负极性的可编程参考电压电路(204、208)。第一比较器(206)可以有输入耦合于所述部分处理的模拟信号(INl)，第二输入接收所述参考电压以及输出作为所述量化器的输出的第一部分。第二比较器(210)可以有输入耦合于所述部分处理的模拟信号，第二输入接收所述参考电压的所述负极性以及作为所述量化器的所述输出的第二部分。
[0046]另一方面，电压选择器(202)可以给选择所述参考电压的以及所述参考电压的所述负极性的所述大小的所述可编程参考电压电路提供所述输入。[0047]另一方面，所述电压选择器可以包括从所述Σ Δ调制器外部加载的非易失性存储器。
[0048]由于实施本发明的设备大部分是由本领域所属技术人员所熟知的电子元件以及电路组成，电路的细节不会在比上述所说明的用于对本发明基本概念的理解以及认识以便不混淆或偏离本发明所教之内容所认为有必要的程度大的任何程度上进行解释。。
[0049]关于具体导电类型或电位极性，虽然本公开已描述，技术人员理解导电类型和电位极性可是相反的。
[0050]此外，在描述和权利要求中的术语“前面”、“后面”、“顶部”、“底部”、“之上”、“之下”
等等，如果有的话，是用于描述性的目的并且不一定用于描述永久性的相对位置。应了解术语的这种用法在适当的情况下是可以互换的以便本公开所描述的实施例例如，能够在其它方位而不是本公开所说明的或在其它方面进行操作。
[0051]应了解本发明描述的架构仅仅是示范的，并且事实上实现相同功能的很多其它架构可以被实现。从抽象的但仍有明确意义上来说，为实现相同功能的任何组件的排列是有效地“关联”以便所需的功能得以实现。因此，为实现特定功能，本发明中结合在一起的任何两个组件可以被看作彼此“相关联”以便所需的功能得以实现，不论架构还是中间组件。同样地，如此关联的任何两个组件还可以被认为是彼此被“可操作连接”或“可操作耦合”以实现所需的功能。
[0052]又如，在实施例中，系统100中所显示的元件可是位于单一集成电路上的或在相同器件内的电路。或者，系统100可能包括任何数量的单独集成电路或彼此相连接的单独器件。
[0053]此外，本领域所属技术人员将认识到上述描述的操作的功能之间的界限只是说明性的。多个操作可组合成单一的操作，单一的操作的功能可分布在附加操作中。而且，替代实施例可能包括特定操作的多个实例，并且操作的顺序在各种其它实施例中会改变。
[0054]虽然本发明的描述参照具体实施例，正如以下权利要求所陈述的，在不脱离本发明范围的情况下，可以进行各种修改以及变化。因此，说明书以及附图被认为是说明性而不是狭义性的，并且所有这些修改是为了列入本发明范围内。关于具体实施例，本发明所描述的任何好处、优点或解决方案都不旨在被解释为任何或所有权利要求的关键的、必需的、或本质特征或元素。
[0055]本发明所使用的术语“耦合”不旨在限定为直接耦合或机械耦合。
[0056]此外，本发明所用的“一个”被定义为一个或多个。并且，在权利要求中介绍性的词语如“至少一个”以及“一个或多个”不应该被解释为暗示通过不定冠词“一个”引入的其它权利要求元素限定仅包括一个这样介绍的本发明的声明元素的任何其它特定权利要求，即使同一权利要求中包括介绍性短语“一个或多个”或“至少一个”以及不定冠词，例如“一个”。使用定冠词也是如此。
[0057]除非另有说明，使用术语如“第一”以及“第二”是用于任意区分这些术语描述的元素的。因此，这些术语不一定表示这些元素的时间或其它优先次序。
【权利要求】
1.一种Σ Δ调制器,包括: 接收模拟信号并且提供中间信号和第一量化器信号的第一输入电路； 接收所述第一量化器信号并且提供第一量化器输出的第一量化器； 具有接收所述第一量化器输出的输入并且向求和器提供第一处理信号的第一输出电路； 接收所述中间信号并且提供第二量化器信号的第二输入电路； 接收所述第二量化器信号并且提供第二量化器输出的第二量化器；以及具有接收所述第二量化器输出的输入并且向所述求和器提供第二处理信号的第二输出电路； 其中所述第一量化器包括: 具有第一参考输出和所述第一参考输出的负极性的可编程参考电压电路； 具有稱合于所述第一量化器信号的第一输入、稱合于所述第一参考输出的第二输入和作为所述第一量化器输出的第一部分的输出的第一比较器；以及 具有耦合于所述第一量化器信号的第二输入、耦合于所述第一参考输出的所述负极性的第二输入和作为所述 第一量化器输出的第二部分的输出的第二比较器。
2.根据权利要求1所述的ΣΔ调制器，还包括被编程以选择所述第一参考输出的大小以及所述第一参考输出的所述负极性的大小的电压选择器。
3.根据权利要求2所述的ΣΔ调制器，其中所述电压选择器包括多个保险丝。
4.根据权利要求2所述的ΣΔ调制器，其中所述电压选择器包括非易失性存储器。
5.根据权利要求2所述的ΣΔ调制器，其中所述可编程参考电压电路包括多个串联耦合的电阻器。
6.根据权利要求5所述的ΣΔ调制器，其中所述第一参考输出被施加作为跨过所述多个电阻器的选择端子和参考端子的电压，以及所述第一参考输出的所述负极性被施加作为所述选择端子和所述参考端子的反向。
7.根据权利要求6所述的ΣΔ调制器，其中所述第一参考输出被施加于所述第一比较器的负端子，所述第一参考输出的所述负极性被施加于所述第二比较器的负端子，以及所述第一量化器信号耦合于所述第一比较器的正输入和所述第二比较器的正输入。
8.根据权利要求1所述的ΣΔ调制器，其中所述第一输入电路包括用于接收所述模拟信号的第一求和器，还包括具有耦合于所述第一量化器输出的输入和耦合于所述第一求和器的输出的数模转换器。
9.根据权利要求8所述的ΣΔ调制器，其中: 所述第一输入电路还包括耦合于所述第一求和器、提供中间输出的的顺序积分器；并且 所述第二输入电路包括接收所述中间输出的第二求和器。
10.根据权利要求1所述的ΣΔ调制器，还包括向所述可编程参考电压电路提供输出的从所述Σ Δ调制器外部可编程的非易失性存储电路，其中所述可编程参考电压电路通过以从所述Σ Δ调制器外部选择的大小提供所述第一参考输出和所述第一参考输出的所述负极性而响应于所述非易失性存储电路的所述输出。
11.一种操作Σ Δ调制器的量化器的方法,包括:基于使用多个参考输出和所述参考输出的负极性的所述Σ Δ调制器的性能，从所述多个参考输出和所述参考输出的负极性之中选择参考输出和所述参考输出的负极性；以及使用所述选择的参考输出和所述参考输出的负极性在量化器信号上执行量化器操作以产生量化器输出。
12.根据权利要求11所述的方法，其中所述选择的特征还在于存储选择器信息以识别所选择的参考输出和所述参考输出的负极性。
13.根据权利要求12所述 的方法，其中所述存储在保险丝中被执行。
14.根据权利要求12所述的方法，其中所述存储在非易失性存储器中被执行。
15.根据权利要求12所述的方法，其中所述执行包括确定最大信号与噪声加失真之比。
16.根据权利要求11所述的方法，所述选择包括使用所述多个参考输出和所述参考输出的负极性运行实验以确定最佳参考输出和所述参考输出的负极性。
17.根据权利要求16所述的方法，其中所述选择的特征还在于将所述最佳参考输出和所述参考输出的负极性存储在非易失性存储设备中。
18.一种具有量化器的Σ Δ调制器，其中所述量化器包括: 可编程参考电压电路，以由所述可编程参考电压电路的输入所选择的大小提供参考电压和所述参考电压的负极性； 第一比较器，具有耦合于部分处理的模拟信号的输入、接收所述参考电压的第二输入和作为所述量化器输出的第一部分的输出；以及 第二比较器，具有耦合于部分处理的模拟信号的输入、接收所述参考电压的所述负极性的第二输入和作为所述量化器的输出的第二部分的输出。
19.根据权利要求18所述的ΣΔ调制器，还包括: 向选择所述参考电压的所述大小以及所述参考电压的负极性的所述可编程参考电压电路提供输入的电压选择器。
20.根据权利要求19所述的ΣΔ调制器，其中所述电压选择器包括从所述Σ Δ调制器外部加载的非易失性存储设备。
【文档编号】H03M3/00GK103973309SQ201410024179
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2014年1月20日 优先权日:2013年1月24日
【发明者】王佩军, R·S·琼斯 申请人:飞思卡尔半导体公司